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アナログ用MOSトランジスタ動作の基礎 公開講座資料

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Academic year: 2021

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全文

(1)

アナログ用MOSFET動作の基礎

ーMOSFETモデルの考え方ー

群馬大学 松田順一

(2)

概要

• ドリフト電流と拡散電流 • エンハンスメント型MOSFET特性 – 強反転/弱反転一括モデル(表面電位表現) – 強反転モデル – 弱反転モデル – EKVモデル – ピンチオフ電圧、移動度、温度依存性 • イオン注入されたチャネルを持つMOSFET特性 • デプレッション型MOSFET特性 • 微細サイズ効果 – チャネル長変調 – 短/狭チャネル効果 – その他の微細サイズ効果 • 微細サイズ効果を取込んだ電流式 (注)第55回 群馬大学アナログ集積回路研究会講演会(2006年12月1日)資料から作成 after Y. Tsividis

(3)

電流成分

• ドリフト電流 – 電界に依存した電流 – 強反転領域の電流 • 拡散電流 – 濃度勾配に依存した電流 – 弱反転領域の電流 電流⇒ドリフト電流+拡散電流

(4)

ドリフト電流の表現

dx d W Q dx d qncW I      | ' |  dx I c W dΨ V :単位面積当りの電荷量 :ポテンシャル :キャリア密度 :素電荷量 :移動度 ' Q n q  

(5)

拡散電流の表現

                 dx x dQ W dx dn DqcW I t ( ) '  dx I c W dn n(x) 0 x :絶対温度 :ボルツマン定数 :熱電圧 関係) (アインシュタインの :拡散係数 T k q kT D t t    

(6)

ドリフト電流+拡散電流

• 電子電流 • 正孔電流 dx dE x n A dx dE dx dE x n kT dx dE q x n qA dx dn D dx d x n qA I Fn n i Fn t n i n n n n ) ( ) ( 1 1 ) ( ) (                                               dx dE x p A Ip  p ( ) Fp A=cW (断面積)                             kT E E n n dx dE dx dE x n kT dx dn x E q x q E dx dE q dx d i Fn i i Fn i i i exp ) ( 1 1 1                  ゙ル 真性エネルギーレヘ ゙ル 正孔の擬フェルミレヘ ゙ル 電子の擬フェルミレヘ : : : Fp Fn E E E 6

(7)

電流式導出の基本的な考え方

• ドリフト成分と拡散成分の分離(分離型) – 表面電位表現 – 端子電圧を表面電位に変換(収束) • ドリフト成分と拡散成分の一体化(一体型) – 端子電圧表現 – 2重積分(数値積分)

 

dx dQ W dx d Q W x IDS I s t I ' ' ) (       

 

  dx x dV Q W dy y x n q dx x dV W x I I y y DS c surface ) ( ) , ( ) ( ) (  

   ' ⇒積分 ⇒積分

(8)

電流式導出

ー強反転/弱反転モデルー • 分離型 – 強反転/弱反転一括モデル導出 – 強反転モデル導出 – 弱反転モデル導出 • 一体型 – 強反転モデル導出(計算容易)

 

  dx x dV Q W x IDS ( )    I' ( ) 電荷) ドリフト成分(強反転 ドリフト+拡散成分 : ' I Q

(9)

• 強反転/弱反転一括モデル – 完全対称チャージシートモデル – 簡単化された対称チャージシートモデル – 簡単化されたソース参照チャージシートモデル • 強反転モデル – 完全対称強反転モデル – 簡単化された対称強反転モデル – 簡単化されたソース参照強反転モデル • 弱反転モデル

MOSFET電流式

ーモデルの分類ー

After Y. Tsividis

(10)

基板電圧V

CB

と表面電位

Ψ

s

との関係

A-A’に沿ったエネルギーバンド P n+ VCB VGB A A' EFn s=q(Ψ1+VCB) Ec Ev EFp Ei VCB>0 qVCBFs=qΨ1 Ec Ev EF Ei VCB=0 10

(11)

ゲート~基板間電圧と表面電位との関係

弱反転領域 2ΦF+VCB ΦF+VCB VGB VMB VLB VCB=一定 Ψsa(VGB) 傾き=1/n ΔΦ 0 Ψs 2 2 4 2              GB FB sa V V    11

(12)

強反転/弱反転一括電流式

ー完全対称チャージシートモデルー • ドリフト電流成分 • 拡散電流成分 • 全電流 ⇒ IDS=IDS1+IDS2               32 0 2 3 2 0 2 0 ' 1 3 2 2 1 s sL s sL s sL FB GB ox DS C V V L W I          

12

  0 2 1 0 ' 2 ox t sL s t sL s DS C L W I                  ン端表面電位  チャネル・ドレイ    表面電位  チャネル・ソース端    : : / 2 / 2 0 0 0 t DB F sL t S B F s V t sL FB GB sL V t s FB GB s e V V e V V                          

(13)

電流式簡単化の考え方

• 空乏層広がりの電圧依存性の簡単化

⇒1/2乗⇒1乗(表面電位でテイラー展開) • 空乏層広がりの電圧依存性の積分

(14)

• 空乏層電荷を表面電位でテイラー展開 • 反転層電荷

空乏層電荷の電圧依存性の近似



se s se

ox se s se se ox sa s se s s ox B C C C Q                                      1 2 at ; ' ' 0 ' '         までの任意点) ~ (   se    2 1 

GB FB se se s se

ox s s FB GB ox I V V C V V C Q                      ' ' '   

(15)

強反転/弱反転一括電流式

-簡単化された対称チャージシートモデル- • 飽和点で をテイラー展開 ⇒ • ドリフト電流成分 • 拡散電流成分 • 全電流 ⇒ IDS=IDS1+IDS2  

               2 0 2 0 ' 1 2 2 sa sL s sL s FB GB ox DS n V V C L W I        

0

' 2 ox t sL s DS C n L W I      sa n    2 1     sa se    ' B Q

(16)

の近似 表面電位 s ox B vs C Q . ' '  飽和領域(弱反転) での表面電位 チャネルソース 端での表面電位 チャネルドレイン 端での表面電位 をテイラー展開 で ' ' ox B sa C Q   ' ' ox B C Q  0 s   sL sa s 0

(17)

強反転/弱反転一括電流式

-簡単化されたソース参照チャージシートモデル- • チャネル・ソース端で をテイラー展開 ⇒ • ドリフト電流成分 • 拡散電流成分 • 全電流 ⇒ IDS=IDS1+IDS2

   

           2 0 0 0 0 ' 1 2 sL s s sL s s FB GB ox DS C V V L W I         

0

' 2 ox t sL s DS C L W I       0 1 2 1 s          0 s se    ' B Q

(18)

の近似 表面電位 s ox B vs C Q . ' '  をテイラー展開 で ' ' 0 ox B s C Q   2 0 1 ) a ( s      1 (c)  (b) (a)の場合 より僅かに小 ' ' ox B C Q  0 s   sL sa s (a) (c) (b)

(19)

強反転電流式

ー完全対称強反転モデルー • 完全対称チャージシートモデルから導出 • 電流式 )     (   但し、       t F DB sL SB s V V          6 2 , 0 0 0 0          



           2 3 0 2 3 0 2 2 0 ' 3 2 2 1 SB DB SB DB FB GB ox DSN V V V V V V V V C L W I S B DB              ⇒強反転条件

(20)

強反転電流式

ー簡単化された対称強反転モデルー • 簡単化された対称チャージシートモデル (ドリフト成分)から導出 • ピンチオフ電圧Vpを用いた表現 • ゲート~基板間電圧VGBを用いた表現    

2 2

' 2 P SB P DB ox DSN V V V V n C L W I      0 0 0 0       GB T T FB P V V n V V V   但し、



    2 2 0 ' 2 DB SB SB DB T GB ox DSN V V n V V V V C L W I

(21)

• 簡単化されたソース参照チャージシート モデル(ドリフト成分)から導出 • 電流式

強反転電流式

ー簡単化されたソース参照強反転モデルー         GS SB GB DS SB DB DB sL SB s V V V V V V V V           , , 0 0 0    

SB SB FB V T DS DS V T GS ox DSN V V V V V V V V C L W I SB SB              0 1 0 0 2 ' 2 1 , 2             但し、   ⇒強反転条件

(22)

弱反転電流の基本的な考え方

• 弱反転領域の電流成分 – ゲート~基板間電圧VGB一定 • チャネルに沿う表面電位一定 (チャネルに沿う空乏層深さ一定) • ソースとドレインのキャリア密度差による拡散電流 2 2 4 2 ) (             GB FB GB sa V V V     '  0 ' I IL t DS Q Q L W I   

(23)

弱反転領域の電荷

• 弱反転領域の電荷 – チャネルソース端での電荷 • :VCB→VSB – チャネルドレイン端での電荷 • :VCB→VDBsa VGB Ft VCB t t GB sa A s I e e V N q Q        ( ) 2 / / ' ) ( 2 2   ・ ' IL Q ' 0 I Q 弱反転層電荷は表面電位(ゲート電圧)に対し指数関数的に変化

(24)

弱反転電流式(対称モデル)

• ピンチオフ電圧Vpを用いた表現 • ゲート~基板間電圧VGBを用いた表現

 

   

t DB V P V t SB V P V t F e e e n C L W IDS   ox'  1 02  t2     

         

GB T SB t GB T DB t

t F n nV V V n nV V V t ox DS e e e n C L W I               0 0 2 0 2 ' 1        ) ( 2 1 , 0 0 GB P P sa V V n V            但し、 V Vn VPGBT0 但し、

(25)

弱反転電流(ソース参照モデル)

• ゲート~ソース間電圧VGSを用いた表現

' ' 2 ' ' ) /( ) ( ' 2 2 1 2 2 2 2 2 1 SB F SB F F FB M t SB F A s M V n V V M DS V n V V V V N q I e e I L W I GS M t DS t                                          

(26)

Log I

DS

vs. V

GS

特性

logIDS VGS 一定 : , SB DS V V V V V 弱反転 中反転 強反転 ドリフト 電流 拡散電流 チャージ・シート・モデル 弱反転の式 強反転の式 j I log 接合 リーク電流 26

(27)

弱反転領域のlog(I

DS

)

V

GS

特性の傾

• Subthreshold Slope S • nと容量の関係

t DS GS n I d dV S 2.3  log      考慮すると 界面準位による容量も ' ' ' ' ' 1 1 1 OX it b ox b GB s C C C n C C dV d n               ' ox C ' b C Cit' 27

(28)

EKVモデル(対称:V

P

表現)

EKV:C. C. Enz, F. Krummenacher, and E. A. Vittoz

• EKVモデル式:強反転/弱反転領域で使用(連続) • 弱反転領域 ⇒ • 強反転/線型領域 ⇒

 

2

 

   2

 2

   2

 2 

' 1 ln 1 ln 2 VP VSB t VP VDB t t ox DS C n e e L W I          

 

VP VSBtVP VDBt

t ox DS C n e e L W I   ' 2 2     

 

2 2

' 2 P SB P DB ox DS V V V V n C L W I            n e n x x x , 1, 1 F t 2 1 ln     ≪    02  

ln 1ey

 2 

 

ln ey 2  y2, ey ≫1 ⇒簡単化された対称強反転モデル:VP 28

(29)

EKVモデル(対称:V

GB

表現)

• EKVモデル式に を代入 • 弱反転領域:指数項≪1 • 強反転/線型領域:両指数項≫1

 

   

   

2 2 2 2

2 ' 0 0 ln 1 1 ln 2            VGB VT nVSB n t VGB VT nVDB n t t ox DS e e n C L W I           

V V

n VPGBT0



    2 2 0 ' 2 DB SB SB DB T GB ox DS V V n V V V V C L W I    ⇒簡単化された対称強反転モデル:VGB

 

VGB VT nVSB  n tVGB VT nVDB  n t

t ox DS C n e e L W I   ' 2 2  0    0  29

(30)

EKVモデル(ソース参照)

• EKVモデル式 • 弱反転領域:指数項≪1 • 強反転/線型領域:両指数項≫1

 

   

   

2 2 2 2

2 ' S S ln 1 1 ln 2 t DS T G t T G V n V V nV n V t ox DS e e n C L W I                    VG VT  n t

VDS t

t ox DS C n e e L W I   ' 2 2 S  1               C V V V V n L W IDS ox G T DS DS   ここで   , 2 2 S ' ⇒簡単化されたソース参照強反転モデル 30

(31)

ソース参照

モデル

の利点

• 通常の印加電圧に対応している。 • 閾値電圧が電流式中に自然に表れる。 • バックゲートを第2のゲートとして扱える。 • キャリア速度飽和をVDSによって簡単に扱える。 • 非対称デバイスに対応できる。 • ソース参照モデルが高周波動作に対応している。

(32)

基板参照(対称)モデルの利点

• 対称デバイスに対応できる。 – アナログ回路対応 • 電流の飽和点をVSBに関係なくVDBで直接表現できる。 – 基板参照長チャネルモデル • 弱反転領域をよく表現できる。 – ΨsaはVGBのみに依存 • 縦方向電界による移動度変化をよく扱える。 • IDSとその微分はVDS=0で連続に扱える。 – コンピュータシミュレーションに適合 – 但し、速度飽和のようなソースからドレインへのキャリア輸送 に関連した効果はVDSを通して扱われるため、VDS=0で不連 続になる。

(33)

ピンチオフ電圧

• ゲート~基板間電圧VGBがピンチオフ電圧VPを決定 – 飽和領域:ドレイン電圧≧ピンチオフ電圧 • チャネルのドレイン端 ⇒ 弱反転領域 • チャネルのソース端 ⇒ 強反転領域 – ゲート~基板間電圧一定 • ピンチオフ電圧一定 • 電流式:ソース電圧~ピンチオフ電圧まで積分 ⇒ ドレイン電流一定(飽和電流) n V V V V V VP GB FB 0 P GB T0 2 2 , 4 2                      

(34)

表面電位と端子電圧

チャネルのドレイン(ソース)端表面電位 vs. ドレイン(ソース)~基板間電圧 ) ( s0 sL   ) ( GB sa V  ) ( SB DB V V ) ( GB Q V V VW(VGB) VU (VGB) VGB 一定 強反転 中反転 弱反転 食乏 飽和領域 0 F  2 F  ) ( F SB DB F V V     ) 2 ( 2 SB F DB F V V    

(35)

I

DS

-V

DB

特性とドレイン端での反転状態

SB V VQ VW VDB IDS 0 ドレイン端 強反転 ドレイン端 中反転 ドレイン端 弱反転 飽和領域

(36)

• 移動度の縦方向電界依存性(電流と垂直方 向)     但し、 :定数B SB B T GS V V V       , 1 0    

移動度

NA=NA1 NA=NA2 NA1<NA2 μ Ey,ave Log scale Log scal e 36

(37)

ドレイン電流の温度依存性

• 飽和電流の温度依存性 • 移動度の温度依存性 • 閾値電圧の温度依存性  ( ) 2 1 ) ( ' T V V C L W T IDSox GST    ~  定数 室温、 絶対温度、   : : 1.2 2.0 : ) ( ) ( 3 3          k T T T T T T r k r r   DS I GS V 温度上昇   :小) 大、 :大、 大 ( ~   A ox SB r r T T V t N k k T T k T V T V : mV/K 3 mV/K 5 . 0 : ) ( ) ( 4 4 4    

(38)

不純物分布の近似

ーエンハンスメントMOSFET:チャネルへのイオン注入ありー NAB+Ni(y) y NAB Ni(y) 0 d I NAB NI NAS 0 y ステップ近似 I AB AS N N N  

(39)

閾値電圧

ーチャネルへのイオン注入ありー • 閾値電圧の一般形 – 空乏層広がり:イオン注入領域内(i=1) – 空乏層広がり:イオン注入領域外(i=2) SB i i i FBi SB Ti V V V V ( )  

0

0            F ox AS s FB FB C N q V V 1 ,   1 2 ' ,  01 2 t I I s I ox AB s s I ox FB FB d N M qMd C N q d C qM V V         6 , 2 , 2 , 2 1 01 02 ' 2 ' 2                    但し、     39

(40)

閾値電圧の基板電圧依存性

ーチャネルへのイオン注入ありー (2ΦF+VSB)0.5 VT VT γ1 γ2 VT1 VT2 VI 0 0 傾き VSB 01 2 2   s I AS I d qN V

(41)

強反転領域の電流式

ーチャネルへのイオン注入あり:非飽和ー • ドレイン電流

           

I CB CB T I CB CB T CB T CB T CB GB ox I V V I CB DSN V V V V V V V V V V V V V V C Q dV Q L W I DS S B           ), ( ), ( ) ( ) ( ) ( 2 1 ' ' ' 

DS 0

,  CB :チャネルに沿って変化 SB DB V V V V  

(42)

MOSFET内の空乏層広がり

I DB SB V V V   (a) DB SB I V V V   (b) DB I SB V V V   (c) dI Pイオン注入 空乏層 反転層 N+ N+ P dI N+ N+ P dI N+ N+ P

(43)

強反転領域の電流式区分

ーチャネルへのイオン注入あり:非飽和 • 電流式:完全対称強反転モデル • 印加電圧の違いによる電流式の区分 I DB SB V V V   (a)           

             2 3 0 2 3 0 2 2 0 ' 3 2 2 1 ) , ( i X i Y i X Y X Y i FBi GB ox Y X i V V V V V V V V C L W V V I              DB SB I V V V   (b) DB I SB V V V   (c)        ) , ( ) , ( ), , ( ), , ( 2 1 2 1 DB I I SB DB SB DB SB DSN V V I V V I V V I V V I I

(44)

強反転領域の電流式

ーチャネルへのイオン注入あり:飽和 • ピンチオフ電圧: • 飽和電流 02 2 2 2 2 2 2 2 2 01 2 1 2 1 1 1 1 4 2 ) ( : ), ( : (2) 4 2 ) ( : ) 1 (                                            FB GB P SB I P DB I SB P DB FB GB P I P DB SB V V V c V V V V b V V V V V V V a V V V V                 0  DB DSN dV dI P DB V V DSN DS I I' 

(45)

飽和電流の基板電圧依存性

ーチャネルへのイオン注入あり:高ドーズ ' DS I GS V 0  SB V High VSB (2) (1) (3)       ) ( 2 ) 3 ( ) ( 2 ) 2 ( ) 0 ( 2 ) 1 ( 2 2 ' ' 2 2 ' ' 1 1 ' ' SB T GS I ox DS I SB I T I GS I ox DS I P T GS I ox DS I P V V V C L W I V V V V V V C L W I V V V V C L W I V V                      ≫    2 1 I I   

(46)

弱反転電流の基板電圧依存性

ーチャネルへのイオン注入ありー DS I log GS V 0  SB V SB V High   ' 2 2 1 3 . 2 log SB F t DS GS V n n I d dV S           1 2 2 1 ,   Large 0                イオン注入の外  空乏層端    イオン注入の中  空乏層端 SB SB V V Slope 1/S

(47)

不純物分布の近似

ーデプレッションMOSFET :チャネルへのイオン注入ありー y NAB Ni(y) 0 d I NAB NI 0 ドナー濃度 アクセプタ濃度 ステップ近似

(48)

デプレッションMOSFETの状態

ー全領域:空乏化ー T GC TB GB V V V V  ,     n型イオン注入 p型基板 + + + + + + + + + + + + + + + -N+ d I G B C VGB VCB p - - -

(49)

-デプレッションMOSFETの状態

ー表面領域:空乏化(埋め込みチャネル)ー N GC T NB GB TB V V V V V V   ,    n型イオン注入 p型基板 + + + + + + + + + + -N+ d I G B C +QJ -QJ n ΨT Φbi+VCB VGB VCB p - - - QT Qnb 0 ' ' '    T o G Q Q Q 条件:

(50)

デプレッションMOSFETの状態

ー表面領域:中性化ー T GC NB GB V V V V  ,    n型イオン注入 p型基板 + + + + + -N+ d I G B C +QJ -QJ n VGB VCB p Qnn 0 ' '   o G Q Q 条件: ' ' , ox o MS FB CB bi FB NB C Q V V V V        但し、  

(51)

デプレッションMOSFETの状態

ー表面領域:蓄積化ー N GC NB GB V V V V  ,     n型イオン注入 p型基板 + + + + + -N+ d I G B C +QJ -QJ n VGB VCB p Qnn + + + + + + + - - - -Qna 0 ' ' '    na o G Q Q Q 条件:

(52)

デプレッションMOSFET

ー閾値電圧ー • 閾値電圧の条件 • 閾値電圧:埋め込みチャネル形成開始

' ' ' ' 0 0 2 , 1 2 1 , ox AB s s ox I I bi I s ox I ox I DS bi FB T AB I bi SB bi I T T C N q C d C d C d qN V V N N V V V                                             ≫    AB I DS I DS J V V T Q qN d N N N Q TB GB      , 但し、 ' ' G C I s s d C'   ' ox C NI:ドナー濃度 NAB:アクセプタ密度

(53)

デプレッションMOSFET

ー動作モードー N GS SB T V V V V ( )  N GS V V  非飽和 飽和 ' 1 DS DS V V  ' 1 DS DS V VN GS DS V V V   ' 2 DS DS N GS V V V V    ' 2 DS DS V V  表面食乏 表面蓄積 表面蓄積/食乏 表面蓄積/食乏 (a) (b) (c) (d) (e)

(54)

デプレッションMOSFET

ー動作モードとIDS-VDS特性との関係ー 飽和 非飽和 表面空乏(a) 表面蓄積/食乏(e) 表面蓄積/食乏(d) 表面蓄積(c) IDS VDS 0 表面空乏(b)

(55)

デプレッションMOSFET

ー電流式(非飽和)ー • 表面空乏(a) • 表面蓄積(c) • 表面蓄積/空乏(d)

  DB SB V V B nb CB DSN Q dV L W I  ( ' )

    DB SB V V S na B nn CB DSN Q Q dV L W I  ( ' )  ( ' )

      DB CBI CBI SB V V B nb CB V V S na B nn CB DSN Q dV L W dV Q Q L W I  ( ' )  ( ' )  ( ' ) bi FB GB Q CB CBI S B B S V V V V           0 ' , : , :       バルク移動度   表面移動度 但し、 55

(56)

VN VGS VT IDS 0 VDS:一定(小) VGS VT DS I 飽和

デプレッションMOSFET

ー電流・電圧特性ー  2 T GS DS k V V I   埋め込みチャネル 埋め込み+表面 チャネル

(57)

デプレッションMOSFETの状態

ー表面領域:ピンチオフ不可(反転化)ー + + + + + + + + + + -N+ d I G B C VGB VCB p + + + + + - - - -+ + + + + + n n型イオン注入 p型基板 n型イオン注入:高

(58)

デプレッションMOSFET

IDS‐VGS特性のVSB依存性:高カウンタードーピングー IDS VGS 0 VSB小 VSB大 VDS:一定(小) ピンチオフ不可状態

(59)

微細サイズ効果

• 微細サイズ効果 – チャネル長変調 – 短チャネルデバイス • 短チャネル効果(電荷配分) • 逆短チャネル効果 • ドレイン電圧によるバリア低下(DIBL) – 狭チャネルデバイス • 狭チャネル効果 • 逆狭チャネル効果 – パンチスルー – キャリアの速度飽和 – ホットキャリア効果 • 微細サイズ効果を取込んだ電流式

(60)

• CLMによる飽和電流

チャネル長変調(CLM)

                 ≪         A s D s D DS DS D A p p p DS DS p DS DS qN Ε q B V V N B l L l L l I I l L L I I 2 2 1 1 2 1 2 1 1 ' 1 ' '                       P n+ n+ p l L ' DS DS V V  ' DS V m E 1 E

(61)

T V T V  0 L 逆短チャネル効果 短チャネル効果

短/逆短チャネル効果

P基板 ゲート ゲートによる空乏層 N+ 反転層 N+層による空乏層 ゲート N+ 反転層 P基板 ゲートによる空乏層 N+層による空乏層

(62)

短チャネル効果(電荷配分)

             1 2 1 1 ' ' j B j B B d d L d Q Q    SB B B FB T V Q Q V V       0 ' ' 1 0       L n+ d J P n+ dB dJ dB dB  ' B Q ' B Q

(63)

ドレイン電圧の閾値電圧への影響

ー2次元解析ー • ドレイン電圧による閾値電圧の低下(DIBL)

メータ :フィッティングパラ    1 , 3 3 3 0                 ox B ox s L DS bi TL d t e V V T V V T V  0 チャネル長:小 長チャネル 63

(64)

ドレイン電圧/短チャネル化によるバリア低下(DIBL)

バリア低下 VGS=0V 表面電位( V ) x(μm) Φbi ソース ドレイン V 5 . 1  DS V V 0  DS V V 0  GS V

(65)

狭/逆狭チャネル効果

空乏層 空乏層 酸化膜 酸化膜 狭チャネル効果 逆狭チャネル効果 T V T V  0 W

(66)

パンチスルー

N+ N+ P基板 ドレインに よる空乏層 ソースに よる空乏層 ゲート N+ N+ P基板 ドレインに よる空乏層 ソースに よる空乏層 ゲート バルクパンチスルー 表面パンチスルー バルクパンチスルー による成分 Log IDS VGS VDS3VDS2VDS1 VDS3 VDS2 VDS1

(67)

キャリアの速度飽和

• キャリアの速度飽和を含む電流式 • 電界が臨界電界より小: • 電界が臨界電界より大:

 

c DS DSN DSN V I I   1 , , 速 度 飽 和 を 含 ま な い 速 度 飽 和 を 含 む max d c v Ε  臨界電界 x d c x Ε v Ε Ε ≪    max d d c x Ε v v Ε ≫     0 x GS d V Ε v  ( ) max d v d v x Ε Ε 67

(68)

I

DS

-V

DS

特性:速度飽和の有無

速度飽和のない場合 速度飽和のある場合     2 2 ' GS T ox DS V V C L W I     c T GS ox DS WC V V I  '   DS I IDS DS V DS V 0 0 by Y. Tsividis

(69)

ホットキャリア効果

- - - - - - - - - - - - - - + + + + + + + + + + + + + + + - - + 電子の流れ 正孔の流れ (基板電流) N+ 電子/正孔トラップ 過剰界面準位 ゲート 酸化膜 空乏層端 P基板 ドレイン ID IDB ・電子/正孔トラップ ・過剰界面準位 ↓ ・閾値電圧上昇 ソース・ドレイン逆方向 閾値電圧上昇顕著 ・ドライブ能力低下 ドレイン抵抗増加

(70)

ホットキャリア対策

ーLDDトランジスター N -N+ N -N+ ゲート P基板 電界低減 ↓ インパクトイオン化低減 ↓ ホットキャリア低減 ドレイン ソース

(71)

電流式に考慮すべき微細サイズ効果

• 閾値電圧の変化 – チャネル長Lの影響:短(逆短)チャネル効果 – チャネル幅Wの影響:狭(逆狭)チャネル効果 – ドレイン電圧VDSの影響(DIBL) • 高電界による移動度の低下 – キャリアの表面散乱(電流と垂直方向) – キャリアの速度飽和(電流の方向) • 飽和領域におけるチャネル長変調

(72)

微細サイズ効果を取込んだ電流式

• 実効閾値電圧 • 非飽和領域の電流: • 飽和領域の電流:  DS SBT SB TLDS SBTWSBT L W V V V V V L V V V W V V , , ,   , ,  ,     DS SBB SBDSc T GS DS DS SB DS T GS ox DS L V V V V W L V V V V V V W L V V L W C I                           1 , , , 1 2 , , , 2 '                                           c DS p SB B SB DS T GS DS DS SB DS T GS ox DS L V L l V V V W L V V V V V V W L V V L W C I ' 2 ' ' ' 1 , , , 1 2 , , ,     ' DS DS V V ≪ ' DS DS V V ≫ 72

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