ナノテクで熱を有効利用
「熱電変換の高効率化」
九州工業大学
工学研究院
機械知能工学研究系
宮崎 康次
2012年 10月19日 新技術説明会Ioffe (ロシア, 1941) 坂田 亮 編,熱電変換工学 リアライズ社 (2001)
熱から
直接
発電
太陽電池:光から直接発電
燃料電池:燃料から直接発電
研究背景(熱電発電)
研究背景(熱電発電の効率)
2S
Z
σ
λ
=
σ: 電気伝導率 (S/cm) S: ゼーベック係数(V/K) λ: 熱伝導率(W/(m・K)) max 1 opt hot cold cold hot opt hot m T T T T m T η = − − +(
)
1 1 2opt hot cold
ナノテクで物性制御
L.D. Hicks et al., PRB, Vol.53, No.16, p. R10493(1996) Bi2Te3の量子井戸構造 PbTe Pb1-xTeEuxナノ構造熱電半導体と効率
Venkatasubramanian, R. et al., Thin-film Thermoelectric Devices with High
Room-temperature Figures of Merit, Nature, 413 (2001) 597. ZT=2.4 at 300K
Harman, T.C. et al., Quantum Dot Superlattice Thermoelectric Materials and
Devices, Science, 297 (2002) 2229. ZT=1.4 at 300K
Hsu, K. F. et al., Cubic AgPbmSbTe2+m: Bulk Thermoelectric
Materials with High Figure of Merit, Science, 303 (2004) 818.
ZT=2.1 at 800K
Hochbaum, A. I. et al., Enhanced Thermoelectric Performance of
Rough Silicon Nanowires, Nature, 451 (2008) 163. ZT=0.6 at 300K
Poudel, B. et al., High-Thermoelectric Performance of
Nanostructured Bismuth Antimony Telluride Bulk Alloys, Science, 320 (2008) 634. ZT=1.4 at 300K
Kashiwagi et al., Enhancemenced Figure of Merit of a Porous Bismuth Antimonny
ナノワイヤー
Hochbaum, A. I. et al., Enhanced Thermoelectric Performance of
Rough Silicon Nanowires, Nature, 451 (2008) 163. ZT=0.6 at 300K
室温で平均自由行程の長いフォノン輸送をカット フォノン ~300nm
ポーラスシリコン
J. Tang et al., Nano Lett.(2010),Vol.10,4278
ZT=0.4
λ=1.5W/(m・K)
単結晶
100W/(m・K)
ナノ結晶
10W/(m・K)
ナノホール,ナノワイヤー 2W/(m・K)
アモルファス
1W/(m・K)
ナノ多孔体による
ZT向上
多孔体の熱伝導率
空隙率ε, − 見かけ の熱伝導率 λ e /λ s , −(
)
(
)
(
(
)
)
(
)
(
)
(
)
(
(
)
)
(
)
1 2 1 2 1 1 1 2 1 s f s f e s s f s f ε λ λ λ λ λ λ ε λ λ λ λ − − + = + − +(
)
(
)
(
)
(
)
2 3 2 3 2 3 2 3 1 1 s f e s s f ε λ λ ε λ λ ε ε λ λ ε ε + ⋅ − = − + ⋅ − +(
)
(
)
1 1 e L C C s L r p s h d λ ε ε ε λ ε λ = − + + −(
)
( )(
)
(
(
)
( ))
(
)
(
)
( )(
)
(
(
)
( ))
(
)
0.2 0.2 0.2 0.2 1 2 1 2 1 1 1 2 1 r p f r p f r p f r p f h d h d s f s f e h d h d s s f s f e e e e λ λ λ λ ε λ λ λ λ λ λ ε λ λ λ λ − ⋅ − ⋅ − ⋅ − ⋅ + − + = − − +(
) ( )
( )
1 3(
)
2 3 2 3 1 3 1 1 2 3 e s s f h dr p s λ ε ε ε ε λ λ λ λ = − + × − + + Euckenの式 Russelの式 Loebの式 Kuniiの式 Saegusaらの式 熱物性ハンドブック(養賢堂),p.195-196ポーラスシリコンの性能指数
A.Yamamoto et al. , “Two dimensional quantum net of heavily doped porous silicon,” Proceedings of 17th International conference on thermoelectric, pp.198-201 (1998).
ビスマステルライド薄膜
バルク 薄膜 熱伝導率 1.6 W/(m・K) → 0.8 W/(m・K) 電気伝導率 0.93×105 S/m → 0.54×105 S/m ゼーベック係数 -177.5 µV/K → -186.1 µV/K ZT 0.6 → 0.7新技術の特徴・従来技術との比較
特開
2011-249672
「ナノ組織を有するバルク状熱電変換多孔体
、ナノ粒子を用いたバルク状熱電変換多孔体
の製造方法、及びその製造装置」
ナノ構造と熱伝導率
(ナノ構造をもつ構造の作製方法,装置)
*1 D.-H. Kim.et al., JALCOM, Vol. 399, (2005), 14. *2 M. Takashiri et. al., JAP. Vol. 104, (2008), 084302. This work
Bi0.4Te3.0Sb1.6 nanocrystalline thin film Bi0.4Te3.0Sb1.6 nanoparticle thin film Bi2.0Te2.7Se0.3 nanocrystalline thin film Ref.
Bi2Te3 microcryatalline alloy*1
Bi2.0Te2.7Se3.0 nanocrystalline thin film*2
( ) ( ) ( )
1
3
lC
v
gL
pd
κ
=
∫
ω
ω
ω ω
周波数依存
κ
l= C v
−
1
3
gL
pT
S
ZT
l eκ
κ
σ
+
=
2 比熱容量 [J/(m3·K)] デバイモデル 群速度 [m/s] 正弦波関数近似 自由行程 [m] Lpフォノンガスモデル
境界散乱
ウムクラップ散乱 不純物散乱
Umklapp Impurity + Boundary Boundary Umklapp + Impurity Bi2Te3フォノン散乱因子
(
)
1 exp 2 Bω
αTβ −B T 4 1 Aω
(
)
4 1 1 2 1 1 1 1 1 exp s u A B T B T α βτ τ
= +τ
=ω
+ω
−κ : 10%
κ : 50%
Long tail
300 K
Bi
2Te
310nm
110nm
κ : 1.5 W/(m・K)
∫
= ω κ CvLd 3 1κ
: 熱伝導率
C
: 比熱
v
: 音速
L
: フォノン平均自由行程
フォノン平均自由行程
CvL
3
1
=
κ
∫
= κLdL κ L L v CL g L ∂ ∂ − = ω κ 3 1 田中三郎ら,熱物性,Vol.24, No.2, pp.94-100 (2010).dL
l L∫
0κ
*
κ
dl
d
Single crystal bulk Bi2Te3 at 300 K
1
3
Cvl
λ
=
( ) ( ) ( )
01
3
C
v
l
d
λ
=
∫
∞ω
ω
ω ω
( ) ( )
01
3
C l v l ldl
λ
=
∫
∞ 結晶構造 分散関係(
)
2 2 1 4 1ω BT exp B T ω A v L s bulk − + =Electron
2ne
m
τ
σ
=
l
=
v
Fτ
1 3 23
FN
v
m
V
π
=
h
MFP≒30nm at 300KMFP of Bi
2
Te
3
(フォノン>エレクトロン)
p type Bi
2
Te
3
at [%] P type:Bi0.4Te3.0Sb1.6 Bi2Te3 20 Sb2Te3 80Bi0.4Te3.0Sb1.6 nanocrystalline thin film Bi0.4Te3.0Sb1.6 nanoparticle thin film Bi0.4Te3.0Sb1.6 bulk alloy
-Reference-
Bi2Te3 single crystal bulk*1
Bi1-xSbxTe3 single crystal bulk*1
Bi2Te3 Sb2Te3 -Analysis- -Experiment-90 % 80 % 70 % 50 % 90 %
n type Bi
2
Te
3
N type:Bi2.0Te2.7Se0.3 Bi2Te3 90 Bi2Se3 10Bi2.0Te2.7Se0.3 nanocrystalline thin film Bi2.0Te2.7Se0.3 nanocrystalline thin film*
-Reference-
Bi2Te3 bulk alloy*1
Bi2Te3 single crystal bulk*2
Bi2.0Te2.7Se0.3 bulk alloy*3
Bi2Se3 single crystal bulk*2
*1 D.-H. Kim et al., JALCOM, Vol. 399, (2005), 14. *2 T. S. Oh et al., Scripta mater., Vol. 42, (2000), 849. *3 J. Y. Yang et al., JALCOM, Vol.312, (2000), 326.
Bi2Te3
Bi2Se3
-Analysis-
-Experiment-* M. Takashiri et al., JAP, Vol. 104, (2008), 084302.
ポーラスアルミナ
陽極酸化(1回目) 孔の拡張 ・成形 酸化膜 酸化膜の除去 乾燥 陽極酸化 (2回目)A
l
ゼーベック係数 198 µV/K 電気伝導度 398S/cm 熱伝導率 0.25 W/(m・K) 物性値の1/5 ZT=1.8
ポーラスアルミナ上
Bi
2
Te
3
ポーラス熱電
n型 ZT=0.8 ブロックコポリマー基板 アルミナ基板 p型 ZT=1.8マイクロペルチェ
(超格子構造)
I. Chowdhury et al.,Nature Nanotechnology, Vol.4(2009) 235-238. ZT=2
ナノワイヤー熱電マイクロ発電
W. Wang et al., Microelectronic Engineering, Vol. 77 (2005) pp.223-229. ナノワイヤーBi2Te3(直径50nm)でマイクロデバイスを作製
マイクロ発電,ネットワーク
マイクロジェネレーター
Upper layer: n-type bismuth telluride
Under layer: p-type bismuth telluride
2 mm