バンド幅問題に対する
volume respecting embedding
法の実験的評価
群馬大学・駒原 雄祐 (Yuusuke Komahara), 中野 泰男 (Yasuo Nakano), 山崎浩一 (Koichi Yamazaki)
Department of Computer Science,
Gunma
University1.
はじめ (こ1998
年にFeigeが, バンド幅問題に対する近似率$O$($(\log n)^{3}\sqrt{\mathrm{o}\mathrm{g}}$nlog log$n$) の近似アルゴリズ
ムを提案した [8]. Feigeのアルゴリズムが提案さ れる以前では, CuthiU-McKee(CM) 法や改良逆 Cuthill-McKee(GPS)法などの (バンド幅問題に 対する) 幾つかの発見的手法が知られていた. し かしそれらアルゴリズムの近似率の正確な解析 はされておらず, 実験的な評価のみであった. 文 献[8]で Feigeは, 従来と全く異なる手法を提案 し, さらに従来無し得なかった近似率の解析を初 めて行った. 本論文では, バンド幅問題に対し
,
良く知られていて比鞍的実装が簡単な Cuthill-McKee(CM) 法と Feige のアルゴリズムとの比 校を行う. 1.1. バンド幅問題とは $G=(V, E)$ をグラフとし, $LO(G)$ を $V$から\emptyset{1
バン
\vdash’
$|\backslash \backslash$幅
},
/b\w(G
全
)
単は
,
の集合とする
.
グラフ $G$ $bw(G)=$ $\min$ $\max|f(u)-f(v)|$ $f\in LO(G)\{u,v\}\in E$ で定義される. $M$ を $n$次の対称正方行列とする. $M$の全て の行に対して, 対角或分から非零成分までの列数 の最大値, 細(M), を行列$M$のバンド幅と呼ぶ. $PM_{n}$ をサイズ$n$の置換行列の集合とする. $b= \min_{P\in PM_{n}}bw(PMP^{T})$ のとき, 行列$M$は最小バンド幅$b$を持つ行列に 変換可能であると言う. グラフのバンド幅を求 める問題や, 行列を最小バンド幅を持つ行列に変 換する問題をバンド幅問題と呼ぶ. 1.2. バンド幅問題の応用例 帯行夕Uに対するガウスの洞去法 $M$ を $n$次の 対称正方行列とする. バンド幅問題を解くこと により, $M$ をバンド幅$b$ を持つ行列に変換でき たとする. このとき, (通常$O(n^{3})$ かかる) ガウ スの消去法は $O(nb^{2})$で実行でき, $b\ll n$の場合 計算コストがかなり削減できる. 1.3. バンド幅問題の研究の歴史 1.3.1. レベル構造 バンド幅問題に対して従来からよく用いられ ているCM
法やGPS
法などの発見的手法は, レ ベル構造を構成している. グラフ $G=(V, E)$ の 頂点の部分集合の列$(L_{1}, \ldots,L_{M})$がレベル構造 を成すとは, 1. $\sum_{i=1}^{M}L_{i}=V$,
2. $\{u, v\}\in E,$$u\in L_{i},$$v\in Lj\Rightarrow|i-j|\leq 1$
を滴たすときをいう. $\max_{1\leq i<M}L$
:
をレベノレ構 造$(L1, \ldots, LM)$の幅と呼ぶ. グラフ $G$のレベル 構造での最小の幅を $lw(G)$ で表すと, $lw(G)\leq$ 紬(G) $<2lw(G\underline{)}-1$ という関係が威り立つ. 従っ て, もし最小の幅を持つレベル構造を見つけるこ とができれば, バンド幅の2倍近似が実現できる ことになる. しかしながら, 最小の幅を持つレベ ル構造を見つけることは$\mathrm{N}\mathrm{P}$ 困難であることが 知られている [2]. 1.3.2. 距離に蟇づいたレベル構造 先に述べた通り, 最小の幅を持つレベル構造 を見つけることは計算量的に困難である. 従っ て, 最小の幅は保証しないが, 比校的簡単にレベ ル構造が実現できる, 距離に基づいてレベルを構 成する方法がよく用いられる. $R_{0}$ を頂点のある部分集合とし, $R_{\dot{4}}$ を烏か ら距離 $i$ にある点の集合とする. このとき Rか$R_{1},$ $\ldots,$$R_{h}(h$はゐから最も遠い点までの距 離) はレベル構造を成す. 通常$R_{0}$ のサイズは 1 である. 距離に基づいてレベルを構成する方法 は手軽であるが, (理論的には) それにより得ら れるレベル構造の幅が最小の幅$lw(G)$ よりかな り大きくなる揚合が起こり得る. また距離に基 づいて構成されたレベルの中での最小幅を求め る問題は, たとえグラフを木に制限したとして も, 4/3 未溝に近似率を下げられないことが知ら れている [17]. 実際, 距離に基づいて得られたレ ベル構造の幅が$O(lw(G)\log|V|)$ となる (人工的 な) グラフは簡単に作ることが出来る. しかしな がら, ランダムに生成されたグラフなどに対して は, この距離に基づいたレベル構造を用いたバン ド幅問題の発見的手法は実験的には良い結果を 出力することが知られている [14]. 数理解析研究所講究録 1325 巻 2003 年 158-163158
158
1.3.3. Cuthill-McKee(CM) 法 CM法はCuthillと McKeeにより1960
年代後 半に提案された方法で, 距離に基づいたレベル構 造を用いている [6].CM
法の改良としてGPS法 が良く知られている [9]. 1. 各頂点$v$に対し, $R_{0}=\{v\}$ とし距離に基づ くレベル構造を生成し, そのレベル構造の 幅を計算する1.
2. 得られた幅の中で最小の幅を持つレベル構 造Rか...
,
$R_{h}$ を選ぶ.3. $u\in R_{i},v\in Rj,$$i<i\Rightarrow f(u)<f(v)\text{と}fx$
るようにある$\ovalbox{\tt\small REJECT} \mathrm{F}\int|_{}^{}$
したがって各頂点の並 ひ (すなわち $f$ : $Varrow\{1,$$\ldots,$$|V|\}$) を計算 する2.
1.3.4.
バンド幅問題の難しさ バンド幅問題は入力を最大次数が3
の木に制 限しても, 対応する判定問題が $\mathrm{N}\mathrm{P}$ 完全である 3 [10]. また, 入力を木に制限しても, 近似率は 4/3 より良くならない [3]. 一般のグラフに対し ては (つまり, 入力に何も制限を設けない場合), ($P\neq NP$の仮定の下で) 定数近似は不可能であ ることも知られている [15]. 従って, Feigeのアル ゴリズムの近似率は決して悪くはないと言える. さらに, 与えられた正整数$k$に対しバンド幅が $k$ 以下であるかの判定問題は実質brute forceで行 う方法しかないことが予想されている [4]. 4 1.3.5. 最近の研究 バンド幅問題に対する他の近似アルゴリズム としては, Feige の論文 [8] と同年に, 半正定 値計画法と射影法を組み合わせた技法が [1] で 発表されている. Feige の論文 [8] 以降, [13, 7, 11] などの幾つかの論文が発表されている. 文献 [7] では Feige のアルゴリズムの近似率が $O((\log n)^{3}\sqrt{\mathrm{o}\mathrm{g}\log n})$ に改善されている. グラ フをあるノルム空間に埋め込む研究やランダム 射影 [16] の研究が近年盛んに行われている. 1 計算時間を節約したい揚合,次数の低い頂点$v$のみに 対し&=
$\{v\}$の計算を行う 2 規則の詳細な記述は文献 [5] を参照 3 良く知られている問題で,木に制限しても$\mathrm{N}\mathrm{P}$完全であ るものはあまり無い (他には例えばsubgraph isomorphism やachromaticnumberなと)4 正確にはfixed parameterized intractableであること
が知られている.
2.
volume respecting
$\mathrm{e}\mathrm{m}\mathrm{b}\mathrm{e}\mathrm{d}\mathrm{d}\mathrm{i}\mathrm{n}\mathrm{g}/\backslash \xi\backslash$Linial 等は, 各 2 頂点に対し , それらのグラ
フ上での距離をそれらの空間上での距離以下に
保ち, かつあまり短くならないように, グラフ
をあるノル\Delta 空間に埋め込む研究を行った [12].
Feige はこの研究に触発されvolume respecting
embedding法の研究を開始した. Feigeは以下の 性質を満す (グラフの空間への) 埋め込みのアル ゴリズムを開発した. 埋め$\llcorner\backslash \lambda$みが満たす性質$P$ 1. 任意の2頂点$u,$$v$に関して, $u$ と $v$の空間上 での距離は高々グラフ上での距離, 2. 任意の $k$頂点に対し, それらの $k$頂点が成 す単体の $k-1$次元の体積が, ある程度の大 きさを持つ. この性質2の$k=2$の場合は, 任意の
2
頂点が成 す1 次元の体積つまり長さが小さくならないこと を意味する. つまり, Linial等の埋め込みはFeige の埋め込みの$k=2$ の楊合に相当し, Feigeの埋 め込みはLinial等の埋め込みの拡張と言える. 2.1. 基本アイディア VRE法は, 1)埋め込みと 2) 射影の 2段階 からなる. 埋め込みでは, 体積をある程度保つよ う, グラフの各頂点を $L=\Theta((\log n)^{4}\log\log n)$ 次元空間に埋め込む. 性質 1 を滴たさなければ ならないので, そのように埋め込む為には工夫 が必要である. 射影は空間内にランダムな直線 をJ き, その直線に, 埋め込まれた頂点が射影さ れる. この直線上に射影された並びが出力解と なる. ランダムにJいた直線に各点を射影すると, 当 然直線の最も端に射影された 2つの頂点(右端と 左端) が存在する. この2
頂点の距離が短いとバ ンド幅が大きくなる傾向がある.
この 2頂点の距離が短くなる確率は体積の大きさに反比例す
るので, 性質2
が必要となる. 22. 近似率の算定方法 5 $ld(G)$ 自身を求める問題はAPX 完全であることが知 られている 6バンド幅問題では, この$ld(G)$ が下界として良く用い られる159
2.3. アルゴリズハ アルゴリズムは 1) 埋め込みと 2) 射影の2段 階からなる.
どちらの段階も確率的アルゴリズ
ムなので,良い解を得るためには適当な回数繰
り返しが必要となる. 射影よりも埋め込みの方 が手間がかかる. 時間計算量は $O(|E(G)|L)\simeq$ $O(|E(G)|(\log n)^{5})$ である. 埋め$\llcorner\backslash \lambda$ みのアルゴリズb 入力 グラフ $G=(V, E)$ 出力: $\varphi$ : $Varrow R^{L}$1. $L=((\log n)^{4}\log\log n),$ $k_{j}=\lceil j\log n/L\rceil$
,
$p_{j}=2^{-k_{j}},$ $(1<j<L)$ とする.2. $L$個の部分集合
Sj-
を作成する
:
各頂点 M こ対し , v 詠確率$pj$で集合$S_{j}$ に
入れる.
3.
各$\mathrm{f}\mathrm{f}\mathrm{l}_{1}\mathrm{f}\mathrm{f}_{\backslash }$$v_{i}$ に対し, $\varphi(v:)$ の各$i$ 座標$\varphi j(v_{i})$
を $\varphi j(v:)=d(Sj,v:)$ とセットする.
射影のアルゴリズ b
入力: $\varphi$ 出力 頂点の並ひ 1. ランダムに $rj\in N[0,1]$ を選択する.2.
各$\mathrm{f}\mathrm{f}\mathrm{l}_{1}\mathrm{f}\mathrm{f}_{\backslash }$ $v_{1}$. に対し, $h(v_{1}.)= \sum^{L}j=1rj\varphi j(v_{1}.)$ を 計算する.3.
頂点集合$V$を $h(v:)$ の値で昇順にソートし, その並ひを出力する.3.
実験結果
CM
法
$\mathrm{v}\mathrm{s}$.
VRE
法
7
回の埋め込み $\mathrm{x}40$ 回の射影を1
セットと勘 定する. 1 セットの中で最も良い値を解として出力する. 実験環境は, CPU,
intel
pentium 4/$2.2\mathrm{G}\mathrm{H}\mathrm{z}.$
,
メモリ, 1GB., $\mathrm{O}\mathrm{S}$,
VineLinux
2.5, コンパイラ, Ja
SDK 140
である. 3.1. ランダb
グラフに対する結果 それぞれ辺の密度が異なる3000
頂点の50
個 のランダムグラフに対し実験を行った. $n$ を頂 点数とすると, $L=((\log n)^{4}\log\log n)$ なので $n=3000$ のとき $L=62835$ となる. 1つのランダムグラフに対し, 幾つかの次元でVRE
法を行った. 正確には, $L/10$次元から始め, 次元が20
以上の間は1/2倍づつして行き,20
を 下回った時点で1
づつ減らし, 次元が2
になるま で実験を行った. 我々の実験環境では $L$次元で の$\mathrm{V}\mathrm{R}\mathrm{E}$ 法が実行できなかった.
そのため, $L/10$ 次元から実験を始めた. これにより 1つのランダムグラフに対し19
個 のバンド幅の値を得るが, その中での最も良いバ ンド幅を得る次元は全て一桁台であった. また, 次元が小さくなるに連れ出力解が良い値を取り, 最も良い値を出す次元は 3から8
の間に集中し ていることがわかった. 典型的な例として, 辺の 密度が異なる3000
頂点の3つのランダムグラフ でのバンド幅と次元の関係を図1
に,処理時間と 次元の関係を図 2 に示す. $r\backslash _{\grave{d}}\cdot\vdash.\mathrm{B}$ $\underline{l_{\{\sim\ddot{\overline{\overline{\mathrm{a}}}}\overline{\ddot{\dot{\propto}}}\ddot{\overline{\mathrm{k}}}\mathrm{f}\overline{\overline{\ddot{\mathrm{f}\mathrm{i}}}}\cdot\tilde{\ddot{\ddot{\dot{8}}}}\mathrm{f}\overline{\dot{\overline{\overline{\mathrm{f}\mathrm{i}}}}}\ddot{\mathrm{t}}i\mathrm{z}\ddot{\ddot{\overline{\mathrm{B}}}}\mathrm{f}\ddot{\ddot{\ddot{\ddot{\mathrm{f}\mathrm{i}}}}}\mathrm{f}\overline{\overline{\ddot{\mathrm{f}\mathrm{i}}}}\overline{\ddot{\mathrm{k}}}\ddot{\dot{3}}\mathrm{f}\dot{\overline{\ddot{\ddot{\mathrm{f}\mathrm{i}}}}}_{l}^{\mathrm{i}}}^{\sim\cdot\cdot\sim-\cdot-\cdot--\cdots--\cdot-\cdot-}1^{\cdot}-\cdot..-\cdots.-\neg}\mathrm{i}$ $\alpha 00$ $\mathrm{z}‘ w$ $\mathrm{z}\mathrm{m}$ $\iota \mathrm{m}$ $1\mathrm{m}$ $5\infty$ $0$$u\iota$”$’\iota’\iota\epsilon r\mathrm{o}$ ll$ $u\mathrm{a}1$
次元
$l9\mathrm{Z}4$ $\prime 2$ $t$ $\theta$
図 1: バンド幅と次元の関係 時間 0) 図
2: 処理時間と次元の関係
3.1.1. 解の精度での評価 大きい次元 $(L/10=6283)$ と小さい次元 (5) の 2つの次元でのVRE
法とCM
法のそれぞれ の出力解の値が図3にプロットされている. 図3: 3000 頂点のランダムグラフでの解の比校
160
ランダムグラフでの解の精度においては, 図
3
が 示すとおり, 次元の大きさにかかわらずCM
法 の圧勝である. 3.1.2. 処理時間での評価 大きい次元 $(L/10=6283)$ と小さい次元 (5) の 2つの次元での VRE法とCM
法のそれぞれ の処理時間が図4にプロットされている. ランダ\Delta グラフの処理時間においては, 図 4が 示すとおり, 次元が大きい場合はCM法の圧勝 である. 図4ではわかりにくいが, 次元が小さい 場合は, 辺の密度が小さいとCM
法の方が処理 時間は短いが, 辺の密度が多くなると逆転が起き ている. 図4:
3000
頂点のランダムグラフでの処理時間 の比較3.2. CM
法が苦手とする特殊なグラフ 3.2.1. 風車グラフ 風車グラフとは図5
にあるように, 2部グラフ の辺を根に近付く程より多くストレツチして得 られるグラフである. 図6
が示すように, 解は oe法がかなり良い. 図 5: 風車グラフ 図6:
風車グラフ 図7
は, 深さ 9(3071 頂点) の風車グラフに対し ての,CM
法とVRE
法の処理時間の比校を示し ている.CM
法より良い値を出すかまたは1セッ ト処理しきるまでの時間がVRE
法の曲線とし て記されている. 次元が小さい場合でも, VRE法がCM
法より 良い値を得るためには, 少ない埋め込みで十分 であることが図 7から読み取れる. 次元が 2で VRE法の曲線が跳ね上がっているのは, 埋め込 みの失敗が続いたためと考えられる. [-.$\cdot$9\check 沖\sim --.-.v..B年\sim |
$\iota \mathrm{m}\prime^{-}|$
$\mathrm{r}\mathrm{m}.\frac{1}{\mathrm{I}\}\mathrm{i}}$.
n瞑\kappa $\underline{\overline{j|}\mathrm{i}}--,$$\cdot$
$\overline{@\mathrm{r}}2\mathrm{K}\frac{\mathrm{l}}{}\mathrm{I}\mathrm{I}r-|‘.--\frac{\mathrm{I}}{-1!}.\cdot.\cdot$
$\mathrm{g}_{\mathfrak{l}\epsilon \mathfrak{m}\frac{1\mathfrak{l}}{1}}$
..
$———\cdot--\cdotrightarrow.\cdot$$\mathrm{I}\mathrm{K}\mathrm{L}\mathrm{t}^{1}\overline{..,|}.\underline{-}.$.
$\mathrm{a}\mathfrak{m}|$
「$-\infty.\mathrm{r}^{-*\cdot-\sim---\frac{-}{-}}...$’.
$\backslash ^{\phi\backslash \backslash \backslash }l^{\frac{1}{\backslash \theta\backslash ^{\mathrm{b}}\backslash ^{\grave{\mathrm{t}}\grave{\mathrm{t}}}}-}.\backslash \cdot....\vee*4$
4 $\mathrm{t}$ $\backslash \cdot$ . $\mathrm{X}\overline{\pi}$ 図
7:
風車グラフでの時間の比校322.
$C_{n}$の $k$乗グラフ $C_{n}$ の$k$乗グラフとは, $n$頂点から成るサイク ル $C_{n}$の各頂点$v$に対し, $v$ と距離$k$以下にあるすべての頂点を辺で結ぶことにより得られるグ
ラフである. 辺を結ぶ間隔$k$が大きくなる程CM
法と $\mathrm{V}\mathrm{R}\mathrm{E}$ 法の差が開いて来ることが図9
からわかる.161
図
8:
$C_{12}$の3
乗グラフ 図9:
$C_{1}000$ の$k$乗グラフでの解の比鮫4. 近似率での評価
(
完全
2
分木に対する結
果)
図 10: 2部グラフでの解の比較 図10からわかるように解の精度に関しては CM 法と RE法の差はあまり無い. 約2000頂点で両 者の解は最適解の約5
倍程度で抑えられている.5.
まとめ及び考察 5.1. VRE法の評価 文献 [8] に沿って, 1. 埋め込み先の次元を大きくとり, 2. 埋め込みのアルゴリズ$\text{ム}$を繰り返し,3.
射影のアルゴリズムも繰り返す と処理時間は, 従来手法と比べるとかなりかか る. また解の精度もCM
法と比べやや劣る. ラ ンダムなグラフに対しては, 時間及び精度の再面 で VRE法に勝ち目は無いという印象を (実験結 果から) 受ける. しかしながら,CM
法が苦手と する風車グラフや $C_{n}$ の $k$乗グラフに対しては, $\mathrm{V}\mathrm{R}\mathrm{E}$ 法の方が随分良い値を出力する. 埋め込みのアルゴリズ\Delta のステップ3の座標 の計算は, 幅優先探索により行われている. 次元 の大きさ分幅優先探索が行われ, これが処理時間 がかかる原因である. これらのことは, 文献[8] の結論にかかれている内容と一致している. 実 装という点から言えば, VRE法はCM
法より手 軽である. 5.2. 次元の大きさの設定 埋め込み先の空間の次元の値が小さくなれば なる程,処理時間が格段に短くなるという利点が ある. 今回の実験の結果は, 次元はそれほど大きくと る必要が無く, むしろ小さく抑えた方が解の精度 が上がる事を示している. この現象はランダム グラフに限らず, 風車グラフや $C_{n}$ の$k$乗グラフ などの特殊なグラフに対しても見られる. 文献 [8]では, 1. 次元が $\Theta((\log n)^{4}\log\log n))$ 程度あれば埋 め込みのアルゴリズムが高い確率で埋め込 みの性質$P$ を満たす, 2. 性質$P$ を満たす埋め込みに対して射影のア ルゴリズムを適用すると, 比校的精度の良 い解が得られる, が証明されている. 今回の実験から導かれる推 測として: 1. 次元が小さくても性質$P$を滴たすことがで きる, 2. 次元が小さい場合は性質$P$を満たさないが, 別の性質$P’$ を滴たし, $P’$ を滴たす埋め込み に対して射影のアルゴリズムを適用すると, 比鮫的精度の良い解が得られる, 3. どんな埋め込みに対しても, 射影のアルゴ リズムを適用すると比校的精度の良い解が 得られる, の3
つが考えられる. しかし, 小さい次元でラン ダムな埋め込みを行い, その後射影のアルゴリズ ムを適用すると極めて悪い精度の解しか得られ ない事が実験によりわかるので, 可能性としては1
が2
のどちらかだと考えられる. つまり, 小さ い次元での埋め込みのアルゴリズムは, バンド幅162
問題に有利に働く何らがの性質を満たすよう埋 め込みを行っていると考えられる. しかしその 性質が $P$かそれ以外の性質なのかは, 現時点で は不明である.
6.
ら後の課題 次元の大きさの設定 精度の良いバンド幅を求めるためには, 実験的 には, 小さい次元で良い. (もし事実がそうであ れば)比較的良い解が得られる理由の解明.
Worst
case
analysis従来ある多くの発見的手法に対して, その手法 ではうまく働かない人工的なグラフを比鮫的簡 単に作る事が出来る. $\mathrm{V}\mathrm{R}\mathrm{E}$法ではうまく働かな い (つまり解の精度が近似率程度に悪くなる) グ ラフを求める. 参考文献
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