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線形計画法を用いた非線形回路の全解探索法に関する研究

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(1)

修士論文要旨

(2014

年度

)

線形計画法を用いた非線形回路の全解探索法に関する研究

A Study on Algorithms Using Linear Programming for Finding All Solutions of Nonlinear Circuits

電気電子情報通信工学専攻 木南 翔太

Shota KINAMI 1.

ま え が き

非線形回路の全ての直流解を求める効率的かつ実用的な アルゴリズムを確立することは,集積回路設計における重 要な未解決問題の一つである

.

この問題は変数の数の増加 とともに計算時間が指数関数的に増大する,本質的に難し い問題である.この問題については,文献

[1]-[17]

などで 多くの効率的なアルゴリズムが提案されてきた.多くの 従来法は,分枝限定法と区間解析の考えに基づいている.

区間解析では,アルゴリズムの早い段階で解を含まない 多くの領域を除去できるように,与えられた領域におけ る解の非存在判定能力(領域除去能力)を強力にするこ とが重要となる.強力な解の非存在判定テストとしては,

LP

テストと呼ばれる線形計画法を用いた方法が知られて いる

[7]

LP

テストとは「非線形関数を多角形で囲むこ とにより得られる線形計画問題」を単体法で解くことに より,与えられた領域における解の非存在を判定する方 法である.一般に

LP

テストは非線形関数を囲む多角形 の面積が小さいほど解の非存在判定能力(領域除去能力)

が強くなる.

本研究では,長方形と平行四辺形を併用した

LP

テスト による非線形回路の効率的な全解探索法を提案する.更 に,数値例により,提案手法の有効性を検証する.

2.

対象とする問題

n

個の非線形抵抗を含む直流回路は,一般に次のような 形の非線形方程式で記述することができる.

f (x) =

P g(x) + Qx r = 0 (1)

ただし,

x = (x

1

, x

2

, · · · , x

n

)

T

R

n は非線形抵抗の 枝電圧または枝電流を要素とする

n

次元変数ベクトル,

g(x) = [g

1

(x

1

), g

2

(x

2

), · · · , g

n

(x

n

)]

T はこれらの抵抗の 特性を表す

R

n から

R

n への非線形関数(ただし各成分

は一変数関数とする),

P , Q

は回路の構造によって決ま

n × n

定数行列,

r

は電源の値によって決まる

n

次元 定数ベクトルである.本稿では,初期領域

D

に存在する

(1)

のすべての解を求める問題を考える.

3.

基本アルゴリズム

3. 1

区 間 解 析

区間解析の基本的なアルゴリズムを述べる.

n

次元区間 ベクトル

[a

i

, b

i

] (i = 1, 2, · · · , n)

は次のように表される

X = ([a

1

, b

1

], [a

2

, b

2

], · · · , [a

n

, b

n

])

T

. (2)

幾何学的には,

X

n

次元直方体である.

区間解析では,はじめ領域

X = D

として

,

次の手続きを 再帰的に行う

.

各段階において,領域

X

を解析する.も

X

に式

(1)

の解が存在しない場合,解析から除外する.

もし

X

に式

(1)

の一意解が存在する場合,適当な反復法 によりその解を求める.もしこれらのいずれも成立しな い場合

,

その領域を二分割しそれぞれに対して同様の手順 を行う

.

与えられた初期領域

D

に含まれる式

(1)

の解の 個数は有限であるため,区間解析では数学的保証をもって

(1)

D

におけるすべての解を見つけることができる.

3. 2 LP

テスト

文献

[7]

で提案された強力な解の非存在判定テスト

(LP

テスト

)

について述べる.

LP

テストでは,式

(1)

の解の非存 在が次のように証明される.まず初めに

X = ([a

1

, b

1

], · · ·

, [a

n

, b

n

])

T に対する

g

i

(x

i

) (i = 1, 2, · · · , n)

の値域を計 算する.そして

[a

i

, b

i

]

に対する

g

i

(x

i

)

の値域を

[c

i

, d

i

]

する.次に,補助変数

y

i

= g

i

(x

i

) (i = 1, 2, · · · , n)

を導 入する.ゆえに,もし

a

i

< = x

i

< = b

iならば

c

i

< = y

i

< = d

i となる.ここで式

(1)

のそれぞれの非線形関数

g

i

(x

i

)

補助変数

y

iと線形不等式

c

i

< = y

i

< = d

i で置き換える.そ して次の線形計画

(LP)

問題を考える

.

(2)

最大化

(

任意の定数

)

制約式

P y + Qx r = 0

a

i

< = x

i

< = b

i

, i = 1, 2, · · · , n c

i

< = y

i

< = d

i

. i = 1, 2, · · · , n

(3)

なお

y = (y

1

, y

2

, · · · , y

n

)

T

R

nである.そして

,

線形計 画問題

(3)

に単体法を適用する.

明 ら か に ,

X

内 に 存 在 す る 式

(1)

の す べ て の 解 は

y

i

= g

i

(x

i

)

とおけば

(3)

の制約式を満たす.すなわち

(3)

の実行可能領域は

X

内の式

(1)

の解をすべて含む 凸多面体である.ゆえに,もし実行可能領域が存在しな ければ,

X

内に式

(1)

の解は存在しない.式

(3)

の実行可 能領域の存在と非存在は,単体法により確認できる.も し単体法を行った結果実行可能領域がなければ,

X

に式

(1)

の解は存在しない.このテストは

LP

テストと呼ばれ る.

LP

テストを

Krawczyk-Moore

法のような区間アル ゴリズムに導入することによって,式

(1)

のすべての解を 効率的に求めることが出来る.

(3)

に対する単体法の実装においては,線形計画問題 が非負制約を満たす次の形となるように次のような変数 変換を適用する

.

¯

x

i

= x

i

a

i

¯

y

i

= y

i

c

i

(4)

この変数変換は図

1(a)

の左下に示すような座標系への変 数変換を意味する

.

変数変換を適用した時の,線形計画問 題を次に示す

.

最大化

(

任意の定数

)

制約

P y ¯ + x ¯ r = 0

¯

x

i

< = b

i

a

i

, i = 1, 2, · · · , n

¯

y

i

< = d

i

c

i

, i = 1, 2, · · · , n

¯

x

i

> = 0 , y ¯

i

> = 0 . i = 1, 2, · · · , n

(5)

ただし

x ¯ = (¯ x

1

, x ¯

2

, · · · , x ¯

n

)

T

, ¯ y = (¯ y

1

, y ¯

2

, · · · , y ¯

n

)

T

,

して

r ¯ = r P(c

1

, c

2

, · · · , c

n

)

T

Q(a

1

, a

2

, · · · , a

n

)

T ある.

x

i

x

i

x

i

b b

i

a

i

x

i

a

i

i

i

c d

i

(b) (a)

i

i

y y

i

y

i

y

1 関数の非線形性が弱い場合,平行四辺形LPテスト は長方形LPテストよりも強力となる.

x

i

(b) x

(a)

i i

i

y

y

2 関数の非線形性が強い場合,平行四辺形LPテスト は長方形LPテストよりも弱くなる.

3. 3

双対

LP

テスト

双対

LP

テストとは

,

線形計画法の双対単体法を用いる ことで

,

上記で述べた

LP

テストと同様の効果を少ない計 算量で実現できる方法である

.

文献

[9]

では,

2

つ目の領 域から双対単体法を使用することによって,

1

領域あたり わずかな回数

(

しばしば

0

)

のピボット演算で

LP

テス トが行えることが示されている.この手法を用いること によって,

LP

テストは強力なだけでなく効率的となる.

4.

提 案 手 法

本章では,アルゴリズムの初期の段階では長方形を使 い,関数の非線形性が弱くなれば平行四辺形を用いる方 法を提案する

.

ただし長方形から平行四辺形にそのまま切 り換えると,制約条件の数が増え,タブローのサイズも 大きくなる.また,切り換えた時点での双対単体法の適 用が不可能になる.本稿ではこの問題を適切な変数変換 により解決する.

一般に

LP

テストは非線形関数を囲む多角形の面積が小さ いほど解の非存在判定能力(領域除去能力)が強くなる.

1(a

)に示すように,関数の非線形性が弱い場合,長方

(3)

x

i

(b) (a)

x

i

y

i

y

i

3 長方形と平行四辺形を切り替えるLPテストアルゴ リズム

形は必要以上に大きくなり,

LP

テストの非存在判定能力 が弱まる.文献

[12]

では,図

1(b)

に示すような非線形関 数を平行四辺形で囲む

LP

テストが提案された.このテス トは,関数の非線形性が弱い場合強力である.しかし,も し図

2(b)

に示すように関数の非線形性が強い場合,平行 四辺形は長方形よりも大きくなる.それゆえ,

LP

テスト の非存在判定能力が弱まる.さらに,この文献

[12]

で示 された平行四辺形

LP

テストでは制約式数が増えてしま う.制約式数が増えると,

LP

テストの効率性が弱まる.

平行四辺形を用いた

LP

テストは次のようにあらわさ れる

最大化

(

任意の定数

)

制約式

P y + Qx r = 0

a

i

< = x

i

< = b

i

, i = 1, 2, · · · , n y

i

< = R

i

x

i

+ β

i

, i = 1, 2, · · · , n y

i

> = R

i

x

i

+ β

i

. i = 1, 2, · · · , n

(6)

ただし

y = (y

1

, · · · , y

n

)

T は補助変数ベクトルで,

R

i

4

に示されるような平行四辺形の横軸側の直線の傾き であり,次の式で与えられる

.

R

i

= g

i

(b

i

) g

i

(a

i

) b

i

a

i

(7) β

i及び

β

iもまた, 図

4

で示されるような

y

座標である

.

なお線形計画問題

(6)

では非負制約を省略している

.

長方形から平行四辺形に切り替えるときに文献

[9]

で使 われている変数変換を用いると,制約式数が増えてしま う.さらに,タブローサイズが変わってしまうため双対単 体法が使用できなくなる.本研究では,適切な変数変換

ݕ

ݔ

ܽ

ܾ

ഴ䛝ܴ௜ ߚ

ߚ௜

4 平行四辺形LPテスト.

を用いることによってこの問題を解決するすなわち,次 のような変数変換を適用する

.

¯

x

i

= x

i

a

i

¯

y

i

= y

i

γ

i

α

i

x ¯

i

(8)

この変数変換は図

1(b)

の左下に示すような座標系への変 数変換を意味する

.

このとき,平行四辺形をあらわす制約 は次のようになる

¯

x

i

< = b

i

a

i

¯

y

i

< = β ¯

i

β

i

¯

x

i

> = 0 y ¯

i

> = 0 .

(9)

したがって,制約条件の数もタブローサイズも長方形のと きと同じになる.よって

,

長方形と平行四辺形を併用した

LP

テストによる非線形回路の効率的な全解探索法が可能 となる

.

5.

数 値 例

提案手法を適用した数値例を示す

.

アルゴリズムの実 装には

C

言語(倍精度)を用い

,

計算機は

Dell Precision T7400 (CPU: Intel Xeon 3.4GHz)

を使用した.

1

:文献

[12]

の数値例の例

1

で解かれている

n

変数 の非線形方程式に対し,

n = 100

として文献

[9], [12]

と提 案手法を適用したときの探索領域数,総ピボット演算回 数,

1

領域あたりの平均ピボット演算回数,そして計算時 間を表

1

に示す.ここで文献

[9]

では長方形のみを使用し

LP

テストであり

, [12]

は従来の制約式数が増えてしま う平行四辺形のみを使用した

LP

テストである

.

提案手法 では制約条件の数が少なく,また一貫して双対単体法が 適用されるため,

1

領域当りの平均ピボット演算回数が少 なくなる.またアルゴリズム全体で適切な大きさの多角 形が使用されるため探索領域数も少なくなり,併せて計

(4)

1 1の計算結果

探索領域数 総ピボット 平均ピボット 時間 演算回数 演算回数 (秒)

文献

[9] 250 007 839 608 3.35 334

文献

[12] 84 727 1 249 797 14.75 413

提案手法

72 911 243 348 3.33 79

2 2における計算時間の比較(秒)

n

解の個数 文献

[15]

提案手法

100 9 0.3 0.2

200 13 3 2

300 11 8 5

400 9 29 13

500 13 55 28

. .. .

.. .

.. .

..

1000 17 885 419

2000 9 5398 3201

3000 27 47357 28110

4000 21 70628 54558

5000 15 145260 89340

算時間の短縮が実現される

.

2

:文献

[15]

において,変数分離可能な非線形方程 式系のすべての解を求める効率的な手法が提案されてい る.これは

LP

縮小と呼ばれ,解を含まない領域は除去し 解を含む領域は線形計画法を用いて領域縮小する手法で ある.今回

,

提案手法と

LP

縮小のアルゴリズムを組み合 わせ,

n

個のエサキダイオードを含む非線形回路に適用し た.文献

[15]

のアルゴリズムと提案手法を適用したとき の計算時間の比較を表

2

に示す.表

2

より,提案手法で

5000

変数の非線形方程式系の解析が,約

24

時間でお こなえていることがわかる.

6.

む す び

本研究では

LP

テストによる非線形回路の効率的な全解 探索法を提案した

.

提案手法はアルゴリズムの初期の段階 では長方形を使い,関数の非線形性が弱くなれば平行四 辺形を用いる方法である

.

提案手法ではアルゴリズムの全 体を通して双対単体法と適切な形の多角形が用いられる ため,従来の長方形のみまたは平行四辺形のみを用いた

LP

テストよりも効率的となる事を数値例により示した

.

文献

(

下線は研究業績

)

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[4] K. Yamamura, “Finding all solutions of piecewise-linear re- sistive circuits using simple sign tests,” IEEE Trans. Circuits Syst. I, Fundam. Theory Appl., vol.40, no.8, pp.546–551, Aug.

1993.

[5] M. Tadeusiewicz and K. Glowienka, “A contraction algorithm for finding all the DC solutions of piecewise-linear circuits,”

J. Circuits, Systems, and Computers, vol.4, no.3, pp.319–336, Sept. 1994.

[6] K. Yamamura and M. Mishina, “An algorithm for finding all solutions of piecewise-linear resistive circuits,” Int. J. Circuit Theory Appl., vol.24, no.2, pp.223–231, March 1996.

[7] K. Yamamura, H. Kawata, and A. Tokue, “Interval solu- tion of nonlinear equations using linear programming,” BIT—

Numerical Mathematics—, vol.38, no.1, pp.186–199, March 1998.

[8] K. Yamamura and T. Ohshima, “Finding all solutions of piecewise-linear resistive circuits using linear programming,”

IEEE Trans. Circuits Syst. I, Fundam. Theory Appl., vol.45, no.4, pp.434–445, April 1998.

[9] K. Yamamura and S. Tanaka, “Finding all solutions of systems of nonlinear equations using the dual simplex method, BIT

―Numerical Mathematics―, vol.42, no.1, pp.214–230, Mar.

2002.

[10] K. Yamamura and R. Kaneko, “Finding all solutions of piecewise-linear resistive circuits using the simplex method,”

IEEE Trans. Circuits Syst. I, Fundam. Theory Appl., vol.50, no.1, pp.160–165, Jan. 2003.

[11] K. Yamamura and T. Fujioka, “Finding all solutions of non- linear equations using the dual simplex method,” J. Computa- tional and Applied Mathematics, vol.152, issues 1-2, pp.587–

595, March 2003.

[12] 山村清隆,田中克昌,“双対単体法を用いた弱非線形方程式の全解探 索法,”信学論(A), vol.J88-A, no.7, pp.833–839, July 2005.

[13] K. Yamamura and K. Suda, “An efficient algorithm for find- ing all solutions of separable systems of nonlinear equations,”

BIT—Numerical Mathematics, vol.47, no.3, pp.681–691, Sept.

2007.

[14] K. Yamamura and A. Machida, “An efficient algorithm for finding all DC solutions of piecewise-linear circiuts,” Int. J.

Circuit Theory and Appl., vol.36, 2008.

[15] K. Yamamura, K. Suda, and N. Tamura, “LP narrowing:

A new strategy for finding all solutions of nonlinear equa- tions,” Applied Mathematics and Computation, vol.215, no.1, pp.405–413, Sept. 2009.

[16] 木南翔太,山村清隆, 多角形LPテストを用いた非線形回路の全 解探索法, 2013年電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集, A-2-4, Sept. 2013.

[17] E. Yukawa, H. Taki, S. Kinami, and K. Yamamura, “An algo- rithm for finding all DC solutions of nonlinear circuits using polygonal LP test,” Proc. 2013 IEEE Workshop on Nonlinear Circuit Networks,pp.51–54, Dec. 2013.

参照

関連したドキュメント

[1] Amari, S.-I.: Theory of Adaptive Pattem Classifiers, IEEE Trans.. and Murata, N.: Statistical Theory of Leaming

Inoue, “An efficient algorithm for find- ing multiple DC solutions based on SPICE-Oriented Newton homotopy method,” IEEE

Tamura, “Finding all solutions of sep- arable systems of piecewise-linear equations using integer programming,” J. Ushida

Suda, “An efficient algorithm for finding all solutions of separable systems of nonlinear equations,” BIT Numerical Mathematics, vol.47, no.3, pp.681–691, Sept. Tamura,

Inoue, “An efficient homotopy method for finding DC operating points of nonlinear circuits,”.

Tanaka, “Finding all solutions of piecewise-linear resistive circuits using the dual simplex method,” International Journal of Circuit Theory and Appli- cations, vol.30,

Nakata: “Phase diagram of polystyrene in cyclo- hexane in φ-T -P space”, Trans.. Battjes: “Multiphase equilibria in solutions of

Tanaka, ῏ Performance evaluation of the LP test algorithm for finding all solutions of piecewise-linear resistive cir- cuits, ῐ International Journal of Circuit Theory and