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X 線 CT における らせん穴あきファントム を用いたスライス厚測定 鹿山清太郎 (1) 伊藤雄也 (1) 山際寿彦 (1) 丹羽正厳 (1), (2) 富田羊一 (1), (3) 辻岡勝美 (4) 加藤良一 (4) 1) 藤田保健衛生大学大学院保健学研究科医用放射線科学領域 2) 市立四日市病院

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Academic year: 2021

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全文

(1)

X線CTにおける  

「らせん穴あきファントム」を用いたスライス厚測定

鹿山 清太郎(1)   伊藤 雄也(1)   山際 寿彦(1)   丹羽 正厳(1),  (2)   富田 羊一(1),  (3)   辻岡 勝美(4)   加藤 良一(4)       1)藤田保健衛生大学大学院 保健学研究科 医用放射線科学領域     2)市立四日市病院 医療技術部放射線室   3)名鉄病院 放射線科   4)藤田保健衛生大学 医療科学部 放射線学科  

(2)

CTの性能評価においてスライス厚測定は重要である。

 

一般的にCTのスライス厚測定にはパーシャルボリューム効果を利

用した傾いた物体を使用していた。

 

しかし、

傾斜アルミ板

傾斜ワイヤー

などの傾斜した物体を使った

測定ではヘリカルスキャンにおいて正しい測定ができない。また大

きいコーン角のマルチスライスCTでも正しいスライス測定ができな

い。

現在、ヘリカルスキャンにおいての測定では

微小球体法

コイン法

が推薦されている。

しかし、これらの方法は多数の画像を必要とするため煩雑である。

我々はこれらのスライス厚測定に関する問題に対応する新しいファ

ントム「

らせん穴あきファントム」

を開発した。

目的

(3)

背景

なぜ傾斜した物体ではヘリカルスキャンにおいてスライス厚

測定ができないのか?

1.

なぜ傾斜した物体ではMDCTによる測定ができないのか?

2.

アルミ傾斜板の代わりにらせんワイヤーファントムを用いた

場合は?

3.

微小球体法やコイン法によるスライス厚測定で問題はない

のか?

4.

(4)

背景

ヘリカルスキャンでは、データを 収集しながらテーブルがZ軸方 向に動く。   傾いた物体を使った方法でス キャンした場合、収集データは 図1のようになる。   BのX線は傾斜したアルミ板を 通り抜けるが、AとCのX線はア ルミ板の幅の分を通り抜ける。 B C A B C 傾斜したアルミ板 B C A

なぜ傾斜した物体ではヘリカルスキャンにおいてスライス厚

測定ができないのか

1.

(5)

X線が通り抜けるアルミ板の厚 さと幅の差はスライス厚測定 の結果に影響する。     結果、被写体の傾斜によって 2つのピークができてしまう。  アルミ傾斜板によるスライス厚測定 ヘリカルスキャン ノンヘリカルスキャン H elical Scan -50 0 50 100 150 200 250 0 10 20 30 40 50 60 P osition (m m ) C T num ber N on-H elical -50 0 50 100 150 200 250 300 350 0 10 20 30 40 50 60 P osition (m m ) C T num ber

背景

なぜ傾斜した物体ではヘリカルスキャンにおいてスライス厚

測定ができないのか

1.

(6)

MDCTは体軸方向に大きな コーン角を持っている。 X線中心の垂直下の位置で はこのコーン角度は問題で はない。 しかしX線中心からZ軸方向 に離れた位置の測定では、 コーン角度の影響が出てし まう。 アルミ傾斜板によるMDCTにおける スライス厚測定 Z軸方向に -15mm , +15mm, ノンヘリカルスキャン コーン角の中心, ノンヘリカルスキャン -15mm +15mm

背景

なぜ傾斜した物体ではMDCTによる測定ができないのか?

2.

(7)

AではX線が通り抜ける距離 が長いが、Bでは短い。   これはヘリカルスキャンでも 同じことが言える。 ヘリカルスキャンとMDCTで のスライス厚測定で傾斜し た物体を用いるのは困難で ある。

背景

A : high attenuation B : low attenuation A B 傾斜した 物体 B A コーン角の影響

なぜ傾斜した物体ではMDCTによる測定ができないのか?

2.

(8)

らせんワイヤーファントム 5mm 50mm らせんワイヤーファントムは広い 幅のZ軸方向を測定でき、アルミ 傾斜板でみられたような大きな 問題はない。

背景

アルミ傾斜板の代わりにらせんワイヤーファントムを用いた

場合は?

3.

(9)

しかし、ワイヤーファントムは十 分な問題の解決にはなっていな い。 ヘリカルスキャンとMDCTの場 合はまだアーチファクトが生じる。 特に薄いスライス厚測定のため にワイヤーのらせんピッチを下 げると、アーチファクトが強くなる。 らせんワイヤーファントムの単純 な構造は測定が簡易である点で 有用だが、正確な測定はできな い。 らせんワイヤーファントムによる スライス厚測定 ヘリカルスキャン ノンヘリカルスキャン

背景

アルミ傾斜板の代わりにらせんワイヤーファントムを用いた

場合は?

3.

(10)

Position of Z-axis Se nsi tivi ty FWHM スライス厚 微小球体法やコイン法では、   1スライスのスライス厚を得るた めに多数の画像を使用するので スライス厚は常に一定である必 要がある。 この方法ではヘリカルスキャンに おいてFOVの中心以外や心臓 CTで正確な測定ができない。   (連続した複数のCT画像でSSPz が均一でないから)     また、最近行われているノンヘリ カルスキャン(ボリュームスキャ ンやステップアンドシュート)では 実験が大変である。

背景

微小球体法やコイン法によるスライス厚測定で問題は

 

ないのか?

再構成画像 微小球体法によるスライス厚測定

4.

(11)

新しいファントム

らせん穴あきファントム」

5mm 40mm 5mm 0.5mm 直径40mmのアクリル円柱 に深さ5mm、直径0.5mm の穴がらせん状に開けら れている。     穴の数は1回転で90個、 穴のピッチは1回転で5mm である。   CT画像 らせん穴あきファントムの構造 隣同士の穴は体軸方向に

(12)

薄いスライス厚 厚いスライス厚

.

.

.

.

.

.

. .

新しいファントム

らせん穴あきファントム」

画像上の穴の数が多い 画像上の穴の数が少ない SSPz

(13)

らせん穴あきファントムによる

SSPzの測定

らせん穴あきファントムのCT画像 円柱上のCT値 らせん穴あきファントムによるZ軸方向の Position (mm) C T n umb er

新しいファントム

らせん穴あきファントム」

-­‐250   -­‐200   -­‐150   -­‐100   -­‐50   0   50   100   150  -­‐0.8   -­‐0.3   0.2   0.7  

(14)

実験1

0.5mm x 80 slices ノンヘリカルスキャン 管電圧 120 kV 管電流 100mA スキャン時間 0.5sec ファントム : らせん穴あきファントム らせんワイヤーファントム X線CT : Toshiba Prime

らせんワイヤーファントム

vs

らせん穴あきファントム

(15)

結果

らせん 穴あき ファントム らせん ワイヤー ファントム 0.2 0.4 0.6 0.8 1 1.2 0.2 0.4 0.6 0.8 1 1.2 +15mm Center -15mm らせんワイヤー ファントムでは   アーチファクト によってSSPz が歪んだ。 0.2 0.4 0.6 0.8 1 1.2 アーチファクト あり アーチファクト なし

らせんワイヤーファントム

vs

らせん穴あきファントム

(16)

微小球体ファントム

vs

らせん穴あきファントム

実験2

1.0mm x 16 slices ノンヘリカルスキャン ヘリカルスキャン 管電圧 120 kV 管電流 100mA スキャン時間 0.75sec ファントム : らせん穴あきファントム 微小球体ファントム X線CT : Toshiba Alexion16

(17)

結果

微小球体ファントム

vs

らせん穴あきファントム

微小球体 ファントム らせん穴あき ファントム FWHM=0.99mm FWHM=1.34mm FWHM=1.06mm FWHM=1.36mm

(18)

考察

我々が開発したらせん穴あきファントムはシンプルな構造であり、

測定も簡単である。

このファントムでは日常的に

SSPzとスライス厚を測定できる。

微小球体によるスライス厚測定では、スライス厚の

1/10のスライス

間隔が必要である。

64列×0.5mmのCT装置で640回以上のスキャンと40,000枚以上の

CT画像が必要である。

 

320列×0.5mmのCT装置では3,200回以上のスキャンと1,000,000枚

以上のCT画像が必要である。

 

らせん穴あきファントムでは、1回のスキャンと1枚のCT画像で測

定を終わらせることが可能であり、かつ測定の正確さは微小球体

ファントムによる測定結果とほぼ同等であった。

 

参照

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