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(1)論 パ ル スYAGレ. ーザ に よ る脆 性 材 料 の 割 断 加 工*. Siウ エ ハ割 断 に お け る熱 応 力 解 析. 山田 啓司**西. 岡 真吾***細. Cleaving. Process. Thermal. Stress Analysis. 川 晃**上. of Brittle Materials. 田 隆司**. with Pulsed YAG Laser. in Cleaving. Process of Silicon Wafer. Keiji YAMADA, Shingo NISHIOKA, Akira HOSOKAWA and Takashi UEDA. Laser cleaving. process. is a prospective. high yield ratio and controllability.. technique. In addition,. to divide a thin plate of brittle materials. the process. is carried out without. coolant. into small pieces , because of its which causes the environmental. pollution and the contamination of the electrical devices etched on the wafer. In this paper, laser cleaving of silicon wafer is conducted with pulsed Nd:YAG laser. The temperature of laser spot is measured by means of the two-color pyrometer with optical fiber and the acoustic appropriate. emission. caused by crack propagation. interval and velocity, the crack propagates. high linearity. of cleaved edge and fine fractured. laser irradiation. is analysed. surface roughness. of crack propagation.. with temperature. The analysis. and the crack propagates. When the laser spot is scanned. at the. by the corresponding. laser irradiation . As a result, both The thermal stress distribution induced by. are obtained.. with FEM model, in which the stress intensity. in order to clarify the criterion the crack tip increases. is also observed.. in sequence. factor is calculated. and experiments. at the vicinity of the crack tip. reveal that the maximum. tensile stress at. when the stress intensity factor reaches the fracture toughness. of the material. Key words. acoustic. : Nd:YAG. laser, silicon. wafer, laser cleaving. process,. thermal. stress, stress intensity. 1.緒. 言. 2.割. ガ ラス,フ ァイ ンセ ラ ミックス,各 種 半導体 材料 な ど脆 性材. 料 を精 密 に切 断 す る方 法 として,レ ーザ照 射 に よって生 じる熱. 2.1実. 断加 工実 験. 験方 法. 実 験 装 置 の 概 略 を 図1(a)に,実. 応 力 を利 用 した割 断加工 が注 目され てい る1)2).レーザ割 断で. 物 は,き 裂 進 展 方 向 がSiウ. は,切 り代 が微 小 で歩 留 ま りが 高い,加 工 液 が不必 要で加 工時. る よ う,φ5イ. のパ ーテ ィクル発生 もない ので材 料 汚染が ない,機械 的外 力 を. ハ の 研 磨 面 にNd:YAGレ. 必要 と しないの で材料 保持 のため の段取 り作 業 が少 ない な どの. に よ っ て 照 射 点 近 傍 に は 圧 縮,そ. 利 点 が あ る. Lumleyが. factor , FEM analysis,. emission. 験 条 件 を 表1に. エ ハ のO.F.と. 示 す.加 工. 同 方 向<011>と. ー ザ を照 射 す る と. ,照 射 部 の 温 度 上 昇. の周 囲 には 引張 応力 が発 生. し,引 張 応 力 場 に あ る先 在 き裂 が 照 射 点 に 向 か い 進 展 す る.パ. レ ー ザ 割 断 加 工 を紹 介 して3)以 来,レ. ーザ割 断 に. ル ス周 波数κ. 関 す る 様 々 な研 究 が 行 わ れ て き た ・ た と え ば,液. 晶 ガラ スの. と,一 回の レ ー ザ 照 射 ご と に 照 射 点 は 距 離L=V/fだ. レ ー ザ 割 断 に お け る 加 工 品 位 ・能 率 向 上 に 関 す る研 究4). ,材 料 の 冷 却 に よ る 加 工 部 熱 損 傷 の 軽 減 技 術5)6),特 殊 な 色 付 き ガ ラ. レ ー ザ 照 射 しつ つ 加 工 物 を速 度Vで 移 動 さ せ る. こ と と な る.し た が っ て,図1(b)に. け移 動 する. 示 す よ う に ,き 裂 進 展 一照. ス を対 象 と し て 曲線 状 に 割 断 加 工 を行 っ た 例7)な どが あ る .こ. れ らの 研 究 で 用 い られ る レー ザ は い ず れ も連 続 照 射 で あ り,表. 面 に 電 気 回 路 を 作 製 し た ウ エ ハ の ダ イ シ ン グ工 程 で 重 要 な 問 題 と な る 照 射 部 の 熱 損 傷 を抑 制 す る た め に は ,冷 却 装 置 を付 加 す る必 要 が あ る.. これ に対 して,筆 者 らは前 報8)におい て,熱 損 傷 の少 な いパ ル ス レーザ を用 い る割断加 工 法 を提 唱 し,照射 条 件 と照射 部温. 度 の関係,き 裂 進展 が 誘起 され る臨界 温度 ,AE波. 形観測 によ る副 き裂 発 生 の監視 な どにつ い て検討 した.本 論文 で は,Siウ エ ハ にNd:YAGレ ーザ をパ ル ス照射 して割 断加 工 を行い,き 裂. (a)Expeimental set-up. 進 展時 のAE波 お よび レーザ照射 点 温度 を測 定 してい る.測 定 結 果 に基づ い て き裂 先 端近傍 の熱応 力解析 を行 い,き 裂進展 条 件 の詳 細 に つい て検 討 する.. *原 稿 受 付 平 成14年6月3日 **正 会 員 金 沢大 学工 学部(金 沢 市小 立野2‑40‑20) *** (株)富 士 通 ゼ ネ ラル(川 崎 市高 津 区末 永1116). (b)Detail of crack propagation. Fig.1 Schematic. 120精. な. ン チ ウ エ ハ か ら切 り出 して 作 製 し て い る.ウ エ. 密 工 学 会 誌Vol.69. ,No.1,2003. illustration. of cleaving. process. with pulsed laser.

(2) 山田 ・西 岡 ・細 川 ・上 田:パ ル スYAGレ. Table. 1 Experimental. conditions. in cleavine. process. ―ザ に よ る脆 性 材 料 の 割断 加 工. ら上 昇 し,照 射 終 了 時 に 最 高 値 に 達 し て い る.こ れ ら 両 素 子 の 出 力 の 比 を と り,図2の 校 正 曲 線 か ら照 射 部 温 度 を得 る こ とが で き る. 図4は,パ 合 のAE測. ル ス 幅 τ=3.0ms,レ ー ザ 照 射 点 間 隔L=1.0mmの 定 波 形 で あ る.レ ー ザ ピー ク 出 力 がP=110Wと. 場 合 に は き 裂 は 進 展 せ ず,図(a)に. 示 す よ うに,AE波. 確 な 出 力 は 見 られ な い.一 方,図(b)のP=567Wの. 場 低い. 形 に も明. 場 合 に は良. 好 な 割 断 加 工 が 行 わ れ る.レ ー ザ 照 射 開 始 か ら の 時 間T=1.1ms に お い て 大 き なAE出 力 が 観 測 され て お り,こ の と き き 裂 が 進 展 した こ と が わ か る,次 章 の 熱 応 力 解 析 に お い て も,き 裂 進 展 時(t=1.1ms)の 4(b)と. 応 力 分 布 に つ い て 扱 う も の とす る.ま た,図. 同 条 件 下 に お け る 照 射 点 温 度 は,レ. ー ザ 照射 終 了時. T=3msで ス ポ ッ トの 平 均 温 度0が400℃,ス θ0は 約600℃ 射 点 移 動 の 過 程 が 繰 り返 しな が ら,照 射 点 に 追 従 し て き 裂 が 進 展 し,加 工 物 の 割 断 に 至 る.図 中 のSは,き. 裂 が 進 展 を停 止 し. た と き の き 裂 先 端 と レー ザ 照 射 点 と の 距 離 で あ る.今 回 の 実 験 で は,割 断 ラ イ ン は 片 持 ち 支 持 した 加 工 物 の 自 由 端 か ら10mm. で あ る8).き 裂 進 展 時(T=1.1ms)の. ポ ッ ト中 心 温 度 照射 部 温度. は,次 章 の 解 析 に よ っ て 求 め て い る. 2.3き. 裂進 展部 の詳 細. 図5に,割. 断 加 工 後 の レー ザ 照 射 面 お よ び 割 断 面 の 観 察 例. を 示 す.図(a)で. は 割 断 さ れ た エ ッ ジ 部 を 照 射 面 側 か ら観 察 し. の 位 置 で,照 射 開 始 位 置 に は ビ ッカ ー ス 圧 子 に よ っ て 初 期 き 裂 を 導 入 して い る. 割 断 加 工 中,光 フ ァ イ バ 型2色 温 度 計8)‑11)を用 い て,レ ー ザ 照 射 点 の 温 度 を測 定 して い る.図1(a)に. 示 す よ う に,温 度 計 は. カ ル コ ゲ ナ イ ド光 フ ァイ バ,集 光 レ ン ズ お よ び 積 層 型2色 素 子 (InSb・nMCT)か. ら構 成 され て い る.図2に. 果 の よ う に,150℃. 以 上 の 温 度 を 精 度 よ く測 定 で き,応 答 速 度. は 約100kHzと. 示す 校正 実験 結. 本 実 験 に 十 分 な 速 さ を 有 し て い る11).ま た,照. 射 ラ イ ン か ら5mmの. 位 置 にAEセ. ン サ を 設 置 し,割 断 加 工 中 の. き 裂 進 展 を 監 視 し て い る.Si固 体 中 の 音 速 は お よ そ8400m/sと 非 常 に 高 速 な の で12),き 裂 部 で 発 生 したAE波. が セ ンサ に 到 達. す る 時 間 は約0.6μsと 短 い.し た が っ て,き 裂 進 展 と ほ ぼ 同 時 にAE波 2.2加. は 観 測 され る. 工 部 温 度.AE波. 観 測結 果. Siウ エ ハ を レー ザ 割 断 加 工 し た 際 の,温 度 測 定 波 形 の 一 例 を 図3に. 示 す.図(a)がInSb素. 子 か らの 出 力 で,図(b)はMCT. Fig.4 AE signals. during. laser irradiation. in cleaving. of Si wafer. 素 子 か らの 出 力 で あ る.両 素 子 と も に 出 力 は レー ザ 照 射 開 始 か. (a)lrradiated surface(b)Fracture surface Fig.5 Photographs of silicon wafer cleaved with laser (P=328W, t=2.5ms, V=6.66mm/s) Fig.2 Calibration. results of two-color. pyrometer. (a)Procedure to observe Fig.3 Output waves of pyrometer in cleaving with pulsed laser (P=450W, f=10Hz, V=3.33mm/s, r=3.0ms). Fig.6 Investigation. (b)crack tip on fracture surface (P=567W, t=3.0ms. V=10mm/s) of crack tip location. 精 密 工 学 会 誌vol.69,No.1,2003121.

(3) 山田 ・西 岡 ・細 川 ・上 田:パ ル スYAGレ. ―ザ に よ る脆 性 材 料の 割 断 加 工. て い る が,照 射 部 に は 熱 損 傷 が 原 因 の 照 射 痕 は 見 られ ず,直 線. 6030,要. 性 も優 れ て い る こ と が わ か る.図(b)に. 示 す 割 断 面 に は,レ ー. ま で 進 ん だ 場 合 に,レ ー ザ 照 射 時 の き裂 付 近 に お け る 応 力 分 布. 等 しい 間 隔 で 縞 模 様 が 見 られ,割 断 面. を 求 め る た め,長 辺 の 中 央 に は 長 さ5mmの き 裂 を 導 入 して い る,. ザ 照 射 点 間 隔L(=V/f)に あ ら さはRa=2.1μmで. あ る.. 素 数1880に. 分 割 して い る.割 断 加工 が 加工に 物中央に. こ の き 裂 先 端 か らs+L=1,28mmだ. レー ザ 照 射 され た 際 の き 裂 進 展 条 件 を 明 ら か と す る た め に. ポ ッ ト半 径:w=900μm)で. け 離 れ た 位 置 に ガ ウ ス 分 布(ス. 近 似 した レー ザ 光 を パ ル ス 照 射 す る.. は,き 裂 先 端 の 位 置 を 特 定 す る 必 要 が あ る.そ の た め に は,図. レー ザ 光 吸 収 率 αは,前 章 に お け る 測 定 温 度 と解 析 温 度 が 一 ・ 致. 1(b)に 示 したSを 調 べ,次 な る レー ザ 照 射 点 ま で の 距 離s+Lを. す る よ うに 決 定 した.な お,材 料 物 性 値 の 異 方 性 は 考 慮 して い. 明 ら か と しな け れ ば な らな い.そ こで,図6(a)に. な い.. 示 す よ うに,. 加工 物 中 央 部 で レー ザ割 断 加 工 を 止 め た 加工に 物 に外 力を負荷 し て 割 り,断 面 を 観 察 した.図6(b)に. は,ピ. パ ル ス 幅 τ=3・Oms,照 射 点 間 隔L=1.0mmの. ー ク出 力P=567W,. 条 件 下にお け る断面. 3.2温. 度 分 布 ・応 力 分 布. 図8に,解. 析 に よ っ て 求 め たSiウ. エ ハの 照射 面温度 分 布を. 示 す.先 在 す る き 裂 の 影 響 を 受 け る こ と な く,レ ー ザ ス ポ ッ ト. 観 察 例 を 示 す,レ ー ザ 割 断 が 行 わ れ た 箇 所 に は,断 続 的 な き 裂 進 展 を 示 す 一 定 間 隔Lの 縞 模 様 が あ る が,外 力 を 与 え て機 械 的 に割 られ た 箇 所 に は 縞 模 様 は 見 ら れ な い.図 か ら,レ ー ザ 照 射 点 と き 裂 先 端 の 間 の 距Sを を 行 っ た 結 果,き S=0,28mmで. 測 定 で き る.同 条 件 で5回 の 測 定. 裂 先 端 と レー ザ 照 射 点 の 距 離 は 平 均 で. あ っ た.し. た が っ て,上. 記 条件 で継 続 的 に割 断加. 工 が 行 わ れ る と き に は,照 射 点 か らs+L=1.28mmだ. け離 れ た位. 置 に 先端 の あ る き裂 が,レ ー ザ 照 射 に よ り生 ず る熱 応 力 の た め に進 展 す る こ と と な る, 3.熱 3.1解. 応 力 解 析. Fig.8 Temperature. distribution. in Si wafer cleaved. with laser (T=1.5ms). 析 モ デル. 熱 応 力解 析 に は 汎 用 構 造 解 析 プ ロ グ ラ ムMARCを 解 析 に 用 い たFEMモ. デ ル を 図7に,解. 使 用 した,. 析 条 件 を 表2に 示 す.実. 験 に 用 い た 加 工 物 と 同 じ く,外 寸10×20mm(0,5厚)の. モデ. ル が 一x方向 に送 られ な が ら割 断 加 工が 行 わ れ る と して い る,モ デ ル は,8節. 点 ア イ ソパ ラ メ トリ ッ ク 要 素 を 用 い て,節 Table 2 Conditions. in thermal. 点数. stress analysis. Fig.9 Temperature. history. at center. of laser spot. Fig.10 Thermal stress distribution in Si wafer cleaved with laser (T=1.5ms). Fig.7 Finite element. 122精. model. 密 工 学 会 誌Vol.69,No.1.2003. in thermal. stress analysis. Fig. 11 Distribution. of thermal. stress (71 in x-direction.

(4) 山 田 ・西 岡 ・細 川 ・上田:パ ル スYAGレ 中 心 に対 して 軸 対 称 な 温 度 分 布 と な っ て い る.. 横 軸 と し て 示 して い る.こ こで 図(C)に 示 すK1は,き. ス ポ ッ ト中 心 の 温 度 履 歴 を 図9に 示 す.図 か ら,レ ーザ 照 射 開 始 か ら の 時 間Tが 大 き くな る に した が い,レ ー ザ ス ポ ッ ト中 心 の温 度θ0は 上 昇 し,照 射 終 了 時 のT=3.0msに. お い て はθ0=600. ℃ に達 して い る. 図10に. ーザ に よ る脆 性 材 料 の 割 断加 工. ら の 距 離 がX=0.112mm,x=0.168mmの. を用 い て 算 出 した が,両 者 か ら求 め たK1の 値 に 差 は な か っ た. 図(a)に 示 すAE波 察 さ れ,き. は,き 裂 を 開 口 す る 方 向 の 応 力 σ の 分 布 図 を 示 す.. 形 か ら,T=1.1msに. 裂 が 進 展 す る.レ. お い て大 きな出力 が観. ー ザ が 照 射 さ れ る に と も な い,. レ ー ザ ス ポ ッ ト中心 温 度 θ0は上 昇 し,熱 応 力 が 増 大 す る た め,. レー ザ ス ポ ッ ト中 心 部 に は 圧 縮 応 力 が 働 き,そ の 周 辺 に は 引 張. き裂 先 端 のK1も. 応 力 場 が 存 在 して い る.図 か ら,ス ポ ッ ト中 心 か ら1.28mmの. て は,図(b)よ. 位 置 の 先 在 き裂 先 端 は 引 張 応 力 場 の 中 に あ る こ とが わ か る.. 達 して い る.圧 子 押 込 み に よ る 簡 便 法(IM試. 図11は,き. 裂 先 端 を原 点,き. 裂 進 展 方 向 をx軸. と した 場 合. 裂 先端 か. 二 節 点 に お け る 応 力 値σy. 大 き くな る.き 裂 が 進 展 す るT=1.1msに りθ0=約400℃,図(c)か. 実 験 材 料Siウ. エ ハ の 破 壊 靭 性 値Kcを. 験)16)17)によ っ て 測 定 し た 結 果,. の応 力 σ の 分 布 を グ ラ フ化 して 示 して い る.レ ー ザ 照 射 開 始 か. Kc・0・6MPa・m1/2で あ り,解 析 に よ り得 ら れ たT=1.1msに. らの 時 間Tが 大 き く な る に伴 っ て,発 生 す る 熱 応 力 が 増 大 す る. るK1の. 傾 向 に あ る.レ ー ザ ス ポ ッ ト中 心 部 で 圧 縮 応 力 は 最 大 と な り, 引 張 応 力 の 最 大 値 は き裂 先 端(x=0)に た,Tが. お い て 発 生 し て い る.ま. 変 化 して も,最 大 応 力 の 生 ず る 位 置 は 変 化 し な い こ と. 以 上 の 結 果 よ りT=1.1msに. 4.1応. 工 条 件 の検 討. して い る.パ. き裂 を有 す る 材 料 に 引 張 応 力 が 負 荷 され る と,き 裂 先 端 に 応. け る応 力 はσy=K1/(2πx)1/2と 表 す こ とが で きる15).そ. 上 にお こ で,熱. 応 力 解 析 結 果 を元 に,応 力 法 に よ っ て き裂 先 端 の 応 力 拡 大 係 数 K1を 求 め た. 図12は,き. き裂 先 端 のK1の. 力,レ. り,き 裂 進 展 後 も照 射 点 の 温 度 は 上 昇 して お り,. ー ザ ス ポ ッ ト中 心 温 度,. 変 化 で あ り,レ ー ザ 照 射 開 始 か ら の 時 間Tを. ル ス 幅 τを 大 き く設 定 しK1が. 上 昇 す る こ とで,. レー ザ 出 力 や 送 り速 度 の 変 動 に 対 して も安 定 した 割 断 加 工 が 可 能 と な る が,同. 時 に ウエ ハ へ の 熱 損 傷 も増 大 す る と考 え ら れ. る.し た が っ て,パ ル ス 幅 は き 裂 進 展 が 始 ま る1。1ms以 上 で あ れ ば 十 分 で あ る とい え る. 図13は,レ. 裂 進 展 時 のAE出. 裂 が 進 展 し た こ とが 解 析 的 に. 同 図(c)で は,照 射 終 了 時 に は ほ ぼK1・1.2MPa・m1/2に まで 増大. 力拡大 係数 の算 出. 力 集 中 が 起 こ る.前 章 で 定 義 し た 座 標 を 用 い れ ば,x軸. お い て き裂 先 端 の 応 力 拡 大 係 数. も確 め ら れ た と い え る.. 図12(b)よ. 4・ 割断 加工 条件 の検 討. おけ. 値 と よ く一 致 し て い る.. が 材 料 の 破 壊 靭 性 値 を越 え,き. 4.2加. が わ か る.. おい. らKl=0.65MPa・m1/2に. ー ザ ピ ー ク 出 力P=567W,送. 射 点 間 隔L=1.0mm)の と照 射 痕 半 径rDの. り速 度V=10mm/s(照. 条 件 下 で 割 断 加 工 した 際 の,パ 関 係 で あ る.図. ル ス幅 τ. 中,き 裂 が 進 展 し,正 常 に. 割 断 加 工 が 行 わ れ た 結 果 を 白 丸 で,き. 裂 が進展 せ ず に加工 が. 行 わ れ な か っ た 結 果 を黒 丸 で 表 し て い る.τが 増 大 と と も にSi ウ エ ハ の 照 射 さ れ る 時 間 は 長 くな り,照 射 面 に残 るrDは 増 大 す る傾 向 に あ る の で,熱 損 傷 を軽 減 す る とい う観 点 か ら は τが 小 さ い こ と が 望 ま しい.し か し,tiが1.lms以. 下 と小 さ い 場 合. に は,発 生 す る 熱 応 力 が 小 さ く,応 力 拡 大 係 数K1も. 破 壊靭 性. 値 を上 回 ら ない た め に き裂 が 進 展 しな い. した が っ て,τ は き裂 先 端 に お い てKI>Kcが が 進 展 す る 最 小 時 間(T=1.1ms)に レ ー ザ ピ ー ク 出 力P,照 (a)Acoustic emission observed. に き裂 先 端 のKIに. 成 り立 ち,き 裂. 設 定 さ れ る べ き で あ る.. 射 点 間 隔L(=V/f)に. 関 して も,同 様. つ い て 検 討 して,熱 損 傷 を 抑 制 した 最 適 な. 加 工 条 件 を 設 定 す る こ とが 可 能 で あ る.. (b)Analysed temperature at center of laser spot. Fig.12 Variation of temperature and stress intensity factor with time in cleaving of Si wafer with pulsed laser (P=567W, 2=3.0ms, L=lmm). Fig.13 Relation between pulse duration and thermal damages on irradiated surface (P=567W, L=lmm). 精 密 工 学 会 誌Vol.69,No.1,2003123.

(5) 山 田 ・西 岡 ・細 川 ・上 田:パ ル スYAGレ. ーザ に よ る脆 性 材 料 の 割 断加 工. 3) R. M. Lumley : Controlled Separation of Brittle Materials Using 5.結. 本 論 文 で は,Nd:YAGレ. 言. 割 断 加 工 を行 い,照. a Laser, The American Ceramic Society Bulletin, 48, 9(1969) 850.. ー ザ を パ ル ス 照 射 し てSiウ. 射 点 の 温 度 とAE波. を 測 定 し た.ま. エハ の た,実. 験 に よ る測 定 結 果 を 元 に熱 応 力 解 析 を 行 う こ とで,き 裂 の 進 展 機 構 に つ い て 検 討 した 。本 論 文 で 得 られ た 結 果 を以 下 に 要 約 す. 4) 黒 部 利 次, 松 本 貴 宏 : 液 晶 デ ィス プ レ イ (STN方 式) 用 基 板 ガ ラ ス のYAGレ. ー ザ に よ る割 断, 精 密 工 学 会 誌, 63, 7. (1997)1018. 5) 黒 部 利 次, 市 川 和 浩, 永 井 久 司 : YAGレ ー ザ に よ る シ リ コ ン ウエ ハ の 割 断, 材 料, 44, 497 (1995) 159.. る. (1)割. 断 加 工 時 に発 生 す るAE波 を観 測 す る こ とで,レ ーザ. 6) 黒 部 利 次 , 野 口通 一 , 松 本 貴 宏 : YAGレ. ーザ に よる シ リコ. 照 射 中 の き裂 進 展 を 監 視 す る こ と が で き る.本 実 験 の 条. ン ウエ ハ の 精 密 割 断 一 鏡 面 冷 却 二 重 照 射 割 断一,. 件 下 で は,レ ー ザ 照 射 開 始 か ら の 時 間T=1.1msに. 単 会 誌. 62,. おい て. 7) 中 野 康 範, 池 野 順 一, 河 西 敏 雄 : レー ザ マ イ ク ロ 加 工 に 関. き裂 が 進 展 した.. (2)き 裂 進 展時 ρ 熱応 力解 析結 果 か ら,圧 縮応 力 の最 高値 は レーザ照 射点 に,引 張応 力 の最 高値 は き裂先 端 に発 生 してお り,発生 位置 は レーザ照 射時 間 が長 くな って も変 析 結 果 か ら求 め た き裂 先 端 の 応 力 拡 大 係 数 は. 0.65MPa・m1/2と たSiウ. す る研 究(第1報)一. な り,こ の 値 は,IM試. 験 に よ って測定 し. エ ハ の破 壊 靭 性 値0.6MPa・m1/2と. よ く一 致 して. い た.し た が って,パ ル ス レ ーザ を用 い た 割 断 加 工 に つ い て,本 解 析 手 法 に よ り き裂 を継 続 的 に 進 展 させ る 加 工. レ ー ザ マ イ ク ロ割 断 一,. (4)解 析 結 果 の妥 当性 を確 認 す るた め,パ ルス幅 を変化 さ せ た加 工実 験 を行 っ た結果,き 裂進 展が 生 じるた め に必. ー. エ ハ の 割 断 機 構 に 関 す る 研 究, 精 密 工 学 会. 誌, 67, 11 (2001) 1861. 9) 上 田 隆 司, 入 山 孝 宏, 杉 田 忠 彰 : レー ザ 照 射 部 の フ ラ ッ シ ュ 温 度 測 定, 精 密 工 学 会 誌, 61, 2 (1995) 278. 10) 山 田 啓 司, 小 谷 祐 司, 上 田 隆 司 : CO2レ ー ザ 加 工 に お け る 照 射 部 温 度 と吸 収 率, 精 密 工 学 会 誌, 65, 1 (1999) 126.. 療 に 関 す る 研 究,精. ー ザ に よる 歯 科 治. 密 工 学 会 誌, 66, 9 (2000) 1388.. 12) 国 立 天 文 台 : 理 科 年 表, 丸 善 (1999) 496. 13) 橋 本 宇 一, 谷 口紀 夫 : 非 金 属 材 料 の 精 密 加 工 法(上),. 要 な照 射時 間は解 析結 果 と一 致 した.. 度精. 8) 山 田 啓 司, 大 礒 桂 一, 細 川 晃, 上 田 隆 司 : パ ル ス YAGレ. 11) 上 田 隆 司, 山 田 啓 司, 古 本 達 明 : YAGレ. 条 件 を 求 め る こ とが で き る.. 2001年. 密 工 学 会 春 季 大 会 学 術 講 演 論 文 集 (2001)173.. ザ に よ るSiウ. 化 しない. (3)解. 精 密工. 1 (1991)1018.. 地. 人 書 館 (1963) 127.. 謝. 辞. 本 研 究 の 一 部 は,平 成12〜13年 金(奨 励 研 究(A),課. 度 文 部科 学省 科学 研 究補助. 題 番 号12750095)に. よ る もの で あ る こ と. を記 して お 礼 申 し上 げ ます.. 15) 石 田誠 : 線 形 破 壊 力 学 入 門, 培 風 館 (1976) 371.. 参 考 1) 沖 山 俊 裕. : レ ー ザ 割 断,. 16) 上 田完 次, 杉 田 忠 彰 : セ ラ ミ ッ ク ス の 破 壊 靭 性, 日本 金 属. 文 献. 精 密 工 学 会 誌,. 学 会 会 報, 21, 4 (1982) 225. 60,. 2(1994). 196.. 2) 黒 部 利 次 :YAGレ ー ザ に よ る 精 密 割 断 技 術, 精 密 工 学 会 誌, 65, 11 (1999) 1556.. 124精. 14) A. Saimoto, Y.Imai and H. Sawada: Thermal Stress Cleavingof a Thin Strip Using a Point Heat Source, Advances in Fracture Research, ICF9(1997)2095.. 密 工 学t会誌Vol.69,No.1,2003. 17) A. G. Evans, E.A. Charles : FractureToughnessDeterminations by Indentation, Journal of the American Ceramic Society, 59 (1976)371..

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