電気通信大学 基盤理工学専攻
山口 浩一
第106回研究開発セミナー 「クリーンテック・水素社会への挑戦」 (2016.10.11)
量子ドットデバイス
<クリーンテック> 再生可能エネルギーを利用した安定な電力供給
太陽光 ⇒
水の
電気
分解 ⇒
水素
生成・貯蔵 ⇒
水素
と酸素の化学反応
(光エネルギー) → (電気エネルギー) → (化学エネルギー) (化学エネルギー) ↓ (電気エネルギー)⇓
電気
,
水
太陽電池
GaAs
InAs
4 nm
(電通大・山口研作製)量子ドットとは
半導体量子ナノ構造の電子状態
バルク半導体
(1D)量子井戸
量子細線 (2D-QW)
量子ドット (3D-QW)
放物線関数状の状態密度
階段状の状態密度
鋸状の状態密度
デルタ関数状の状態密度
)]
(
)
(
)
(
[
1
)
(
, ,n
l
k
L
L
L
x y z k l n x y zε
ε
ε
ε
δ
ε
ρ
量子ドット内の電子は、完全に離散化した
量子準位に存在 (
人工原子
とも呼ばれる)
(3D 電子系)
(2D 電子系)
(1D 電子系)
(0D 電子系)
∝ E
1/2 電子の状態密度 電 子 エ ネ ル ギ ー Ec E1 E3 E2 電子の状態密度 電子の状態密度 E1 E3 E2 E1 E3 E2 電子の状態密度 ρ(ε) 電子の エネルギー 分布 スピン < 電子ド・ブロイ波長量子ドット内の励起子と遷移エネルギー
Exciton Negative trion Positive trion Bi-exciton Tri-exciton
中性励起子 負の荷電励起子 正の荷電励起子 中性励起子分子 中性励起子分子
X
-X
0
X
+
2X
0
3X
0
1.256 1.260 0 5 10 光子エネルギー (eV) PL 強度 (arb. unit s ) 17K 0.5 mW 1.3 mW 3.0 mW bi-exciton 2X0 X0 single exciton 励起出力 1.264+h
正孔-e
電子 単一励起子+h
-e
+h
-e
2重励起子 電子 正孔+h
-e
負の荷電励起子-e
電子 エ ネ ルギ ー量子ドットレーザ(理論)
(量子ドット物性研究)
量子ドット太陽電池(理論)
量子ドットの研究開発
1980年
1990年
2000年
2010年
2020年
量子井戸エッチング加工
選択成長
ストランスキ・クラスタノフ成長
液滴エピタキシー
化学合成法
積層成長
高均一化
位置制御
高密度化
量子ドットレーザーの試作
量子情報デバイスの試作
量子ドット太陽電池の試作
量子ドットレーザーの実用化
量子ドットディスプレーの実用化
Siフォトニクスへの展開
【概念・理論】
【作製技術】
【デバイス応用】
溶液中でのコロイダルドットの化学合成
Ar
TOPO 反応前駆体 ヒーター 冷却部 ホットソープ法化学合成法
Se(TBP) Cd(CH
3)
2CdSe
300~350℃
Se
Cd
核形成
熱分解
TOPO
脱離・吸着 前駆体衝突 コロイダルドット 界面活性剤 8 -10 nm自己組織化法(自己形成法)
ストランスキー・クラスタノフ (SK) 成長モード
格子不整合歪 ➡ 2D成長から3D成長へ遷移3D成長
2D成長
基板結晶 薄膜成長GaAs上へのInAs量子ドットのSK成長
1.63 ML 1.76 ML2D
分子線エピタキシー(MBE)
Yamaguchi Lab.
超高真空(×10-10 Torr)下で、高純度原料を 分子線にして基板表面に照射し、単結晶薄膜 を成長する。反射型高速電子線回折(RHEED) により、成長表面構造をリアルタイム観察する。 MBE2 MBE成長室 試料交換室 蛍光スクリーン 反射型高速電子線回折 用電子銃 基板 シャッター フラックスゲージ Ga分子線 セル As分子線 セル Al分子線 セル 液体窒素 シュラウド 四重極質量分析計 基板搬送用ロッド ゲート バルブ 超高真空 ポンプ 超高真空ポンプ 電子線 MBE2 MBE1量子ドット形成メカニズムの解析
0
2
4
6
8
10
10
15
20
25
30
35
40
横方向サイズ [nm] ドッ ト高さ [n m ] 3D dots 2D islands [110] 3D dot 2D island 100nmK. Yamaguchi, et a., J. Cryst. Growth, 237-239 (2002) 1301.
成長過程の解析
量子ドットの構造解析
サイズ・形状 密度・配列 形成位置 量子準位 歪緩和 e-xx 1.0 1.05 0.95 反射高速電子線回折 歪分布解析 0 5 10 15 20 0 200 400 600 800 1000 Do t h ei ght [nm ] InAs 成長 コアレッセンス・ドット コヒーレント・ドット 成長中断 サイズ自己制限 0 10 20 30 40 50 60 70 0 200 400 600 800 1000 1.02 1.03 1.04 1.05 1.06 1.07 相対格子定数 e 時間 [sec] 高輝度光科学研究センター(SPring-8) MBE成長装置 放射光(X線) X線回折計 InAs GaAs 核形成の解析1992-’99 InAs/GaAs QDs (MBE)
0
10
20
30
40
50
10
1010
11 NEC Fujitsu NEC Imperial Coll. Tech.Univ.Berlin Walter Schottky Inst.量子ドット密度 [cm-2] 発光 ス ペ クト ル半 値幅 [m eV ] 【 高 均 一 】 【高密度】
Wright State Univ.
Imperial Coll.
Univ.South CLA AIST
Max Plank Lab.
2000-’09
Univ. Michigan
Univ. Electro. Comm.
高均一量子ドット
(2000年)
0 10 20 30 40 50 0 5 10 15 20 25 1.5 2 2.5 3 3.5 InAs coverage [ML] A ve rage h eigh t [nm ] A ve rage late ral size [nm ] [110] [1-10] Heightドットサイズ
自己制限効果
InAs QD GaAs Sb(2005年) 高密度量子ドット
100 nmSb導入法
(2006年) 高均一化
2nd InAs QD 1stQD nanohole GaAsナノホール上の近接積層成長
10 nm ナノホール InAs QD 10nm nanohole 1st InAs QD 2nd InAs QD 2nd InAs QD 1stQD nanohole Sb GaAs(2009年) 高密度・高均一化
1000 1050 1100 1150 1200 1250 1300 15 K P L int e n si ty [ arb.u nit s] Wavelength [nm] 34 meV 19 meV FWHM FWHM Closely stacked QD layer Single QD layer 量子ドット国際会議で受賞量子ドット作製技術の進展
量子ドットの構造制御
高均一化
高密度化
低密度・位置制御
配列制御
積層化
Yamaguchi Lab.
量子ドット太陽電池開発のプロジェクト研究
(電通大・山口)
(国)新エネルギー・産業技術総合開発機構(NEDO) 高性能・高信頼性太陽光発電の発電コスト低減技術開発 革新的新構造太陽電池の研究開発超高効率・低コストⅢ-Ⅴ化合物太陽電池モジュールの研究開発
(高密度量子ドット成長技術)
(独)新エネルギー・産業技術総合開発機構(NEDO) 新エネルギー技術研究開発 革新的太陽光発電技術研究開発(革新型太陽電池国際研究拠点整備事業)ポストシリコン超高効率太陽電池の研究開発(自己組織化量子ドット)
(平成20~26年度)
(平成27~31年度)
量子ドット中間バンド型太陽電池
吸収端 熱損失 透過損失 Si GaAs (AM1.5)
単接合太陽電池における損失
λ
middleλ
topλ
bottomタンデム型太陽電池
M. Yamaguchi et al., Solar Energy 79 (2005) 78.
λ
middleλ
bottomλ
topeV
oc= E
g(1-T
a/T
s) – k
BT
aln (Ω
emit/Ω
abs)
(Carnot) (Boltzmann)
変換効率:30% 透過損失:32% 熱損失:23% 他損失:15%タンデム型太陽電池
(集光)
3接合
(1sun)
4接合
(集光)
http://www.nrel.gov/ncpv/images/efficiency_chart.jpg量子ドット中間バンド型太陽電池
量子ドット
超格子
λ
QD1λ
hostλ
QD2 Conduction Band (CB) Valence Band (VB) Intermediate Band (IB)中間バンドを介した
2段階光励起
(VB ➡ IB ➡ CB)
QD p 3-band IBSC 2-junction tandem SC Single gap SCA. Luque and A. Marti, Phys. Rev. Lett. 78, 5014 (1997).
詳細平衡モデル計算
変換効率:
63 %
nCB CB
IB
VB VB
λ
QD1λ
hostλ
QD2IB-VB
E
ivCB-IB, E
ciAM 1.5D
1000 suns
量子ドット中間バンドの設計(理論計算)
CB CB
IB
VB VB
E
ivE
ci Thickness :1 μm (sun) 10000 1000 100 10 1 Doping Non-doping ( 面内QD密度 × 積層数 ) 電 力 変 換 効 率 [% ] [cm-2]K. Sakamoto et al., J. Appl. Phys. 112 (2012) 124545.
2 x 10
13cm
-240 %
60 % 50 % 45 %(従来の面内QD密度)×(積層数)
【 5
×
10
10cm
-2】 ×
400 層
!
50 % 55 %高効率化には、
量子ドット密度はどのくらい必要か?
InAs QDs
/GaAs(Sb)
Eci= 0.322 eV Eiv = 1.098 eV 55 % 40 %5×10
11cm
-2GaAs(001) sub. GaAs buffer layer
InAs QDs
Sb
3×10
11cm
-2GaAs(001) sub. GaAs buffer layer
InAs QDs
GaAsSb
InAs QDs
InAsSbWL
E. Saputra et al.,
Appl. Phys. Express, 5 (2012)125502. K. Yamaguchi, et al.,
J. Cryst. Growth, 275 (2005) e2269.
Sb-Mediated MBE Growth of Ultrahigh-Density InAs QDs
1×10
12cm
-2GaAs(001) sub GaAs buffer layer
K. Sameshima, et al.,
Appl. Phys. Express, 9, (2016) 075501.
0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 700 800 900 1000 1100 1200 ex.785 nm 15K RT No rma li ze d P L In ten sit y Wavelength [nm] 0.1 1 10 100 1000 700 800 900 1000 1100 1200 15K RT (I 1s t e xc it at ion -I D ark )/I D ark 1st excitation wavelength [nm] Bias: 10V 0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 700 800 900 1000 1100 1200 15K RT 1st excitation wavelength [nm] I 2nd e xc it at ion -I 1s t e x ci ta ti on )/I 1s t e x ci ta ti on Bias: 10V 2nd excitation wavelength 1700~2450 nm
2段階光励起効果の検証実験
フォトル ミネッセンス (PL) 第1光励起 電流 第1光励起 (1000-1200 nm) + 第2光励起 (1700-2450 nm)光励起電流測定システム
GaAs InAs WL, QD GaAsSb 第1段階励起光 第2段階励起光 光電流 測定用素子 470 ºC 590 ºC GaAs buffer 200nm GaAs sub. (001) GaAs cap 60.0nm GaAsSb 10ML InAs QDs Au/AuGeQD準位を介した
2段階光励起効果
N. Akimoto, K. Yamaguchi, 42ndPVSC (2015).面内超高密度InAs量子ドットを導入した太陽電池の試作
p⁺-GaAs n⁺-GaAs n-GaAs 1500 nm 400 nm GaAs GaAs 200 nm InAs QD GaAsSb0.1
1
10
100
400
600
800
1000
1200
1400
1600
外
部
量
子
効
率
[%]
入射光波長 [nm]
GaAs cell (ref.)
InAs QD (1層)
InAs QD (3層)
0 1 2 3 0 1 2 3 In te g ral IQE (9 0 0 -1 6 0 0 n m ) ra ti o o f S C to I B-S C i n clu d in g s in g le QD -S Ls [-]Number of staking layer IB-SC (3 QD-SLs) IB-SC (1 QD-SLs) GaAs SC 0 2 4 6 8 10 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 C ur re nt D en si ty [ m A /c m 2 ] Voltage [V] IB-SC (3 QD-SLs) GaAs SC
J
sc: up
V
oc: down
AM 1.5, 1 sun
単一QD層
InAs QD density
:
5 × 10
11cm
-2高QD密度
高集光度
50集光型タンデム太陽電池(31 %) と水の電気分解の組み合わせ: 水素製造の変換効率(模擬太陽光実験): 24.4 % (東大・宮崎大)