擬似回路網（AN）の接地接続における共振を極力抑制するために、（ベクトル・ネットワーク・アナラ イザが利用できるならば）ANのインピーダンス及び電圧分割係数（VDF）を設置場所において検証するこ とを推奨する。これは、AN自身を直接接地して行う代わりに、基準接地面（RGP）を用いてこれらの特性 を測定することにより実施できる。VDFの測定については引用規格(4)を参照。
AN がインダクタンスを無視できない導体で基準接地面に接続されている場合、基準接地面に対するAN 筐体の容量が並列に入るため、30 MHz以下の周波数範囲で並列共振が発生する恐れがある（図E.1参照）。
図E.1 AN 筐体と接地接続導体による並列共振
設置場所でインピーダンスとVDFを測定することにより、図E.2のような解決策を見出すことができる。
ただし、この図ではANの例としてAMN を使用している。AMNのインピーダンスを図E.3、VDFを図E.4に 示す。この例では、図8に従ってAMN は電源プラグの中心と垂直RGPの距離が40 cmとなるように配置さ れているが、一般的には別の試験配置でも良い。AMNのインピーダンス測定は以下の基準点に対して実施 する。
a) AMNの前面にある測定用接地端子（図E.2参照）
b) 接地接続板の測定用接地端子（図E.2参照）
c) 垂直RGP（図E.5参照）の接地端子。この場合、低インピーダンスの測定用接地接続板を使用する ことが重要である。
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-図E.2 低インダクタンス接地のための幅広接地板を使用したAMNとRGPの接続
図E.3 図E.2に示したAMN前面の接地端子及び接地板の接地端子を基準としたときのインピーダンス測定 結果
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-図E.4 図E.2の配置で、AMNの接地端子及び幅広接地板の接地端子を基準として測定したVDF
（この例では平坦な周波数特性であるが、他のAMNでは異なることもある．）
測定条件a)とb)のインピーダンスの測定結果には差異が無く、条件c)のみ 30 MHz において顕著な位相の 差異が見られる。この場合、VDFに対する影響は0.7 dB程度である。測定結果を図E.6に示す。
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-図E.5 RGP を基準とするインピーダンス測定の測定用接地板（破線部分）の接続。インピーダンス測定 用ケーブルの内部導体は測定端子に接続し、外部導体は測定用接地板に接続する。
図E.6 図E.5の配置でRGPを基準としたインピーダンスの測定結果。
30 MHz における位相の増加は、接続部を含む測定接地板の長さに起因する。理想的にはインピーダン
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-スが50 Ω（すなわちスミスチャートの中心）に収束し、インピーダンス及びVDFの両方とも共振特性を示 さないことである。
図E.7に、図E.1で示した共振のある接地接続の場合のVDFを示す。
図E.7 AMNの接地において並列共振が発生した場合のVDF測定結果