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Design of BGR circuit using MOSFET in weak inversion region

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Academic year: 2021

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高知工科大学大学院修士課程電子・光システム工学コース 修士論文要旨 2019 年 2 月 12 日

弱反転領域で動作する

MOSFET

を使った

BGR

回路の設計

Design of BGR circuit using MOSFET in weak inversion region

1215045 武内

智哉 (大規模集積回路研究室)

(指導教員 橘 昌良 教授)

1.概要

基準電源回路は安定した電圧供給が求められる。BGR回路 も基準電源回路の一つであり、電源電圧や環境温度の変動に 依存しない固定電圧を生成する。設計 BGR 回路が予期せぬ タイミングで停止する現象が実測中に確認された。本研究で は BGR 回路の回路停止問題を究明することを目標に設計を 行った。

本研究で付加されているスタートアップ回路(SU 回路)に 回路停止問題の原因があると考え、提案SU回路に変更した。

提案SU回路は本研究SU回路より省電力かつBGR回路の 駆動状況に合わせて動作するため、BGR回路への影響の抑制 が期待される。

2.ダイオードを使用しない BGR 回路

従来の BGR 回路は、ダイオードを用いて温度依存性のな い出力を生成する[1]。本研究では、ダイオードの代わりに弱 反転領域で動作するMOSFET が使われている。弱反転領域 で動作するMOSFETのドレイン電流𝐼𝐷は、ゲート-ソース間 電圧𝑉𝐺𝑆の増加に対して指数関数的な増加をするためダイオ ードの代わりとして使用できる。また、p 型カレントミラー のゲート電位の安定化を図り、MOSFET Capacitor (MC)が 付加されている。さらに、SU回路を付加して、BGR回路が 駆動しない(電流が流れない)状態で安定することを防いでい る。回路図を図1に示す。

1 本研究BGR回路 3.本研究 SU 回路

本研究SU回路の回路図を図2に示す。本研究SU回路は VDD=0.8V以上でBGR回路へのバイアス電流出力を停止す る。本研究SU回路の問題点はVDD依存動作と出力電流が過 大なことである。VDD=0.8V以降、出力電流が低下していく 際、回路構成上、過渡的に不安定な電流出力変化を起こす可 能性がある。同時にオペアンプの反転入力電位も不安定にな り、BGR回路に影響を与える。

図 2 本研究SU回路 4.提案SU回路

提案SU回路の回路図を図3に示す。BGR回路の駆動状態を

感知してバイアス電流出力を停止する。設計にあたって文献 [2][3]を参考にした。

図3 提案SU回路 5.シミュレーション結果

本研究SU回路及び本研究BGR回路の出力のSIM結果を 図4、5に示す。提案SU回路及び提案SU回路を付加した BGR回路の出力のSIM結果を図6、7に示す。提案SU回 路はBGR回路の起動に合わせて停止するため、BGR回路の 出力への影響が少ない。図7には図5に見られる出力電圧の 歪は見ら れない 。本研究 SU 回路の最大 出力電流は最大 9.7μA(@VDD=0.8V)、 提 案 SU 回 路 の 最 大 出 力 電 流 は 20.6nA(@VDD=0.4V)である。

図4 本研究SU回路の出力電流 図5 本研究BGR回路の出力電流

図6 提案SU回路の出力電流 図7 BGR回路(提案SU回路付加)の 出力電流

6.まとめ

BGR回路が意図せず停止する原因として、付加しているス タートアップ回路(SU回路)の動作の影響を考えた。本研究の SU回路の出力電流は、BGR回路起動時にオペアンプの反転 入力端子をバイアスする。この出力電流は最大 9.7μA にも なり、不安定な動きをした場合、回路動作に影響を与えかね ない。よって、小電流で回路を起動させ、BGR回路の起動を 感知した後OFFになるSU回路の付加を提案した。

7.参考文献

[1]谷口研二 著,『CMOSアナログ回路入門』,CQ出版,2015 年11日第10版発行

[2] R.Jacob Baker著,CMOS: Circuit Design, Layout, and Simulation Revised Second Edition, IEEE

[3] J. Nilsson, J. Borg, J. Johansson,” High-Temperature Characterisation and Analysis of Leakage-Current- Compensated, Low-Power Bandgap Temperature Sensors”, Springer, Vol. 93, no 1, pp.137-147, 2017

参照

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