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第26回関西Gyro(2017.6.3)
3D撮像の基礎
(TSEを中心に)
Yu Ueda
Philips Electronics Japan MR Application Specialist
3D-TSEの始まり・・・
MRCPや内耳などHeavy T2WIとして使用
T2W Drive:TE200msec MRCP:TE 500msec
撮像時間が長い
Today’s Topics
3D TSEの基礎
VISTAに関連したパラメータ
View-Today’s Topics
3D TSEの基礎
VISTAに関連したパラメータ
View-MS 3D 6mm Thickness 2mm Thickness 2mm Thickness 2D vs. 3D
6 RF Z Y X Echo Echo スライスエンコード 連続性が乏しい 連続性が高い RF Z Y X Y Z Y X Z X 2D vs 3D
X Y RF Z Y X Z 3D
X Y RF Z Y X Z 3D
X Y RF Z Y X Z 3D
X Y RF Z Y X Z 3D
位相方向に充填 スライス方向に 繰り返し充填 位相(p) 周波数(m) スライス(s) acquisition time
(TSE factor x Echo Space)
TR
shot interval 1sl
RF Z Y X Echo 撮像時間 = TR ×位相データ数×NSA ex. TR:3000,位相数:20,NSA:1 3000×20×1= 60000ms = 60秒 = 1分 k=0 X Y 2Dの撮像時間
RF Z Y X Echo 撮像時間 = TR ×位相データ数×NSA × Slice枚数
ex. TR:3000,位相数:20,NSA:1, Slice 100枚 3000×20×1×100= 6000000ms = 6000秒 = 100分 スライスエンコード Y X Z 3Dの撮像時間
なぜ3DはSNRが高い? X Y Z X Y Z 2D 3D Δz 3Dはvolume励起を行うため、多くの信号が得られる。
3Dの特徴 • 高SNR • スライス方向の連続性に優れる (スライス選択はスライスエンコードによって) • 任意の断面で再構成可能 • 撮像時間が長い • スライス方向の折り返しに注意 • 2Dと比較すると、コントラストが弱い
Today’s Topics
3D TSEの基礎
VISTAに関連したパラメータ
View-VISTAの概要
VISTA(Volume Isotropic Tse Acquisition)
• 等方性ボクセルを目的とした3Dのデータ収集
• T2WI、T1WI、PDWI、FLAIR、STIRやblack blood(BB)など 様々なコントラストで使用
3D-TSEとVISTAの違い
180 90 RF Gz Gy Gx Signal 160 150 140 Echo space 3D volume selective R12 / R1.8~ 3D-TSE
180 90 RF Gz Gy Gx Signal 160 150 140 R12 / R1.8~ VISTA 3D volume selective Echo space
180 90 RF Gz Gy Gx Signal 160 150 140 R12 / R1.8~ VISTA 3D volume selective Echo space
Echo spaceすなわちTEが短縮
3D non-selective : no 3D non-selective : yes
VISTA
T2WI FLAIR T1WI
Echo space TSE factorが より多く入るため、 撮像時間の短縮と motion artifact の低減 TEeff TEeff 実行TEを固定 3D non-selective:no 3D non-selective:yes
Echo space TSE factorを固定 25 TE effを短く 設定可能であるた め、様々なコント ラストを作成可能 TEeff TEeff 3D non-selective:no 3D non-selective:yes
VISTAのパラメータ TE調整の為の パラメータ 3D Non-selective Ultra short HalfScan Profile order その他の パラメータ Refocusing control Flow Compensation Slice oversampling Startup echo
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VISTAのパラメータ TE調整の為の パラメータ 3D Non-selective Ultra short HalfScan Profile order その他の パラメータ Refocusing control Flow Compensation Slice oversampling Startup echo
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Ultra short
リフォーカシングパルスの照射時間を短縮
ESの短縮
Ultra short
VISTAのパラメータ TE調整の為の パラメータ 3D Non-selective Ultra short Half Scan Profile order その他の パラメータ Refocusing control Flow Compensation Slice oversampling Startup echo
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Half scan 実測 data 算出 data スキャン時間とTE短縮法 として開発 複素共役対称と呼ばれるk-空間の対称性を利用して、 データを算出することが可能 実測するデータを減らすことが出来る k=0
Half scan
Half Scan + Rev. Linear
k=0 k=0
Half Scan + Linear
• TEの短縮が可能 • 撮像時間の短縮(TEを短縮した場合) • 画像はボケやすい • TEは変わらない • 撮像時間の短縮(後半のデータ収集が減少) • 鮮鋭度が高い
Half scan
k=0
Full Scan + Linear
TEeff : 128 x 5 = 640ms
-128 +127
k=0
Half Scan + Linear
-128 +127 half factor : 0.6 t t TEeff : 26 x 5 = 130ms Echo Space
Half scan
k=0
Full Scan + Linear
TEeff : 128 x 5 = 640ms
k=0
Half Scan + Rev. Linear
half factor : 0.6 t t TEeff : 128 x 5 = 640ms 撮像時間 : 256 x 5 = 1280ms 撮像時間 : 154 x 5 = 770ms -128 +127 -128 +127
VISTAのパラメータ TE調整の為の パラメータ 3D Non-selective Ultra short HalfScan Profile order その他の パラメータ Refocusing control Flow Compensation Slice oversampling Startup echo
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3D k-space profile order Inner Loop Contrast
Profile order Low-High
Turbo direction ‐
Half Scan No Yes
Linear ‐ Contrast
Rev-Linear
Inner Loop Contrast
Profile order Low-High
Turbo direction Y
Half Scan No Yes
Linear Z Contrast Rev-Linear ■ ~R1 ■ R2~ Radial
Y
X
Z
Inner Loop Contrast
Profile order Low-High
Turbo direction Y Half Scan no Inner-loop Outer loop Contrast enh. Linear Dyn / Ang Outer Loop Angio
Inner Loop&Outer Loop
3DTSEのOuter Loop はLinear固定!
Inner Loop Contrast
Profile order Low-High
Turbo direction Y
Half Scan no
Y Z
3D k-space profile order
Inner Loop Contrast
Profile order Linear
Turbo direction Y
Half Scan no
Y
X
3D k-space profile order
長いTEのコントラストを得るため(T2WI) シャープな画像を得るため(T1WI、PDWI)
Y
X
Z Inner Loop Contrast
Profile order Linear
Turbo direction Z
Half Scan Yes
62.5%
3D k-space profile order
実測 data 算出 data k=0 Half Scan 複素共役対称を利用。実測データを減少できる K0までの時間を短縮 TE短縮可能
条件設定の注意点
1mm iso voxelに設定したはずが…
VISTA(3D-TSE)撮像の注意点
位相数÷TSE factor=割り切れない場合、
余った分は収集しない
Inner Loop Contrast
Profile order Low-High Turbo direction Radial
Half Scan No
X
Y Z
3D k-space profile order
k-space shutterにて 約20%撮像時間短縮
3D k-space profile order Low-High Asymmetr ic Linear Rev-Linear Y T1w PDw T1w PDw T2w T2w T2w Radial T1w PDw T2w ― ― • Half scanと組み合わせが可能であるため、 TEの調整が容易 • Scan percentageの設定に注意
turbo direction : radial • 空間分解能を低下させることなく、
撮像時間の短縮が可能
• Motion artifactに強い
• Half scanの併用は不可 turbo direction : Y
3D k-space profile order
T1WI
low-high + Y or radial、asymmetric + Y
T2WI
linear + Y or radial、asymmetric + Y
PDWI
linear + Y or radial、asymmetric + Y
VISTAのパラメータ TE調整の為の パラメータ 3D Non-selective Ultra short HalfScan Profile order その他の パラメータ Refocusing control Flow Compensation Slice oversampling Startup echo
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Refocusing control(R10~)
RF pulse + Echo
(a)3D-TSEのRefocusing control angle(default設定) 90°
180°
160° 160° 160° 160° 160° 160° 160°
RF pulse + Echo
(b)VISTA 1.5TのRefocusing control angle(設定値が60°) 90°
120° 60° 60° 60° 60° 60° 60° 60°
RF pulse + Echo 90°
60° 60° 60° 60°
Refocusing control(R10~)
RF pulse + Echo
(a)3D-TSEのRefocusing control angle(default設定) 90°
180°
160° 160° 160° 160° 160° 160° 160°
RF pulse + Echo
(b)VISTA 1.5TのRefocusing control angle(設定値が60°) 90° 120° 60° 60° 60° 60° 60° 60° 60° RFA↓ • SARの低減 • TR(撮像時間)の短縮 • T2コントラストの低下 • MT効果の低減
RFAを下げることによって、TEequivが短縮
equivalent TE ( TEequiv )
TEeff
TEequiv
:k0までの時間
Effective TE vs Equivalent TE
180° 120° 90° 30
°
TEeff: 110ms TEeff: 140ms TEeff: 240ms
TEeff: 100ms TEeff: 100ms TEeff: 100ms TEeff: 100ms
120° 90° 30
°
VISTAはBBに有用性が高い
3D TSE RA40 3D TSE RA160
VISTAのパラメータ TE調整の為の パラメータ 3D Non-selective Ultra short HalfScan Profile order その他の パラメータ Refocusing control Slice oversampling Flow Compensation Startup echo
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Slice encode 54 RF Z Y X Echo Echo スライスエンコード 連続性が乏しい 連続性が高い RF Z Y X Y Z Y X Z X 2D 3D
3D-TFE(FFE) Default :1.28 3D-TSE Default :1.8 14% 14% Overlap Overlap Slices × 28% Slices(Z) 100 40% 40% Overlap Overlap Slices × 80% Slices(Z) 100 ■R2.5~
Slice Over Sampling
Sagital
被写体が含まれていれば、
Slice Over Sampling phase behaviour 0 - fMax fMax 傾斜磁場 A B 耳の折り返りに注意!
Slice Over Sampling
default
Sagittal→Transverseの場合
3D non-selective yesにて、 Echo spaceが短縮可能。 S/N向上 3D non-selective yesでは、 必ずsensitizedを併用。 non-selectiveのため、広範囲 に励起されるため、不要な信 号やflow artifactを傾斜磁場 にてキャンセルする。 Flow Compensation:sensitized
G G t time 流速:速い 流速:遅い 90° 180° Gy Phase Flow Compensation:sensitized 静止組織
180 90 RF Gz Gy Gx Signal 160 150 Flow Compensation:sensitized
VISTAのパラメータ TE調整の為の パラメータ 3D Non-selective Ultra short HalfScan Profile order その他の パラメータ Refocusing control Slice oversampling Flow Compensation Startup echo
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TSE factorによるblurring k=0 90° 180° EchoのT2減衰(信号低下)によりK 空間上の信号強度が一定ではない Blurring
TSE factorによるblurring 90° 180° TSE factor=9 TSE factor=3 90° 180° shot duration shot duration
TSE factorによるblurring 90° 180° TSE factor=9 TSE factor=3 90° 180° shot duration shot duration
Startup echo TEeff TEeff TSE Factor:9 TSE Factor:9 Linearの場合 Start up echo 2を追加 信号減衰 信号減衰
Startup echoによるblurringの違い 1.5T Start up 0 TE4.6 Start up 2 TE14 Start up 1 TE9.8 Start up 3 TE19 固定パラメー タLow-High TSEFactor20 RFA 30° TE shortest Achieva 1.5T
Today’s Topics
3D TSEの基礎
VISTAに関連したパラメータ
View-VISTA vs 3D View
Variable Flip angle Sweep VISTA Advanced(3T) 3D View VISTA Simple(1.5T) Advanced sweep Constant RFAs
VISTA vs 3D View k0 →Echo数 CSF GM WM k0 →Echo数 CSF GM WM VISTA Advanced(3T) 3D View 実効TEが同じであれば得られるコントラストは同等 SNRが約1.5倍に増加
Brain View(R3~)
3D View
MSK View(R5.1~)
TI 180 白質 灰白質 CSF 90 90 T2 prepulse 180 TI T2 Prep PulseによりT2値の差が大きくつけることが可能。 TR5000以下で十分なコントラストが得られる。
Multi Slice FLAIR Thickness 5mm
Brain View FLAIR
TRA収集 Thickness 4mm
antiDRIVEとは?
Today’s Topics
3D TSEの基礎
パラメータ
New Sequence -3D
View-‐ 高SNR、スライス方向への連続性良好 ‐ スライス方向の折り返しに注意
‐ 3D Non selective ‐ Refocusing control
‐ Variable Flip Angle Sweep ‐ SNR上昇とblurring改善