[PDF] Top 20 J90 j IEICE 2001 5 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J90 j IEICE 2001 5
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J90 j IEICE 2001 5 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J90 j IEICE 2001 5
... M j を通る場合を考 える.観測経路が M j の非伝搬入力 x 上を通る場合, M j の伝搬入力 x と出力ポート z 間にスルー機能が ない場合には,任意の値を伝搬できない.ここで, M j の y に定数を与えて x–z 間のスルー機能を実現でき る場合について考える.外部入力から M j ... 完全なドキュメントを参照
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J82 j IEICE 2000 9 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J82 j IEICE 2000 9
... and Hideo FUJIWARA † あらまし 本論文では ,ホールド 機能をもつレ ジ スタ( ホールド レジ スタ )を考慮し た順序回路の部分スキャ ン 設計法を提案する.無閉路順序回路のテ スト 生成は ,すべての極大展開モデルに対し ,組合せ回路用のテ スト 生成アルゴ リズムでテ スト 生成を行えば 十分である.そこで ,極大展開モデルが 唯一となる( ... 完全なドキュメントを参照
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J78 j IEICE 2000 1 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J78 j IEICE 2000 1
... P j .W ork count により, P i が 世代を始めた時刻に 対する, P j が その ときの世代を始めた相対時刻を調べる.ただし , P i が P j の居眠りを検知したならば , P j は遅くとも次に P i の共有変数を読み出すステップ で partial reset を行う ので , P i は P ... 完全なドキュメントを参照
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J79 j IEICE 2000 2 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J79 j IEICE 2000 2
... 以上で 定義し た演算 / レジ スタ両立グ ラフを用いて , 最小クリーク分割により最適なバ インデ ィングを求め る.最小クリーク分割を求めるとき,演算器数または レジ スタ数に関し て等価なバ インデ ィングは 複数存在 することが 考えられ る.し かし ,それらは 無閉路化の ための スキャンレジ スタ数について 必ずし も等価であ るとは ... 完全なドキュメントを参照
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J93 j IEICE 2002 2 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J93 j IEICE 2002 2
... SoC の実動作速度での連 続し たテ スト 系列の 印加に 利用可能であ る. c の G J は 無閉路であるので ,条件 1 より, c の各入力端子に 対し て, SoC の外部入力から 一つ以上の単純経路が 存 在する.更に 条件 3 より,各コアは 一つの 形状が 選択 され , G J ... 完全なドキュメントを参照
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J96 j IEICE 2002 6 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J96 j IEICE 2002 6
... M の 制 御経路, P 3 を M の 観 測経路と 呼ぶ . 単一制御可検査デ ータパスにおいて TPG と RA を それぞれ PI と PO に 置くことに より,組合せ 回路要 素 M に 対し て ,制御経路を 用いて PI から 連続し た テ スト 系列を印加し ,観測経路を用いて M の応答を 連続し て PO で 観測できる.ほとんど の組合せ回路要 素( ... 完全なドキュメントを参照
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J77 j IEICE 1999 7 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J77 j IEICE 1999 7
... TC のテ スト 系列長を基準とし た TCRF のテ スト 系 列長の 割合 , TR2 は 表 10 の NC のテ スト 系 列長を 基準とし た TCRF のテ スト 系列長の 割合を 示 す. CPU は ATPG 時間, TL 全体のテ スト 系列長で あ る . TCRF は TC に 比べて ... 完全なドキュメントを参照
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J73 j IEICE 1999 4 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J73 j IEICE 1999 4
... を同期周期,通信命令実行時間を表す L , g という二 つの パラ メータに より 表すこ とが 可能に なって いる . また同期機構を仮定することに より,非常に 緩い同期 の処理に対応可能なモデルである. BSP ∗ モデルでは , 通信パケット サ イズを 表すパラ メータ B を 導入する ことにより,より実際に 即し たアルゴ リズムの計算量 ... 完全なドキュメントを参照
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J71 j IEICE 1999 2 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J71 j IEICE 1999 2
... RCG に対し て最小クリーク分割 [4] を行い,分割後の 各クリークに対し ,レジ スタを割り当てる. 演算器バ インデ ィングでは ,まず,演算器の型ご と に 変 数と 同 様にし て 演 算コン パテ ィビ リテ ィグ ラフ ( OCG )を作成する.次に ,設計目標中の演算に 関す る共有集合に 対し , RCG と 同様のマージ を 行 う.演 ... 完全なドキュメントを参照
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J72 j IEICE 1999 2 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J72 j IEICE 1999 2
... MES のための記憶領域に余裕があれば ,適 当な放送メッセージにのみ REDUCE を付加すること で メッセージ オーバヘッド を軽減できる. 多くの分散移動システムでは, MH の非接続化 ( MH の電力消費を節約するために MH とネット ワークとの 接続を断つこと )と , MH の再接続( シ ステムに接続 し て いな い ... 完全なドキュメントを参照
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J76 j IEICE 1999 7 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J76 j IEICE 1999 7
... ラン の生成を試みる.テ ストプ ランが 存在し ない場合には DFT とし て 外部入力から 直接値 を代入し たり,外部出力で 直接値を観測するためのマ ルチプレ クサ( テスト マルチプレ クサ )と配線を RTL デ ータパ ス上の適切な回路要素の前後に 挿入する.こ のよ うな 手法に よって 従来手法 [2] で 生じ る第 2 ... 完全なドキュメントを参照
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J104 j IEICE 2003 7 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J104 j IEICE 2003 7
... type3 の制御経路,観測経路を用いることによ り, M に 属するすべての組合せ 回路要素を 同時にテ ストできる.このテ ストの間,制御経路及び 観測経路 に 現れ る制御信号( テストプ ラン )を固定し ておくこ とができる.つまり,一つのテ スト セッション M に 対し て ,一つの 制御パターン を 与えれば ,連続クロッ クでテ スト ... 完全なドキュメントを参照
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J88 j IEICE 2001 1 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J88 j IEICE 2001 1
... あらまし 本論文では,レジスタ転送レベルデータパスの組込み自己テスト方式( BIST)として,階層テス トに基づく test per clock 方式の BIST を提案する.この手法では,テストパターン生成器,応答解析器をテス ト対象回路の外部入力,外部出力のみに付加し,各組合せ回路要素に対して,データパスの経路を用いてテスト ... 完全なドキュメントを参照
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J94 j IPSJ 2002 5 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J94 j IPSJ 2002 5
... に 対応し ,小さい頂点は MUX に 対応する .図 4 に おいて,破線で示し た頂点がダ ミー頂点を表し ,破線 で 示し た 辺がダ ミー辺を 表す. Genesis 8) のデ ータフ ローグ ラフ ( TCDF , Test Control Data Flow ) では 演算器に対応する頂点のみ表し ているのに対し て,提 ... 完全なドキュメントを参照
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J87 j IEICE 2001 1 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J87 j IEICE 2001 1
... change j = false が 成立し ,根 r が RESET を行い reset r = true と する. reset r = true が 成立し てから ,根 r を 除くす べてのプ ロセ スが RESET を行うまでに h ラウンド 要する .このとき {in i | i ∈ V } = {w i | i ∈ V } が 成 立.ここから更に ,上と同様にヒープ 順序が 構成され , ... 完全なドキュメントを参照
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J130 j IEICE 2006 8 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J130 j IEICE 2006 8
... 完全スキャン設計法での問題点を解消する手法とし て強可検査性に基づくテスト容易化設計法 [4] や固定 制御可検査性に基づくテスト容易化設計法 [5] がある. これらの手法では,データパスの強可検査性を利用し ている.強可検査性とは,すべての回路要素に対して, 任意の値の印加・観測を可能とするテストプラン(制 ... 完全なドキュメントを参照
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J89 j IEICE 2001 2 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J89 j IEICE 2001 2
... と定義する. クラスタヘッド に 選択されたノード は ,クラスタ内 及び クラスタ間の 接続関係等の情報の 維持管理といっ た負荷を伴う.また,アプ リケーションレベルでは,ク ラスタヘッド 間の論理リン クからなるクラスタヘッド アーキテクチャを考え る.し たが って ,クラスタ数が 少ないと クラスタヘッド アーキテクチャのネット ワー クサイズが ... 完全なドキュメントを参照
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J91 j IEICE 2001 5 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J91 j IEICE 2001 5
... 昭 44 阪大・工・電子卒.昭 46 同大大 学院博士後期課程了.阪大工学部助手,明 治大理工学部教授を経て,現在,奈良先端 科学技 術大学院大学情報科 学研究科教授. 昭 56 ウォータールー大客員助教授.昭 59 マッギル大客員準教授.論理設計,高信頼 設 計 ,設 計 自 動化 ,テ ス ト容 易 化 設計 ,テ ス ト生 成 ,並 列処 理,計算複雑度に関する研[r] ... 完全なドキュメントを参照
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J120 j IEICE 2005 6 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J120 j IEICE 2005 6
... ログラムテンプレートとは,オペランドの値が未決定 のテストプログラムであり,テスト対象モジュールに 対し,テストパターンの正当化及びテスト応答の観測 を行う命令列からなる.この手法では,テンプレート に 対 し ,い く つ か の ラ ン ダ ム パ タ ー ン を オ ペ ラ ン ド に与えたシミュレーション結果から回帰解析により制 ... 完全なドキュメントを参照
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J106 j IEICE 2003 9 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J106 j IEICE 2003 9
... ISB-RISC に 対し , C ∗ (S) を 用いた テ スト 生成では , S に 比べ,より多くの故障が 検出可能となり,テスト 生成時間もそれぞ れ 約 1/10000 , 1/20 と 大幅に 短縮 した .また , C ∗ (S) で判定不可能となる故障も存在す るが , S と比べてより多くの故障が 検出可能または冗 長と 判定され た .すなわ ち,組合せ ATPG を用いて テスト ... 完全なドキュメントを参照
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