[PDF] Top 20 J142 e IEICE 2008 3 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J142 e IEICE 2008 3

... To guarantee that the proposed method can achieve 100% template level fault e ffi ciency, we show a su ffi cient condition for a processor such that error masking does not occur during t[r] ... 完全なドキュメントを参照

... 昭 44 阪大・工・電子卒．昭 46 同大大 学院博士後期課程了．阪大工学部助手，明 治大理工学部教授を経て，現在，奈良先端 科学技 術大学院大学情報科 学研究科教授． 昭 56 ウォータールー大客員助教授．昭 59 マッギル大客員準教授．論理設計，高信頼 設 計 ，設 計 自 動化 ，テ ス ト容 易 化 設計 ，テ ス ト生 成 ，並 列処 理，計算複雑度に関する研[r] ... 完全なドキュメントを参照

... 行うことが 困難であり，これらの特徴に 対応し た新し い並列計算モデ ルが 望まれ ていた ． 本論文では上記の要求に 対応し た並列計算モデ ルで あ る BSP （ Bulk-Synchronous Parallel ）モデ ル [9] ， 及び その 拡張モデ ルであ る BSP ∗ モデル [2] を 使用し てアルゴ リズムの提案を行う． BSP モデルは Valiant ... 完全なドキュメントを参照

... SoC の外部から内部の各コアへのテストアクセスが可能で ある必要が ある．更に ，このテストアクセス方式によりコア間の信号線も可検査である必要が ある． SoC では縮 退故障など のような論理故障のみならず，遅延故障など のようなタ イミング 故障のテ スト も重要となる．そのた めには ，コアに 実動作速度（ ... 完全なドキュメントを参照

... M j を通る場合を考 える．観測経路が M j の非伝搬入力 x 上を通る場合， M j の伝搬入力 x と出力ポート z 間にスルー機能が ない場合には，任意の値を伝搬できない．ここで， M j の y に定数を与えて x–z 間のスルー機能を実現でき る場合について考える．外部入力から M j ... 完全なドキュメントを参照

... ，計算能力，通信能力など の点でパフォーマン スが 低いため ，移動端末にかか る負荷が 小さい手法が 望まれ る．分散シ ステムの問題とし て ， 端末の移動や ，トポロジーの変化に 伴うオーバヘッド を考慮し なければ ならない．更に ，無線チャネル の帯域幅 の空間再利用の観点など から ，クラスタ構成をすることによって ... 完全なドキュメントを参照

... a 3-D bin packing algorithm which grouped virtual cores into shelves wherein all cores belonging to the same shelf become active at the same time and each shelf becoming active sequen- ... 完全なドキュメントを参照

... 査性を満たすことができない． e を除去するために ， e によって支配され る組合せ回路要素の入力に 任意の順 序で TMUX を 付加し ， e に 到達不能な PI が 存在す る場合はその PI から ，なければ 任意の PI と TMUX を接続する．これを e が カット エッジでなくなるまで 繰り返す．一つの ... 完全なドキュメントを参照

... るための十分条件を示し たが ，この十分条件での故障 検出率を実験的に 評価する．実験には ，ワークステー ションとし て Sun Blade 1000 を用い，テ スト 生成に は TestGen （ Synopsys ）を 用いた ．対象と す る 回 路 は ， DP4 及び ISB-RISC である． DP4 は四つのベン チマーク回路 Tseng ， 4thIIR ， LWF ， ... 完全なドキュメントを参照

... A BIST Based on Concurrent Single-Control Testability of RTL Data Paths Ken-ichi YAMAGUCHI † , Hiroki WADA †† , Toshimitsu MASUZAWA ††† , and Hideo FUJIWARA † あらまし レジ スタ転送レ ベルデ ータパスの組込み自己テ スト 法とし て ，単一制御可検査性に 基づ ... 完全なドキュメントを参照

... 入力隣接レジスタにデータ転送を行う命令が別のレジ スタの値を必要とするかもしれない．すなわち，ある 命令に先行して別の命令を実行する必要がある．提案 手法では，選択した複数の命令の実行順序に関する依 存関係を半順序関係として抽出し，外部入力から入力 隣接レジスタの値を正当化するために必要なすべての ... 完全なドキュメントを参照

... NC のテ スト 系列長を基準とし た TC 又は 3TC のテ スト 系列 長の 割合を 示す． TC は NC に 比べ て ， テスト 系列長を 45 ∼ 55 ％に 削減することができた ．ま た 3TC と 比較すると ，テ スト 系列長は 複数の基 本テ ンプレ ート の圧縮を同時に 考え ることによって効果の ... 完全なドキュメントを参照

... − 3n − 1 のプロトコルが提案されていた（ n:プロセッサ数） ．本論文では ，同期時 間 12n の無待機時計合せプ ロトコルを提案する．また，無待機時計合せプロトコルの同期時間の下界が n − 1 であることを証明し ，本論文で提案するプ ロト コルが 同期時間に 関し てオーダ 的に ... 完全なドキュメントを参照

... ィング の主要な手続きは ， SDFG 中の演算 を演算器に 割り当てる演算器バ インデ ィング と変数を レジ スタに 割り当てるレジ スタバ インデ ィングからな る．一般には演算器バ インデ ィング とレジ スタバ イン デ ィングに 分けて問題を解く．ここでは 演算器バ イン デ ィング，レジ スタバ インデ ィング の 順に 行う手法を 考える．各バ インデ ... 完全なドキュメントを参照

... Genesis のテ ストプ ランと同様にデ ータパスの外部入力から回路要 素への任意の値の伝達と ，回路要素が 出力し 得る任意 の値のデ ータパスの外部出力への伝達を保証する．提 案する DFT 手法を 適用し た RTL デ ータパ ス上の各 回路要素に 対し てテ スト ... 完全なドキュメントを参照

... 4. 2. 1 制御経路の決定と DFT 要素付加 各組合せ回路要素に対し，最小の付加ハードウェア で実現できる制御経路（ 2 入力組合せ回路要素の場合 は，互いに共通部分をもたない二つの制御経路）を決 定し， DFT 要素（マルチプレクサ，スルー機能）を付 加する．制御経路を求める組合せ回路要素は，一つず つ処理していくが，先の処理で付加した DFT 要素は ... 完全なドキュメントを参照

... † 奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科 ，生駒市 Graduated School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology, Ikoma-shi, 630–0101 Japan 安定プ ロト コルは ，長期にわたって分散シ ステムの状 況を安定に 保ち，プ ロセ スの一時的な故障に 柔軟に 対 応することが ... 完全なドキュメントを参照

... 井上 智生 （ 正員 ） 昭 63 明大・工・電子通信卒．平 2 同大 大学院博士前期課程了．同年松下電器産業 （ 株 ）入 社．明治大大学院博士後期課程を 経て，平 5 奈良先端大情報科学研究科助手． 平 11 より広島市立大学情報科学部助教授． 松下電気電器産業（ 株 ）に おいて マイクロ プ ロセッサの研究開発に 従事．明治大，奈良先端大，広島市大 に おいて ，テスト 生成，並列処理，テスト 容易化設計に 関する ... 完全なドキュメントを参照

... Fig. 4 NoC-reuse wrapper architectures [26]. and the SoC’s primary I/Os. 3. NoC Wrapper Architecture The IEEE 1500 [21] standard wrapper is designed to be used optimally when both the following conditions are ... 完全なドキュメントを参照

... All proposed scheduling approaches are minimizing the sys- tems test application time but are taking different issues into consideration. Chakrabarty focus on test conflicts imposed by external tests and BIST (Built-In ... 完全なドキュメントを参照