• 検索結果がありません。

Product Bulletin

N/A
N/A
Protected

Academic year: 2022

シェア "Product Bulletin"

Copied!
3
0
0

読み込み中.... (全文を見る)

全文

(1)

Product Bulletin

Document #:PB23347Z Issue Date:14 Jun 2020

TEM001797 Rev. B Page 1 of 1

Title of Change:  

Update Datasheet of FAM65CR51DZ1/2 & FAM65HR51DS1/2, no impact on product integrity.

Effective date: 

14 Jun 2020

Contact information: 

Contact your local ON Semiconductor Sales Office or [email protected]

Type of notification: 

This Product Bulletin is for notification purposes only. 

ON Semiconductor will proceed with implementation of this change upon publication of this Product Bulletin.

Change Category: 

APM16 datasheet change

Change Sub‐Category(s): 

Product specific change

Sites Affected:

ON Semiconductor Sites External Foundry/Subcon Sites

None None

Description and Purpose:  

 

Common Editorial changed items in both Datasheets: 

• Moved document to new Datasheet template 

• added Parameter Description chapter 

• Fixed Typo on flaming standard to correct UL94V‐0  

• Fixed Typo to correct standard AQG324 

• Added additional info to product overview table 

• Fixed Pagination numbering error 

• Made Characterization section text searchable in diagrams 

• Fixed note numbering 

• Reworded ISOLATION Table header to correct unit (resistance not voltage) 

• Updated package drawing and added straight lead version   

 Editorial changed items in Datasheet of FAM65CR51DZ2 only: 

• Table 3, RDSon – removed TC and clarified test condition of Tj=125°C  

• Added “not tested in production” note to ta,tb,trr and Qrr test conditions    

 Common updates in technical specification: 

• Added “not tested in production” note to Dynamic Characteristics table header  

• Added “not tested in production” note to Switching Timing table test conditions  

• Added “not tested in production” note to Trr and Qrr test conditions  

• Updated to same typ. switching timing values according to latest (wider) database    

Updates in technical specification of FAM65CR51DZ2 only: 

• Table 3, RDSon – removed TC and clarified test condition of Tj=125°C  

• Added “not tested in production” note to ta,tb,trr and Qrr test conditions  

List of Affected Standard Parts:  

 

Note: Only the standard (off the shelf) part numbers are listed in the parts list.  Any custom parts affected by this PCN are shown in the customer  specific PCN addendum in the PCN email notification, or on the PCN Customized Portal. 

  

FAM65CR51DZ1  FAM65HR51DS2 FAM65CR51DZ2  FAM65HR51DS1

 

 

(2)

Note

: The Japanese version is for reference only. In case of any differences between the English and Japanese version, the English version shall control.

注:日本語版は参照用です。英語版と日本語版の違いがある場合は、英語版が優先さ れます.

(3)

製品速報

文書番号

#

PB23347Z

発行日:14 Jun 2020

TEM001797 Rev. B 1/1 ページ

変更件名:  

FAM65CR51DZ1/2とFAM65HR51DS1/2 のデータシート更新、製品の完全性に影響はありません。 

発効日: 

14 Jun 2020 

連絡先情報: 

現地のオン・セミコンダクター営業所または [email protected] にお問い合わせください。 

通知種別:

  本製品速報は通知目的のみです。 

オン・セミコンダクターは本製品速報の発行により本変更を実行します。 

変更カテゴリ: 

APM16 データシートの変更 

変更サブカテゴリ: 

製品仕様の変更 

影響を受ける拠点

:

  

オン・セミコンダクター拠点   外部製造工場

/

下請業者拠点  

なし

 

なし

 

説明および目的:

  

 

両データシートにおける共通の編集上の変更項目: 

• 新しいデータシートテンプレートを使用 

• パラメータの説明の章を追加 

• 燃焼規格の誤植を訂正して UL94V‐0 を修正  

• 誤植を訂正して AQG324規格 を修正 

• 製品概要表に付加情報を追加 

• ページ番号のエラーを修正 

• 特性評価の章の図における文言を検索可能に変更 

• ノートナンバリングを修正 

• 単位を修正するための ISOLATION 表ヘッダーの書き直し (電圧ではなく抵抗) 

• パッケージ図面を更新し、ストレートリードバージョンを追加   

 FAM65CR51DZ2 のデータシートのみにおける編集上の変更項目

• 表 3、RDSon – TC 削除および Tj=125°C のテスト条件を明確化 

• ta、tb、trr および Qrr テスト条件に「量産ではテストされていません」の注釈を追加   

 技術仕様の共通更新

• 動的特性表のヘッダーに「量産ではテストされていません」の注釈を追加 

• スイッチングタイミング表のテスト条件に「量産ではテストされていません」の注釈を追加 

• trr および Qrr テスト条件に「量産ではテストされていません」の注釈を追加 

• 最新の (より広範囲の) データベースに従って、同じタイプのスイッチングタイミング値に更新    

FAM65CR51DZ2 のみの技術仕様の更新

• 表 3、RDSon – TC 削除および Tj=125°C のテスト条件を明確化  

• ta、tb、trr および Qrr テスト条件に「量産ではテストされていません」の注釈を追加     

影響を受ける標準部品の一覧:  

 

注: 標準の部品番号 (既製品) のみが部品一覧に記載されます。 本 PCN に影響を受けるカスタム部品は、PCN メールの顧客の特定の PCN の付属 文書、または PCN カスタマイズポータルに記載されています。

  

FAM65CR51DZ1  FAM65HR51DS2 FAM65CR51DZ2  FAM65HR51DS1   

参照

関連したドキュメント

As a research tool for the ATE, various scales have been used in the past; they are, for example, the 96-item version of the Tuckman-Lorge Scale 2) , the semantic differential

Now we prove the implication (i) ⇒ (iii). By symmetry it suffices to consider the range [ 0, ∞ ). By Peano’s theorem we know that solutions exist locally, that is, I is half open.

Mocanu, The theory and applications of second-order differential subordinations, Stud.. Takahashi, On a strongly starlikeness

S., Oxford Advanced Learner's Dictionary of Current English, Oxford University Press, Oxford

I think that ALTs are an important part of English education in Japan as it not only allows Japanese students to hear and learn from a native-speaker of English, but it

A total of 190 studies were identified in the search, although only 15 studies (seven in Japanese and eight in English), published between 2000 and 2019, that met the

In the first half of this paper, after reviewing how English adjectives have been classified in the literature and in dictionaries for learners of English and giving evidence to

The hypothesis of Hawkins & Hattori 2006 does not predict the failure of the successive cyclic wh-movement like 13; the [uFoc*] feature in the left periphery of an embedded