15-18. 周波数継電器(VRF51D)

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最小整定時:整定値+0.1Hz以内 最大整定時:整定値+0.03Hz以内 2)過周波数復帰値

● 方法

定格制御電源を印加した状態で、定格入力電圧を一定にして動作周波数より徐々に下げていき、出力接点が開 いたときの復帰周波数を測定します。

*試験は「周波数リレー試験器」を使用して行います。

● 条件

形式 周波数整定

復帰値試験 VRF51D-01B 50.1、52.9Hz

(最小、最大)

VRF51D-02B 60.1、62.9Hz

(最小、最大)

・上記整定値毎に復帰周波数を測定します。

● 管理値

最小整定時:整定値-0.03Hz以内 最大整定時:整定値-0.1Hz以内 15-18-2. 時間特性試験

試験回路を第16-2-2図に示します。

時間特性試験は、以下により実施します。

(1)動作時間

試験内容(試験条件)

1)不足周波数動作時間

● 方法

定格制御電源及び定格入力電圧を印加した状態で、定格周波数から整定値×80%に変化させ、周波数が整定値 を下まわってから出力接点が閉じるまでの時間を測定します。

*試験は「周波数リレー試験器」のスイープ機能を使用して行います。

*周波数変化率:4Hz/sで実施

● 条件

形式 周波数整定

動作時間試験 VRF51D-01B 47.0Hz(最小)

VRF51D-02B 57.0Hz(最小)

・上記最小整定値で動作時間を測定します。

● 管理値

100~150ms以内 2)過周波数動作時間

● 方法

定格制御電源及び定格入力電圧を印加した状態で、定格周波数から整定値×120%に変化させ、周波数が整定 値を超えてから出力接点が閉じるまでの時間を測定します。

*試験は「周波数リレー試験器」のスイープ機能を使用して行います。

*周波数変化率:4Hz/sで実施

● 条件

形式 周波数整定

動作時間試験 VRF51D-01B 52.9Hz(最大)

VRF51D-02B 62.9Hz(最大)

・上記最大整定値で動作時間を測定します。

● 管理値

100~150ms以内

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(2)復帰時間

試験内容(試験条件)

1)不足周波数復帰時間

● 方法

定格制御電源及び定格入力電圧を印加した状態で、整定値×80%の動作状態より定格周波数に戻した時、周波 数が整定値を超えてから出力接点が開くまでの時間を測定します。

*試験は「周波数リレー試験器」のスイープ機能を使用して行います。

*周波数変化率:4Hz/sで実施します。

● 条件

形式 周波数整定

復帰時間試験 VRF51D-01B 47.0Hz(最小)

VRF51D-02B 57.0Hz(最小)

・上記最小整定値で復帰時間を測定します。

● 管理値

100~150ms以内 2)過周波数復帰時間

● 方法

定格制御電源及び定格入力電圧を印加した状態で、整定値×120%の動作状態より定格周波数に戻した時、周 波数が整定値を下まわってから出力接点が開くまでの時間を測定します。

*試験は「周波数リレー試験器」のスイープ機能を使用して行います。

*周波数変化率:4Hz/sで実施

● 条件

形式 周波数整定

復帰時間試験 VRF51D-01B 52.9Hz(最大)

VRF51D-02B 62.9Hz(最大)

・上記最大整定値で復帰時間を測定します。

● 管理値

100~150ms以内 15-18-3. UV動作ロック試験

試験回路を第16-2-1図に示します。

UV動作ロック試験は、以下により実施します。

試験内容(試験条件)

● 方法

定格制御電源を印加した状態で、不足周波数は整定値の-1Hz、過周波数は整定値の+1Hzの動作状態にて、入力 電圧を徐々に下げていき出力接点が開いたときの電圧値を測定します。

*試験は「周波数リレー試験器」を使用して行います。

● 条件

形式 周波数整定

UV動作試験 VRF51D-01B UF 49.5Hz(任意)

OF 50.5Hz(任意)

VRF51D-02B UF 59.5Hz(任意)

OF 60.5Hz(任意)

・上記整定値毎に電圧値を測定します。

● 管理値

40V±5%以内

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