(12)
特
許
協
力条
約
に
基
づ
て
公
開
さ
れた国際出
願
(19)
世界 知
的
所
有 権
機
関
国際
事
務
局
(10)
国
際
公開
番
号
(43)
国
際
公開
日
2010
年
9 月 10
日
(10.09.2010)
WO
2010/101006 Al
(51)国
際特 許 分
類 BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, Cの,GOlN 25/20
(2006.01) CR, CU, CZ, DE, DK, DM, Dの, DZ, EC, EE, EG, ES, FI,GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, (21)
国
際 出願 番 号
PCT/JP20 10/05 1922 KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, (22)国
際 出願
日
2010年
2月
10日
(10.02.2010) LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, Nの, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, (25)国
際 出願
の
言語
日
木
語
PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC,(26)
国
際
公開の
言語
日
木
語
VN, ZA, ZM, ZW. (30)優
先
権デ
ー
タ特願
2009-052886 2009年
月
6 (06.03.2009) JP(84)
国
( .
の
な
り、
全
て
の
の
哀日
可
) : ARIPO (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, (71)出願
人 (米
国
を除
<全
て
の
指
定国
につ
て
) :独
NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW), --Lー
ラシ
ア立
行
政法
人産
業技
術総合
研
究 所(NATIONAL
IN¬ (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM), ヨー
ロ ツ /STITUTE
OF
ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE
(AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB,AND TECHNOLOGY)
[JP/ JP];〒
1008921 東京都 千
GR, HR, HU, IE, IS, IT, L・T , LU, LV, MC, MK, MT, NL,代
田 区霞 が
関
1丁
目
3番
1号
Tokyo (JP). NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR), OAPI (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, Gの, GW, ML, MR, NE, SN,(72)
発
明
者
お
よび
TD, TG). (75)発
明
者
/出願
人(米
国
につ
て
の
み
) :渡
辺博 道
(WATANABE Hiromichi)
[JP/JP];〒
3058563茨
城
県 添 公開書
つ
<ば市 梅 園 1
一1
一1
中
央第
3独
立
行
—国
帯
3査
報
告
(条約
第
2 i 条(3)) 政法
人産
業技
術総合
研
究 所内
几araki (JP). (81)指
定国
(
表示
の
な
限
り、
全
て
の
種
類の国内
保
護
が
可
能
) :AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA,(54) TITLE:METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING SPECIFIC HEAT CAPACITY AND SEMISPHERICAL TOTAL EMISS
Γ
ITY OF CONDUCTIVE SAMPLE(54)
発
明の
名 称
導電
，
性の
熱容 量
及び半球 全 放 射 率
の
測
定方
法
及び装
置
(57) Abstract:
Improved is the accuracy of the result of determination of[図6] the specific heat capacity and semispherical total emissivity of a conduc¬
tive sample at high temperatures by solving the problem of the electromag¬ netic interference noise and the nonuniformity of the sample temperature distribution by means of a low cost device. A method and device for deter¬ mining the specific heat capacity and semispherical total emissivity of a conductive sample is characterized by comprising a step of rapidly heating the conductive sample by current application and causing the temperature of the sample to reach a target temperature Tm, a step of varying the cur¬ rent immediately after the temperature reaches the target temperature and calculating multiple values of X and those of Y for different currents from
M ASUR M NT1 the rate of change of the temperature dT/dt, the current I flowing through
M ASUR M NT2 the sample, and the measurement data relating t o the voltage drop V of the MEASUREM NT3
MEASUREM NT4 sample immediately after the variation using relations (1), (2) of X and Y , MEASUREMENT5 (where A is the effective surface area of the sample, SB is the
Stefan-Boltzmann constant, Tmi s the target temperature, and T0is the ambient temperature of the sample) and a step of calculating the specific heat ca¬ pacity C and the semispherical total emissivity
ε
from the slope and inter¬VI
= - — (1) cept of the approximately derived linear expression of X and Y using the だ 畔 fact that X and Y are in a linear relation (3) for multiple values of X and those of Y obtained when the current after the temperature reaches the tar¬
ぬ get temperature i s varied.
Y = 、 (2)
メ
[
τ
-
畔(57)
:
本 発
明
は
、
低
コス トな 装
置
に
より上述
の
電磁
干
渉ノイ ズ
や
試 料 温 度
分
布
の
不
均一
性
の
問題 を解 決
して
高
温
にお
げる導電 性 試 料
の
t
熱 容 量
及び半球 全 放 射 率
の
測
定結
果の
確 度
を向 上
させ
る こと
を課 題 と
す
る 。導電性 試 料
に
通電
して急 速 加 熱
し、
該
試 料 を
目
標
温 度
丁に
到 達
させ
る ス テッフ
、 目
標
温 度
に
到 達
直後
に
該
電流 を
変 化 させ
、
そ
の
直 後
の
温 度
変 化率 dT/dt
、
試 料 を流
れ
る電流
、
試 料
の
電圧 降
T V
の
測
定デ ー
タか
ら異
な
る該
電流
に
対応
す
る複
数の
X
と
Y
の
値
を次
の
X
と
Y
の関
係
式
に
より算
出
す
る ス テッフ
、
式
中
の
は試 料
の
有
効
表面 積
、
SBは
ステフ
ァ
ン
・
ボ ル ツマ ン
定数、
は
目
標
温 度
、
丁。
は試 料 周
囲の
温 度 で
あ
る 。 及び
目
標
温 度 到 達 後
の
該
電流 を様
な値
に
変 えた
場 合
に
得
られ
る複
数の
X
と
Y
の
値
に
対 して
、
X
と
Y
が
次 式
に
示
す
線
形係
を持
つ
こと
を利
用
して
、
近似
的に
導 出
した
X
と
Y
の
1
次 式
の
傾
き と
切
片の
値
か
ら熱容 量
及び半球 全 放 射 率
ε tを算
出
す
る ス テッフ
を
含む
こと
を特 徴 と
す
る導電性 試 料
の
it
熱容 量
及び半球 全 放 射 率
の
測
定方法
及び装
置
。明
細
書
発
明
の
名称
導
電性試料
の
比
熱
容 量
及
び
半
球 全
放
射
率
の
測
定
方
法
及
び
装
置
技
術
分野
０００
本
発
明
は
、高
温
に
お
け
る
導
電性試料
の
比
熱容
量 及
び
半
球
全 放
射
率
の
測
定
方
法
及
び
装
置
に
関す
る
も
の
で
あ
る
。
背
景技
術
０００
高
温
に
お
け
る
導
電性試料
の
比
熱容
量 及
び
半
球
全 放
射
率
の
測
定
に
つ
い
て
は
従
来
よ
り
次
の
よ
う
な
熱
量
法
を
原
理 と
す
る
測
定
方
法 が
採
用
さ
れ
て
い
る
。
(
「
)
古
典
的
なパ
ル
ス
通
電
加
熱
技 術
を
利
用
し
た
熱
量
法 (
非特
許 文
献
「
参
照
)
(
2
) フ
ィー
ドバ
ッ
ク
制御
パ
ル
ス
通
電
加
熱
技 術
を
利
用
し
た
熱
量
法 (
非特
許 文
献
2
参
照
)
(
3
) 試料
の
温
度
分布 を考
慮 し
た
パ
ル
ス
通
電
加
熱
技 術
を
利
用
し
た
熱
量
法 (
ョト特
許 文
献
3
、
参
照
)
以
下
簡
単
に
紹 介
す
る
。
０００
3
古
典
的
なパ
ル
ス
通
電
加
熱
技 術
を
利
用
し
た
熱
量
法
は
、
1
００
K
以
上
の高
温
に
お
け
る
導
電性試料
の
比
熱容
量 と
半
球
全 放
射
率
を測
定
す
る
際
に
利
用
さ
れ
る
一
般
的
な
方
法
で
あ
る
。
こ
の
方
法
を
実
施
す
る
ため
に
使
用
さ
れ
る典 型
的
な装
置
の
概
略 を
図
「
に示
す
。
こ
の
方
法
で
は
、
試料
にバ
ッ
テ
リ
ー
を
通
じ
て
パ
ル
ス
状
の
大 電
流
を
流 し
て試料
を瞬
間的
に
加
熱
す
る
。
そ
し
て
、
そ
の際の
試料
を
流
れ
る
電
流
と
試料
に
お
け
る
電圧 降
v
及
び試料
の
温
度
丁を
連
続
測
定
す
る
。
1
の
値
は
、
試
料
に直列
接
続
し
た
標
準
抵 抗
に
お
け
る
電圧 降 下
の
測
定
値
か
ら
算
出す
る と共
に
丁の
値
は
放
射 温
度 計
に
よ
り
測
定
し
て
決
定
す
る
。
室
温
か
ら
急
速
に
通
電
加
熱
さ
れた
試料
の
中
央
付 近
の
温
度
分布
は短 時
間
内で
は
一
様
で
あ
り
、
試料
か
ら
周
囲への
熱
移 動
は熱
放
射 が
支
配
的
で
あ
る と仮
定
で
き
る
ため、
試料
中
央
部
で
の
単位
体
積
当
た
り
の
熱
収 支
関
係
は
次
式
数
で
表
さ
れ
る
。
０００
数
mc
T
枕 二K7，
げ
０００
こ こ
で
は
、前
述
の
V
を測
定
す
る領 域
に
対
応
す
る
試料
の
有
効
質
量
、
c
。
は試
料
の
比
熱容
量
、
A
は
前
述
の
に
対
応
す
る
試料
の
有
効
表
面
積
、
E
、は試料
の半
球
全 放
射
率
、
は
ス
テ
フ
ァ
ン
・
ボル ツマ
ン
定
数
、
丁。
は試料
周
囲の
温
度
で
あ
る
０００
測
定
で
は
図
2
に示
す
よ
う
な
温
度 変 化
を
観
測
す
る
こ
と
に
な る
が
、
電
流
を停 止
し
て試料 が 降温
中で あ
っ
て
も
冷
却
開
始
直
後
で
あ
れ
ば試料
の
温
度
分布 が
一
様
に
保
持
さ
れ
る と
み
な し
て
数
「
が成
立す
る と仮
定
す
る
。
こ
の
仮
定
の
上 で
、
昇
温
時 (
添
字 )
と
降温 時 (
添
字
c )
に
お
け
る
目
標
温
度
T
に
お
け
る
熱収 支
式
はそ
れ
ぞ
れ
次
式
数
2
で
表
さ
れ
る
。
０００
数
c
円
勿
、
二KJ也ぬ
㏄ ㍗
数
2
mc
/ r
，
ニ sだ
C数
０００
8
そ
し
て
、
式
数
2
「
、
式
数
2
を
連
立す
る
こ
と
に
よ
り
比
熱容
量
c
。と
半
球
全 放
射
率 E
、を
次
式
数
3
に
よ
り
算
出す
る
こ
と
が
で
き
る
。
０００
数
。
。
二W
[
(
劫)
，
(
卯
ぬ)
，
]
数
3
乞 二K7 /，
1
T
( y，
T
y，
数
3
一
」
００ ０
次
に
述
べ
る
フ
ィー
ドバ
ッ
ク
制御
パ
ル
ス
通
電
加
熱
技 術
を
利
用
し
た
熱
量
法
は
、
(
「
)
の
技 術
を
発 展
さ
せた
方
法
で
あ
る
。
(
「
)
の
技 術 と
の
違
い
は
、
電
流
制御
ス
イ
ッ
チ
に
「
等
の半
導
体
素
子
を用
い
る
こ
と
に
よ
り
電
流
の
０
「
「
の
み
な
ら
ず
試料 温
度
を
基
準 パ ラ
メ
ー
タ
と
し
て
電
流
を フ
ィー
ドバ
ッ
ク
制御
す
る
こ
と
に
よ
り
試料 温
度
を短 時
間
だ け温
度
一
定
に
保
持
す
る
機
能
を
有
す
る 点
で
あ
る
。
こ
の
機
能
に
よ
り
試料
を
目
標
温
度
T
の
定
常
状 態
に
保
持 し
た
場 合
には
ｱ
数
「
の
左
辺
は
零 と
み
な
せ
る
ため、半
球
全 放
射
率 E
、は
次
式
数
に
よ
り
算
出
で
き
る
。
００
数
乞二阿
刀ぬ
(
一Z 乃００
更
に
、
得
ら
れた半
球
全 放
射
率
と加
熱 時
の
温
度 変 化
か
ら
次
式
数
に
よ
り
比
熱容
量
を算
出す
る
こ
と
が
で
き
る
。
００
3
数
も
二阿
必
，
勺
㈹
お
)
ぬ００
次
に
述
べ
る
試料
の
温
度
分布 を考
慮 し
た
パ
ル
ス
通
電
加
熱
技 術
を
利
用
し
た
熱
量
法
に
よ
る比
熱容
量
の
測
定
方
法
は
、
(
「
)
の
技 術
を
発 展
さ
せた
方
法
で
あ
る
。
(
「
)
の
方
法
と
の
違
い
は
、
冷
却
中
の
試料
の
温
度 と
そ
の
時
間
変
化
率
と
し
て
放
射 温
度 計
が測
定
す
る値
で
は
な
く、
電
気
抵 抗
率
の
値
か
ら
導
出
し
た
温
度
を用
い
る 点
で
あ
る
。
電
気
抵 抗
率
か
ら
導
出
し
た
温
度
を用
い
る理
由は
、
急
速
加
熱 が
終
了
し
て試
料 が
冷
却
状 態
に
な る と
試料
の
温
度
分布
は伝 導 熱損 失
の
影
響
に
よ
り
急
速
に不
均
一
に
な る
ため、
単
に試料
表
面
の一
部
のみ
を
観
測
す
る放
射 温
度 計
が
示
す
温
度
は
試料
全
体
の
温
度
分布 を考
慮 し
た
実
効温
度 と
偏
差
を
生
じ
る
ため
で
あ
る
。
(
3
)
の
技 術
に
よ
る比
熱容
量
の
具
体
的
な実
施 方 法
は
、
急
速
加
熱
に
よ
り
目
標
温
度
T
へ
到
達
さ
せた
後
も
電
流
を
わずか
に
流
す
こ
と
に
よ
り
端
子
法
原
理
に
よ
る
電
気
抵 抗
率測
定
を
冷
却
中
も
継 続
し
、
得
ら
れた
電
気
抵 抗
率
の
値
か
ら
実
効
的
な
温
度
を算
出
し
、
そ
の
実
効温
度
を
式
数
3
「
中に
代
人
し
て
比
熱容
量
を算
出す
る
(
非特
許 文
献
3
)
ま
た、
温
度
分布 を考
慮 し
た
パ
ル
ス
通
電
加
熱
技 術
を
利
用
し
た
熱
量
法
に
よ
る
半
球
全 放
射
率
の
測
定
方
法
は
、
(
2
)
の
技 術
を
発 展
さ
せた
方
法
で
あ
る
。
こ
の
方
法
で
は
、
電
流
の
フ
ィー
ドバ
ッ
ク
制御
に
よ
り
試料 温
度
を
一
定
に
保
持 し
た
上 で 同時
に測
定 さ
れ
る
電
気
抵 抗
率
の
値
か
ら
算
出
さ
れ
る実
効
的
な
温
度
の
変
動
に
対
応
す
る
エ
ン
タ
ル
ピ
ー
減 少
や
伝 導
熱損 失
の
効
果
を考
慮 し
た
解 析
に
よ
り
半
球
全 放
射
率
を
算
出す
る
(
非特
許 文
献
)
o先
行技
術 文
献
ヨ戸 井
