アナログ用MOSFET動作の基礎
ーMOSFETモデルの考え方ー
群馬大学 松田順一
概要
• ドリフト電流と拡散電流 • エンハンスメント型MOSFET特性 – 強反転/弱反転一括モデル(表面電位表現) – 強反転モデル – 弱反転モデル – EKVモデル – ピンチオフ電圧、移動度、温度依存性 • イオン注入されたチャネルを持つMOSFET特性 • デプレッション型MOSFET特性 • 微細サイズ効果 – チャネル長変調 – 短/狭チャネル効果 – その他の微細サイズ効果 • 微細サイズ効果を取込んだ電流式 (注)第55回 群馬大学アナログ集積回路研究会講演会(2006年12月1日)資料から作成 after Y. Tsividis電流成分
• ドリフト電流 – 電界に依存した電流 – 強反転領域の電流 • 拡散電流 – 濃度勾配に依存した電流 – 弱反転領域の電流 電流⇒ドリフト電流+拡散電流ドリフト電流の表現
dx d W Q dx d qncW I | ' | dx I c W dΨ V :単位面積当りの電荷量 :ポテンシャル :キャリア密度 :素電荷量 :移動度 ' Q n q 拡散電流の表現
dx x dQ W dx dn DqcW I t ( ) ' dx I c W dn n(x) 0 x :絶対温度 :ボルツマン定数 :熱電圧 関係) (アインシュタインの :拡散係数 T k q kT D t t ドリフト電流+拡散電流
• 電子電流 • 正孔電流 dx dE x n A dx dE dx dE x n kT dx dE q x n qA dx dn D dx d x n qA I Fn n i Fn t n i n n n n ) ( ) ( 1 1 ) ( ) ( dx dE x p A Ip p ( ) Fp A=cW (断面積) kT E E n n dx dE dx dE x n kT dx dn x E q x q E dx dE q dx d i Fn i i Fn i i i exp ) ( 1 1 1 ゙ル 真性エネルギーレヘ ゙ル 正孔の擬フェルミレヘ ゙ル 電子の擬フェルミレヘ : : : Fp Fn E E E 6電流式導出の基本的な考え方
• ドリフト成分と拡散成分の分離(分離型) – 表面電位表現 – 端子電圧を表面電位に変換(収束) • ドリフト成分と拡散成分の一体化(一体型) – 端子電圧表現 – 2重積分(数値積分)
dx dQ W dx d Q W x IDS I s t I ' ' ) (
dx x dV Q W dy y x n q dx x dV W x I I y y DS c surface ) ( ) , ( ) ( ) (
' ⇒積分 ⇒積分電流式導出
ー強反転/弱反転モデルー • 分離型 – 強反転/弱反転一括モデル導出 – 強反転モデル導出 – 弱反転モデル導出 • 一体型 – 強反転モデル導出(計算容易)
dx x dV Q W x IDS ( ) I' ( ) 電荷) ドリフト成分(強反転 ドリフト+拡散成分 : ' I Q• 強反転/弱反転一括モデル – 完全対称チャージシートモデル – 簡単化された対称チャージシートモデル – 簡単化されたソース参照チャージシートモデル • 強反転モデル – 完全対称強反転モデル – 簡単化された対称強反転モデル – 簡単化されたソース参照強反転モデル • 弱反転モデル
MOSFET電流式
ーモデルの分類ー
After Y. Tsividis基板電圧V
CBと表面電位
Ψ
sとの関係
A-A’に沿ったエネルギーバンド P n+ VCB VGB A A' EFn qΨ s=q(Ψ1+VCB) Ec Ev EFp Ei VCB>0 qVCB qΦF qΨs=qΨ1 Ec Ev EF Ei VCB=0 10ゲート~基板間電圧と表面電位との関係
弱反転領域 2ΦF+VCB ΦF+VCB VGB VMB VLB VCB=一定 Ψsa(VGB) 傾き=1/n ΔΦ 0 Ψs 2 2 4 2 GB FB sa V V 11強反転/弱反転一括電流式
ー完全対称チャージシートモデルー • ドリフト電流成分 • 拡散電流成分 • 全電流 ⇒ IDS=IDS1+IDS2 32 0 2 3 2 0 2 0 ' 1 3 2 2 1 s sL s sL s sL FB GB ox DS C V V L W I
12
0 2 1 0 ' 2 ox t sL s t sL s DS C L W I ン端表面電位 チャネル・ドレイ 表面電位 チャネル・ソース端 : : / 2 / 2 0 0 0 t DB F sL t S B F s V t sL FB GB sL V t s FB GB s e V V e V V 電流式簡単化の考え方
• 空乏層広がりの電圧依存性の簡単化
⇒1/2乗⇒1乗(表面電位でテイラー展開) • 空乏層広がりの電圧依存性の積分
• 空乏層電荷を表面電位でテイラー展開 • 反転層電荷
空乏層電荷の電圧依存性の近似
se s se
ox se s se se ox sa s se s s ox B C C C Q 1 2 at ; ' ' 0 ' ' までの任意点) ~ ( se 2 1
GB FB se se s se
ox s s FB GB ox I V V C V V C Q ' ' '強反転/弱反転一括電流式
-簡単化された対称チャージシートモデル- • 飽和点で をテイラー展開 ⇒ • ドリフト電流成分 • 拡散電流成分 • 全電流 ⇒ IDS=IDS1+IDS2
2 0 2 0 ' 1 2 2 sa sL s sL s FB GB ox DS n V V C L W I
0
' 2 ox t sL s DS C n L W I sa n 2 1 sa se ' B Qの近似 表面電位 s ox B vs C Q . ' ' 飽和領域(弱反転) での表面電位 チャネルソース 端での表面電位 チャネルドレイン 端での表面電位 をテイラー展開 で ' ' ox B sa C Q ' ' ox B C Q 0 s sL sa s 0
強反転/弱反転一括電流式
-簡単化されたソース参照チャージシートモデル- • チャネル・ソース端で をテイラー展開 ⇒ • ドリフト電流成分 • 拡散電流成分 • 全電流 ⇒ IDS=IDS1+IDS2
2 0 0 0 0 ' 1 2 sL s s sL s s FB GB ox DS C V V L W I
0
' 2 ox t sL s DS C L W I 0 1 2 1 s 0 s se ' B Qの近似 表面電位 s ox B vs C Q . ' ' をテイラー展開 で ' ' 0 ox B s C Q 2 0 1 ) a ( s 1 (c) (b) (a)の場合 より僅かに小 ' ' ox B C Q 0 s sL sa s (a) (c) (b)
強反転電流式
ー完全対称強反転モデルー • 完全対称チャージシートモデルから導出 • 電流式 ) ( 但し、 t F DB sL SB s V V 6 2 , 0 0 0 0
2 3 0 2 3 0 2 2 0 ' 3 2 2 1 SB DB SB DB FB GB ox DSN V V V V V V V V C L W I S B DB ⇒強反転条件強反転電流式
ー簡単化された対称強反転モデルー • 簡単化された対称チャージシートモデル (ドリフト成分)から導出 • ピンチオフ電圧Vpを用いた表現 • ゲート~基板間電圧VGBを用いた表現
2 2
' 2 P SB P DB ox DSN V V V V n C L W I 0 0 0 0 GB T T FB P V V n V V V 但し、
2 2 0 ' 2 DB SB SB DB T GB ox DSN V V n V V V V C L W I • 簡単化されたソース参照チャージシート モデル(ドリフト成分)から導出 • 電流式
強反転電流式
ー簡単化されたソース参照強反転モデルー GS SB GB DS SB DB DB sL SB s V V V V V V V V , , 0 0 0
SB SB FB V T DS DS V T GS ox DSN V V V V V V V V C L W I SB SB 0 1 0 0 2 ' 2 1 , 2 但し、 ⇒強反転条件弱反転電流の基本的な考え方
• 弱反転領域の電流成分 – ゲート~基板間電圧VGB一定 • チャネルに沿う表面電位一定 (チャネルに沿う空乏層深さ一定) • ソースとドレインのキャリア密度差による拡散電流 2 2 4 2 ) ( GB FB GB sa V V V ' 0 ' I IL t DS Q Q L W I 弱反転領域の電荷
• 弱反転領域の電荷 – チャネルソース端での電荷 • :VCB→VSB – チャネルドレイン端での電荷 • :VCB→VDB sa VGB F t VCB t t GB sa A s I e e V N q Q ( ) 2 / / ' ) ( 2 2 ・ ' IL Q ' 0 I Q 弱反転層電荷は表面電位(ゲート電圧)に対し指数関数的に変化弱反転電流式(対称モデル)
• ピンチオフ電圧Vpを用いた表現 • ゲート~基板間電圧VGBを用いた表現
t DB V P V t SB V P V t F e e e n C L W IDS ox' 1 02 t2
GB T SB t GB T DB t
t F n nV V V n nV V V t ox DS e e e n C L W I 0 0 2 0 2 ' 1 ) ( 2 1 , 0 0 GB P P sa V V n V 但し、 V V n VP GB T0 但し、弱反転電流(ソース参照モデル)
• ゲート~ソース間電圧VGSを用いた表現
' ' 2 ' ' ) /( ) ( ' 2 2 1 2 2 2 2 2 1 SB F SB F F FB M t SB F A s M V n V V M DS V n V V V V N q I e e I L W I GS M t DS t Log I
DSvs. V
GS特性
logIDS VGS 一定 : , SB DS V V V V V 弱反転 中反転 強反転 ドリフト 電流 拡散電流 チャージ・シート・モデル 弱反転の式 強反転の式 j I log 接合 リーク電流 26弱反転領域のlog(I
DS)
‐
V
GS特性の傾
き
• Subthreshold Slope S • nと容量の関係
t DS GS n I d dV S 2.3 log 考慮すると 界面準位による容量も ' ' ' ' ' 1 1 1 OX it b ox b GB s C C C n C C dV d n ' ox C ' b C Cit' 27EKVモデル(対称:V
P表現)
EKV:C. C. Enz, F. Krummenacher, and E. A. Vittoz
• EKVモデル式:強反転/弱反転領域で使用(連続) • 弱反転領域 ⇒ • 強反転/線型領域 ⇒
2
2
2
2
2
' 1 ln 1 ln 2 VP VSB t VP VDB t t ox DS C n e e L W I
VP VSB t VP VDB t
t ox DS C n e e L W I ' 2 2
2 2
' 2 P SB P DB ox DS V V V V n C L W I n e n x x x , 1, 1 F t 2 1 ln ≪ 02
ln 1ey
2
ln ey 2 y2, ey ≫1 ⇒簡単化された対称強反転モデル:VP 28EKVモデル(対称:V
GB表現)
• EKVモデル式に を代入 • 弱反転領域:指数項≪1 • 強反転/線型領域:両指数項≫1
2 2 2 2
2 ' 0 0 ln 1 1 ln 2 VGB VT nVSB n t VGB VT nVDB n t t ox DS e e n C L W I
V V
n VP GB T0
2 2 0 ' 2 DB SB SB DB T GB ox DS V V n V V V V C L W I ⇒簡単化された対称強反転モデル:VGB
VGB VT nVSB n t VGB VT nVDB n t
t ox DS C n e e L W I ' 2 2 0 0 29EKVモデル(ソース参照)
• EKVモデル式 • 弱反転領域:指数項≪1 • 強反転/線型領域:両指数項≫1
2 2 2 2
2 ' S S ln 1 1 ln 2 t DS T G t T G V n V V nV n V t ox DS e e n C L W I VG VT n t
VDS t
t ox DS C n e e L W I ' 2 2 S 1 C V V V V n L W IDS ox G T DS DS ここで , 2 2 S ' ⇒簡単化されたソース参照強反転モデル 30ソース参照
モデル
の利点
• 通常の印加電圧に対応している。 • 閾値電圧が電流式中に自然に表れる。 • バックゲートを第2のゲートとして扱える。 • キャリア速度飽和をVDSによって簡単に扱える。 • 非対称デバイスに対応できる。 • ソース参照モデルが高周波動作に対応している。基板参照(対称)モデルの利点
• 対称デバイスに対応できる。 – アナログ回路対応 • 電流の飽和点をVSBに関係なくVDBで直接表現できる。 – 基板参照長チャネルモデル • 弱反転領域をよく表現できる。 – ΨsaはVGBのみに依存 • 縦方向電界による移動度変化をよく扱える。 • IDSとその微分はVDS=0で連続に扱える。 – コンピュータシミュレーションに適合 – 但し、速度飽和のようなソースからドレインへのキャリア輸送 に関連した効果はVDSを通して扱われるため、VDS=0で不連 続になる。ピンチオフ電圧
• ゲート~基板間電圧VGBがピンチオフ電圧VPを決定 – 飽和領域:ドレイン電圧≧ピンチオフ電圧 • チャネルのドレイン端 ⇒ 弱反転領域 • チャネルのソース端 ⇒ 強反転領域 – ゲート~基板間電圧一定 • ピンチオフ電圧一定 • 電流式:ソース電圧~ピンチオフ電圧まで積分 ⇒ ドレイン電流一定(飽和電流) n V V V V V VP GB FB 0 P GB T0 2 2 , 4 2 表面電位と端子電圧
チャネルのドレイン(ソース)端表面電位 vs. ドレイン(ソース)~基板間電圧 ) ( s0 sL ) ( GB sa V ) ( SB DB V V ) ( GB Q V V VW(VGB) VU (VGB) VGB 一定 強反転 中反転 弱反転 食乏 飽和領域 0 F 2 F ) ( F SB DB F V V ) 2 ( 2 SB F DB F V V I
DS-V
DB特性とドレイン端での反転状態
SB V VQ VW VDB IDS 0 ドレイン端 強反転 ドレイン端 中反転 ドレイン端 弱反転 飽和領域• 移動度の縦方向電界依存性(電流と垂直方 向) 但し、 :定数B SB B T GS V V V , 1 0
移動度
NA=NA1 NA=NA2 NA1<NA2 μ Ey,ave Log scale Log scal e 36ドレイン電流の温度依存性
• 飽和電流の温度依存性 • 移動度の温度依存性 • 閾値電圧の温度依存性 ( ) 2 1 ) ( ' T V V C L W T IDS ox GS T ~ 定数 室温、 絶対温度、 : : 1.2 2.0 : ) ( ) ( 3 3 k T T T T T T r k r r DS I GS V 温度上昇 :小) 大、 :大、 大 ( ~ A ox SB r r T T V t N k k T T k T V T V : mV/K 3 mV/K 5 . 0 : ) ( ) ( 4 4 4 不純物分布の近似
ーエンハンスメントMOSFET:チャネルへのイオン注入ありー NAB+Ni(y) y NAB Ni(y) 0 d I NAB NI NAS 0 y ステップ近似 I AB AS N N N 閾値電圧
ーチャネルへのイオン注入ありー • 閾値電圧の一般形 – 空乏層広がり:イオン注入領域内(i=1) – 空乏層広がり:イオン注入領域外(i=2) SB i i i FBi SB Ti V V V V ( )
0
0 F ox AS s FB FB C N q V V 1 , 1 2 ' , 01 2 t I I s I ox AB s s I ox FB FB d N M qMd C N q d C qM V V 6 , 2 , 2 , 2 1 01 02 ' 2 ' 2 但し、 39閾値電圧の基板電圧依存性
ーチャネルへのイオン注入ありー (2ΦF+VSB)0.5 VT VT γ1 γ2 VT1 VT2 VI 0 0 傾き VSB 01 2 2 s I AS I d qN V強反転領域の電流式
ーチャネルへのイオン注入あり:非飽和ー • ドレイン電流
I CB CB T I CB CB T CB T CB T CB GB ox I V V I CB DSN V V V V V V V V V V V V V V C Q dV Q L W I DS S B ), ( ), ( ) ( ) ( ) ( 2 1 ' ' '
DS 0
, CB :チャネルに沿って変化 SB DB V V V V MOSFET内の空乏層広がり
I DB SB V V V (a) DB SB I V V V (b) DB I SB V V V (c) dI Pイオン注入 空乏層 反転層 N+ N+ P dI N+ N+ P dI N+ N+ P強反転領域の電流式区分
ーチャネルへのイオン注入あり:非飽和ー • 電流式:完全対称強反転モデル • 印加電圧の違いによる電流式の区分 I DB SB V V V (a)
2 3 0 2 3 0 2 2 0 ' 3 2 2 1 ) , ( i X i Y i X Y X Y i FBi GB ox Y X i V V V V V V V V C L W V V I DB SB I V V V (b) DB I SB V V V (c) ) , ( ) , ( ), , ( ), , ( 2 1 2 1 DB I I SB DB SB DB SB DSN V V I V V I V V I V V I I強反転領域の電流式
ーチャネルへのイオン注入あり:飽和ー • ピンチオフ電圧: • 飽和電流 02 2 2 2 2 2 2 2 2 01 2 1 2 1 1 1 1 4 2 ) ( : ), ( : (2) 4 2 ) ( : ) 1 ( FB GB P SB I P DB I SB P DB FB GB P I P DB SB V V V c V V V V b V V V V V V V a V V V V 0 DB DSN dV dI P DB V V DSN DS I I' 飽和電流の基板電圧依存性
ーチャネルへのイオン注入あり:高ドーズー ' DS I GS V 0 SB V High VSB (2) (1) (3) ) ( 2 ) 3 ( ) ( 2 ) 2 ( ) 0 ( 2 ) 1 ( 2 2 ' ' 2 2 ' ' 1 1 ' ' SB T GS I ox DS I SB I T I GS I ox DS I P T GS I ox DS I P V V V C L W I V V V V V V C L W I V V V V C L W I V V ≫ 2 1 I I 弱反転電流の基板電圧依存性
ーチャネルへのイオン注入ありー DS I log GS V 0 SB V SB V High ' 2 2 1 3 . 2 log SB F t DS GS V n n I d dV S 1 2 2 1 , Large 0 イオン注入の外 空乏層端 イオン注入の中 空乏層端 SB SB V V Slope 1/S不純物分布の近似
ーデプレッションMOSFET :チャネルへのイオン注入ありー y NAB Ni(y) 0 d I NAB NI 0 ドナー濃度 アクセプタ濃度 ステップ近似デプレッションMOSFETの状態
ー全領域:空乏化ー T GC TB GB V V V V , n型イオン注入 p型基板 + + + + + + + + + + + + + + + -N+ d I G B C VGB VCB p - - --デプレッションMOSFETの状態
ー表面領域:空乏化(埋め込みチャネル)ー N GC T NB GB TB V V V V V V , n型イオン注入 p型基板 + + + + + + + + + + -N+ d I G B C +QJ -QJ n ΨT Φbi+VCB VGB VCB p - - - QT Qnb 0 ' ' ' T o G Q Q Q 条件:デプレッションMOSFETの状態
ー表面領域:中性化ー T GC NB GB V V V V , n型イオン注入 p型基板 + + + + + -N+ d I G B C +QJ -QJ n VGB VCB p Qnn 0 ' ' o G Q Q 条件: ' ' , ox o MS FB CB bi FB NB C Q V V V V 但し、デプレッションMOSFETの状態
ー表面領域:蓄積化ー N GC NB GB V V V V , n型イオン注入 p型基板 + + + + + -N+ d I G B C +QJ -QJ n VGB VCB p Qnn + + + + + + + - - - -Qna 0 ' ' ' na o G Q Q Q 条件:デプレッションMOSFET
ー閾値電圧ー • 閾値電圧の条件 • 閾値電圧:埋め込みチャネル形成開始
' ' ' ' 0 0 2 , 1 2 1 , ox AB s s ox I I bi I s ox I ox I DS bi FB T AB I bi SB bi I T T C N q C d C d C d qN V V N N V V V ≫ AB I DS I DS J V V T Q qN d N N N Q TB GB , 但し、 ' ' G C I s s d C' ' ox C NI:ドナー濃度 NAB:アクセプタ密度デプレッションMOSFET
ー動作モードー N GS SB T V V V V ( ) N GS V V 非飽和 飽和 ' 1 DS DS V V ' 1 DS DS V V N GS DS V V V ' 2 DS DS N GS V V V V ' 2 DS DS V V 表面食乏 表面蓄積 表面蓄積/食乏 表面蓄積/食乏 (a) (b) (c) (d) (e)デプレッションMOSFET
ー動作モードとIDS-VDS特性との関係ー 飽和 非飽和 表面空乏(a) 表面蓄積/食乏(e) 表面蓄積/食乏(d) 表面蓄積(c) IDS VDS 0 表面空乏(b)デプレッションMOSFET
ー電流式(非飽和)ー • 表面空乏(a) • 表面蓄積(c) • 表面蓄積/空乏(d)
DB SB V V B nb CB DSN Q dV L W I ( ' )
DB SB V V S na B nn CB DSN Q Q dV L W I ( ' ) ( ' )
DB CBI CBI SB V V B nb CB V V S na B nn CB DSN Q dV L W dV Q Q L W I ( ' ) ( ' ) ( ' ) bi FB GB Q CB CBI S B B S V V V V 0 ' , : , : バルク移動度 表面移動度 但し、 55VN VGS VT IDS 0 VDS:一定(小) VGS VT DS I 飽和
デプレッションMOSFET
ー電流・電圧特性ー 2 T GS DS k V V I 埋め込みチャネル 埋め込み+表面 チャネルデプレッションMOSFETの状態
ー表面領域:ピンチオフ不可(反転化)ー + + + + + + + + + + -N+ d I G B C VGB VCB p + + + + + - - - -+ + + + + + n n型イオン注入 p型基板 n型イオン注入:高デプレッションMOSFET
ーIDS‐VGS特性のVSB依存性:高カウンタードーピングー IDS VGS 0 VSB小 VSB大 VDS:一定(小) ピンチオフ不可状態微細サイズ効果
• 微細サイズ効果 – チャネル長変調 – 短チャネルデバイス • 短チャネル効果(電荷配分) • 逆短チャネル効果 • ドレイン電圧によるバリア低下(DIBL) – 狭チャネルデバイス • 狭チャネル効果 • 逆狭チャネル効果 – パンチスルー – キャリアの速度飽和 – ホットキャリア効果 • 微細サイズ効果を取込んだ電流式• CLMによる飽和電流
チャネル長変調(CLM)
≪ A s D s D DS DS D A p p p DS DS p DS DS qN Ε q B V V N B l L l L l I I l L L I I 2 2 1 1 2 1 2 1 1 ' 1 ' ' P n+ n+ p l L ' DS DS V V ' DS V m E 1 ET V T V 0 L 逆短チャネル効果 短チャネル効果