Universal Serial Bus
Implementers Forum
Device High-speed
Electrical Test Procedure
For Agilent Infiniium
Revision 1.0
Feb 5, 2002
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Rev 日付日付日付日付 ファイル名ファイル名 ファイル名ファイル名 コメントコメントコメントコメント 0.9 (ベータ版)
2001 年 11 月 23 日 Device HS Test for Agilent.DOC USB-IF (バージョン 0.9)により作成されたテ スト手順に基づいて Agilent テスト機器に採 用された高速テスト手順の最初のバージョン 1.0 2002 年 2 月 5 日 Device HS Test for Agilent.DOC 最終リリースのために編集
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USB-IF High-speed Electrical Test Procedure
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保証の排除 本仕様はそのままの状態で提供され、知的所有権に対する侵害のないこと、商品性、特定目的への適合性、 権利、また提案、使用、サンプルから生じるもの、その他、明示、暗黙を問わずいかなる保証も致しかねま す。これらの保証はすべて明確に排除します。 上記の一般的な事項に限らず、USB-IF および本仕様の著者は、本仕様の使用が他社の知的所有権を侵害し ないことを保証または表明するものではありません。本仕様の使用者はこのような侵害の全てのリスクを負 い、また侵害訴訟の請求がなされた場合でも USB-IF または著者に対して訴訟上の請求をしないことに同意 するものとします。 USB-IF は、本仕様の使用から生じるいかなる派生的な損害、特別損害あるいはその他の損害に対しても責 任を負いかねます。 内部使用限定のライセンス USB-IF は、本仕様を内部使用に限り複製して配布するライセンスを供与します。他のいかなるライセンス も、明示、暗黙を問わず、禁反言その他にかかわらず供与せず、知的所有権のライセンスも供与しません。 すべての製品名は、それぞれの所有者の商標、登録商標またはサービスマークです。
目
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目次
次
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次
1概要概要概要概要... 5 2
目的目的目的目的... 5 3
必要必要必要必要な機器な機器な機器な機器 ... 5 3.1 機器設定... 6
3.1.1 Infiniium 54846A ディジタル・サンプリング・オシロスコープ (DSO)... 6
3.1.2 81130Aパルス/パターン・ジェネレータ... 7 3.2 オペレーティング・システム、ソフトウェア、ドライバおよび設定ファイル ... 7 3.2.1 オペレーティング・システム ... 7 3.3 ソフトウェア ... 7 3.4 テスト機器設定ファイル... 8 4
テスト手順テスト手順テスト手順テスト手順 ... 8 4.1 テストの記録 ... 8 4.2 ベンダおよび製品の情報... 8 4.3 レガシーUSBコンプライアンス・テスト ... 9
4.4 High Speedデバイス・モード信号品質 (EL_2、EL_4、EL_5、EL_6、EL_7) ... 9
4.5 デバイス・パケット・パラメータ (EL_21、EL_22、EL_25)... 14 4.6 デバイスCHIRPタイミング (EL_28、EL_29、EL_31) ... 18 4.7 デバイスサスペンド/リジューム/リセット・タイミング: アップストリーム側ポート (EL_27、EL_28、EL_38、EL_39、EL_40)... 20 4.8 デバイス・テスト J/K、SE0_NAK (EL_8、EL_9)... 25 4.9 デバイス・レシーバ感度 (EL_16、EL_17、EL_18) ... 27
A.4
High Speedモード対応デバイスの電気テスト・データモード対応デバイスの電気テスト・データモード対応デバイスの電気テスト・データモード対応デバイスの電気テスト・データ ... 31
A.4.2 ベンダおよび製品の情報... 31
A.4.3 レガシーUSBコンプライアンス・テスト ... 32
A.4.4 High Speedデバイス信号品質 (EL_2、EL_4、EL_5、EL_6、EL_7) ... 32
A.4.5 デバイス・パケット・パラメータ (EL_21、EL_22、EL_25)... 33
A.4.6 デバイスCHIRPタイミング (EL_28、EL_29、EL_31) ... 34
A.4.7 デバイスサスペンド/リジューム/リセット・タイミング (EL_27、EL_28、EL_38、EL_39、EL_40)... 35
A.4.8 デバイス・テスト J/K、SE0_NAK (EL_8、EL_9)... 36
A.4.9 デバイス・レシーバ感度 (EL_16、EL_17、EL_18) ... 37
B.1 81130A DSG用の設定ファイルの作成手順 ... 39
B.1.1 “IN_ADD1.ST0”設定ファイル ... 39
1
概要
概要
概要
概要
USB-IF High Speed モードの電気テスト手順は、USB-IF, Inc の管理下にある USB 2.0 コンプライアンス・コ ミッティにより作成されています。High Speed モード対応ホストの電気テスト手順は、EHCI ホスト・コン トローラが対象です。High Speed モード対応ハブの電気テスト手順は、High Speed モード対応ハブが対象で す。High Speed モード対応デバイスの電気テスト手順は、High Speed モード対応デバイスが対象です。 High Speed モードの電気コンプライアンス・テスト手順は、USB 2.0 仕様に準拠して設計されたデバイスの USB 2.0 High Speed 動作を検証するものです。High Speed モード対応製品を USB-IF インテグレータ・リス トに記載し、(ベンダが USB-IF 商標ライセンス契約に署名している場合) 当該製品に関係して USB-IF ロゴ を使用するためには、その製品が High Speed モード・テストに合格することに加えて、これらの文書で指 定された該当するレガシーテストを満たし、合格することも必要です。これらのレガシー・コンプライアン ス・テストは、本書の「レガシーUSB コンプライアンス・テスト」に記載してあります。
2
目的
目的
目的
目的
この USB-IF High Speed モードの電気テスト手順には、高速で動作する USB 周辺機器および USB システム の評価に用いる様々なテストが記載されています。これらのテストは、出荷前の製品、リファレンス・デザ イン、コンセプトの検証段階、および周辺機器、アドイン・カード、マザー・ボードまたはシステムのプロ トタイプに組み込まれた USB チップの High Speed 動作の評価にも用います。
このテスト手順では、USB-IF USB2.0 電気テスト仕様バージョン 1.00 に記載されているテストが参照されて います。
この High Speed モード対応デバイスの電気テスト手順は、3 つある USB-IF High Speed モードの電気コンプ ライアンス・テスト手順の 1 つです。他の 2 つは、High Speed モード対応ホストの電気テスト手順と High Speed モード対応ハブの電気テスト手順です。デバイス・クラスに基づいて個々の手順を採用できるため、 使いやすくなっています。
3
必要
必要
必要
必要な機器
な機器
な機器
な機器
ここに記載した市販テスト機器は、UBS-IF のメンバーが USB High Speed モードの電気テストを実行して良 好であったものに基づいています。このテスト手順には、手順を作成するために使用した特定のモデルも記 載してあります。時間がたてば、使用に適した他の同等あるいはより良いテスト機器が登場します。そのよ うな場合には、手順にいくつか修正を加える必要があります。
· ディジタル・ストレージ・オシロスコープ
§ Agilent Technologies製のInfiniium 54846Aディジタル・ストレージ・オシロスコープ o Tektronix P6247あるいはP6248、または同等の差動プローブ、数量=1
o Tektronix 1103 Tekprobe 電源 (Tektronix P6247またはP6248と合わせて使用)、数量=1 o Agilent 1161A ミニチュア・パッシブ・プローブ、数量=2
· 3½ディジタル・マルチメータ: Agilent 972A または同等品
o ミニクリップDMMリード: 黒と赤1つずつ
· ディジタル・シグナル・ジェネレータ (DSG) § 81130Aパルス/パターン・ジェネレータ
o DSGは、Agilent 81132A (660MHz)2モジュールとAgilent 81130Aパルス/パターン・ジェネ レータにより構成されています。
o メモリーカードオプション(P1130AオプションUFJ)
o 6dBアッテネータ (Agilent 8493Cオプション006) : レシーバ感度テスト用のDSG出力電圧の 調整用、数量=2
o 50Ω同軸ケーブル、両端がSMAコネクタ(メス)、数量=2
· High Speed USB電気テスト・フィクスチャ
o High Speedデバイス信号品質テスト・フィクスチャ、数量=1 o デバイス・レシーバ・テスト・フィクスチャ、数量=1 o 5Vテスト・フィクスチャ電源、数量=1 Agilent HSテスト・フィクスチャを使用する場合のテスト・ポイントの名称は、Intelのテス ト・フィクスチャとは異なります。このテスト手順は、Intelのテスト・フィクスチャを対 象に書かれています。Agilentのテスト・フィクスチャを使用する場合は、以下の対応表を 使用してください。 Intelのフィクスチャ テスト・ポイントの記述 Agilentのフィクスチャ J7 テスト・ポイント TP2 J8 電源ポート J5 J10 グランド TP5 J11 グランド TP5 SMA1 D-ライン SMA2 SMA2 D+ライン SMA1 · その他のケーブル o 1m USBケーブル、数量=1 o 1.5m USBケーブル、数量=1 o モジュラAC電源コード、数量=2
· USB 2.0 High Speedテスト・ベッド・コンピュータ
これは、High Speedハブまたはデバイスの電気テスト用USB 2.0適合ホスト・コントローラを搭載するコ ンピュータ、あるいはテストされるUSB2.0ホスト・コントローラを搭載するコンピュータです。このコ ンピュータに搭載されているOSには、Windows 2000 Professional (英語版)が必要です。このコンピュータ を構成するステップについては、「High Speedモードの電気テスト設定手順」を参照してください。
3.1 機器設定機器設定機器設定機器設定
3.1.1 Infiniium 54846A ディジタルディジタル・ディジタルディジタル・・・サンプリングサンプリング・サンプリングサンプリング・・オシロスコープ・オシロスコープオシロスコープオシロスコープ (DSO)
オシロスコープの電源をオンにする前に、P6247 または P6248 差動プローブを 1103 TekProbe 電源に接続し、 1103 とチャネル 1 を短い BNC ケーブルで接続します。セーバが差動プローブの先端に取り付けられている ことを確認してください。1161A ミニチュア・パッシブ・プローブを 2 本使う場合は、BNC ケーブルをチ ャネル 1 から取り外し、一方のパッシブ・プローブをチャネル 1 へ、もう一方のパッシブ・プローブをチャ ネル 3 に接続します。こうしたパッシブ・プローブの配列は、テスト手順全体を通して使用します。オシロ スコープの電源をオンにして、使用する前に 10 分間ウォームアップさせます。周囲温度の変化が 5℃を超 え た 場 合 は 、 Infiniium 54846A に 内 蔵 さ れ て い る ユ ー ザ 校 正 ([Utilities] プ ル ・ ダ ウ ン ・ メ ニ ュ ー の
利得誤差とオフセット誤差を最小限にするために、2 つのミニチュア・パッシブ・プローブを校正する必要 があります。差動プローブのオフセット誤差は、後でテスト手順プロセスの一部としてキャンセルされます。 差動プローブのオフセットは、テスト手順に記載されているステップによって調整します。 P6247/P6248 差動プローブの場合は、テスト手順全体を通して次の設定を使用します。 § DC Reject <OFF> (P6247のみ) § BW <Full> (P6247のみ) § Attenuation <¸1> 注記 注記 注記 注記: ノート型パソコンをホストにする時まで、特定のテスト状況では、DSO と被試験デバイス (DUT) の間 にグランド接続がない場合があります。このために、差動プローブにおいて観測される信号が中間周波数ス イッチング電源により上または下に変調される場合があります。DSO グランドと DUT のグランドを接続す るには、共通グランドを設定する必要があります。 3.1.2 81130A パルスパルスパルスパルス/パターンパターンパターンパターン・・・・ジェネレータジェネレータジェネレータ ジェネレータ 81130A は、このテスト手順の終わりの方のレシーバ感度テストの実行に必要です。節電を考えれば、測定 を実行する約 15 分前に 81130A の電源をオンにしてもかまいません。 3.2 オペレーティングオペレーティングオペレーティングオペレーティング・・・システム、ソフトウェア、ドライバおよび設定ファイル・システム、ソフトウェア、ドライバおよび設定ファイルシステム、ソフトウェア、ドライバおよび設定ファイル システム、ソフトウェア、ドライバおよび設定ファイル 3.2.1 オペレーティングオペレーティングオペレーティングオペレーティング・・・システム・システムシステムシステム
High Speed モードの電気テスト・ベッド・コンピュータには、Microsoft Windows 2000 Professional が必要で す。このコンピュータを構成するステップについては、「High Speed モードの電気テスト設定手順」を参照 してください。
3.3 ソフトウェアソフトウェアソフトウェアソフトウェア
以下のソフトウェアが必要です。このコンピュータを構成するステップについては、「High Speed モードの 電気テスト設定手順」を参照してください。
§ High-speed Electrical Test Toolソフトウェア: High Speedモードの電気テスト・ベッド・コンピュ ータで使用
§ Intel独自のEHCIドライバ・スタック: High-speed Electrical Test Toolソフトウェアでは、独自の EHCIドライバ・スタックを使用する必要があります。この独自のEHCIドライバ・スタックを 使用することによって、USB EHCIホスト・コントローラのコマンド・レジスタの直接制御が 容易になります。最終的には、非常に堅牢なテスト・ベッド環境となります。独自のEHCIド ライバ・スタックはデバッグとテストの検証を目的に設計されているため、Microsoft (または デバイスのベンダ) 製のEHCIドライバが持つ通常の機能はサポートしていません。High-speed Electrical Test Toolには自動ドライバ・スタック・スイッチング機能が実装されているため、独 自のEHCIドライバ・スタックとMicrosoft製のドライバ・スタック間の切り替えが容易です。 HS Electrical Test Toolソフトウェアを呼び出すと、ドライバ・スタックは自動的にIntel独自の EHCIドライバ・スタックに切り替わります。HS Electrical Test Toolソフトウェアを終了すると、 ドライバ・スタックは自動的にMicrosoft EHCIドライバ・スタックに切り替わります。
§ Infiniium USBテスト・オプション (オプションB30またはE2645A): USBデバイスの電気テスト 実行用
3.4 テスト機器テスト機器テスト機器テスト機器設定設定設定ファイル設定ファイルファイル ファイル
これはテスト機器の設定ファイルを収納した 3½インチ・フロッピー・ディスクです。この設定ディスクを 構成するステップについては、「High Speed モードの電気テスト設定手順」を参照してください。Infiniium USB テスト・オプション (オプション B30 または E2645A) をインストールしている場合は、Infiniium 54846A 用の設定ディスクは不要です。
DSO設定ディスク: Agilent Infiniium 54846Aの設定ファイルを収納 (Infiniium 54846AにInfiniium USBテ
スト・オプションまたはE2645Aを搭載している場合は、このディスクは不要です) (ディジタル・ス トレージ・オシロスコープ) DPG設定: 付録B (ディジタル・パターン・ジェネレータ) を参照してください｡
4
テスト手順
テスト手順
テスト手順
テスト手順
4.1 テストのテストのテストのテストの記録記録記録 記録 付録Aには、テスト結果を記入するためのフォームが記載してあります。付録Aをコピーし、コン プライアンス・テスト申請用のテスト記録文書としてご使用ください。被試験デバイスに当ては まらない欄には、理由を説明する適切な注記とともにN/Aと記入してください｡記入が終わったテ スト結果は、コンプライアンス・テスト申請のために保管してください。 テスト記録のハードコピーの他に、信号品質と電源供給 (突入、降下およびドループ) の結果の電 子ファイルを、コンプライアンス・テスト申請のために保管してください。 4.2 ベンダおよび製品の情報ベンダおよび製品の情報ベンダおよび製品の情報ベンダおよび製品の情報 以下の情報を収集して、付録Aのテスト記録のコピーに記入した後、テストを実行します。 1. テスト日付 2. ベンダ名 3. ベンダの住所、電話、担当者名 4. テスト申請ID番号 5. 製品名 6. 製品のモデルおよびリビジョン 7. USBチップ・ベンダ名 8. USBチップ・モデル 9. USBチップ・パーツ・マーキング 10. USBチップ・ステッピング 11. テスト実施者
4.3 レガシーレガシーレガシーレガシーUSBコンプライアンス・テストコンプライアンス・テストコンプライアンス・テストコンプライアンス・テスト
被試験デバイスは、本書に定めるHigh Speedモードの電気的テストに加えて、そのHigh Speed対応 デバイスに適用される次のコンプライアンス・テストにも合格しなくてはなりません。
o Full Speed信号品質 o 突入電流
o 相互運用性
これらのテストをすべて実行し、測定値と、付録Aにまとめてある合否ステータスを記録します。
4.4 High Speedデバイス・モード信号デバイス・モード信号デバイス・モード信号デバイス・モード信号品質品質品質品質 (EL_2、、EL_4、、、 、、、EL_5、、、EL_6、、 、、EL_7) 、 注記 注記 注記 注記: 被試験デバイスに、固定ケーブルが付属されているか、通常の B タイプまたはミニ B タイプが装備さ れているか確認してください。前者の場合には、信号品質の測定を「FarEnd」で行なわなければなりません。 後者の場合には、信号品質の測定を「NearEnd」で行なわなければなりません。 1. オシロスコープの電源をオンにしていない場合は、オンにします。約10分間ウォームアップさせま す。1103 TekProbe電源にP6247またはP6248差動プローブを接続します。1103とチャネル1を短い BNCケーブルで接続します。
2. [File] プル・ダウン・メニューから [Load] >> [Setup…] を選択して、HS_SQ_1.SETオシロスコープ 設定を呼び出します。差動プローブには何も接続しないでください｡ゼロに近い差動測定値を捕捉 するため、オシロスコープの [sweep] ボタンを押してトリガを“Auto”に設定します。1103電源上の オフセット・アジャスタ (OFFSET) を使ってDCレベルをゼロに調整します。調整が終わったら、 [sweep] ボタンを押してトリガを“Trig’d”に戻します。
3. 5V電源をHigh Speedデバイス信号品質テスト・フィクスチャのJ8に接続します。
4. 緑のPOWER LED (D1) が点灯し、黄色のTEST LED (D2) が点灯していないことを確認します。
5. High Speedデバイス信号品質テスト・フィクスチャの [TEST PORT] を被試験デバイスのアップスト
リーム側ポートに接続します。テスト・フィクスチャの [INIT PORT] をテスト・ベッド・コンピュ ータのHigh Speedモード対応ポートに接続します。デバイスに電源をオンにします。
6. 差動プローブをテスト・フィクスチャのJ7に接続します。プローブ上の+極性とフィクスチャ上の
D+を合わせてください。
7. 電気テスト・ベッド・コンピュータ上でHigh-speed Electrical Test Toolソフトウェアを呼び出します。 メイン・メニューが表示され、USB2.0ホスト・コントローラが表示されます。
High-speed Electrical Test Tool – メイン・メニュー
8. [Device] を選択し、[TEST] ボタンをクリックして [HS Electrical Test Tool – Device Test] メニューを 起動します。被試験デバイスが表示され、デバイスVIDと接続されているルート・ポートが示され ます。
[High-speed Electrical Test Tool – Device Test] メニュー
9. [Device Command] ドロップ・ダウン・メニューから [TEST_PACKET] を選択して、[EXECUTE] を クリックします。これにより被試験デバイスがテスト・パケットを連続して送信します。
10. テスト・スイッチ (S1) をTESTの位置にします。黄色のTEST LEDが点灯しているか確認します。 11. オシロスコープを使って、テスト・パケットが被試験ポートから送信されていることを確認します。 必要に応じてトリガ・レベルを調整します。トリガ・レベルを調整してもトリガが安定しない場合 は、“trigger holdoff”を少し変更してみてください｡“holdoff”は、[Setup] プル・ダウン・メニュー>> [Trigger…] >> [Conditioning…] ボタンを選択することで調整できます。 12. [STOP] ボタンを使ってオシロスコープのデータ取得を停止します。 13. オシロスコープで2つの縦カーソルを1つのテスト・パケットに合わせます。一方はsyncフィールド のすぐ (約1ビット時間) 前に、もう一方はEOP (END OF PACKET) のすぐ (約1ビット時間)後に合わ せます。次の図を参照してください。
デバイスからのテスト・パケット
14. Infiniium 54846Aの [Analyze] プル・ダウン・メニューから、[USB Test] を選択してUSBテストを呼 び出します。
15. USBテスト・オプション・グラフィカル・ユーザ・インタフェースで、[USB Test] セクションの [Signal Integrity] を選択します。
16. デバイスに固定付属ケーブルがない場合は、USBテスト・オプション・グラフィカル・ユーザ・イ ンタフェースの [Signal Integrity - Test Type] で、以下を選択します。
High-speed Near End ([Tier] 設定は6のままにします)
そうでなければ (デバイスにケーブルが固定されている場合は)、以下を選択します。: High-speed Far End ([Tier] 設定は6のままにします)
Position Cursors as shown. 4 bit times before the sync & 4 bit times after the eop.
eop. sync.
[USB Test] オプション
17. [Save Results] の [Data File] の空欄に分かりやすいファイル名 (例えば、TIDxxxxxxx USNE.tsv) を入 力します。
18. [USB test] オプションの一番下にある [Start Test] をクリックします。
19. 結果はInternet Explorerに表示されます。信号アイ、EOP幅およびシグナリング・レートのすべてが 合格か確認します。Internet Explorerに表示される結果は、[Data Path] (例えば、c:\scope\data) で指定 されたディレクトリにあるHTMLレポートにも記録されます。
High Speed 近端 SQ アイ・ダイアグラム
20. テスト結果EL_2、EL_4またはEL_5、およびEL_6とEL_7を記録します。テストの間に作成された すべてのファイルを保存します。結果をフロッピー・ディスクに保存するには、フロッピーを Infiniiumのフロッピー・ドライブに差し込み、Internet Explorerを終了した後に [Copy Results] をク リックします。
注記 注記 注記
注記: EL_4 と EL_5 の要件は互いに排他的です。EL_4 をテストする場合には、EL_5 は適用しません。その 逆の場合も同じです。
21. テスト・フィクスチャのテスト・スイッチ (S1) をNormalの位置に戻し、TEST LEDが点灯していな いことを確認します。以後のテストの準備のためにデバイスの電源を入れ直します。[Exit] ボタン をクリックしてInfiniiumの [USB test] オプションを終了します。
4.5 デバイスデバイスデバイス・デバイス・・パケット・パケットパケット・パケット・パラメータ・・パラメータパラメータ (EL_21、パラメータ 、、、EL_22、、、、EL_25)
1. デバイス 信号品質テスト・フィクスチャの [INIT PORT] をテスト・ベッド・コンピュータのHigh
Speed対応ポートに接続します。 2. デバイス信号品質テスト・フィクスチャ [TEST PORT] を被試験デバイスのアップストリーム側ポ ートのBレセプタクルに接続します。デバイスが適切に表示されるか確認します。 注記 注記 注記 注記:High Speed デバイス信号品質テスト・フィクスチャを使用することで、デバイスにより生成されたパ ケットでトリガすることが可能になります。これは、差動プローブがデバイス・トランスミッタの近くに配 置され、その結果デバイス・パケットの振幅がより大きくなるからです。 3. 差動プローブを、デバイス・コネクタの近くにあるフィクスチャのJ7に取り付けます。プローブ上 の+極性とフィクスチャ上のD+を合わせてください。
4. [File] プル・ダウン・メニューから [Load] >> [Setup…] を選択して、PACKPARA.SETオシロスコー プ設定を呼び出します。
5. オシロスコープを使用して、SOF (Start Of Frame) パケットが被試験ポート上で送信されていること
を確認します。トリガ・レベルを400mVのいくらか下へ下げる必要のある場合があります。 6. ここで、オシロスコープのトリガ・レベルを、SOF (またはホスト・トラフィック) でトリガしなく なるところまでゆっくりと上げます。通常これは、デバイスとフィクスチャで使用されているケー ブルの長さによりますが、400mV前後です。オシロスコープが実行 (“RUN”) されており“Trig’d”モ ードであることを確認します。オシロスコープが他のモードにある場合には、フロント・パネルの [Sweep] ボタンを使ってモードを調整します。
7. High-speed Electrical Test Tool ソフトウェアの [HS Electrical Test Tool - Device Test] メニューで、被試 験デバイスを選択 (強調表示) します。[Device Command] ウィンドウから [SINGLE STEP SET FEATURE]を選択し、[EXECUTE] を1回クリックします。
デバイスの Single Step Set Feature 8. オシロスコープ下記のような波形を捕捉します。オシロスコープの [STOP] を押してそれ以上トリ ガしないように一時停止します。オシロスコープがデバイス・トラヒックでトリガしない場合は、 トリガ・レベルの設定が高すぎます。トリガ・レベルを少し下げ (ただし、ホストSOFでトリガす るほど低くなく)、ステップ7からを繰り返します。 ホスト・パケットおよびデバイス・パケット 9. オシロスコープの [Horizontal] ノブまたはズーム・ボックス機能を使用して、オシロスコープ上の (デバイスから) 3番目のパケットsyncフィールドの長さ (ビット数) を測定し、それがEL_21に既定 されている32ビットであることを確認します (ズーム・ボックス機能を使用するには、オシロスコ ープのマウスの左ボタンを押しながら対象のパケットの周りをドラッグして「ズーム・ボックス」 を描き、このボックス内を左クリックしてズーム・インします)。波形例については下の図を参照 してください｡Syncフィールドは、High Speedアイドル遷移から (最初のゼロによる) 立ち下がりエ ッジにかけて始まることに注意してください｡最初に1が2つ連続するまで立ち上がりエッジと立ち 下がりエッジの両方を数えます。これには最初の1を含めます。数値をEL_21に記録します。
Sync フィールド – デバイス・パケット
10. オシロスコープ上の3番目のパケットのEOP (End of Packet) 幅 (ビット数) を測定し、それがEL_25で 既定されている8ビットであることを確認します。マーカを使ってEOPパルス幅を測定し、2.08ns/ ビット (480Mbps) に基づいてビット数を算出することをお勧めします。結果をEL_25に記録します。 注記 注記 注記 注記:差動測定では、EOP は立ち下がりパルスの場合と立ち上がりパルスの場合があります。下図は、立ち 下がり EOP の表示画面です。 デバイス・パケットの EOP 11. オシロスコープ上に表示された(ホストから) 2番目のパケットと(ホストに応答するデバイスから) 3番目 のパケット間のギャップを、オシロスコープのマーカ機能を使用して測定します。マーカには、 [Measure] プル・ダウン・メニューからと、ディスプレイのすぐ下にある [Marker] キーを押すこと でアクセスできます。2番目 (振幅がより低い) はホストからのもので、3番目は (振幅がより高い) はデバイスの応答です。測定した時間を2.08nsで割ってビット数を計算します。合格条件は、計算 した値が8ビットから192ビットの間でなければならないということです (EL_22) 。計算したビット 数をEL_22に記録します。
デバイスのパケット間のギャップ
12. オシロスコープが“Trig’d”モードになっていることを確認します。[HS Electrical Test Tool - Device Test] メニューで、[Step] ボタンを1回クリックします。これは、2つのステップがあるSingle Step Set Featureコマンドの2番目のステップです。
13. オシロスコープの画面表示は次のようになります。オシロスコープの [STOP] を押してそれ以上ト リガしないように停止します。
Single Step Set Feature – 2 番目のステップ
14. オシロスコープ上に表示された(ホストから) 1番目のパケットと(ホストに応答するデバイスから) 2番 目のパケット間のギャップを測定します。1番目 (振幅がより低い) はホストからのもので、2番目 は (振幅がより高い) はデバイスの応答です。測定した時間を2.08nsで割ってビット数を計算します。 合格条件は、計算した値が8ビットから192ビットの間でなければならないということです (EL_22)。 計算したビット数をEL_22に記録します。 15. High Speedデバイス信号品質テスト・フィクスチャから差動プローブを取り外します。オシロスコ ープのチャネル1から、BNCケーブルを外します。
4.6 デバイスデバイスデバイスデバイスCHIRPタイミングタイミングタイミングタイミング (EL_28、、、、EL_29、、、EL_31) 、
1. High Speedデバイス信号品質テスト・フィクスチャ の[INIT PORT] をHSホスト・コントローラの
High Speedモード対応ポートに接続します。
2. 1161Aミニチュア・パッシブ・プローブをチャネル1へ、もう一方の1161Aミニチュア・パッシブ・ プローブをチャネル3に接続します。1161Aプローブをテスト・フィクスチャのJ7に接続します。チ ャネル1をD-に、チャネル3をD+に接続します。これらのプローブのグランドをJ10とJ11に接続しま す。
3. [File] プル・ダウン・メニューから [Load] >> [Setup…] を選択して、CHRP1&3.SETオシロスコープ 設定を呼び出します。
4. 被試験デバイスのアップストリーム側ポートをテスト・フィクスチャの [TEST PORT] に接続しま
す。
5. [Enumerate Bus] をクリックして、下の図のようにCHIRPハンドシェークを捕捉します。
デバイス・チャープ (速度検出) 6. オシロスコープの [Horizontal] ノブまたはズーム・ボックス機能を使って、ホスト・ポートからの リセットに応答するデバイスのCHIRP-Kレイテンシを測定します。このタイミングが2.5μsから 3.0msの間であることを確認します。結果をEL_28に記録します。 Device Chirp Latency Device Chirp K Device Turn on HS Termination
デバイス・チャープ-K レイテンシ
7. デバイスのCHIRP-K時間を測定します。このアサーション時間が1.0msから7.0msの間であることを
確認します。結果をEL_29に記録します。
8. Chirp K-J-K-J-K-Jのホスト・アサーションの後、デバイスがそのHigh Speedターミネーションをオ ンにすることで応答しなくてはなりません。これは、Chirp-KとChirp-Jの交互シーケンスの振幅が 800mVから400mVへ落ちるのを確認することで分かります。Chirp K-J-K-J-K-J (Chirp-K-Jの3つのペ ア) の最後のJの始めから、デバイスがHigh Speedターミネーションをオンするまでの時間を測定し ます。これが500μs以下か確認します。結果をEL_31に記録します。 Chirp K-J-K-J-K-J の最後の J の始めから、デバイスが HS ターミネーションをオンするまでの時間
9. High Speedターミネーションをオンすることに加えて、デバイスはChirp K-J-K-J-K-Jのホスト･アサ ーションと同時にD+プルアップ抵抗を切り離さなければなりません。ホストからのChirp-K中にD+ レベルがわずかに降下していることで判断します。Chirp K-J-K-J-K-J (Chirp-K-Jの3つのペア) の最 後のJの始めから、D+プルアップ抵抗が切り離されるまでの時間を測定します。これが500μs以下 か確認します。結果をEL_31に記録します。 4.7 デバイスデバイスデバイスサスペンドデバイスサスペンドサスペンド/リジュームサスペンドリジュームリジューム/リセットリジュームリセット・リセットリセット・・・タイミングタイミングタイミングタイミング: アップストリーム側ポートアップストリーム側ポートアップストリーム側ポートアップストリーム側ポート (EL_27、、、、EL_28、、、EL_38、、 、、EL_39、、 、、、EL_40)
1. High Speedデバイス信号品質テスト・フィクスチャの[INIT PORT] をテスト・ベッド・コンピュー
タのHigh Speed対応ポートに接続します。
2. 被試験デバイスをテスト・フィクスチャの [TEST PORT] に接続します。[Enumerate Bus] ボタンを1回 クリックして、新たに接続したデバイスを表示します。被試験デバイスが表示され、デバイスVID と接続されているルート・ポートが示されます。
3. チャネル1およびチャネル3の1161Aミニチュア・パッシブ・プローブをテスト・フィクスチャのJ7
に接続します。Ch1をD-に、Ch3をD+に接続します。これらのプローブのグランドをJ10とJ11に接 続します。
4. [File] プル・ダウン・メニューから [Load] >> [Setup…] を選択して、SUSP1&3.SETオシロスコープ 設定を呼び出します。
5. [HS Electrical Test Tool – Device Test] メニューで、[Device Command] ドロップ・ダウン・メニュー から [SUSPEND] を選択します。[EXECUTE] を1回クリックしてデバイスを中断にします。キャプ チャされた中断の遷移は、下の図のようになります。
デバイスのサスペンド High Speed 動作のサスペンドに対するデバイスの応答 6. ホストが発行した最後のSOFパケットの終わりから、デバイスがそのフル・スピード・プルアップ 抵抗をD+に接続した時点までの時間を測定します。これは、最後のSOFパケットの終わりと、フ ルスピードJ状態への立ち上がりエッジ遷移の間の時間です。この時間が3.000msから3.125msの間 にあることを確認します。結果をEL_38に記録します。 7. オシロスコープがアーミングされているか確認します。デバイスがまだサスペンド状態にあること を確認するために、[sweep] ボタンを押してトリガを“Auto”に設定します。D+は3.3Vぐらいである はずです。D-は0.7V未満でなければなりません。合否をEL_39に記録します。 被試験デバイスのリジュームを確認するステップは次のとおりです。
8. [File] プル・ダウン・メニューから [Load] >> [Setup…] を選択して、RESUM1&3.SETオシロスコー プ設定を呼び出します。
9. [HS Electrical Test Tool – Device Test] メニューで、[Device Command] ドロップ ダウン メニューから [RESUME] を選択します。 [EXECUTE] を1回クリックしてデバイスをサスペンドからリジューム します。捕捉されたリジュームの遷移は、下の図のようになります。
デバイスの再開
10. デバイスがHigh Speed動作を再開します。これはホスト・コントローラによりドライブされるK状 態に続いてHigh Speed SOFパケット (振幅は400mV) があることから分かります。下図を参照してく ださい。合否をEL_40に記録します。
デバイスの High Speed 動作の再開
デバイスが High Speed での動作からリセットされた後に High Speed 動作を再開したことを確認す るステップは次のとおりです。
11. [File] プル・ダウン・メニューから [Load] >> [Setup…] を選択して、RSTFHS1&3.SETオシロスコー プ設定を呼び出します。
12. オシロスコープがアーミングされているか確認します。
13. [HS Electrical Test Tool – Device Test] メニューで、[Device Command] ドロップ・ダウン・メニュー から [RESET] を選択します。 [EXECUTE] を1回クリックしてHigh Speedで動作しているデバイス をリセットします。捕捉されたリセット応答は、下の図のようになります。
デバイスのリセット
High Speed 動作からのリセットに応答するデバイスの Chirp-K
14. リセットに続いてデバイスがチャープ・ハンドシェークを送信します。リセット前の最後のSOFの 始めと、デバイスChirp-Kの始めの間の時間を測定します。この時間が3.1msから6msの間であるこ とを確認します。合否をEL_27に記録します。
サスペンドからリセットされた後のデバイスのチャープ応答を確認するステップは次のとおりです。 15. [File] プル・ダウン・メニューから [Load] >> [Setup…] を選択して、RSTRSUSP1&3.SETオシロスコ
ープ設定を呼び出します。
16. [HS Electrical Test Tool – Device Test] メニューで、[Device Command] ドロップ・ダウン・メニュー から [SUSPEND] を選択します。 [EXECUTE] を1回クリックしてデバイスを中断にします。
Device Chirp K
デバイスの中断
17. オシロスコープがアーミングされているか確認します。デバイスがまだサスペンド状態にあること を確認するため、[sweep] ボタンを押してトリガを“Auto”に設定します。D+は3.3V、D-は0.7V未満 でなければなりません。
18. [sweep] ボタンを押してトリガを“Trig’d”に戻します。[RUN] ボタンを押して、オシロスコープをア ーミングします。[HS Electrical Test Tool – Device Test] メニューで、[Device Command] ドロップ・ダ ウン・メニューから [RESET] を選択します。 [EXECUTE] を1回クリックしてサスペンド中のデバ イスをリセットします。捕捉されたサスペンドからリセットへの遷移は、下の図のようになります。
デバイスのリセット サスペンド中のデバイスのリセット 19. デバイスはChirp-Kのリセットに応答します。D+の立ち下がりエッジと、デバイスのChirp-Kの始め の間の時間を測定します。この時間が2.5μsから3msの間であることを確認します。合否をEL_28に 記録します。 20. オシロスコープのチャネル1から、1161Aミニチュア・パッシブ・プローブを外します。
4.8 デバイスデバイスデバイス・デバイス・・テスト・テスト J/K、テストテスト 、、、SE0_NAK (EL_8、、、、EL_9)
1. 5V電源をHigh Speedデバイス信号品質テスト・フィクスチャのJ8に接続します。
2. 緑のPOWER LED (D1) が点灯し、黄色のTEST LED (D2) はオフであることを確認します。
3. High Speedデバイス信号品質テスト・フィクスチャの [TEST PORT] を被試験デバイスのアップスト
リーム側ポートに接続します。テスト・フィクスチャの [INIT PORT] をテスト・ベッド・コンピュ ータのHigh Speedモード対応ポートに接続します。[Enumerate Bus] ボタンを1回クリックして、新 たに接続したデバイスを表示します。被試験デバイスのVIDと接続されているルート・ポートが表 示されます。
4. [HS Electrical Test Tool – Device Test] メニューで、[Device Command] ドロップ・ダウン・メニュー から[TEST_J] を選択します。[EXECUTE] を1回クリックしてデバイスをTEST_Jテスト・モードに します。 デバイスの TEST_J 5. テスト・フィクスチャをTESTの位置に切り替えます。DVMを使用して、グランド (ピンJ10および J11がグランド・ピンです) を基準としたD+ラインのDC電圧をJ7で測定します。セクションEL_8に 記録します。 6. DVMを使用して、グランドを基準としたD-ラインのJ7のDC電圧を測定します。セクションEL_8に 記録します。 7. テスト・スイッチをNORMALの位置に戻します。デバイスの電源を入れ直します。[Enumerate Bus] を1回クリックしてデバイスを表示します。これにより、デバイスが通常動作に戻ります。 8. [HS Electrical Test Tool – Device Test] メニューで、[Device Command] ドロップ・ダウン・メニュー
から [TEST_K] を選択します。[EXECUTE] を1回クリックしてデバイスをTEST_Kテスト モードに します。 9. テスト・フィクスチャをTESTの位置に切り替えます。DVMを使用して、グランド (ピンJ10および J11がグランド・ピンです) を基準としたD+ラインのDC電圧をJ7で測定します。セクションEL_8に 記録します。 10. DVMを使用して、グランドを基準としたD-ラインのJ7のDC電圧を測定します。セクションEL_8に 記録します。 11. テスト・スイッチをNORMALの位置に戻します。デバイスの電源を入れ直します。[Enumerate Bus] を1回クリックしてデバイスを表示します。これにより、デバイスが通常動作に戻ります。 12. [HS Electrical Test Tool – Device Test] メニューで、[Device Command] ドロップ・ダウン・メニュー
から[TEST_SE0_NAK] を選択します。[EXECUTE] を1回クリックしてデバイスをTEST_SE0_NAK テスト・モードにします。 13. テスト・フィクスチャをTESTの位置に切り替えます。DVMを使用して、グランド (ピンJ10および J11がグランド・ピンです) を基準としたD+ラインのDC電圧をJ7で測定します。セクションEL_9に 記録します。 14. DVMを使用して、グランド (ピンJ10およびJ11がグランド・ピンです) を基準としたD-ラインのDC 電圧をJ7で測定します。セクションEL_9に記録します。テスト・スイッチをNORMALの位置に戻 します。
4.9 デバイス・デバイス・デバイス・デバイス・レシーバ感度レシーバ感度レシーバ感度 (EL_16、レシーバ感度 、、、EL_17、、、、EL_18) このセクションは、被試験デバイスのレシーバの感度をテストします。Agilent 81130A パルス/パタ ーン・ジェネレータは、ハブ・ポートからデバイス・アドレス1への“IN”コマンドをエミュレートし ます。 1. 5V電源をデバイス・レシーバ・テスト・フィクスチャ (J8) に接続し、緑のPOWER LED (D1) が点 灯していることを確認します。TESTスイッチはNormalの位置 (S1位置) のままにします(黄色のLED (D2) はオフです)。 2. テスト・フィクスチャの [INIT PORT] をテスト・ベッド・コンピュータのポートに接続します。フ
ィクスチャの [TEST PORT] を被試験デバイスに接続します。[Enumerate Bus] ボタンを1回押して、 新たに接続したデバイスを表示します。被試験デバイスのVIDと接続されているルート・ポートが 表示されます。 3. 6dBアッテネータ(8493C オプション006)が挿入されたSMAケーブルを2セット用意します。6dBアッ テネータ(8493C オプション006)をAgilent 81130Aパルス/パターン・ジェネレータのOUTPUT1およ びOUTPUT2に接続します。OUTPUT 1をデバイス・レシーバ感度テストフィクスチャのSMA2に、 OUTPUT 2をSMA1にSMAケーブルを使用して接続します。 4. オシロスコープのチャネル1と1103 Tekprobe電源を短いBNCケーブルを使用して接続します。差動 プローブをテスト・フィクスチャのJ7に接続します。[File] プル・ダウン・メニューから [Load] >> [Setup…] を選択して、RCVRSENS.SETオシロスコープ設定を呼び出します。 5. 81130A上で、[MEMCARD] ソフトキーを選択します。メニューに [MEMCARD] がない場合は、 [MEMCARD] が表示されるまで [MORE] キーを押します。メモリの内容がディスプレイに表示さ れます (設定ファイルの作成については、付録Bを参照してください)。カーソルと回転ノブを使用 して、MIN_ADD1.ST0設定ファイルを選択します。カーソルを [Perform Operation] まで移動し、ノ ブを回して [Recall] を選択します。次に、[ENTER] キーを押してロードします。これにより、12ビ ットSYNCフィールドを使用して (適合した振幅の) “IN”パケットが生成されます。
6. [HS Electrical Test Tool – Device Test] メニューで、[Device Command] ドロップ・ダウン・メニュー から[TEST_SE0_NAK] を選択します。[EXECUTE] を1回クリックしてデバイスをTEST_SE0_NAK テスト・モードにします。
デバイスの TEST_SE0_NAK
7. テスト・フィクスチャのテスト・スイッチ (S1) をTESTの位置にします。これにより、データ・ジ
ェネレータがホスト・コントローラ代わりになります。データ・ジェネレータがホスト・コントロ ーラからの“IN”パケットをエミュレートします。
8. 下図に示されているように、データ・ジェネレータからのすべてのパケットに対して被試験ポート からNAKが返されるか確認します。合否をEL_18に記録します。 データ・ジェネレータからの IN に対する NAK によるレシーバの応答 9. データ・ジェネレータ上で、[MEMCARD] ソフトキーを選択します。メニューに [MEMCARD] が ない場合は、[MEMCARD] が表示されるまで [MORE] キーを押します。メモリの内容が画面上に 表示されます (設定ファイルの作成については、付録Bを参照してください)。カーソルと回転ノブ を使用して、IN_ADD1.ST0設定ファイルを選択します。カーソルを [Perform Operation] まで移動し、 ノブを回して [Recall] を選択します。次に、[ENTER] キーを押してロードします。
10. 信号がこの振幅にある間に、すべてのパケットに対してNAKが返されることを確認します。 11. 各チャネルの出力レベルを次のように調整します。
12. [LEVELS] ソフトキーを選択します。メニューに [LEVELS] がない場合は、[LEVELS] が表示され るまで [MORE] キーを押します。次にカーソルを [High] 電圧値の数値まで移動します。回転ノブ または数字キーを使って、オシロスコープ上で実際のレベルをモニタしながら出力レベルを調整し ます。カーソル矢印ボタンを使って変更するチャネルを選択します。 13. データ・ジェネレータ・パケットの振幅を (アッテネータの前のジェネレータで) デバイスからの NAK応答をオシロスコープでモニタしながら20mVステップで減少させます。データ・ジェネレー タの表示値が示すOUTPUT1とOUTPUT2が一致するように、両チャネルを調整する必要があります。 NAKパケットが断続的になり始めるまで振幅を減少させます。その後、NAKパケットが断続的に ならないように振幅を増加させます。これが、スケルチ前の最小レシーバ感度レベルのすぐ上とな ります。 14. 次の方法を用いてデータからパケットのゼロ-正ピークとゼロ-負ピークを測定します。最初に、オ シロスコープのマウスを使い、左ボタンを押しながらマウスをドラッグすることでズーム・ボック スをデータ・ジェネレータ・パケットの周囲に描きます。「ズーム・ボックス」内を左クリックし て波形にズーム・インします (下の「ズーム・ボックス」の図を参照)。パケットが測定のために適 切なサイズになるまでこのステップを繰り返します (下の「パケット振幅の測定」の図を参照)。 Data generator packet Device response generator packet
15. オシロスコープのディスプレイの下にある [Marker A] を押してマーカをオンにします。オシロスコ ープのディスプレイの一番下にある「マーカ」セクションで「右」マウス・ボタンをクリックして、 “Markers Manual Placement”を選択します。[By] を正のピークにドラッグし、[Ay] を負のピークにド ラッグします。オーバシュートにより表示値が大きくなることを避けるために、より幅広いパルス の平らな部分でピークを読み取ることが大切です。[Ay] 値と [By] 値を読み取り、測定値をEL_17に 記録します (下のパケット振幅の測定の図を参照)。±150mVを超えるデータ・ジェネレータ・パケ ットに対してレシーバがNAKを返し続ける限り、合格と見なされます。合否をEL_17に記録します。 ズーム・ボックス パケット振幅の測定 16. 波形が表示されていないメイン・オシロスコープ画面で「右」マウス・ボタンをクリックします。 メニューから、ステップ8のスクリーン・ショットが表示されるまで“Undo Zoom”を選択します。 ここで、データ・ジェネレータからのパケットの振幅を小さいステップでさらに減少させます。レ シーバがちょうどNAKで応答しなくなるまで、OUTPUT1とOUTPUT2の間のバランスを維持します。 これがレシーバのスケルチ・レベルです。
17. ステップ14および15に記述し方法で、データ・ジェネレータからのパケットのゼロから正のピーク とゼロから負のピークを測定します。測定をEL_16に記録します。レシーバが±100mVのデータ・ ジェネレータのパケットにNAKしない限り、合格と見なされます。EL_16に合否を記録します。 パケット振幅の測定 注記 注記 注記 注記:特定のデバイスでは、過剰な反射成分のためデータ・ジェネレータからの In パケットの正確なゼロ-ピ ーク測定を行うことが難しい場合があります。また、ケーブルが固定されているデバイスでは、テスト・フ ィクスチャで測定した In パケットのゼロ-ピーク振幅が、デバイスレシーバにおける振幅よりもかなり高く なる場合があります。このような状態では、PCB 上のデバイス・レシーバ・ピンに近いところで測定する ことを推奨します。
付録
付録
付録
付録A
A.4 High Speedモード対応デバイスの電気テスト・データ
モード対応デバイスの電気テスト・データ
モード対応デバイスの電気テスト・データ
モード対応デバイスの電気テスト・データ
このセクションは、実際のテスト結果を記録するためのものです。テストする各デバイスごとにコピーを使 用してください(USB-IF 提出用には英語のものを使用してください)｡ A.4.2 ベンダおよび製品の情報ベンダおよび製品の情報ベンダおよび製品の情報ベンダおよび製品の情報 すべての欄に記入してください｡シリコン情報が分からない場合は シリコン・メーカに連絡してください｡ テスト日付 ベンダ名 ベンダの住所 ベンダの電話番号 ベンダの担当者、役職 テストID番号 製品名 製品のモデルおよびリビジョン USBシリコン・ベンダ名 USBシリコン・モデル USBシリコン・パーツ・マーキング USBシリコン・ステッピング テスト者
A.4.3 レガシーレガシーレガシーレガシーUSBコンプライアンス・テストコンプライアンス・テストコンプライアンス・テストコンプライアンス・テスト
レガシー
レガシー
レガシー
レガシーUSB コンプライアンス・テスト
コンプライアンス・テスト
コンプライアンス・テスト
コンプライアンス・テスト
レガシーテスト レガシーテスト レガシーテスト レガシーテスト 合否合否 合否合否 コメントコメントコメントコメント フ ル･ スピ ー ド 信号品質 突入電流 インターオベラ ビリティ P = 合格 F = 不合格 N/A = 該当なしA.4.4 High Speedデバイス信号品質 デバイス信号品質デバイス信号品質デバイス信号品質 (EL_2、、、、EL_4、、EL_5、、、 、、EL_6、、 、、EL_7) 、
EL_2 USB 2.0 High Speed トランスミッタ・データ・レートは、480 Mb/s ±0.05%でなければなりません。 参照文書 参照文書 参照文書 参照文書:USB 2.0仕様、セクション7.1.11. q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_4 固定ケーブルが付属されていないデバイスの USB 2.0 アップストリーム側ポートは、TP3 で測定さ れたテンプレート 1 のアイ・パターンを満たす必要があります。 参照文書 参照文書 参照文書 参照文書:USB 2.0仕様、セクション7.1.2.2. q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_5 固定ケーブル付属のデバイスの USB 2.0 アップストリーム側ポートは、TP2 で測定されたテンプレ ート 2 のアイ・パターンを満たす必要があります。
参照文書 参照文書 参照文書 参照文書:USB 2.0仕様、セクション7.1.2.2. q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_6 USB 2.0 HS ドライバの 10%から 90%への差動立ち上がり時間および立ち下がり時間は 500ps より 長くなければなりません。 参照文書 参照文書 参照文書 参照文書::::USB 2.0仕様、セクション7.1.2.2. q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_7 USB 2.0 HS ドライバのデータ遷移は、適切なアイ・パターン・テンプレートで指定されている縦 の開口部に渡って一定でなければなりません。 参照文書 参照文書 参照文書 参照文書::::USB 2.0仕様、セクション7.1.2.2. q 合格 q 不合格 q N/A コメント
A.4.5 デバイス デバイスデバイスデバイス・・・パケット・パケットパケット・パケット・パラメータ・・パラメータパラメータ (EL_21、パラメータ 、、、EL_22、、、、EL_25)
EL_21 送信されるすべてのパケットの SYNC フィールド (繰り返しパケットではない) が、32 ビット SYNC フィールドで始まっていなければなりません。 参照文書 参照文書 参照文書 参照文書:USB 2.0仕様、セクション8.2. データ データ データ データ・・・・パケットパケットパケットパケットSYNCフィールドフィールドフィールドフィールド q 合格 q 不合格 q N/A コメント
EL_22 パケット受信後に送信する時、ホストパケットとデバイスパケットのギャップが、8 ビット時間以 上、192 ビット時間未満でなければなりません。 参照文書 参照文書 参照文書 参照文書::::USB 2.0仕様、セクション7.1.18.2. q 合格 q 不合格 q N/A コメント
EL_25 送信されたすべてのパケットの EOP (SOF を除く) がビット・スタッフィングなしの 8 ビット NRZ
バイトの 01111111 でなければなりません。 参照文書 参照文書 参照文書 参照文書::::USB 2.0仕様、セクション7.1.13.2 q 合格 q 不合格 q N/A コメント
A.4.6 デバイスデバイスデバイスデバイスCHIRPタイミングタイミングタイミングタイミング (EL_28、、、、EL_29、、、EL_31) 、
EL_28 デバイスは、サスペンドまたは Full Speed 状態からリセットされてから 2.5μs 以上、3ms 未満でチ ャープ・ハンドシェークを送信しなければなりません。 参照文書 参照文書 参照文書 参照文書::::USB 2.0仕様、セクション7.1.7.5. q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_29 デバイスにより生成されるチャープ・ハンドシェークは、持続時間で 1ms 以上、7ms 以下でなけれ ばなりません 参照文書 参照文書 参照文書 参照文書::::USB 2.0仕様、セクション7.1.7.5. q 合格 q 不合格 q N/A コメント
EL_31 デバイス・スピード検出中、デバイスが有効な Chirp K-J-K-J-K-J シーケンスを検出した場合、デバ イスは 500μs 以内にその 1.5K プルアップ抵抗を切り離して High Speed ターミネーションを有効にしなくて はなりません。 参照文書 参照文書 参照文書 参照文書::::USB 2.0仕様、セクション7.1.7.5. q 合格 q 不合格 q N/A コメント
A.4.7 デバイスサスペンドデバイスサスペンドデバイスサスペンドデバイスサスペンド/リジュームリジュームリジューム/リセットリジュームリセットリセットリセット・・タイミング・・タイミングタイミングタイミング (EL_27、、、EL_28、、 、、EL_38、、 、、、 EL_39、、、EL_40) 、
EL_38 デバイスは、バス上で 3ms のアイドル時間があれば、その後 125μs 以内に Full Speed ターミネー ションに戻らなければなりません。 参照文書 参照文書 参照文書 参照文書::::USB 2.0仕様、セクション7.1.7.6. q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_39 デバイスはサスペンド状態をサポートしていなければなりません。 参照文書 参照文書 参照文書 参照文書::::USB 2.0仕様、セクション7.1.7.6. q 合格 q 不合格 q N/A コメント
EL_40 デバイスがサスペンド状態にあり、中断する前に High Speed で動作していた場合、このデバイス
注記 注記 注記 注記:デバイスがリジューム信号の終わりから 2 ビット時間以内に High Speed 動作に戻るのを測定すること は不可能です。このテストでは、リジューム信号に続いて 400mV の振幅の SOF があることで十分です。 参照 参照 参照 参照文書文書文書文書::::USB 2.0仕様、セクション7.1.7.7. q 合格 q 不合格 q N/A コメント
EL_27 デバイスは、サスペンドされていない High Speed モードからリセットされた場合、3.1ms 以上、
6ms 未満でチャープ・ハンドシェークを送信しなければなりません。このタイミングは、リセットが始まる 前に送信された最後の SOF の始めから測定されます。 参照文書 参照文書 参照文書 参照文書::::USB 2.0仕様、セクション7.1.7.5. q 合格 q 不合格 q N/A コメント
EL_28 デバイスは、サスペンドまたは Full Speed 状態からリセットされた場合、2.5μs 以上、3ms 未満で
チャープ・ハンドシェークを送信しなければなりません。 参照文書 参照文書 参照文書 参照文書::::USB 2.0仕様、セクション7.1.7.5. q 合格 q 不合格 q N/A コメント:
A.4.8 デバイス デバイスデバイスデバイス・・・テスト・テスト J/K、テストテスト 、、、SE0_NAK (EL_8、、、、EL_9)
EL_8 D+または D-のいずれかがハイになった場合、45Ω抵抗でグランドに終端されているときの出力電 圧は 400mV±10%でなければなりません。 参照文書 参照文書 参照文書 参照文書::::USB 2.0仕様、セクション7.1.1.3. テスト テスト テスト テスト D+電圧電圧電圧電圧 (mV) D-電圧電圧電圧電圧 (mV) J K
q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_9 D+または D-のいずれかがドライブされていない場合、45Ω抵抗でグランドに終端されているとき の出力電圧は 0V±10mV でなければなりません。 参照文書 参照文書 参照文書 参照文書::::USB 2.0仕様、セクション7.10.10.3. 電圧 電圧電圧 電圧 (mV) D+ D- q 合格 q 不合格 q N/A コメント
A.4.9 デバイス デバイスデバイスデバイス・・・レシーバ感度・レシーバ感度 (EL_16、レシーバ感度レシーバ感度 、、、EL_17、、、、EL_18)
EL_18 High Speed 対応デバイスの送信エンベロープ・ディテクタは、HS レシーバによるデータ送信の検
出、DLL のロック、12 ビット時間以内での SYNC フィールドの終わりの検出が可能となる程度に十分に速 くなければなりません。 参照文書 参照文書 参照文書 参照文書:USB 2.0仕様、セクション7.1. q 合格 q 不合格 q N/A コメント
EL_17 High Speed 対応デバイスは、レシーバが 150mV 以上の差動振幅の場合にスケルチを示さない (すな
わち確実にパケットを受信する) 送信エンベロープ・ディテクタを実装していなくてはなりません。 注記 注記 注記 注記:150mV 差動振幅の±50mV においてスケルチをレシーバが示さなければ許容範囲とみなされます。こ れは、レシーバ・ピンから遠くにあるオシロスコープ・プローブ・ポイントを補償するためです。 参照文書 参照文書 参照文書 参照文書:USB 2.0仕様、セクション7.1. q 合格 q 不合格 q N/A コメント
EL_16 High Speed モード対応デバイスは、レシーバの入力が 100mV 未満の差動振幅の場合にスケルチを 示す (すなわち決してパケットを受信しない) 送信エンベロープ・ディテクタを実装していなくてはなりま せん。 注記 注記 注記 注記:100mV 差動振幅の±50mV においてスケルチをレシーバが示せば許容範囲とみなされます。これは、 レシーバ・ピンから遠くにあるオシロスコープ・プローブ・ポイントを補償するためです。 参照文書 参照文書 参照文書 参照文書:USB 2.0仕様、セクション7.1. q 合格 q 不合格 q N/A コメント
付録
付録
付録
付録B
B.1 81130A DSG用の設定ファイルの作成手順用の設定ファイルの作成手順用の設定ファイルの作成手順 用の設定ファイルの作成手順 このセクションでは、81130A DSG 用の設定ファイル“IN_ADD1.ST0”および“MIN_ADD1.ST0”の作り方を説 明します。 B.1.1 “IN_ADD1.ST0”設定ファイル設定ファイル設定ファイル設定ファイル“IN_ADD1.ST0”設定ファイルは、32 ビット sync フィールド・パケット・パターンを持つ IN TOKEN 用です。 1. [SHIFT] キー+ [STORE (RECALL)] キーを押して0を選択すると、 81130Aがデフォルト設定に
リセットされます。
2. [MODE/TRG] ソフトキーを選択し、カーソルとノブを使用して次のように設定します。
CONTINUOUS PATTERN of
Pulses Out 1:NRZ Out2:NRZ PRBS Polynom : 2^7 –1
Trigger Output at Segm1 Start
3. [TIMING] ソフトキーを選択します。カーソルをPerに移動し、回転ノブを使用してFreqに変更 します。 周波数を480MHzに設定します。 4. [LEVELS] ソフトキーを選択し、カーソルとノブを使用して次のように設定します。 Ch 1 Ch 2 Separate Outputs High +800mV High +800mV Low +0mV Low +0mV 5. [PATTERN] ソフトキーを選択して、次のように設定します。
Segment Length Loopcnt Update
1 32 1 2 32 3 896 4 0 6. 各セグメントを次のように定義します。 Segment 1: 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 CH1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 CH2 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0
11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 CH1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 CH2 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 CH1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 0 CH2 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 Segment 2: 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 CH1 0 1 0 0 1 1 1 0 0 1 CH2 1 0 1 1 0 0 0 1 1 0 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 CH1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 0 CH2 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 CH1 1 1 1 1 0 0 0 0 0 0 0 0 CH2 0 0 0 0 1 1 1 1 1 1 1 1 Segment 3: すべてを0に設定
7. [SHIFT] キーの後に [0]キーでOUTPUT 1に、[SHIFT] キーの後に [+/-] キーでOUTPUT 2にデー タ・ジェネレータは出力を開始します。
8. メモリカードを81130Aに差し込みます。[MEMCARD] ソフトキーを選択します。メニューに
[MEMCARD] がない場合は、[MEMCARD] が表示されるまで [MORE] キーを押します。メモ リの内容が画面上に表示されます。カーソルを [Perform Operation] まで移動し、ノブを回して [Store] を選択します。次に [ENTER] キーを押します。ノブを回してファイル名をIN_ADD1と して入力し、次に [ENTER] を押してメモリ・カードに保存します。
B.1.2 “MIN_ADD1.ST0”設定ファイル設定ファイル設定ファイル 設定ファイル
“MIN_ADD1.ST0”設定ファイルは、12 ビット sync フィールド・パケット・パターンを持つ IN TOKEN 用で す。
1. [MEMCARD] ソ フ ト キ ー を 選 択 し ま す 。 メ ニ ュ ー に [MEMCARD] が な い 場 合 は 、 [MEMCARD] が表示されるまで [MORE] キーを押します。メモリの内容が画面上に表示され ます。カーソルと回転ノブを使用して、MIN_ADD1.ST0設定ファイルを選択します。カーソル を [Perform Operation] まで移動し、ノブを回して [Recall] を選択します。次に、[ENTER] キー を押してロードします。 2. [PATTERN] ソフトキーを選択し、1つ目のセグメントを次のように変更します。 Segment 1: 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 CH1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 CH2 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 CH1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 CH2 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 CH1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 0 CH2 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 3. [MEMCARD] ソ フ ト キ ー を 選 択 し ま す 。 メ ニ ュ ー に [MEMCARD] が な い 場 合 は 、 [MEMCARD] が表示されるまで [MORE] キーを押します。メモリの内容が画面上に表示され ます。カーソルを [Perform Operation] まで移動し、ノブを回して [Store] を選択します。次に [ENTER] キ ー を 押 し ま す 。 ノ ブ を 回 し て フ ァ イ ル 名 を MIN_ADD1 と し て 入 力 し 、 次 に [ENTER] を押してメモリ カードに保存します。
