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700 Chestnut Ridge Road Chestnut Ridge, NY, Tel: (845) , Fax: (845) teledynelecroy.com 2014 Teledyne LeCroy, Inc. All righ

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(1)

QPHY-DDR3

オペレーターズ・マニュアル

Revision A – August, 2014

Relating to the following release versions: Software Version Rev. 7.4.

Script DDR3.irt

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922537 Rev A

2

700 Chestnut Ridge Road

Chestnut Ridge, NY, 10977-6499

Tel: (845) 425-2000, Fax: (845) 578 5985 teledynelecroy.com

© 2014 Teledyne LeCroy, Inc. All rights reserved.

Teledyne LeCroy やその他の製品名またはブランド名は、それぞれの所有者の商標または登録商標です。 本書に記載の情報は、以前のすべての版に優先します。仕様は予告なく変更することがあります。

922537 RevA August, 2014

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目次

はじめに ... 6 QualiPHY について ... 6 QPHY-DDR3 概要 ... 6 テストに必要な機器 ... 6 セットアップ ... 7 デュアル・モニタの設定 ... 7 リモートコントロールの設定 ... 7 QualiPHY の使用 ... 8 ソフトウェアへのアクセス ... 8 General Setup ... 8 QualiPHY のテスト手順 ... 11 オシロスコープと DUT を接続します。接続方法はQPHY-DDR3 試験構成の章をご覧ください。 ... 11 QualiPHY のカスタマイズ ... 15 QPHY-DDR3 による試験 ... 19 試験の準備 ... 19 プローブのデスキュー ... 19 Read(R)および Write(W)バースト要件 ... 22 測定開始前の信号チェック ... 23 QPHY-DDR3 試験構成 ... 24 Clock Tests ... 27

tCK(avg), Average Clock Period ... 27

tCK(abs), Absolute Clock Period ... 27

tCH(avg), Average High Pulse Width ... 27

tCL(avg), Average Low Pulse Width ... 27

tCH(abs), Absolute High Pulse Width... 27

tCL(abs), Absolute Low Pulse Width ... 27

tJIT(duty), Half Period Jitter ... 27

tJIT(per), Clock Period Jitter ... 27

tJIT(cc), Cycle to Cycle Period Jitter ... 28

tERR(n Per), Cumulative Error ... 31

Eye Diagram – DQ and DQS Eyes ... 34

Write Bursts (Inputs) – CK as Timing Reference ... 34

Write Bursts (Inputs) – DQS as Timing Reference ... 35

Read Bursts (Outputs) – CK as Timing Reference ... 36

Read Bursts (Outputs) – DQS as Timing Reference ... 37

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SlewR/SlewF, Input Slew Rate ... 39

VIH(ac)/VIL(ac), Differential AC input logic high/low ... 41

Time Above AC-Level (tDVAC and tVAC) ... 43

AC Over/Undershoot ... 45

VSWING(MAX), Input Signal Maximum Peak to Peak Swing ... 49

VSEH(ac)min/VSEL(ac)max, Single-ended AC high/low level ... 50

VIX(ac), AC Differential Input Cross Point Voltage ... 52

Electrical Tests on Read Bursts ... 54

VOH(ac)/VOL(ac), Differential AC output logic high/low ... 54

SRQ, Output Slew Rate ... 56

VSWING, Output Signal Maximum Peak to Peak Swing ... 58

Electrical Tests on Supply Signals ... 60

Vref(DC) ... 60

Timing Tests on Write Bursts ... 62

tDQSS, CK to DQS Skew ... 62

tDQSH/tDQSL, DQS Input High/Low Pulse Width ... 64

tDIPW, DQ Input Pulse Width ... 66

tDSS/tDSH, DQS to CK Setup/Hold Time ... 68

tDS(base)/tDH(base), DQ to DQS Setup/Hold Time ... 70

tWPRE/tWPST, Write Pre/Postamble Time ... 72

tIS(base)/tIH(base), ADD and CTRL Setup/Hold Time ... 74

tIPW, Control and Address Input Pulse Width for Each Input ... 76

Timing Tests on Read Bursts ... 77

tDQSQ, DQS to DQ Skew ... 77

tQSH/tQSL, DQS Output High/Low Time ... 79

tQH, DQ Output Hold Time ... 81

tDQSCK, CK to DQS Skew ... 83

tHZ/tLZ, High/Low Impedance Time ... 85

tRPRE/tRPST, Read Preamble ... 87

QPHY-DDR3 変数 ... 89

QPHY-DDR3 Limit Sets ... 97

Appendix A: File name conventions for saved waveforms ... 98

Appendix B: Common Warning Messages ... 99

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このマニュアルについて

このマニュアルはあなたがオシロスコープの使用方法 -特に QualiPHY をご使用になる Teledyne LeCroy 製オシロスコープ- について慣れており、すでに QPHY-DDR3 オプションをご購入されている と仮定しています。いくつかの画面キャプチャは異なるオシロスコープ・モデルでキャプチャされてい るかもしれませんが、一般的な概念の説明を意図しています。お使いのオシロスコープの画面と異なる かもしれませんが、機能は同じですのでご安心ください。

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はじめに

QualiPHY について QualiPHY は対応する規格団体によって発行された公式ドキュメントに従ってデバイスの物理層の開 発・評価を行う際に役立つ高度に自動化されたテスト・ソフトウェアです。カスタマイズした変数や規 格値を用いた内部規格としてのコンプライアンス・テストも実施することが可能です。 QualiPHY は、共通のユーザインターフェイスを介して設定および各規格ごとに個別のテストの制御を 可能にする”フレームワーク”アプリケーションから構成されています。機能は次のとおりです。  ユーザにより定義可能なテスト・リミット : その後別の機器で測定した場合でも、デバイスが十分 余裕をもってパスする様にするためにリミット値を厳しく変更することが出来ます。  XML 形式による結果生成を含む柔軟なテスト結果レポート : 被測定デバイスの特定項目に関連す る情報を抽出したり、デバイス特性のバラツキを理解する事が出来ます。 QPHY-DDR3 概要

QPHY-DDR3 は JEDEC 規格 No. JESD79-3F(DDR3)および JESD79-3-1A.01. 補遺(DDR3L)に沿って リアルタイム・オシロスコープで行われる全てのDDR の試験を実行する自動テストパッケージです。

こ の ソ フ ト ウ ェ ア は 、 Teledyne LeCroy の SDA/DDA/WavePro 725/735/740/760Z 、 SDA/DDA/WaveMaster 8Zi , LabMaster9Zi-A, 10Zi の全てのシリーズで実行することができます。 DDR3 の各スピードグレードと最小推奨帯域については以下の表を参照してください。 DDR3 推奨帯域 DDR3(1600MT/s 以下) 6GHz DDR3(1866MT/s 以上) 8GHz DDR3L(全スピード・グレード) 8GHz テストに必要な機器  QualiPHY ソフトウェアをインストールし、QPHY-DDR3 キーコードをアクティベートした Teledyne LeCroy 製リアルタイム・オシロスコープ  ディエンベットを行う場合は VirtualProbe オプションが必要です。  帯域要件を満たす最低で3 本の差動プローブ(いくつかの測定セットアップでは 4 本必要になります)

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セットアップ

デュアル・モニタの設定 QualiPHY のご利用にはデュアル・モニタ(拡張ディスプレイ設定)の使用がお勧めです。これによりオシ ロスコープのLCD ディスプレイには波形と計測結果を表示し、外部モニタには QualiPHY アプリケー ションとテスト結果レポートを表示できます。 デュアル・モニタの設定方法はオシロスコープのオペレーターズ・マニュアルと基本操作マニュアルを ご覧ください。 リモートコントロールの設定 QualiPHY ソフトウェアはオシロスコープ上で動作させることの他にリモート PC 上で動作させること も出来るようになっています。この為、QualiPHY からオシロスコープを制御するには LAN 接続の設定 を必要とします。オシロスコープ上でQualiPHY を動作させる場合も Remote 設定で TCP/IP を選択し てください。

オシロスコープのリモート設定

1. メニューバーから Utilities  Utilities Setup...を選択します。

2. 画面下の設定ダイアログで Remote タブを開き、Control From のセクションで TCP/IP を選択しま す。

なおオシロスコープ上でQualiPHY ソフトウェアを動作させる場合は  ネットワーク・ケーブルの接続は必要ありません。

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QualiPHY の使用

この章では QualiPHY のユーザ・インタフェースと一般的な操作についての概要を解説します。 QPHY-DDR3 についての詳細な情報はQPHY-DDR3 による試験の章をご参照ください。 ソフトウェアへのアクセス オシロスコープ画面のメニューバーから Analysis>QualiPHY を選択します。 QualiPHY フレームワーク・ダイアログは全般的な設定から個別のコンプライアンス・テストの動作に いたるソフトウェア全体の流れを示しています。左から右に向かって、各サブ・ダイアログにて必要と なる設定を行ってゆきます。 QualiPHY フレームワーク・ダイアログとシリアル規格選択メニュー サブ・ダイアログは各手順に関連する設定項目毎にタブ分けされています。これらは以降のセクション にて詳しく説明します。

もし Pause on Failure にチェックが入っている場合ね、QualiPHY はテスト項目が Fail した場合に、再 計測を行うかどうかを訊ねるメッセージを表示します。 フレームワーク・ダイアログの Exit ボタンは QualiPHY アプリケーションを終了します。 General Setup 最初のサブ・ダイアログでは一般的なシステム設定を行います。ここでの設定は変更するまで、規格に 関係なく有効となります。 Connectionタブ

通常はオシロスコープ上でQualiPHY を動作させます。この場合 IP Address of the oscilloscope の設定 が 127.0.0.1 になっていることを確認します。

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Session Infoタブ

テスト結果レポートに付記するテスト・セッションのオプション情報です。以下の情報が追記できます。 オペレータ名, Device Under Test (DUT), 温度(℃), 追加コメント

また、Contnue previous session にチェックを入れてテストを行った場合に結果を追記(Append Results) するか、置き換え(Replace Results)て最終結果を記載するかの選択をする事が出来ます。

結果レポートを区別するために各セッションのはじめに最低でもDUT 名を入力するようにします。

Start 後に出る Session Info ウィンドウ

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Reportタブ

自動生成レポートに関係する設定です。  Reporting behavior

▢ “Ask to generate a report after tests.” : これはテスト結果の新しいレポートファイル生成時に 確認メッセージを表示する場合に選択します。

▢ “Never generate a report after tests.” : レポート生成をマニュアルで実行する場合に選択し ます。

▢ “Always generate a report after tests.” : テスト後にレポートを自動生成する場合に選択しま す。

 Default レポート出力タイプ : XML, HTML, もしくは PDF のいずれかを選択します。  Output file name : レポートを保存するフォルダのフルパスを含んで指定します。

Allow style sheet selection in Report Generator にチェックを入れて、レポート生成時(XLM および HTML 出力時のみ)にカスタムの .xslt を適用することも可能です。

Report Generator は Report タブと同じ内容を各レポート生成時毎に設定できる Report Generator ダイ アログを開きます。

Report Generator ボタンを押したときに表 示されるウィンドウ

Advancedタブ

このタブはX-Replay Mode ダイアログを開きます。X-Replay Mode を参照してください。

Aboutタブ

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QualiPHY のテスト手順 General Setup を設定し終わったら、テスト・セッションを開始するステップに入ります。 テスト・セッションの設定 オシロスコープと DUT を接続します。接続方法はQPHY-DDR3 試験構成の章をご覧ください。 1. QualiPHY ソフトウェアを開き、フレームワーク・ダイアログを表示します。 2. 他のシリアル規格のオプションもアクティベートされている場合、Standard をクリックしてテスト を行う規格を選択します。前回測定を行った規格がデフォルトとして表示されています。 3. Configuration ボタンをクリックします。 4. ポップアップ・メニューから、実施する試験構成を選択します。ここに表示される試験構成の詳細 はQPHY-DDR3 試験構成の章をご参照ください。 Note: 他のシリアル規格がダイアログに表示される場合でも、オプション・キーコードがアクティベ ートされていない場合、テストは実施できません。

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ここで、画面にある鍵マークの付いた工場出荷時の定義済み試験構成をコピーし、設定を変更してカス タム試験構成を作成することも可能です。詳細はQualiPHY のカスタマイズの章をご参照ください。

5. Close ボタンを押して Edit/View Configuration ダイアログを閉じ、フレームワーク・ダイアログに 戻ります。 テストの開始 1. フレームワーク・ダイアログにて Start ボタンを押してテストを開始します。 テストが開始されると、このボタンは Stop ボタンに切り替わります。テストを途中で止めたい場合にク リックします。停止したところからテストを再開することも、最初からテストをやり直すことも出来ま す。 2. ポップアップ・ウィンドウに従って進めます。QualiPHY は各テストにおける DUT 接続図の表示も 行い、規格の仕様書で定められたテストを順を追ってナビゲートします。

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3. 全テスト項目が問題なく完了した場合、フレームワーク・ダイアログのプログレス・バーが全部緑 に変わり、“All tests completed successfully” と表示されます。もし問題が発生した場合、ポップ アップ・ウィンドウで以下の選択肢が提示されます。

 Retry : 問題があって停止した項目からテストを再実行します。  Ignore and Continue : 無視して先に進みます。

 Abort : テストをここで終了します。

結果レポートの生成

QualiPHY ソフトウェアはレポート生成を自動化します。フレームワーク・ダイアログから General Setup > Report タブを開き、レポート生成の初期設定を行います。同様に、テスト実施後にフレームワ ーク・ダイアログの Report Generator ボタンから手動でレポート生成を行うことも可能です。

Report Generator ボタンを押すと、Report タブでの選択と同様のメニューが出てきます。システムの初 期設定とは別個に、各レポート毎個別に適用されます。これによりレポートファイルを上書きせずに各 テスト・セッション毎にレポートを保存することが出来ます。その他、レポートをカスタム・スタイル・ シート(.xslt)にリンクするオプションや Informative 項目の結果をレポートに含めない様にするオプショ ンがあります。

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テスト・レポートは詳細テスト結果ページへリンクされたサマリーテーブルを含みます。(但しリンクが 有効なのはHTML 形式の場合のみ)

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レポートはデフォルトではC:¥Program Files (x86)¥LeCroy¥XReplay に保存されます。 レポートファイルに添付されるロゴは以下のファイルを置き換えることで変更できます。 C:¥Program Files (x86)¥LeCroy¥Xreplay¥StyleSheets¥CustomerLogo.jpg

ロゴ画像ファイルの推奨最大サイズ72dpi にて 250x100 ピクセル、24bit 1670 万色です。フォルダにあ る元のファイルと同じ名前、同じフォーマットにします。 QualiPHY のカスタマイズ 画面にある鍵マークの付いた工場出荷時の定義済み試験構成は変更できません。しかし、標準テスト・ 試験構成をコピーし、編集することでカスタム試験構成を作成することが可能です。 Setupタブ Setup タブでは DDR テストを構成するときに重要になる項目を簡単に設定できます。以下の項目が定義 可能です : 1. プロトコルのバージョン - DDR3 あるいは DDR3L 2. スピード・グレード - リストからあるいはカスタム・スピード・グレードを選択 3. プローブ構成 - QPHY-DDR3 試験構成の章を参照

4. テストするバースト - Write, Read あるいは Write か Read のみ

試験構成のコピー 1. QualiPHY フレームワークを開き、Standard を選択(DDR3) 2. Edit/View Configuration をクリックし、新しく作る試験構成の元となる試験構成を選択。鍵 マークの付いた工場出荷時の定義済み試験構成もしくは他のカスタムコン試験構成を選択 可能です。 3. Copy をクリックし試験構成の名称と説明を入力。一度カスタム試験設定を定義すると、設 定した名称でConfiguration タブに表示されるようになります。

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4. 新しいカスタム試験設定を選択し、以後の手順に従って設定を変更してゆきます。

テスト項目の選択

Test Selector タブにてテストを行う項目をチェックします。各テスト項目はDDR3 規格もしくは DDR3L 補遺によって定義されているものです。項目を選択すると各テストの説明が表示されます。

個々のテストやテスト・グループを繰り返し実施するにはloop indefinitely until stop を選択するか、繰 り返し回数を入力します。繰り返し回数を設定する場合には、その前にenable にチェックを入れます。

変数の編集

Variable Setup タブには試験変数のリストがまとめられています。各変数については QPHY-DDR3

Variables の項目を参照してください。

値を編集するには:

1. Variable Setup タブで変数を選択し、Edit Variable をクリックします。(その項目の値をリ セットするには Reset to Default ボタンを押します)

2. その変数の現在の値がポップアップしてきます。適用したい新しい設定を選択します。 Note: どの試験設定においても設定内容を変更した場合にはダイアログ上の Save ボタンがアクティ ブになります。もしカスタム試験設定を変更した場合、変更を反映させるためには Save ボタンを押 します。

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テスト・リミットの編集 Limits タブは、その試験構成にて使用される判定値のセットを表示しています。カスタム試験構成にて、 このタブでどんなテスト判定値でも指定することが可能です。 Limits Manager で判定値セットの中の各設定値を見ることができます。デフォルト・セットは規格によ って規定された判定値に設定されています。 カスタム判定値セットを作成するには:

1. Limits タブにて、Limits Manager ボタンをクリックします。

2. デフォルトのセットが選択されている場合は Copy Set をクリックし、名称を入力します。

3. 編集したい項目をダブル・クリックします。ポップアップ・メニューから新しい値を入力 します。

Note: 他のカスタム試験構成のカスタム・リミット・セットもコピーもしくは編集することが可能で す。

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同様に.csv ファイルから Import Limits ボタンで判定値セットを読み込むことが出来ます。ボタンをクリ ックしてファイルを指定します。

Tips : 同様に Export Limits ボタンで、現在のリミット値セットから.csv ファイルを作成することが出来 ます。Import するリミット値セットを作成する際,Export したファイルを元に編集する事が出来ます。

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QPHY-DDR3 による試験

試験の準備 テストもしくはデータ捕捉を開始する前に、オシロスコープを最低20 分ウォーミングアップします。キ ャリブレーションはソフトウェアから自動的に実施されるため、手動でのキャリブレーションは不要で す。もしオシロスコープの温度が、そのオシロスコープで規定された温度範囲を超えた場合にも自動的 に実施されます。 プローブのデスキュー DDR の計測において、適切な信号タイミングをテストするために QPHY-DDR3 を開始する前にプロー ブを適切にデスキューしておくことが大切です。理想的には、デスキューを行う場合、QualiPHY が動 作して信号を捕捉するのと同じ条件で行うべきです。規格適合テストを行っている時と同じ条件でデス キューされていることを確認します。デスキュー値を設定するとQPHY はそれを保存し、各テスト前に その値を呼び出して適用します。 必要な機器  PCF200(D4x0-PS, D6x0-PS, Dxx30-PS プローブ・システム、あるいは WL-PLINK-CASE, WL-PBUS-CASE に同梱)  Square-Pin(SP)チップ(D4x0, D6x0, Dxx30 に同梱)  50Ω終端

Note: 50Ω終端の代わりに、チャンネル入力に LPA-K-A アダプタをつけ、SMA ケーブルで PCF200 と接続しても構いません。 デスキュー方法 この手順を行う前に、オシロスコープおよびプローブを最低20 分ウォーミングアップしておく必要があ ります。 1) PCF200 をオシロスコープの Fast Edge 出力に接続します。PCF200 フィクスチャは2つ の信号パスをもっています。写真の上側の信号パスはSolder-In(SI)、Quck-Connect(QC)、 リードおよびAdjustable Tip(AT)先端チップに対応します。下側は Square-Pin(SP)リード

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に対応します。プローブ先端の種類に合わせてどちらかをFast Edge 出力に接続します。 接続の簡略化の為に、SP リードの使用を推奨します。同じ先端リードが使用されるのであ れば、先端リードの種類が実際の測定時と異なっていても問題ありません。 2) プローブは該当の接続エリアに電気的にはシングルエンドで接続されます。プローブ先端 の正極側を信号トレース(GND プレーンに挟まれた信号ライン)側に、負極側は GND プ レーン側に接続します。正極側の表示はプローブ先端に+マークで表示されています。反 射の影響を最小限にするため、信号パスの反対側には50Ω終端を接続します。あるいは 50 Ω終端が無い場合はSMA ケーブルで PCF200 とオシロスコープの入力を接続しても構い ません。 3) オシロスコープのトリガ・ソースを”fast edge”に指定し、トリガ・タイプを”edge”にします。 オシロスコープのタイムベースのdelay はゼロにします。 全て適切に設定されたならば、オシロスコープの画面は以下の様になるはずです。もし、プローブによ る伝搬遅延もオシロスコープ内部のチャンネルの伝搬遅延も無ければ50%トリガ・レベルはオシロスコ ープのグリッド中央に来るはずです。 チャンネルのデスキュー値は、50%立ち上がりエッジ点が下図に示すように画面中央に来る様に調整し ます。チャンネル設定ダイアログから、Sinx/x 補間を enable にし、averaging を 50 にします。デスキ ュー値を調整する為に Deskew エントリをタッチして黄色にハイライトさせます。そして、Adjust コン トロール・ノブをまわして値を変更します。タイムベースを10ns/div から始めて、トレースの立ち上が りエッジの位置を中央に来る様にデスキュー値を調整します。さらにタイムベースを20ps/div に下げ、 トレースの立ち上がりエッジの50%点の位置が中央に来る様にデスキュー値を調整します。このプロセ スを各プローブに対して同じプローブ先端リードを用いて繰り返します。次のプローブに移る前に、 Averaging を 1 に、Sinx/x 補間を off に戻しておきます。

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QualiPHY は動作の最初に各チャンネル設定ダイアログからデスキュー値を読み取って保存し、各測定 時に呼び戻してその値を適用します。しかし、手動でデフォルト・セットアップを呼び出したり、差動 プローブのAutoZero を行ってしまうとこの値は消えてしまう為、後で値を呼び戻せる様にデスキュー操 作が終了したらパネルセットアップを保存しておくことをお勧めします。 プローブの接続 接続する信号の決定 QPHY-DDR3 でテストを走らせるとき、どの信号ラインをプロービングすべきかは試験項目によって違 ってきます。各テスト構成において、どの信号ラインを使用するか分かりやすくするために、 Configuration タブに出てくる標準試験構成の名称にはプローブ設定を追記してありますが、個別のテス トでのプローブ設定を見るにはTest Selector タブで各項目を選択しハイライトします。

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最適なプロービング位置 DDR3 仕様は、DRAM チップの BGA 実装のボール位置で規定されています。この為、より仕様に従っ た条件で測定するために極力DRAM に近い場所でプロービングするべきです。これは信号の反射の影響 を最小にすることにもなります。しかしながら、いくつかの状況下では、コントローラ側に出来るだけ 近いところでプロービングした方が意味がある場合もあります。例えば、ユーザがコントローラの設計 者でコントローラの動作特性にのみ興味がある場合です。この様な場合には試験判定値のいくつかは適 切ではないことを覚えておく必要があります。 最も望ましいプロービング・ポイントのひとつはメモリIC 直下の貫通ビアの基板裏側です。この場合は 一般的に非常によい信号忠実度が得られます。しかしながら、ここにプロービング出来る場合ばかりで はありません。それ以外ではNexus Technologies 社によって提供される様なインタポーザを使用するこ とです。どんな場合でもDRAM から等距離のポイントでプロービングするのが大切です。これによりタ イミング計測において追加のスキューを発生させない事を保証できます。 Read(R)および Write(W)バースト要件 R/W バーストの検知 QPHY-DDR3 は R および W バーストをデータ(DQ)とストローブ(DQS)信号のスキューによって切り分 けます。W バーストにおいては QPHY は DQ と DQS 信号を約 1/4 位相ずれたものと考えます。R バー ストについては、QPHY は DQ と DQS 信号が同相であると考えます。 R/W バーストの生成 QPHY-DDR3 では最低でも 10 の R バースト、あるいは 10 の W バーストを各捕捉波形に含むことを推 奨しています。しかし、統計的な有効性を高めるために、もっと多くのバーストを強く推奨します。DRAM とコントローラを制御できるプログラムはオンラインで広く入手可能です。ひとつの例として

Memtest86+ が memtest.org からダウンロード可能です。Memtest を使う場合の推奨は test mode 7 です。このモードではランダムにR と W バースト両方を発生します。また、DUT をシミュレートする のにユーザ自作のプログラムを使用する事も可能です。

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測定開始前の信号チェック QPHY-DDR3 を走らせる前に、ユーザは意味のある測定が出来るかどうかを確認するために簡単に波形 をチェックしておくことが必要です。この章ではQPHY-DDR3 を走らせる前にオペレータが確認すべき いつくかの基本的な項目について述べます。 期待されるチャンネル デフォルトの設定では、QPHY-DDR3 は CH1 にクロック(CK)、CH2 に DQS、CH3 に DQ 信号が表示 されることを想定しています。これは接続図に示される通りです。Channel Index変数ではそれらのチャ ンネルを変更することが出来ます。 信号振幅 最良の結果を得るためには信号の振幅がグリッドの80%にになるようにする事が推奨されます。各信号 の画面上の振幅を調整するには Channel Gain 変数を使います。QPHY-DDR3 を走らせる前に最適ゲイン に設定することで最良の結果を得ることが出来ます。 クロック周波数 オシロスコープのfrequency 計測パラメータを使用することで、ユーザは DDR システムが動作している トランスファ・レートを確認できます。(トランスファ・レート=Frequency * 2) この確認は試験判定値 の選択にも必要です。同時に目視による簡易チェックを行い、反射によるエッジの段差が生じていない ことを確認することも必要です。

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R/W バースト存在の確認 オペレータは、そのデバイスが必要となるバーストを出力しているかどうかを確認する簡単なチェック を行う必要があります。一般的に、R バースト中の DQ と DQS は同相、W バースト中の DQ と DQS は 1/4 サイクルずれていなければなりません。またさらに、R および W バーストがあるかどうかの判別に 振幅差をみることもひとつの方法です。R バーストは、W バーストよりも振幅が大きくなります。もし メモリチップとコントローラの距離が離れている場合は、メモリ側でプロービングしているのであれば その差は目視でわかるぐらいになります。 Idle レベルのチェック QPHY-DDR3 を走らせる前に、オペレータは信号の Idle レベルを簡単に確認しておく必要があります。 もし、信号のIdle レベルがずれている場合は、R/W バーストの検出や電気的、タイミング計測に影響が あります。DQS の Idle レベルは約 0mV、DQ は約 VDD/2(DDR3 の場合 750mV)である必要があり ます。 QPHY-DDR3 試験構成 試験構成には変数の設定、判定値のセットおよびテスト項目の選択が含まれます。各変数やそのデフォ ルト値についての詳細はQPHY-DDR3 変数の章を参照してください。

Clock tests DDR3-1333 (1 probe)

この試験構成は全てのクロックのテストを行います。差動クロックに接続された1 つのプローブが必要 です。全ての変数はデフォルト設定になっています。テスト判定値はDDR3-1333 が選択されています。

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この試験構成は3 プローブが必要となる全ての Write バーストのテストを行います。プローブは差動ク ロック、差動ストローブ、およびシングルエンドのデータに接続する必要があります。全ての変数はそ れらのデフォルト値に設定されています。テスト判定値はDDR3-1333 に設定されています。

CKdiff-DQse-DQSdiff 1333 Read Burst (3 probes)

この試験構成は3 プローブが必要となる全ての Read バーストのテストを行います。プローブは差動クロ ック、差動ストローブ、およびシングルエンドのデータに接続する必要があります。全ての変数はそれ らのデフォルト値に設定されています。テスト判定値はDDR3-1333 に設定されています。

Eye Diagram (3 probes)

この試験構成はRead および Write バースト両方に対して Eye ダイアグラム・テストを行います。プロ ーブは差動クロック、差動ストローブ、およびシングルエンドのデータに接続する必要があります。全 ての変数はそれらのデフォルト値に設定されています。テスト判定値はDDR3-1333 に設定されています。

Eye Diagram with CS Enabled (4 probes)

この試験構成はRead および Write バースト両方に対して Eye ダイアグラム・テストを行います。プロ ーブは差動クロック、差動ストローブ、およびシングルエンドのデータ、チップ・セレクトに接続する 必要があります。”Use Chip Select”が Yes に設定されている以外は全ての変数はそれらのデフォルト値 に設定されています。テスト判定値はDDR3-1333 に設定されています。

CKDiff-DQse-DQS-ADD/CTRLse (4 probes)

この試験構成は Address/Control テストを行います。プローブは差動クロック、差動ストローブ、および シングルエンドのデータ、シングルエンドのAddress/Control 信号に接続する必要があります。全ての 変数はそれらのデフォルト値に設定されています。テスト判定値はDDR3-1333 に設定されています。

Pre/Postamble tests (3 probes)

この試験構成ではPreamble および Postamble のテストを Read および Write 両バーストに対して行い ます。プローブは差動クロック、差動ストローブ、およびシングルエンドのデータに接続する必要があ ります。全ての変数はそれらのデフォルト値に設定されています。テスト判定値はDDR3-1333 に設定さ れています。

Demo of All Tests

この試験構成は D:¥Waveforms¥DDR3 フォルダに置かれた保存された波形を使用し、全てのテストを行 います。”Use Stored Waveforms”が Yes、”Use Stored Trace for Speed Grade”が Yes になっている 以外全ての変数はそれらのデフォルト値に設定されています。テスト判定値はDDR3-1333 に設定されて います。

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QPHY-DDR3 試験の表記 これらは標準の DDR3 コンプライアンス・テストに関するものです。各 QPHY-DDR3 試験構成は異なる入力 信号とプローブ構成を用いたテストのグループを繰り返します。プローブ構成は以下の通りです: 1. CK(diff) - 差動クロック 2. CK(diff)-DQS(diff)-DQ(single ended) - 差動クロック、差動ストローブ、およびシン グルエンド・データ 3. CK(diff)-DQS(diff)-DQ(single ended)-ADD,CTRL(s.e.) - 差動クロック、差動ストロー ブ、シングルエンド・データ、およびシングルエンド・アドレス/コントロール 4. CK(diff)-DQS_t-DQ(single ended)-DQS_c - 差動クロック、シングルエンド・ストロー ブ(true)、シングルエンド・データ、シングルエンド・ストローブ(compliment) 5. CK_t-DQS(diff)-DQ(single ended)-CK_c - シングルエンド・クロック(true)、差動スト

ローブ、シングルエンド・データ、シングルエンド・クロック(complient) 6. VREF(single ended) - シングルエンド VREF

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Clock Tests

この試験構成ではプローブ構成1を使用して実施します。

tCK(avg), Average Clock Period

tCK(avg)は連続した 200 サイクルのクロック周期を計測して平均したクロックとして定義します。クロ ックの周期は立ち上がりエッジから立ち上がりエッジまでを計算します.

tCK(abs), Absolute Clock Period

tCK(abs)はある立ち上がりエッジからその次の連続した立ち上がりエッジまでを計測したものとして絶 対的なクロック周期として定義します。

tCH(avg), Average High Pulse Width

tCH(avg)は Hi 側パルス幅の平均として定義され、連続的した 200 サイクルの Hi 側パルス幅を使い計算 します。

tCL(avg), Average Low Pulse Width

tCL(avg) は Low 側パルス幅の平均として定義され、連続的した 200 サイクルの Low 側パルス幅を使い計 算します。

tCH(abs), Absolute High Pulse Width

tCH(abs)はある立ち上がりエッジから続く立ち下りエッジまでを計測した瞬間的な Hi 側パルス幅として 定義されます。

tCL(abs), Absolute Low Pulse Width

tCL(abs)はある立ち下がりエッジから続く立ち上がりエッジまでを計測した瞬間的な Low 側パルス幅と して定義されます。

tJIT(duty), Half Period Jitter

tJIT(duty)は連続した 200 サイクルを通して累積した一連の tCH jitter や tCL jitter として定義され ます。tCH jitter は tCH(avg)から各 tCH を引いた値の最大偏差。tCL jitter は tCL(avg)から各 tCL を 引いた値の最大偏差。

tJIT(duty) = Min/max of {tJIT(CH), tJIT(CL)}

ここで、tJIT(CH) = {tCHi - tCH(avg) ; i=1 to 200} および tJIT(CL) = {tCLi - tCL(avg) ; i=1 to 200}

tJIT(per), Clock Period Jitter

tJIT(per)は tCK(avg)から各 tCK の偏差を計算し、その最大値として定義されます。 tJIT(per) = Min/max of {tCKi - tCK(avg) ; i = 1 to 200}

(28)

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28

tJIT(cc), Cycle to Cycle Period Jitter

tJIT(cc)は隣り合うクロック間での周期の差として定義されます。 tJIT(cc) = Max of |{tCKi +1 - tCKi}|

tCK, tCH, tCL, tJIT(duty), tJIT(per),および tJIT(cc)テスト完了後のオシロスコープの画面は以下に なります。

この画面に表示されているもの:

(29)

tCK, tCH, tCL および tJIT(duty)の結果 オシロ画面上の Measure セクションにおいて:  tCK rise(P1)は Z1(差動クロック信号)の立ち上がりエッジのみから Vref(0mV)にて計測され た周期。Measure 値の統計表示テーブルにおける平均値が結果レポート中の tCK(avg),rise の計測値に相当。最小値が tCK(abs),rise,min に相当します。最大値は tCK(abs),rise,max に 相当します。  tCK fall(P2)は Z1(差動クロック信号)の立ち下がりエッジのみから Vref(0mV)にて計測され た周期。Measure 値の統計表示テーブルにおける平均値が結果レポート中の tCK(avg),fall の計測値に相当。最小値が tCK(abs),fall,min に相当します。最大値は tCK(abs),fall,max に 相当します。  tCH(P3)は Z1(差動クロック信号)の Hi パルスのみから Vref(0mV)にて計測されたパルス幅。 Measure 値の統計表示の平均値が tCH(avg)に相当し、結果レポート中には mtCK(avg)の単位 で記載されます。最小値は tCH(avg),min に相当し、結果レポート中には mtCK(avg)の単位 で記載されます。

(30)

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30

 tCL(P4)は Z1(差動クロック信号)の Low パルスのみから Vref(0mV)にて計測されたパルス幅。

Measure 値の統計表示の平均値は tCL(avg)に相当し、結果レポート中に mtCK(avg)を単位と して記載されます。最小値は tCL(abs),min に相当し、結果レポート中に mtCK(avg)を単位 として記載されます。  tJIT(CH)(P5)は全ての tCH の値から P3(tCH(avg))の平均値を差し引いた値。統計表示の最 小値は tJIT(CH),min に相当し、最大値は tJIT(CH),max に相当します。  tJIT(CL)(P6)は全ての tCL の値から P4(tCL(avg))の平均値を差し引いた値。統計表示の最小 値は tJIT(CL),min に相当し、最大値は tJIT(CL),max に相当します。

 tJIT(per)rise(P7)は全ての tCK rise の値から P1(tCK(avg),rise)の平均値を差し引いた値。 統計表示の最小値は tJIT(per)rise,min に相当し、最大値は tJIT(per)rise,max に相当します。  tJIT(per)fall(P8)は全ての tCK fall の値から P2(tCK(avg),fall)の平均値を差し引いた値。 統計表示の最大値は tJIT(per)fall,min に相当し、最大値は tJIT(per)fall,max に相当します。  tJIT(cc)rise(P9)は2つの連続したクロック周期の差を立ち上がりエッジのみから求めます。 全ての連続した2クロック周期の絶対最大偏差は tJIT(cc)rise に相当します。  tJIT(cc)fall(P10) は2つの連続したクロック周期の差を立ち下がりエッジのみから求めま す。全ての連続した2クロック周期の絶対最大偏差は tJIT(cc)fall に相当します。  tJIT(duty)min(P11)は tCH/tCL クロック周期の最小値と tCH/tCL の平均値の差の最小値。こ れは tJIT(duty),min に相当します。  tJIT(duty)max(P12)は tCH/tCL クロック周期の最小値と tCH/tCL の平均値の差の最大値。こ れは tJIT(duty),max に相当します。

(31)

tERR(n Per), Cumulative Error

tERR は tCK(avg)からn倍の連続したサイクルに渡る累積エラーとして定義されます。

12 の異なるテストがあります:

tERR(2per), tERR (3per), tERR (4per), tERR (5per), tERR(6per), tERR (7per), tERR (8per), tERR (9per), tERR (10per), tERR (11per), tERR (12per), tERR (13-50per)

Note : tERR(2per), tERR (3per), tERR (4per), and tERR (5per) についてのみ以下で解説します。全 ての tERR(n per)テストの設定はみなどれも同じです。

tERR(2per), tERR(3per), tERR(4per)および tERR(5per)テストの完了後のオシロスコープ画面は以下に なります。

この画面に表示されているもの:

(32)

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32

tERR(2per), tERR (3per), tERR (4per), and tERR (5per) の結果

オシロ画面上の Measure セクションにおいて:  tCK rise(P1)は Z1(差動クロック信号)の立ち上がりエッジのみから Vref(0mV)にて計測され た周期。この値は立ち上がりエッジにおける tERR の値の計算に使用されます。  tCK fall(P2)は Z1(差動クロック信号)の立ち下がりエッジのみから Vref(0mV)にて計測され た周期。この値は立ち下がりエッジにおける tERR の値の計算に使用されます。  tERR(1 per)r(P3)は Z1(差動クロック信号)の立ち上がりエッジ(正パルス)のみから Vref(0mV)において計測された TIE 計測値。この値はインターバル1(1サイクル)の計測 設定になります。オシロ画面上の表示のみとなり結果レポートには表示されません。  tERR(1 per)fall(P4)は Z1(差動クロック信号)の立ち下がりエッジ(負パルス)のみから Vref(0mV)において計測された TIE 計測値。この値はインターバル1(1サイクル)の計測 設定になります。オシロ画面上の表示のみとなり結果レポートには表示されません。  tERR(2 per)r(P5)は Z1(差動クロック信号)の立ち上がりエッジ(正パルス)のみから Vref(0mV)において計測された TIE 計測値。この値はインターバル2(2サイクル)の計測設 定になります。Measure 値の統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の tERR(2per)rise,min の計測値に相当します。最大値が tERR(2per)rise,max に相当します。  tERR(2 per)fall(P6)は Z1(差動クロック信号)の立ち下がりエッジ(負パルス)のみから Vref(0mV)において計測された TIE 計測値。この値はインターバル2(2サイクル)の計測設 定になります。Measure 値の統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の tERR(2per)fall,min の計測値に相当します。最大値が tERR(2per)fall,max に相当します。

(33)

 tERR(3 per)r(P7) は Z1(差動クロック信号)の立ち上がりエッジ(正パルス)のみから Vref(0mV)において計測された TIE 計測値。この値はインターバル3(3サイクル)の計測設 定になります。Measure 値の統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の tERR(3per)rise,min の計測値に相当します。最大値が tERR(3per)rise,max に相当します。  tERR(3 per)fall(P8)は Z1(差動クロック信号)の立ち下がりエッジ(負パルス)のみから Vref(0mV)において計測された TIE 計測値。この値はインターバル3(3サイクル)の計測設 定になります。Measure 値の統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の tERR(3per)fall,min の計測値に相当します。最大値が tERR(3per)fall,max に相当します。  tERR(4 per)r(P9) は Z1(差動クロック信号)の立ち上がりエッジ(正パルス)のみから Vref(0mV)において計測された TIE 計測値。この値はインターバル4(4サイクル)の計測設 定になります。Measure 値の統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の tERR(4per)rise,min の計測値に相当します。最大値が tERR(4per)rise,max に相当します。  tERR(4 per)fall(P10)は Z1(差動クロック信号)の立ち下がりエッジ(負パルス)のみから Vref(0mV)において計測された TIE 計測値。この値はインターバル4(4サイクル)の計測設 定になります。Measure 値の統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の tERR(4per)fall,min の計測値に相当します。最大値が tERR(4per)fall,max に相当します。  tERR(5 per)r(P11) は Z1(差動クロック信号)の立ち上がりエッジ(正パルス)のみから Vref(0mV)において計測された TIE 計測値。この値はインターバル5(5サイクル)の計測設 定になります。Measure 値の統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の tERR(5per)rise,min の計測値に相当します。最大値が tERR(5per)rise,max に相当します。  tERR(5 per)fall(P12)は Z1(差動クロック信号)の立ち下がりエッジ(負パルス)のみから Vref(0mV)において計測された TIE 計測値。この値はインターバル5(5サイクル)の計測設 定になります。Measure 値の統計表示テーブルにおける最小値が結果レポート中の tERR(5per)fall,min の計測値に相当します。最大値が tERR(5per)fall,max に相当します。

(34)

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34

Eye Diagram – DQ and DQS Eyes

この試験はプローブ構成2を使用して Write バースト(input)および Read バースト(output)両方に対し て実施されます。

これらは捕捉波形中の全バーストを用いて Eye パターンを描画する補足情報的なテストです。Eye パター ンはエッジ・タイミングのリファレンスとして CK もしくは DQS のどちらかを使用して描画することが出 来、さらなるデバックが可能になります。

Write Bursts (Inputs) – CK as Timing Reference

このテストは CK 信号を基準として DQ と DQS 両方の Eye パターンを描画します。これにより DQS と CK の 間のスキューに対しての詳細がわかります。

CK をタイミング基準とした Write バースト(input)完了後のオシロスコープ画面は以下になります:

この画面に表示されているもの:

 F6(赤トレース, 下段 Eye)は捕捉信号中の Write バーストの DQS の Eye パターン。このテス トのタイミング基準には CK が使用されています。DQS と CK のスキューは立ち上がりエッジ と立ち下がりエッジのクロスポイントのグリッド中心(グリット下に△マークのある位置) からのずれを見ることでわかります。演算トレース名には DQS 信号名に対応したエイリア ス名がつけられています。Eye パターン描画に使用されたビット数は F6 ディスクリプタ BOX の下段に表示されています。この場合では 3,855 の DQS ビットが Eye パターンに含まれま す。

 F7(青トレース, 上段 Eye)は捕捉信号中の Write バーストの DQ の Eye パターン。演算トレ ース名には DQ 信号名に対応したエイリアス名がつけられています。Eye パターン描画に使 用されたビット数は F7 ディスクリプタ BOX の下段に表示されています。この場合では 3,855

(35)

の DQ ビットが Eye パターンに含まれます。 Measure セクションにおいて:  tDQDQS(P2)は DQ と DQS 間のスキュー計測値。この計測は1バースト毎に1回行われるた め、統計表示テーブルの num 値を見ることで捕捉波形にいくつの Write バーストあったか がわかります。  freq(F1)は差動クロック信号の周波数計測値。

Write Bursts (Inputs) – DQS as Timing Reference

このテストは DQS 信号を基準として DQ と DQS の Eye パターン両方を描画します。これにより DQ と DQS 間のスキューについての詳細がわかります。

DQS をタイミング基準とした Write バースト(input)テスト完了後のオシロスコープの画面は以下になり ます:

この画面に表示されているもの:

 F6(赤トレース, 下段 Eye)は捕捉信号中の Write バーストの DQS の Eye パターン。このテス トのタイミング基準には DQS が使用されています。これにより立ち上がりエッジと立ち下 がりエッジのクロスポイントはグリットの中央(グリット下に△マークのある位置)にちょ うど一致します。演算トレース名には DQS 信号名に対応したエイリアス名がつけられてい ます。Eye パターン描画に使用されたビット数は F6 ディスクリプタ BOX の下段に表示され ています。この場合では 4,336 の DQS ビットが Eye パターンに含まれます。

 F7(青トレース, 上段 Eye)は捕捉信号中の Write バーストの DQ の Eye パターン。演算トレ ース名には DQ 信号名に対応したエイリアス名がつけられています。Eye パターン描画に使 用されたビット数は F7 ディスクリプタ BOX の下段に表示されています。この場合では 4,336

(36)

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の DQ ビットが Eye パターンに含まれます。 Measure セクションにおいて:  tDQDQS(P2)は DQ と DQS 間のスキュー計測値。この計測は1バースト毎に1回行われるた め、統計表示テーブルの num 値を見ることで捕捉波形にいくつの Write バーストあったか がわかります。  freq(F1)は差動クロック信号の周波数計測値。

Read Bursts (Outputs) – CK as Timing Reference

このテストは CK 信号を基準として DQ と DQS 両方の Eye パターンを描画します。これにより DQS と CK の 間のスキューに対しての詳細がわかります。

CK をタイミング基準とした Read バースト(output)完了後のオシロスコープ画面は以下になります:

この画面に表示されているもの:

 F6(赤トレース, 下段 Eye)は捕捉信号中の Read バーストの DQS の Eye パターン。このテス トのタイミング基準には CK が使用されています。演算トレース名には DQS 信号名に対応し たエイリアス名がつけられています。Eye パターン描画に使用されたビット数は F6 ディス クリプタ BOX の下段に表示されています。この場合では 26,521 の DQS ビットが Eye パター ンに含まれます。

 F7(青トレース, 上段 Eye)は捕捉信号中の Read バーストの DQ の Eye パターン。演算トレー ス名には DQ 信号名に対応したエイリアス名がつけられています。Eye パターン描画に使用 されたビット数は F7 ディスクリプタ BOX の下段に表示されています。この場合では 26,522 の DQ ビットが Eye パターンに含まれます。

(37)

Measure セクションにおいて:

 tDQDQS(P2)は DQ と DQS 間のスキュー計測値。この計測は1バースト毎に1回行われるた め、統計表示テーブルの num 値を見ることで捕捉波形にいくつの Read バーストあったかが わかります。

 freq(F1)は差動クロック信号の周波数計測値。

Read Bursts (Outputs) – DQS as Timing Reference

このテストは DQS 信号を基準として DQ と DQS の Eye パターン両方を描画します。これにより DQ と DQS 間のスキューについての詳細がわかります。

DQS をタイミング基準とした Read バースト(output)テスト完了後のオシロスコープの画面は以下になり ます:

この画面に表示されているもの:

 F6(赤トレース, 下段 Eye)は捕捉信号中の Read バーストの DQS の Eye パターン。このテス トのタイミング基準には DQS が使用されています。これにより立ち上がりエッジと立ち下 がりエッジのクロスポイントは 2 グリット目にちょうど一致します。(グリット下に△マー クのある位置)演算トレース名には DQS 信号名に対応したエイリアス名がつけられています。 Eye パターン描画に使用されたビット数は F6 ディスクリプタ BOX の下段に表示されていま す。この場合では 27,579 の DQS ビットが Eye パターンに含まれます。

 F7(青トレース, 上段 Eye)は捕捉信号中の Read バーストの DQ の Eye パターン。演算トレー ス名には DQ 信号名に対応したエイリアス名がつけられています。Eye パターン描画に使用 されたビット数は F7 ディスクリプタ BOX の下段に表示されています。この場合では 27,580 の DQ ビットが Eye パターンに含まれます。

(38)

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Measure セクションにおいて:  tDQDQS(P2)は DQ と DQS 間のスキュー計測値。この計測は1バースト毎に1回行われるた め、統計表示テーブルの num 値を見ることで捕捉波形にいくつの Read バーストあったかが わかります。  freq(F1)は差動クロック信号の周波数計測値。

(39)

Electrical Tests on Write Bursts

これら Electrical 試験項目は以下に示されるプローブ構成を使用して Write バースト(input)に対して 実施されます。

SlewR/SlewF, Input Slew Rate

これらの試験はプローブ構成2、3および5を使用して行います。

これら試験の目的は全ての Write バースト(input)信号のスリューレートの特性評価です。この試験は立 ち上がり(SlewR)および立ち下がり(SlewF)エッジ両方に対して行われます。

 シングルエンド信号に対する SlewR は Vref から VIH(ac)min まで、SlewF は Vref から VIL(ac)max までを計測します。

 差動信号に対する SlewR は VILdiff(ac)max から VIHdiff(ac)min まで、SlewF は VIHdiff(ac)min から VILdiff(ac)max までを計測します。

Note : DQ に対しての SlewR のみ以下で解説します。SlewF でも VIL(ac)が VIH(ac)の代わりに使 用される以外は計測方法としては同じになります。 SlewR テスト完了後のオシロスコープ画面は以下になります: この画面に表示されているもの:  Z2 はプローブ・デスキュー適用後の DQS 信号、すなわち F2 のズームトレース。t@SlewRmin で表示される SlewR 計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQS と割 り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています。この信号波形は参考表 示になります。  Z3 はプローブ・デスキュー適用後の DQ 信号、すなわち F3 のズームトレース。t@SlewRmin で表示される SlewR 計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQ と

(40)

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40

割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています。この信号トレースが この試験において計測される対象です。 SlewR/SlewF 試験結果 Measure セクションにおいて:  SlewR(P1)は立ち上がりエッジにおける DQ のスリューレート計測値。この値は Vref から VIH(ac)min までで計測されます。統計表示テーブル中の最小値は結果レポート中の SlewR of DQ min に相当します。このテストは規格値の無い Informational only のテストになり ます。  tDQDQS(P2)は DQ と DQS 間のスキュー計測値。この計測は1バーストにつき1回実施され るため、この計測値の統計表示テーブルの num 値を見ることで Write バーストがいくつあ ったかがわかります。  t@SlewRmin(P4)は SlewR が最小値になった位置を示します。これは”最悪ケース結果”の 波形位置をズーム表示するのに使用されます。  slew(Z3)は SlewR の最小値を示し、スリューレート計測マーカを表示するのに使用されます。

(41)

VIH(ac)/VIL(ac), Differential AC input logic high/low

これらの試験項目はプローブ構成2および3で実施されます。

VIH(ac)は Vref から Vref の区間の Hi パルスのローカル最大値を計測します。VIL(ac)は Vref から Vref の区間の Low パルスのローカル最小値を計測します。

Note: VIH(ac)min のみ以下で解説します。VIL(ac)max は Low パルスを使用する以外計測手順は全く同じ になります。 VIH(ac)試験を完了した後のオシロスコープ画面は以下になります: この画面に表示されているもの:  Z2 はプローブ・デスキュー適用後の DQS 信号、すなわち F2 のズームトレース。t@VIH(ac)min で表示される VIH(ac)計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQS と 割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています。この信号波形は参考 表示になります。  Z3 はプローブ・デスキュー適用後の DQ 信号、すなわち F3 のズームトレース。t@VIH(ac)min で表示される VIH(ac)計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQ と割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています。この信号トレース がこの試験において計測される対象です。 VIH(ac)/VIL(ac)試験結果

(42)

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42

Measure セクションにおいて:

 VIH(ac)(P1)は Vref から Vref の区間の DQ のローカル最大値を計測します。統計表示テーブ ルの最小値が VIH(ac)min 値に相当します。この試験は計測値が Vref + 使用される AC レベ ルより大きければパスします。

 t@VIH(ac)min(P4)は VIH(ac)の最小値が計測された時間位置を示しています。これは”最 悪ケース結果”の波形位置をズーム表示するのに使用されます。

(43)

Time Above AC-Level (tDVAC and tVAC)

これはプローブ構成2で実施される2つの試験からなるグループです。

この試験の目的はリングバックが発生する前に許される時間を確認することです。tDVAC は差動入力(DQS および CK)に対して VIHdiff(ac)を超える時間および VILdiff(ac)を下回る時間を計測します。tVAC は入 力に対して VIH(ac)を超える時間および VIL(ac)を下回る時間を計測します。これらの信号は Write バー ストが検出されたときに計測のみされます。

Note: VIHdiff(ac)に対して計測される DQS の tDVAC のみ以下で解説します。VILdiff(ac)に関する計測手 順はまったく同じになります。tVAC は VIHdiff(ac)と VILdiff(ac)ではなく VIH (ac)を超える部分で計 測されます。 tDVAC 試験が完了した後のオシロスコープ画面は以下になります: この画面に表示されているもの:  Z2 はプローブ・デスキュー適用後の DQS 信号、すなわち F2 のズームトレース。t@VACmin で表示される tDVAC 計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQS と割 り当てられた信号名および VIHdiff(ac)レベルが表示されています。 tDVAC/tVAC 結果 Measure セクションにおいて:

(44)

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44

 tVACvih(P1)は DQS に対し VIHdiff(ac)を超える時間を計測します。VIHdiff(ac)はトレー ス・ラベル”DQS at VIH(ac)”によって表示されます。統計表示テーブルの最小値が tDVAC Pos min of DQS に相当します。使用される AC レベルはレポートに記載されます。この試 験は計測値が定義された判定値以上であればパスします。  tDQDQS(P2)は DQ と DQS 間のスキューを計測します。この計測は1バースト毎に1回おこ なわれるので、統計表示テーブルの num 値を見ることで Write バーストが捕捉波形にいく つ含まれるかがわかります。  t@tVACmin(P4)は tDVAC の最小値の時間位置を示します。これは”最悪ケース結果”の波 形位置をズーム表示するのに使用されます。  freq(F1)は差動クロック信号の周波数を計測します。

(45)

AC Over/Undershoot これはプローブ構成2、3、4および5を使用し、DQ, DQS, CK および ADD に対して実施される4つの項 目からなる試験グループです。 この試験の目的は Write バースト中の DQ, DQS,および CK に対して VDDQ を超えるオーバーシュートおよ び VSSQ を下回るアンダーシュートを評価することです。ピーク振幅および面積が試験されます。 Note: DQ に対するオーバーシュートのみ以下で解説します。DQS, CK および ADD に対しての計測手順は全 く同じです。同様にアンダーシュートに対する計測手順は VDDQ の代わりに VSSQ を使用する以外は全く 同一です。 Peak Amplitude

Overshoot Peak Amplitude 試験を完了した後のオシロスコープ画面は以下になります:

この画面に表示されているもの:

 Z2 はプローブ・デスキュー適用後の DQS 信号、すなわち F2 のズームトレース。t@PeakMax で表示される Overshoot Peak Amplitude 計測における“最悪ケース結果”の位置をズーム しています。DQS と割り当てられた信号名がトレース上に表示されています。この信号波形 は参考表示になります。

 Z3 はプローブ・デスキュー適用後の DQ 信号、すなわち F3 のズームトレース。t@PeakMax で表示される Overshoot Peak Amplitude 計測値における“最悪ケース結果”の位置をズー ムしています。DQ と割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています。 この信号トレースがこの試験において計測される対象です。

(46)

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46

Overshoot/Undershoot 結果 Measure セクションにおいて:  OvershootPeak(P1)は各 DQ パルスにおいて VDDQ を超えるオーバーシュートのピーク振幅を 計測します。VDDQ レベルはグリット上に一点鎖線カーソルで、ピーク振幅レベルはもう一 つのカーソルで表示されます。ピーク振幅は遷移~1UI 後のみの区間で計測されます。もし ピーク値が VDDQ を超えることが無い場合は負の計測値を返します。統計表示テーブルにお ける最大値は結果レポート中の DQ Overshoot peak amplitude Max に相当します。この試 験は計測値が 400mV 以下でパスします。

 t@PeakMax(P3)は Overshoot Peak の最大値の時間位置を示します。これは”最悪ケース 結果”の波形位置をズーム表示するのに使用されます。

(47)

Area Overshoot Area 試験を完了した後のオシロスコープ画面は以下になります: この画面に表示されているもの:  Z2 はプローブ・デスキュー適用後の DQS 信号、すなわち F2 のズームトレース。t@AreaMax で表示される Overshoot Area 計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。 DQS と割り当てられた信号名がトレース上に表示されています。この信号波形は参考表示に なります。  Z3 はプローブ・デスキュー適用後の DQ 信号、すなわち F3 のズームトレース。t@AreaMax で表示される Overshoot Area 計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしていま す。DQ と割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています。この信号ト レースがこの試験において計測される対象です。

(48)

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48

Overshoot/Undershoot 結果 Measure セクションにおいて:  OvershootArea(P1)は各 DQ パルスにおいて VDDQ を超えるオーバーシュートの面積を計測し ます。VDDQ レベルはグリット上にカーソルで表示されます。オーバーシュート面積は遷移 ~1UI 後のみの区間で計測されます。統計値表示テーブルにおける最大値が DQ Overshoot area Max に相当します。この試験は計測値が規定された判定値以下でパスします。  t@AreaMax(P3)は Overshoot Area の最大値の時間位置を示します。これは”最悪ケース結

(49)

VSWING(MAX), Input Signal Maximum Peak to Peak Swing この試験はプローブ構成3を使用して実施されます。

この試験の目的は ADD/CTRL 信号の Peak to Peak の最大スイング値を評価することです。 VSWING 試験完了後のオシロスコープ画面は以下になります: この画面に表示されているもの:  Z1 はプローブ・デスキュー適用後の CK 信号、すなわち F1 のズームトレース。t@VSWINGma で表示される VSWING 計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。CK と割 り当てられた信号名がトレース上に表示されています。この信号波形は参考表示になりま す。  Z4 はプローブ・デスキュー適用後の ADD 信号、すなわち F4 のズームトレース。t@VSWINGma で表示される VSWING 計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。ADD と割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています。この信号トレース がこの試験において計測される対象です。 VSWING 試験結果 Measure セクションにおいて:

 VSWING(P1)は ADD/CTRL パルスに対して peak to peak スイングを計測します。これは VIH(ac)と VIL(ac)の差を求めます。統計表示テーブルの最大値が結果レポート中の VSWING Max に相当します。この試験は判定値の無い Informational only の項目で、DDR2 からの古い方式で計測されます。

 t@VSWINGma(P3)は VSWING の最大値の時間位置を示します。これは”最悪ケース結果” の波形位置をズーム表示するのに使用されます。

(50)

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50

 freq(F1)は差動クロック信号の周波数を計測します。

VSEH(ac)min/VSEL(ac)max, Single-ended AC high/low level この試験はプローブ構成4および5で実施します。

VSEH(ac)は Vref から Vref の区間の Hi パルスのローカル最大値および VIL(ac)は Vref から Vref の区間 の Low パルスのローカル最大値を計測します。これはシングルエンド信号に対する VIH(ac)/VIL(ac)と同 等です。

Note: VSEH(ac)min のみ以下で解説します。VSEL(ac)の計測手順は Low パルスを使用する以外は全く同じ です。 VSEH(ac)試験完了後のオシロスコープの画面は以下になります: この画面に表示されているもの:  Z2 はプローブ・デスキュー適用後の DQS_t 信号、すなわち F2 のズームトレース。t@Vsehacmin で表示される VSEH(ac)計測における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQS_t と割り当てられた信号名がトレース上に表示されています。この信号トレースがこの試験 において計測される対象です。  Z4 はプローブ・デスキュー適用後の DQS_c 信号、すなわち F4 のズームトレース。t@Vsehacmin で表示される VSEH(ac)計測値における“最悪ケース結果”の位置をズームしています。DQS_c と割り当てられた信号名が画面上の波形トレースに表示されています。この信号波形は参 考表示になります。

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VSEH/VSEL(ac)試験結果

Measure セクションにおいて:

 VSEH(ac)(P1)は Vref から Vref の区間の DQS_t のローカル最小値を計測します。統計表示 テーブルの最小値は結果レポート中の VSEH(ac) Min DQS_t に相当します。この試験は計 測値が Vref + 使用される AC レベルよりも大きい場合にパスします。

 t@Vsehacmin(P4)は VSEH(ac)の最小値の時間位置を示します。これは”最悪ケース結果” の波形位置をズーム表示するのに使用されます。

参照

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