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ネオジム磁石の成分分析

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Academic year: 2021

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キーワード:ネオジム磁石、ランタノイド系希土類金属、蛍光 X 線分析、ICP-AES、ICP-MS

はじめに

昨今、ハイブリッド車の普及、エアコンの 低電力化などでモーターに使用されるネオジ ム磁石の重要性が高まっています。この磁石 に含まれるネオジムなどのランタノイド系希 土類金属は資源確保の問題が生じており、今 後、製品の元素濃度の管理、リサイクルなど において高精度な分析が必要となってきます。

しかし、ランタノイド系希土類金属は元素 相互の化学的性質が著しく類似し、分析が困 難な元素として知られています。

ここでは、ネオジム磁石の成分を取り上げ、

構成元素の定性並びに定量分析法の検討結果 とポイントを紹介します。

定性分析

ネオジム磁石の分析では、含有される成分 が多種類にわたることから、構成元素の定性 分析が必要です。この方法としては試料を非 破壊で簡易迅速測定できる蛍光X線分析が有 効です。蛍光X線分析は分析試料にX線を照 射し、そこから発生する特性X線により、含 有元素を測定する分析法です。この分析では、

X

線の強度データを、ファンダメンタル・パ ラメータ法により解析、計算することによっ て含有成分のおおよその定量値を得ることが できます。なお、この分析法ではネオジム磁 石の主要成分であるボロンの分析感度が低い という問題点があります。

ネオジム磁石の蛍光X線分析例を図 1 に示 します。検出されるX線ピークが多く、ネオ ジム磁石には多様な元素が含まれていること が判ります。また、各元素の特性

X

線のピー クの重なりが認められ、特にランタノイド金 属である Dy、Tb、Ho、Gd の重要な成分に対し て分析精度が低くなることが判りました。最 終的には これら の元素 の有無の 確認に は誘

導結合プラズマ発光分析(ICP-AES)等による 定性分析が必要と判断されます。

定量分析

蛍光

X

線による定性分析結果を参考にして、

磁石 の定 量分析 を進め ます。定 量分析 には ICP-AES を用いました。ICP-AES は溶液化した 分析試料を高温のプラズマ中に噴霧し、励起 により得られた発光スペクトルにより、元素 の種類、含有量を測定する方法です。

ネオジム磁石の溶解には、塩酸:硝酸:水、

(1:1:2)の混酸を用い、加熱分解することで 試料溶液を得ます。ただし、ボロンの分析で はパイレックスガラスを用いると、ボロンの 溶出による汚染が発生するため、テフロンビ ーカーの使用が必要となります。また、ニオ ブを含有する場合には、別処理が必要となる など、分析対象の元素によって、分解法を選 択する必要も生じます。

ICP-AES の分析の課題としては、分析波長 での他の元素のスペクトルの重なりがあげら れます。特にネオジム磁石では主要成分であ るネオジムの発光スペクトルが他元素の波長 に干渉し、分析精度に大きく影響します。

これを避けるためにはマトリックス・マッ チング法を用います。この方法は分析の標準

図 1 ネオジム磁石の蛍光 X 線分析例

2θ角度(deg)

X 線 強 度 ( k c p s )

ネオジム磁石の成分分析

No.10013

(2)

となる標準溶液の酸の種類と濃度、共存する 主成分元素濃度などを分析試料溶液と近似さ せ、これらの影響を同様にして分析する方法 です。

ネオジム磁石の場合はまず、主成分である 鉄をマトリックス元素としてネオジムの含有 量を分析し、その結果に基づき、鉄、ネオジ ムの 2 成分をマトリックス元素とすることで、

他の成分についての高精度な分析を行うこと ができます。

しかし、この方法を用いても干渉が多く、

ピーク形状が良好ではない元素が存在します。

ランタノイド金属では Tb、Pr、Ho などが相当 します。このため、誘導結合プラズマ質量分 析(ICP-MS)による分析を検討しました。

ICP-MS 分析は試料溶液のプラズマ導入ま では ICP-AES と同じですが、元素の検出方法 が質量分析となっている分析法であり、非常 に高感度であることが特徴です。質量分析で は溶液中の含有成分をイオン化して質量分析 計に導入するため、溶液の濃度が高いと、分 析計の汚染が生じます。したがって、ICP-AES と同濃度の試料溶液では濃すぎることから、

分析元素の濃度を考慮して、これを適切に希 釈する必要があります。

図 2 に Pr の検量線の例を示します。ICP-AES で分析精度が低かった Pr、Ho に関して、良好 な検量線が得られ、高精度な分析が行えるこ とがわかりました。

ICP-MS では ICP-AES で生じた様な波長干渉 はありませんが、複合イオンによる質量干渉 が生じます。特に Nd は多くの同位体が存在し ており、その酸化物イオンが他の希土類元素 の質量に重なります。

ICP-MS の場合、ある程度マトリックス・マ ッチング法で対応できましたが、質量干渉の 影響が大きかった Tb では、十分な補正ができ ず検量線の精度が低い結果となりました。

ICP-MS で分析が困難な Tb に関しては、

ICP-AES でも、他の希土類の波長干渉を大き く受けます。そのため、ICP-AES での Tb の分 析を進めるに当たって、主成分の Fe に加え、

干渉元素である Nd、Dy、Pr、Ho の全てをマッ チングさせる方法を試み、図3の様に標準試 料の濃度に比例した発光強度が得られました。

その結果、良好な検量線が得られ、精度の高 い分析が可能となりました。

おわりに

多元素から構成されるネオジム磁石の分析 にあたっては、蛍光

X

線による定性分析を活 用し、構成元素を特定して、これに基づいて ICP-AES、ICP-MS を組み合わせ、定量分析を 行うことにより、高精度の分析が可能でした。

この場合、元素間の干渉を把握し、それに対 応した分析法を活用する必要性があります。

0 1 2 3 4 5 6 7 8

Pr 図 2 ICP 質量分析の Pr の検量線の例

sample

Tb

0%

0.01%

0.02%

0.05%

sample

Tb

0%

0.01%

0.02%

0.05%

図 3 Nd、Dy、Pr、Ho をマッチングさせ た Tb のピーク例

標準試料濃度

I C P S ( 任 意 強 度 )

作成者 機械金属部 金属表面処理系 塚原 秀和 Phone:0725-51-2717 発行日 2011 年 1 月 26 日

Pr

含有率(%)

参照

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