[PDF] Top 20 J152 e IEICE 2010 6 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J152 e IEICE 2010 6

... Fig. 6 (a) Single-core bypass path by IEEE 1500 wrapper. (b) Multi-core bypass path by IEEE 1500 wrapper. of making cores transparent as well as the cost of additional interconnect area simultaneously during ... 完全なドキュメントを参照

... [8] のモデルでは ，ハンド オフ時に 動的通信チャネルが 消失し た場合，その FIFO キュー 内の メッセージは 紛失するとし ている．し かし 本論文 では ，簡単のために ，静的，動的にかかわらずすべて の通信チャネルに 入力され た メッセージは 有限時間内 に出力され ... 完全なドキュメントを参照

... ．こ の 場 合 ，ク ラ ス タ ヘッド 数は 小さく抑えられ るが クラスタヘッド 変更数 は 大きくなってし まう．クラスタヘッド 変更数を小さ くする手法として， LCC （ Least Cluster Change ）法 が 提案され ている [5] ． LCC 法では ，トポ ロジ ーが 変 化し た場合に ，支配性，または 独立性が 成り立たない ... 完全なドキュメントを参照

... 上にある e 1 の直後のレジスタを r とす る． r の出力ポートを z ′ とし， r の直後の回路要素の 伝搬入力を x ′ とする．また， TM の二つの入力ポー トを x 及び y とし，出力ポートを z とする．このと き， TM を付加する場所について考える． TM を外部 ... 完全なドキュメントを参照

... 昭 44 阪大・工・電子卒．昭 46 同大大 学院博士後期課程了．阪大工学部助手，明 治大理工学部教授を経て，現在，奈良先端 科学技 術大学院大学情報科 学研究科教授． 昭 56 ウォータールー大客員助教授．昭 59 マッギル大客員準教授．論理設計，高信頼 設 計 ，設 計 自 動化 ，テ ス ト容 易 化 設計 ，テ ス ト生 成 ，並 列処 理，計算複雑度に関する研[r] ... 完全なドキュメントを参照

... 4. 2. 1 制御経路の決定と DFT 要素付加 各組合せ回路要素に対し，最小の付加ハードウェア で実現できる制御経路（ 2 入力組合せ回路要素の場合 は，互いに共通部分をもたない二つの制御経路）を決 定し， DFT 要素（マルチプレクサ，スルー機能）を付 加する．制御経路を求める組合せ回路要素は，一つず つ処理していくが，先の処理で付加した DFT 要素は ... 完全なドキュメントを参照

... SoC の実動作速度での連 続し たテ スト 系列の 印加に 利用可能であ る． c の G J は 無閉路であるので ，条件 1 より， c の各入力端子に 対し て， SoC の外部入力から 一つ以上の単純経路が 存 在する．更に 条件 3 より，各コアは 一つの 形状が 選択 され ， G J ... 完全なドキュメントを参照

... 通常のプ ロト コルでは ，プ ロト コル 実行開始時の分 散シ ステムの大域状況が ，あらかじ め決められた初期 状況であると仮定する．つまり，各プ ロセスは， あらか じ め決められた初期状態から実行を開始する．これに 対し ，自己安定プ ロトコル（ self-stabilizing protocol ） は ，プ ロト コル 実行開始時の分散シ ステムの大域状況 ... 完全なドキュメントを参照

... ISB-RISC に 対し ， C ∗ (S) を 用いた テ スト 生成では ， S に 比べ，より多くの故障が 検出可能となり，テスト 生成時間もそれぞ れ 約 1/10000 ， 1/20 と 大幅に 短縮 した ．また ， C ∗ (S) で判定不可能となる故障も存在す るが ， S と比べてより多くの故障が 検出可能または冗 長と 判定され た ．すなわ ち，組合せ ATPG を用いて テスト ... 完全なドキュメントを参照

... 本研究では，強可検査性に基づくテスト容易化設計 法と同様に，対象とする故障モデルを単一縮退故障と し，レジスタ転送レベルデータパスをテスト容易化設 計の対象とする．強可検査のテスト容易性を失うこと なく，面積オーバヘッドを更に削減するために，強可 検査性の性質を緩和した部分強可検査性を新たに導入 し，部分強可検査性に基づくデータパスのテスト容易 ... 完全なドキュメントを参照

... ．コント ローラ は 有限状態機械，デ ータパスは回路要素と回路要素を 接続する信号線で 記述され る．回路要素は ， PI ， PO ， ラッチ，レジ スタ，マルチプレ クサ，演算モジ ュール ， 観測モジ ュールに 分類され る．この うち，マルチプレ クサ，演算モジ ュール ，観測モジ ュールを組合せ回路 要素と呼ぶ．各回路要素は 端子をもち，それぞれデ ー タ端子，制御端子，観測端子に 分類され る．デ ータ端 子には ... 完全なドキュメントを参照

... ラン の生成を試みる．テ ストプ ランが 存在し ない場合には DFT とし て 外部入力から 直接値 を代入し たり，外部出力で 直接値を観測するためのマ ルチプレ クサ（ テスト マルチプレ クサ ）と配線を RTL デ ータパ ス上の適切な回路要素の前後に 挿入する．こ のよ うな 手法に よって 従来手法 [2] で 生じ る第 2 ... 完全なドキュメントを参照

... T 2 を圧縮し たテスト 系列 T を生成することができる． また ，テ スト 系列 T 1 , T 2 に 示すよ うに ，テ スト 系 列において 0 又は 1 に値が 決定し ている箇所と X で ある箇所は ，すべてのテスト 系列について一定である． この 情報から 複数のテ スト 系列が 圧縮可能か 否かは ， テ スト 系列中の値に 関係なく決定できる．よって，テ スト 系列が ... 完全なドキュメントを参照

... それほど 考慮が 必要とされず，上記の並列計算モデ ル においても，通信コ ストの表現には 重点が おかれてい † 奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科 ，生駒市 Graduate School of Information Science Nara Institute of Science and Technology, 8916–5 Takayama, Ikoma-shi, 630– 0101 ... 完全なドキュメントを参照

... ，もと の演算間の経路は共有し た演算器を通るループ となる． よって ，その演算間の経路上にあるいずれかの変数は ループ を切断するための スキャンレジ スタに 割り当て なければ なら ない ．両立可能な 演算間の 経 路の 長さ ， すなわちその経路上にある変数の数が 大きければ ，そ の うちいずれか ... 完全なドキュメントを参照

... 井上 智生 （ 正員 ） 昭 63 明大・工・電子通信卒．平 2 同大 大学院博士前期課程了．同年松下電器産業 （ 株 ）入 社．明治大大学院博士後期課程を 経て，平 5 奈良先端大情報科学研究科助手． 平 11 より広島市立大学情報科学部助教授． 松下電気電器産業（ 株 ）に おいて マイクロ プ ロセッサの研究開発に 従事．明治大，奈良先端大，広島市大 に おいて ，テスト 生成，並列処理，テスト 容易化設計に 関する ... 完全なドキュメントを参照

... 増澤 利光 （ 正員 ） 昭 57 阪大・基礎工・情報卒．昭 62 同大 大学院博士後期課程了．同年同大情報処理 教育セン ター助手．同大基礎工助教授を経 て ，平 6 奈良先端科学技術大学院大学情報 科学研究科助教授，現在に 至る．平 5 コー ネル大客員準教授 （ 文部省在外研究員 ） ．分 散アルゴ リズム，並列アルゴ リズム，テスト 容易化設計，テス ト 容易化高位合成に 関する研究に ... 完全なドキュメントを参照

... BIST は ， test per scan 方式と test per clock 方式 に分類できる． test per scan 方式では ，回路中の（ 一 部の ）レジ スタを スキャンレジ スタに 変更し ，スキャ ン 操作に より， TPG で 生成し たテ スト 系列を スキャ ンレジ スタにシフト インし ，スキャンレジ スタに 格納 された応答を RA にシフトアウト する． test per ... 完全なドキュメントを参照

... ログラムテンプレートとは，オペランドの値が未決定 のテストプログラムであり，テスト対象モジュールに 対し，テストパターンの正当化及びテスト応答の観測 を行う命令列からなる．この手法では，テンプレート に 対 し ，い く つ か の ラ ン ダ ム パ タ ー ン を オ ペ ラ ン ド に与えたシミュレーション結果から回帰解析により制 ... 完全なドキュメントを参照

... NOT ゲートの出力にはファンアウトがないという回 図 1 ノンロバストテスト可能なパス遅延故障 Fig. 1 A non-robust testable path delay fault. 図 2 パスリーフ化変換（ステップ 1） Fig. 2 The first step of the path-leaf transformation. ... 完全なドキュメントを参照