宮市 γ 1
フォーラム\ !川 f
プログラムのパグ露見と部品の故障
一一似た現象はありませんか一一
日科技連の OR 教育コースでは，最近 f 課題研究 J の
名のもとに，受講生が身近かな問題をとりあげ，そのア
プローチを考える機会を設けています.そこでは，さま
ざまなテーマが提示され， OR の問題として興味つきな
いものも多いのですが，その中に次のような話もありま
し Tこ.
某社のオンライ γ システムでは常時 1000本ぐらいのア
プリケーションモジューノレがロードされています.それ
で，そのプログラム開発部門では常に新しいプログヲム
をつぎつぎにつくっているわけです.ですから，プログ
ラムを安<，確実にっくり上げることは，コスト低減と
いう見地から大切になります.ところで，開発ヨストは
テストに集中しており，テストの進捗状況が把握できる
とテストの資源配分が重点的に行なわれ，ひいてはテス
ト費用の軽減に役立つと考えられます.
とのため，潜在するパグがテストの繰返しにより，だ
んだんに発見されてゆく様子をグラフに画いてみまし
た.閣は，横輸にモジュールがリリースきれてから，テ
ストまたは稼動中にパグが発見されるまでの日数を対数
(log) 目盛でとり，縦軸に発見されたパグの累積数を
log log 目盛でとってあります.
これは， ワイプル確率紙と基本的には同じ目盛ですか
ら，ここで直線状になっていることからパグの露見まで
の時聞を故障発生までの“寿命"と見れば，寿命分布は
ワイプル分布とみなせそうです.そして，グラフが折線
になっているところから，いわゆる“初期故障"と“摩
耗故障"に対応するような 2 つの異なったタイプの
“故障"が混在しているものとみなせるでしょう.
このように，バグには大まかに言って 2 種類に分類
できるものがあり，その一方は比較的早い時期に見つけ
られ，それ自体なんらかの特徴をもっているのではない
かと想像できそうです.もし，その特徴を見つけること
ができれば，その種のバグを早自につぶすことは比較的
容易で，その方法の考案がヨスト低減に結びつくと左は
十分に期待できるのではないでしょうか.この解析をし
た某社では，開発部門の QC サークル活動等によって，
これにチャレンジされていると聞いております.
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log[1 数
パグ露見累積数
きて，いま紹介した話題が日科技連の中に設けられて
いる rOR 部会j とし寸勉強会で披露されましたとこ
ろ， r このようなパグ露見と部品故障のように，一見関連
のない現象に類似の表現が与えられたときには，偶然そ
うなったのか，あるいは深い理由があるのかの見当をつ
けるために，もっと例を集める必要があろう.ついては
学会誌を利用して，そういう例の持ち合わせがないか伺
ってみたい J ということになりました.これがこの雑文
を草した動機です.
次のような点について，ご教示いただける方はぜひお
教えください.あるいは，こんな話も似ていそうだ左お
思いの方はさっそくためしてくださいませんか.
1
.
上の例は某社の某部門だけについておこった，ま
ったく偶然的なものでしょうか.パグ館見の性格につい
て，どんなことがわかっているのでしょうか.
2. 折線がワイプル確率紙の上で得られるような，部
品故障以外の例にはどんなものがあるでしょうか，ある
いは，このような現象はたぶんそうなるのではないか，
というご意見でも結構です.
3. この例がそうであったように，表現の上で，ある
いはモデルの上では大変似ているが，その深い理由はま
だ解明されていないという例にはどんなものがあるでし
ょうか.
お気つ'きの方は，ぜひ下記のいずれかにご一報くだき
し、.
千 151 東京都渋谷区千駄ヶ谷 5 ー 10ー 11 日科技連
第 2 事業部青木一男 (Te l.03-352-2231 (代))
〒 152 東京都目黒区大岡山 2 ー 12-1 東京工大
震学部情報科学科森村英典 (Tel.03-726-1111)
干 223 横浜市港北区日吉 3-14ー 1 臨芯義塾大
工学部管理工学科柳井浩 (Te l.044-63-1141)
なお，上の図は矢沢郁夫氏が提供されたものです.
日科技連・ OR 部会(文責:森村英典)
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