アイ・パターン測定結果 アイ・パターン測定結果
サンプリングオシロスコープの結果 86100B + 54754A
1134A 7GHz InfiniMax probe リアルタイムオシロスコープの結果
Infiniium 54855A
1134A 7GHz InfiniMax probe
DDWG 治具によりコンプライアンス基準での測定が可能
Intra-skew / Inter-skew Intra-skew / Inter-skew
•Intra-Skew を評価、 Rx+とRx- の Top-Base の50%ポイントで評価
•最悪値を記録
•オシロスコープの⊿Time 測定機能で自動測定可能
•TP2 → Intra-skew: 0.15Tbit, Inter-skew: 0.2Tpixel
•TP3 → Intra-skew: 0.4Tbit, Inter-skew: 0.6Tpixel
Clock Jitter の測定 Clock Jitter の測定
E2688A (1st/ 2ndOrder PLL with Loop BW = 3.2
~ 4.8 MHz 20dB/dec)
Clock 165MHz
165MHz
Recovered Clock
Total Jitter
Scope Trigger
•E2688A により、4MHz 近傍のループ帯域で 165MHz のクロックを再生
•再生した Recover Clock でスコープをトリガ
•元の165MHzのクロックのトータルジッタを測定
•TP2: 0.25Tbit, TP3: 0.3Tbit
Clock Jitter の測定結果 Clock Jitter の測定結果
DVI Clock
Recovered Clock
(画面は開発中のイメージです)
ケーブル測定 ケーブル測定
広帯域低容量FETプローブ または差動プローブ
SMAケーブル
テスト対象ケーブル
広帯域オシロスコープ
Fixture
Tx+
Tx-Clk
DVI-Rcpt
Rx+
Rx-Clk
TPA-R
DVI-Rcpt
パルスジェネレータ等 Equivalent Source
•Skew ：Half Clock Pattern を使用し、2つのシングルエンドプローブでRx0~2±, RxC±
のすべての線路間の信号の⊿Timeを測定(Intra-skew: 0.25Tbit、Inter-skew: 0.4Tpixel)
•Eye Pattern ： TP3 マスクにかからないこと
テスト用波形の作成のセットアップ テスト用波形の作成のセットアップ
Fixture
Tx+
Tx-Clk
DVI-Rcpt
Equivalent Source
広帯域オシロスコープ
Rx+
Rx-Clk
TPA-R
DVI-Rcpt
パルスジェネレータ等
Cable Test Low-amplitude Eye Mask Cable Test High-amplitude Eye Mask
テスト用波形作成用のマスクテンプレート
広帯域低容量FETプローブ
SMAケーブル
別の評価方法 別の評価方法
ネットワークアナライザ及び TDR オシロスコープによる測定
100ohm±20%
Differential Impedance
5.05ns/meter Propagation Delay
151ps Intra-pair Skew
8dB at 825MHz Differential Attenuation
3%
Far End Crosstalk
4%
Near End Crosstalk
Value Parameter
PCB デザインと検証 PCB デザインと検証
デザインの検証には、TDRオシロスコープなどによ り基板のインピーダンスの測定が必要
インピーダンスの不整合は、基板、コネクタ、チップ部品で特 に顕著に起こります。インピーダンスの不整合や損失により 立ち上がりがなまったり、ジッタの影響が大きくなります。
基板のスルーインピーダンス Tr=75ps に対して差動100Ω±20Ω
h w3
t er
w1 w2
レシーバ測定 レシーバ測定
DVI ケーブル テスト対象ディスプレイ
Fixture
Tx+
Tx-Clk
DVI-Rcpt
SMAケーブル
パルスジェネレータ等 Equivalent Source
9sec 112MHz
SXGA
Time Clock Freq Resolution
6sec 165MHz
UXGA
15sec 65MHz
XGA 40MHz 25sec
SVGA 25MHz 40sec
VGA
60Hzのリフレッシュレートで
解像度ごとに目視試験に必要なテスト時間
•ディスプレイの目視確認試験が一般的
•10^-9 の Pixel Error Ratio と等価な10億 pixel をテスト
アジェンダ アジェンダ
• はじめに ～
DVI の現状•
DVI の仕様とコンプライアンス・テスト• インターオペラビリティの検証
現状のテストにおける問題点 現状のテストにおける問題点
• クロック・リカバリの方法
• インピーダンス・コントロール
• 自動測定ツール
• ディスプレイの定量評価
クロック・リカバリの方法 クロック・リカバリの方法
•
DDWG治具は、「HW 回路」によりTbitの 4定倍(Tpixel の 2.5倍) でクロックを再生•
HW 回路の自体の特性•
LSI の特性は2次のループフィルタに近い•
Odd bits 又は Even bits のみの評価•
ソース・シンクロナス伝送•
Tbitに対するマスクテスト（Tpixelに対しては10個のマス ク）•
マザーボードやグラフィックスボードからのジッタやSSC の漏れの影響DVI Test Utility による解析 DVI Test Utility による解析
DDWG
治具
Tpixelクロック
定倍クロックの再生によるマスクテスト
4定倍クロック 10定倍クロック
リアルタイム・データとクロック