ＦＭ改正規格原案　目次.PDF

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周 波 数 変 調 送 受 信 機 試 験 方 法

1. 適用範囲 ･････････････････････････････････････････････････････････････････１ 2. 引用規格 ･････････････････････････････････････････････････････････････････１ 3. 分類 ････････････････････････････････････････････････････････････････１ 4. 用語の意味 ･････････････････････････････････････････････････････････････････１ 5. 試験についての一般規定･･････････････････････････････････････････････････････････････１ 5.1 標準試験状態 ･････････････････････････････････････････････････････････････････１ 5.2 計器・測定器具 ･････････････････････････････････････････････････････････････････１ 5.3 電源 ･････････････････････････････････････････････････････････････････１ 5.4 電圧・電流の値 ･････････････････････････････････････････････････････････････････１ 5.5 パルス信号 ･････････････････････････････････････････････････････････････････１ 5.6 レベル基準 ･････････････････････････････････････････････････････････････････１ 5.7 試験周波数 ･････････････････････････････････････････････････････････････････１ 5.8 送信機の出力 ･････････････････････････････････････････････････････････････････２ 5.9 送信機の変調入力 ････････････････････････････････････････････････････････････････２ 5.10 受信機の出力 ･････････････････････････････････････････････････････････････････２ 5.11 受信機の入力 ･････････････････････････････････････････････････････････････････２ 5.12 送受総合試験 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・３ 6. 試験方法［周波数変調(アナログ)送受信機］･･････････････････････････････････････････････３ 6.1 送信機試験 ･････････････････････････････････････････････････････････････････３ 6.1.1 標準測定状態 ････････････････････････････････････････････････････････････････３ 6.1.2 一般電気的試験 ････････････････････････････････････････････････････････････････４ 6.1.3 周波数範囲試験 ････････････････････････････････････････････････････････････････４ 6.1.4 周波数試験 ･････････････････････････････････････････････････････････････････４ 6.1.5 出力諸特性試験 ････････････････････････････････････････････････････････････････５ 6.1.6 寄生振動試験 ････････････････････････････････････････････････････････････････６ 6.1.7 占有周波数帯幅試験･･･････････････････････････････････････････････････････････････６ 6.1.8 不要波出力試験 ････････････････････････････････････････････････････････････････６ 6.1.9 変調諸特性試験 ････････････････････････････････････････････････････････････････７ 6.1.10 運用条件に対する試験････････････････････････････････････････････････････････････９ 6.2 受信機試験 ･････････････････････････････････････････････････････････････････９ 6.2.1 標準測定状態 ････････････････････････････････････････････････････････････････９ 6.2.2 一般電気的試験 ････････････････････････････････････････････････････････････････９ 6.2.3 周波数範囲試験 ････････････････････････････････････････････････････････････････９ 6.2.4 感度試験 ･････････････････････････････････････････････････････････････････９

Ｃ ０１０４Ｂ

制定 昭和 52. 2. 9 改正 平成 13. 3.30

ii 6.2.7 実効選択度試験 ･･････････････････････････････････････････････････････････････１２ 6.2.8 不要信号感度比試験･････････････････････････････････････････････････････････････１３ 6.2.9 忠実度試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････････････１３ 6.2.10 出力特性試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････････････１４ 6.2.11 周波数弁別器特性試験･･････････････････････････････････････････････････････････１４ 6.2.12 スケルチ特性試験･･････････････････････････････････････････････････････････････１４ 6.2.13 周波数試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････････････１５ 6.2.14 運用条件に対する試験･･････････････････････････････････････････････････････････１５ 6.3 送受総合試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････････････１５ 6.3.1 標準測定状態 ･･････････････････････････････････････････････････････････････１５ 6.3.2 総合信号対雑音比試験･･･････････････････････････････････････････････････････････１５ 6.3.3 総合周波数特性試験･････････････････････････････････････････････････････････････１６ 6.3.4 通話試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････････････１６ 7. 試験方法［周波数変調(ディジタル)送受信機］･･････････････････････････････････････････１６ 7.1 送信機試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････････････１６ 7.1.1 標準測定状態 ･･････････････････････････････････････････････････････････････１６ 7.1.2 一般電気的試験 ･･････････････････････････････････････････････････････････････１６ 7.1.3 周波数範囲試験 ･･････････････････････････････････････････････････････････････１７ 7.1.4 周波数試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････････････１７ 7.1.5 出力諸特性試験 ･･････････････････････････････････････････････････････････････１７ 7.1.6 寄生振動試験 ･･････････････････････････････････････････････････････････････１７ 7.1.7 占有周波数帯幅試験･････････････････････････････････････････････････････････････１７ 7.1.8 不要波出力試験 ･･････････････････････････････････････････････････････････････１７ 7.1.9 クロック同期特性試験･･･････････････････････････････････････････････････････････１７ 7.1.10 運用条件に対する試験･･････････････････････････････････････････････････････････１８ 7.2 受信機試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････････････１８ 7.2.1 標準測定状態 ･･････････････････････････････････････････････････････････････１８ 7.2.2 一般電気的試験 ･･････････････････････････････････････････････････････････････１８ 7.2.3 周波数範囲試験 ･･････････････････････････････････････････････････････････････１８ 7.2.4 感度試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････････････１８ 7.2.5 雑音指数試験 ･･････････････････････････････････････････････････････････････１９ 7.2.6 選択度試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････････････１９ 7.2.7 実効選択度試験 ･･････････････････････････････････････････････････････････････１９ 7.2.8 不要信号感度比試験･････････････････････････････････････････････････････････････１９ 7.2.9 周波数試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････････････２０ 7.2.10 クロック同期特性試験･･････････････････････････････････････････････････････････２０ 7.2.11 ビット誤り率試験･･････････････････････････････････････････････････････････････２０ 7.2.12 運用条件に対する試験･･････････････････････････････････････････････････････････２１

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周 波 数 変 調 送 受 信 機 試 験 方 法

1. 適用範囲 この規格は周波数変調送受信機の電気的性能試験の試験方法について規定する。 2. 引用規格 この防衛庁規格に引用した規格は次のとおりとする。 NDS C 0110D（電子機器の運用条件に対する試験方法） 3. 分 類 周波数変調送受信機を次のとおり分類して試験方法を規定する。 a) 周波数変調（アナログ）送受信機 b) 周波数変調(ディジタル)送受信機 4. 用語の意味 この規格で用いる主な用語の意味は次のとおりとする。 a) 供試機 試験に供する送信機又は受信機をいう。 b) 試験回路 試験を行うために必要な測定器と供試機との相互接続関係を示す回路構成をいう。 c) 擬似負荷 空中線を接続した場合と等価な電力を消費させることができる負荷をいい，試験に際しこれを使用 することにより電波のふく射をほとんど生じないものをいう。 d) 擬似伝送路 送信機と受信機の間における規定の伝送損失を与える擬似負荷，結合器，減衰器等を組合せて構 成させる伝送路をいう。 5. 試験についての一般規定 5.1 標準試験状態 標準試験状態は，特に規定のない限り常温常湿（温度 5∼35℃，湿度 45∼85％）とする。 5.2 計器・測定器具 試験に用いる計器及び測定器具類は，ＤＳＰ，ＩＳＯなどの計測器管理による所定の校正を 行ったものを使用する。 なお，試験に用いる計器及び測定器具類の精度は，機器の仕様書に示した許容差の範囲を確認できるものである こと。 5.3 電 源 試験に用いる電源は，原則として供試機規定のものを使用するが，やむをえないときは次のものを標 準とする。 a) _{波 形 交流では高調波含有率 5％以下，直流ではリップル含有率（実効値）0.1％以下とする。} b) _{電圧・周波数の変動率 試験中における電源の電圧及び周波数変動率は２％以下とする。} c) 最高電圧・最低電圧 _{電源電圧の変動の影響を試験するときの最高電圧及び最低電圧は供試機規定の値とする。} ただし，特に規定のない場合は，最高電圧は規定値の＋10％，最低電圧は規定値の−10％を標準とする。 乾電池の場合の最低電圧は規定値の−15％とする。 5.4 電圧・電流の値 電圧及び電流の値は特に規定のない限り実効値で表す。 5.5 パルス信号 パルス信号は電圧又は電流の波形で規定する。 5.6 レベル基準 この試験方法では，原則として次の方法でレベルを表す。 a) 1μＶを基準（0ｄＢ）とした電圧レベル：ｄＢμＶ b) 1ｍＷを基準（0ｄＢ）とした電力レベル：ｄＢｍ 5.7 試験周波数 試験周波数は特に規定のない場合は試験項目ごとにその必要度に応じて次のいずれかによる。 a) 全周波数帯域の中央付近又は両端付近の 1 周波数 b) 全周波数帯域の中央付近及び両端付近の 3 周波数 制定 昭和 52. 2. 9 改正 平成 13. 3.30

c) 周波数帯域ごとの中央付近又は両端付近の 1 周波数 d) 各周波数帯域ごとの両端付近の 2 周波数 e) 各周波数帯域ごとの中央付近及び両端付近の 3 周波数 f) 供試機の運用すべき周波数がすでに決定している場合にはそれらの周波数 5.8 送信機の出力 a) _{供試機の出力は供試機出力端子において擬似負荷に供給される電力をもって規定する。} b) _{送信出力は供試機の規格又は仕様書で規定された出力の許容範囲内の電力をいう。} c) _{擬似負荷は特に規定のない場合，次の値を標準とする。50Ω（ＶＳＷＲ1.2 以下）の不平衡負荷または 600Ω±} 5％の無誘導抵抗負荷 5.9 送信機の変調入力 a) 変調入力レベルは変調入力端子に加えられる電力又は電圧をもって規定する。 b) 変調入力インピーダンスは特に規定がない場合，600Ωを標準とする。 5.10 受信機の出力 a) 出力レベルは供試機出力端子で擬似負荷に供給される電力又は電圧をもって規定する。 b) 擬似負荷は特に規定のない場合，600Ω±5％の無誘導抵抗負荷とする。 5.11 受信機の入力 a) 入力信号レベルは原則として次のいずれかの方法で表すものとする。 1) 供試機を接続しない場合の信号源の出力端子電圧をもって規定し，μＶ又はｄＢμＶで表す。 2) 信号源の出力電力（1_{）をもって規定しｄＢｍで表す。} 注（1_{） 信号源の出力電力とは信号源の整合負荷に供給できる電力をいう。} b) 信号発生器（以下ＳＧという。）と供試機の入力とを接続する場合，供試機規定の入力インピーダンスがＳＧの 内部抵抗に等しいときは直接接続し，規定の入力インピーダンスがＳＧの内部抵抗に等しくないときはＳＧと 供試機の入力との間に結合回路を挿入する。結合回路はＳＧに附属するパッドを用いてもよい。なお，結合回 路に使用する抵抗は無誘導抵抗とする。図１にＲａ＞Ｒ_１，図２にＲａ＜Ｒ_１，図３に2 信号法の試験の場合の 結合回路の一例を示す。図中，Ｒａは供試機の入力インピーダンスに等しい信号源インピーダンスであり，ま た，Ｒ_１はＳＧの内部抵抗を示す。

R

1

S G

R

2 結合回路

1

3

2

4

出力 端子

← Ra

R2＝結合回路の抵抗

R

a＝

R

1＋

R

2 （接地側） 入力 端子 図１ Ｒａ＞Ｒ_１ の場合の結合回路例

R

1

S G

R

2

＝75Ω

結合回路

1

3

2

4

出力 端子

← Ra

R

3

＝12.5Ω

（接地点） 入力 端子

E

R

1

＝ 75Ω Ra＝50Ωの場合を示す。

R

2・

R

3

：結合回路の抵抗

E ：SGの出力電圧 dBμV

供試機の入力信号レベル：E−６〔dBμV〕

図２ Ｒａ＜ Ｒ_１の場合の結合回路例

R

1

SG

1 結合回路

1

3

2

4

← Ra

（接地側）

R'

1

1'

R

1

SG

2

E

E

R

2

R'

1

R'

1

・R

2

：結合回路の抵抗

1 1 2 1

4

Ra

R

R

'

R

?

?

2

1 1 2

'

R

R

Ra

R

?

?

?

図３ ２信号法の試験の場合の結合回路例 5.12 送受総合試験 a) 送受総合試験は送信機及び受信機を擬似伝送路で接続して行う。 b) 供試機（送信機）からの漏えいが測定に影響がある場合は，供試機（送信機）と供試機（受信機）の間を適 当にしゃへいする。 6. 試験方法［周波数変調(アナログ)送受信機］ 6.1 送信機試験 6.1.1 標準測定状態 標準測定状態とは次の状態をいう。なお，6.1 における試験は特に規定する場合のほかは

標準測定状態で行う。 a) 電源電圧 規定値±2％とする。 b) 擬似負荷 規定の擬似負荷（特に規定のない場合は標準擬似負荷）とする。 c) 出 力 送信出力とする。 d) 調節部分 最良状態に調節する。 e) 標準変調 特に規定のない場合は，最大周波数偏移の_{70％変調となるレベルの 1000Ｈｚの正弦波とする。} 6.1.2 一般電気的試験 a) 回路試験 接続図によって回路試験器又はこれに類似の測定器で電気的接続の良否を確かめる。 b) 絶縁抵抗試験 連続動作試験後に規定の回路ときょう体間の規定電圧における絶縁抵抗を測定する。ただし， 特殊部品で絶縁抵抗試験を行うことが不適当であるものは，取りはずした後に行うものとする。 c) 絶縁耐力試験 連続動作試験後に規定の回路ときょう体間に規定の電圧を規定の時間加え異常の有無を調べ る。ただし，特殊部品で絶縁耐力試験を行うことが不適当であるものは，取りはずした後に行うものとする。 d) 消費電力試験 規定の周波数及び送信出力で動作させたときの消費電力を電源回路に電圧計，電流計又は電 力計を接続した測定する。 e) 連続動作試験 供試機規定の動作条件で連続動作（特に規定のない場合は8 時間）させ次により行う。プレ ストーク方式で特に規定のない場合は標準変調にて1 分間送信，1 分間休止の繰り返しにより 8 時間連続動 作させる。 1) 電源変圧器，そく流線輪その他きょう体内の規定の場所の温度を連続動作終了時に測定し，室温との差か ら温度上昇を算出する。 2) 連続動作開始直後から完了までの間の出力を測定し，規定の範囲内にあるか否かを確かめる。 3) 連続動作中及び完了後に電気的及び機械的な異常の有無を調べる。 6.1.3 周波数範囲試験 供試機を各周波数帯ごとに規定の最高及び最低周波数に同調をとり周波数範囲の適否 を確かめる。 6.1.4 周波数試験 a) 周波数確度試験 図４に示す試験回路において供試機を無変調とし送信周波数を測定し試験周波数からの周 波数偏差を求め，次式により算出する。測定は供試機規定の予熱時間を経過した後に行う。 周波数確度＝⊿ｆ （Ｈｚ） 又は＝⊿ｆ／ｆ×10６ _{（ｐｐｍ）} ここに ⊿ｆ ： 周波数偏差 （Ｈｚ） ｆ ： 試験周波数 （Ｈｚ） 供 試 機 結 合 器 擬似負荷 周波数計 図４ 周波数確度試験の各機器の接続例 b) 周波数安定度試験 供試機の電源を切ったまま標準試験状態で2 時間以上放置する。次に電源を投入し供試

機の規定の時間を経過後から送信周波数の測定を開始し，それより5，10，20，30，45，60，75，90，105 及び120 分間後の周波数を測定して次式により算出する。 周波数安定度＝（ｆ max−ｆ min）（Ｈｚ） 又は ＝（ｆ max−ｆ min）／ｆ ×10６ _{（ｐｐｍ）} ここに ｆ max ： 最高周波数（Ｈｚ） ｆ min ： 最低周波数（Ｈｚ） _{ｆ ： 試験周波数（Ｈｚ）} なお，本試験中周囲温度の変化は±_{2℃とすることが望ましい。} c) 電源電圧変動試験 規定の最高電圧及び最低電圧において a)の試験方法により周波数偏差を測定する。 ただし，電源電圧を変化して少なくとも2∼3 分間後に測定する。 d) 温度試験 標準試験状態において供試機の電源を投入し規定時間（特に規定のない場合は3 時間以上）経過 したときの周波数を測定する。次に相対湿度を前と同一値に保ち周囲温度をそのときの室温から上・下どち らか一方の側へ規定された温度（特に規定のない場合約10℃）変化させ 30 分間以上経過し，周波数がほと んど安定になったときの周波数を測定する。温度1℃あたりの変化率を求める場合は次式により算出する。 周波数変化率＝⊿ｆ／ｔ （Ｈｚ／℃） 又は ＝⊿ｆ／ｆｔ ×10６ _{（ｐｐｍ／℃）} ここに ｆｔ ： 標準試験状態における周波数 （Ｈｚ） ⊿ｆ ： 規定温度変化したときの周波数とｆｔとの偏差周波数 （Ｈｚ） ｔ ： 規定の温度変化量（℃） e) 湿度試験 供試機の電源を投入し周囲温度30℃相対湿度 55％の状態におき，規定時間（特に規定のない場 合は1 時間以上）経過したときの周波数を測定する。次に周囲温度をほぼ前と同一値に保ち相対湿度を指定 値（特に規定のない場合は95％）に変化させ 30 分間以上経過し，周波数が安定になった場合の周波数を測 定する。周波数変化量又は周波数変化率を求める場合は次式により算出する。 周波数変化量＝⊿ｆ（Ｈｚ） 又は周波数変化率＝⊿ｆ／ｆ×10６ _{（ｐｐｍ）} ここに ｆ ： 相対湿度55％の場合の周波数（Ｈｚ） ⊿ｆ ： 規定相対湿度の場合の周波数とｆとの偏差周波数（Ｈｚ） 6.1.5 出力諸特性試験 a) 出力試験 規定の電源電圧において試験周波数の電力を次のいずれかの方法で測定し，供試機の出力を求め る。 1) 電力計による方法 供試機出力端子と疑似負荷との間に通過型電力計をそう入するか，結合器をそう入し て結合器に電力計を接続するか，又は終端型電力計を接続して測定する。 2) 電流計による方法 擬似負荷の抵抗に流れる電流を測定し，次式による。 Ｐ＝Ｉ２_Ｒ（Ｗ） ここに Ｐ：電力（Ｗ） I ：電流（Ａ） Ｒ：擬似負荷の抵抗値（Ω） 3) 電圧計による方法 擬似負荷の抵抗における電圧降下を測定し，次式による。 Ｐ＝

R

E

2 (Ｗ）

ここに Ｐ：電力（Ｗ） Ｅ：電圧（Ｖ） Ｒ：擬似負荷の抵抗値（Ω） b) 出力安定度試験 5.3 c)に示す最高電圧と最低電圧の間における送信出力を 6.1.5 a)の試験方法によって測 定し，次式から求める。 出力安定度＝（Ｐmax−Ｐ_０）／Ｐ_０ ×_100（％） 出力安定度＝（Ｐ_０−Ｐmin）／Ｐ_０ ×_100（％） ここに Ｐ_０ ：基準電圧における電力（Ｗ） Ｐmax ：最高電圧と最低電圧の間での最大電力（Ｗ） Ｐmin ：最高電圧と最低電圧の間での最小電力（Ｗ） 6.1.6 寄生振動試験 供試機を標準測定状態とし，次の方法により寄生振動の有無を調べる。 a) 搬送波の状態で送信機各段を調整しスプリアス測定器で探索する。 b) 200Ｈｚ程度の低い周波数で変調し，周波数偏移を 0 から最大周波数偏移まで除々に変化させ，スペクトラ ムアナライザ又はＦＭ直線検波器の出力にオシロスコープを接続し，その波形により探索する。 c) 標準測定状態としこの状態で発振部だけ停止させた状態で出力計の指示が0 になることを確認する。 6.1.7 占有周波数帯幅試験 a) 擬似音声による方法 図５に示す試験回路において標準変調より10ｄＢ高い擬似音声発生器出力を供試機 に加え，次のいずれかにより測定する。 1) 電力比を求める方法 発射の全電力と規定された周波数帯幅外に含まれる電力の比を求める。 2) 周波数の幅を測定する方法 発射の全電力の0.5％を含む周波数帯幅の上限及び下限の周波数を測定しそ の周波数の差を求める。 低周波 発振器 擬似音声 発生器 減衰器 整合回路 供試機 結合器 擬似負荷 占有周波数帯幅 測 定 器 FM直線検波器又はスペ クトラムアナライザ レベル計 図５ 占有周波数帯幅試験の各機器の接続例 b) 単一音による方法 図５に示す試験回路において標準変調より _{10ｄＢ高い低周波発振器出力を供試機に加} え占有周波数帯幅測定器で測定する。特に規定のない場合は変調波を1000Ｈｚ及び 3000Ｈｚに換え，測定を 行う。 6.1.8 不要波出力試験 図６に示す試験回路において供試機を規定の動作状態で動作させ，基本波出力と不要波 出力のレベルを測定し，レベル差を算出する。

供 試 機 結 合 器 擬似負荷 電界強度測定器 又は スペクトラムアナライザ 図６ 不要波出力試験の各機器の接続例 6.1.9 変調諸特性試験 図７に示す試験回路により，次の各項目の試験を行う。 ひずみ率計 レベル計(2)

AM・FM

直線検波器 結合器 供試機 整合回路 擬似負荷 スペクトラム アナライザ 周波数計 減衰器 レベル計(1) 低周波発 振器

R

SW

1

SW

2 備考 特に規定のあるときは，直線検波器とレベル計(2)との間に，規定された帯域ろ波器をそう入する。 図７ 変調諸特性試験の各機器の接続例 a) ひずみ率試験 標準変調におけるひずみ率を測定する。 b) 周波数特性試験 次のいずれかの方法で試験を行う。ただし，特に規定する場合を除いて，測定周波数は50， 100，200，300，500，700，1000，2000，3000，5000，7000 及び 10000Ｈｚのうち規定周波数範囲内に 含まれるもの及び規定周波数範囲の両端の周波数とする。 1) 供試機を_{1000Ｈｚで特に規定のない場合は最大周波数偏移の 30％変調し，この時のレベル計(1)の読みを} 基準とし，各測定周波数で周波数偏移又はレベル計(2)の読みを一定とする減衰器の読みから入力の偏差を 測定する。 2) 供試機を1000Ｈｚで特に規定のない場合は最大周波数偏移の 30％変調し，この時の周波数偏移又はレベ ル計(2)の読みを基準とし，各測定周波数でレベル計(1)の読みを一定としたときの周波数偏移又は出力レ ベルを測定し，偏差を算出する。 c) 直線性試験 特に規定のない場合は1000Ｈｚで変調し，変調入力レベルと周波数偏移との関係を測定し，直 線性を調べる。測定の方法は次のいずれかによる。 1) スペクトラムアナライザによる方法 供試機を規定周波数 Ｐ（ｋＨｚ）で変調し，変調入力レベルを徐々 に変化しながら側波帯を観測して搬送波または側波帯振幅が0 となる状態における変調指数ｍｆ をベッセ

ル関数表により求め，直線性を調べる。この場合周波数偏移⊿ｆ（ｋＨｚ）は⊿ｆ ＝m_f ・Ｐで与えられ る。 2) ＦＭ直線検波器による方法 変調入力レベルに対する検波器出力レベルを測定して，直線性を調べる。 3) 静的方法 変調リアクタンス素子の変調電極に，直流電圧を与えたときの発振周波数を周波数計により測 定し，直線性を調べる。 d) 最大周波数偏移 特に規定のない場合は標準変調に要する入力レベルより_{10ｄＢ高い変調入力を加え，測定} 周波数を_{100Ｈｚ∼10ｋＨｚの間変化させたときの周波数偏移をＦＭ直線検波器により測定する。} e) 変調感度試験 次のいずれかによって測定する。特に規定のない場合は 1)による。 1) 標準変調を与える変調入力レベルを測定する。 2) 規定入力に対する周波数偏移を測定する。 3) 規定の変調を与える変調入力レベルを測定する。 f) 変調入力インピーダンス試験 図８の試験回路による。供試機を非動作状態とし，特に規定のない場合は 1000Ｈｚを加え，スイッチを切換えたときのレベル計の読みが同一になる可変抵抗器の抵抗を求め，その抵 抗値を入力インピーダンスとする。 低周波発振器 供試機 レベル計 可変抵抗器 ｽｲｯﾁ 図８ 変調入力インピーダンス試験の各機器の接続例 g) 雑音量試験 図７に示す試験回路により試験を行う。供試機に標準変調入力又は規定された変調入力を加え たときの直線検波器の出力をレベル(2)で測定し，次にＳＷ１ をＲ に切換えたときの直線検波器の出力をレ ベル計(2)で測定し，二つのレベルの差から雑音量を算出する。ただし，Ｒ は規定の入力インピーダンスに 等しい抵抗とする h) 残留振幅変調含有量試験 供試機を_{1000Ｈｚの信号で最大周波数偏移の変調を行い，次のいずれかの方法に} より試験を行う。 1) 図７に示す試験回路により振幅変調度をＡＭ直線検波器により測定する。 2) オシロスコープの垂直軸に送信機出力高周波電圧を加え，その包絡線波形を観測するか又は横軸に変調波 を加え台形図を画かせ図９に示す ａ 及び ｂ を測定し，次式から振幅変調度を求める。 変調度＝

b

a

b

a

?

?

_× 100 ％

図９ ＡＭ変調信号の観測波形例 6.1.10 運用条件に対する試験 運用条件に対する試験は，原則として次によって 6.1.4 a)及び 6.1.5 を行う。 a) 電源電圧変動試験 電源電圧変動試験は，最高電圧及び最低電圧において試験を行う。ただし電源電圧を変 化させてから1 分間経過後 5 分以内に測定する。 b) 温度試験 温度試験は，NDS C 0110（電子機器の運用条件に対する試験方法）の 3.6 によって行う。 c) 湿度試験 湿度試験は，NDS C 0110 の 3.7 によって行う。 d) 振動試験 振動試験は，NDS C 0110 の 3.1 によって行う。 e) 衝撃試験 衝撃試験は，NDS C 0110 の 3.2 によって行う。 6.2 受信機試験 6.2.1 標準測定状態 標準測定状態とは次の状態をいう。なお，6.2 における試験は特に規定する場合の他は標 準測定状態で行う。 a) 電源電圧 規定値±2％とする。 b) スケルチ回路 動作させない。 c) 調節部分 最良状態に調節する。 d) 標準出力 特に規定のない限り試験における出力レベルは，出力周波数 1000Ｈｚで 17ｄＢｍ又は 0ｄＢｍ とする。 e) 試験に用いる入力信号 試験に用いる信号は，特に規定のない限り試験周波数において標準変調（変調周波 数1000Ｈｚ，周波数偏移は最大周波数偏移の 70％）を行った信号とする。 6.2.2 一般電気的試験 a) 回路試験 6.1.2 a)の試験方法により行う。 b) 絶縁抵抗試験 6.1.2 b)の試験方法により行う。 c) 絶縁耐力試験 6.1.2 c)の試験方法により行う。 d) 消費電力試験 _{規定周波数，規定出力において動作させたときの消費電力を電源入力回路に電圧計，電流計} 又は電力計を接続して測定する。 e) 連続動作試験 供試機規定の動作条件で連続動作（特に規定のない場合は8 時間）させ，次により行う。 1) 電源変圧器，そく流線輪，その他きょう体内の規定の場所の温度を連続動作終了時に測定し，室温と差か ら温度上昇を算出する。 2) 連続動作中及び完了後に電気的及び機械的な異常の有無を調べる。 6.2.3 周波数範囲試験 6.1.3 の試験方法により行う。 6.2.4 感度試験 a) 信号対雑音比試験 図１０に示す試験回路において次のいずれかで測定する。

1) ＳＧより規定入力信号レベルの標準変調信号を加え，供試機の出力を規定出力に調節する。次に供試機を そのままの状態でＳＧの変調を断ち，雑音出力を測定し，信号対雑音比を求める。 2) 規定の信号対雑音比が得られる入力信号レベルを求める。 S G 結合回路 供 試 機 整合回路 レベル計 図１０ 信号対雑音比試験の各機器の接続例 b) 信号対ひずみ雑音比試験 図１１に示す試験回路において供試機のスケルチ断の状態に設定しＳＧより規定 入力信号レベルの標準変調信号を加え，供試機の出力を規定出力に調節し，ひずみ率雑音計で信号対ひずみ 雑音比を測定する。 S G 結合回路 供 試 機 整合回路 ひずみ率雑 音 レベル計 図１１ 信号対ひずみ雑音比試験の各機器の接続例 c) 雑音抑圧感度試験 図１０に示す試験回路においてＳＧを無変調とし，次のいずれかで測定する。 1) ＳＧの出力を断ったときの雑音出力を規定出力に調節し，次にＳＧの出力を規定入力信号レベルにしたと きの雑音出力を測定し，雑音抑圧比を求める。 2) ＳＧの出力を断ったときの雑音出力を規定出力に調節し，次にＳＧの出力を調節して，規定雑音抑圧比（特 に規定のない場合は20ｄＢとする）となる入力信号レベルを求める。 6.2.5 雑音指数試験 図１２に示す試験回路において雑音指数を測定する。 雑音指数測定器 供 試 機 図１２ 雑音指数試験の各機器の接続例 6.2.6 選択度試験 a) 20ｄＢ雑音抑圧による方法 1) 通過帯域幅試験 図１３に示す試験回路において，ＳＧを試験周波数に合わせて雑音抑圧比20ｄＢのとき のＳＧの出力Ｅ_０を求める。次にＳＧの出力を特に規定のない場合には6ｄＢ増加し，ＳＧの周波数を試験 周波数の上下に変化して雑音抑圧比20ｄＢとなる周波数を測定し，その周波数の差から通過帯域幅を求め る。（図１７の ｆ_６−ｆ'_６）もしこの周波数の点が三つ以上ある場合には，試験周波数に近い側の二つの 周波数とする。

S G 結合回路 供 試 機 レベル計 周波数計 図１３ 選択度試験（_{20ｄＢ雑音抑圧による方法）の各機器の接続例} 2) 減衰帯域幅試験 試験 1)の試験と合せて行い，特に規定のない場合にはＳＧの出力を Ｅ_０＋70（ｄＢ）と しＳＧの周波数を試験周波数の上下に変化し，指示計が 1)と同じになる ＳＧの周波数の差を求める。（図 １４のｆ ₇₀−ｆ ' ₇₀） 3) 中間周波数選択度試験 試験は中間周波数増幅部の前の周波数変換回路にＳＧを接続して 1)， 2)と同様 に行う。なお，中間周波数の公称値からの偏差を求めるときは，通常帯域幅の両端に相当する二つの周波 数の中央値と公称値との差で表す。 ６

図１４

図１４ 受信機の選択度特性例 b) 中間周波信号による方法 1) 通過帯域幅試験 図１５に示す試験回路においてＳＧ（無変調とする。）の周波数を試験周波数に合せ，Ｓ Ｇの出力を調節して指示計の指示を適当な値とする。このときのＳＧの出力Ｅ_０を求める。次にＳＧの出 力を特に規定のない場合には6ｄＢ増加し，周波数を試験周波数の上下に変化し指示計の指示が前と同じ になる周波数を測定し，その二つの周波数の差から通過帯域幅を求める。（図１４のｆ_６−ｆ'_６）もしこの

周波数の点が三つ以上ある場合には試験周波数に近い側の二つの周波数とする。 S G 整合回路 供 試 機 指示計 周波数計 (中間周波増幅部まで) 供試機に内蔵する中間 周波出力検出回路又は 高周波電圧計 指示計: 図１５ 選択度試験（中間周波信号による方法）の各機器の接続例 2) 減衰帯域幅試験 試験は 1)の試験と合せて行い特に規定のない場合にはＳＧの出力をＥ_０＋70（ｄＢ）と し，減衰帯域幅を求める。（図 1４のｆ₇₀−ｆ'₇₀） 3) 中間周波数選択度試験 試験は中間周波数増幅部の前の周波数変換回路にＳＧを接続して 1)，2)と同様に 行う。なお，中間周波数の公称値よりの偏差を求めるときは，通常帯域幅の両端に相当する二つの周波数 の中央値と公称値の差で表す。 6.2.7 実効選択度試験 a) 感度抑圧試験 図１６に示す試験回路においてＳＧ２の出力を断ち，ＳＧ１を試験周波数とし，雑音抑圧が 20ｄＢの入力信号レベルより 6ｄＢ高く調節する。次にＳＧ２より希望波から規定周波数はなれた妨害波を 加え，雑音抑圧が20ｄＢとなるときの妨害波入力レベルを求める。 S G 1 ２信号用 整合回路 供 試 機 レベル計 S G 2 整合回路 図１６ 実効選択度試験の各機器の接続例 b) 相互変調試験 図１６に示す試験回路においてＳＧ１の周波数をＦｕ',ＳＧ２の周波数をＦｕ" にし，それ ぞれの出力を同じに保ちながら変化し，雑音抑圧_{20ｄＢとなる妨害信号レベルを求める。ただし，Ｆｕ' 及} びＦｕ" は妨害信号周波数が希望信号周波数(又は中間周波数）に対して次の 1)∼6)の関係にある場合のう ち規定された場合について行う。 1) 二つの妨害信号周波数の和が中間周波数に等しい場合 すなわち Ｆｉｆ＝Ｆｕ'＋Ｆｕ" この場合妨害信号周波数は中間周波数の1₂に近いが1₂に等しくない周波数とする。 2) 二つの妨害信号の周波数の差が中間周波数に等しい場合 すなわち Ｆｉｆ＝｜Ｆｕ'−Ｆｕ"｜

この場合周波数の低い方の妨害信号は希望信号に対して規定離調周波数（例えば隣接回線周波数）をも つものとする。 3) 二つの妨害信号周波数の和が希望信号周波数に等しい場合 すなわち Ｆｄ ＝Ｆｕ'＋Ｆｕ" この場合妨害信号周波数は希望周波数の1_{2に近いが} 2 1_{に等しくない周波数とする。} 4) 二つの妨害信号周波数の差が希望信号周波数に等しい場合 すなわち Ｆｄ ＝｜Ｆｕ'−Ｆｕ"｜ この場合周波数の低い方の妨害信号は希望信号に近い周波数（例えば隣接回線周波数）とする。 5) 二つの妨害信号周波数の和が影像妨害信号周波数に等しい場合 すなわち Ｆｉｍ ＝Ｆｕ'＋Ｆｕ" この場合妨害信号周波数は影像妨害信号周波数の1₂に近いが1₂に等しくない周波数とする。 6) 二つの妨害信号周波数の差が希望信号周波数と一つの妨害信号周波数の差に等しく３次相互変調積を生ず る関係にある場合 すなわち Ｆｄ ＝2Ｆｕ'−Ｆｕ" この場合希望信号に近い方の妨害信号は希望信号に近い周波数例えば隣接回線周波数とする。 6.2.8 不要信号感度比試験 a) 影像妨害比試験 6.2.4 c) 2)の試験により雑音抑圧20ｄＢとなるＳＧの出力Ｅ０を求める。次にＳＧの周波 数を影像周波数ｆ_ｕｎに変化し，同じ雑音抑圧となるＳＧの出力Ｅ_ｕｎを測定して，Ｅ_０との差から影像妨害比 を求める。 備考 影像周波数ｆ_ｕｎは供試機の局部発振周波数（第1 局部発振周波数をｆｅ１,第2 局部発振周波数ｆｅ２, ……とする。）から中間周波数（第1 中間周波数をｆｉ１,第2 中間周波数をｆｉ２……とする。）だけ異 なる周波数すなわちｆ_ｅ１±ｆ_ｉ１,ｆ_ｅ１±ｆ_ｉ２……f_e1±（ｆ_ｅ２±ｆ_ｉ２）……ｆ_ｅ２±ｆ_ｉ２のうち試験周 波数以外の周波数をいう。 b) 中間周波妨害比試験 6.2.4 c) 2)の試験により雑音抑圧20ｄＢのＳＧの出力Ｅ０を求める。次にＳＧの周波 数を供試機の中間周波数ｆ_ｉｍ（第１中間周波数をｆ_ｉ１，第２中間周波数ｆ_ｉ２……とする。）に変化し，同じ 雑音抑圧となるときのＳＧの出力Ｅ_ｉｎを測定し，Ｅ_０との差から中間周波妨害比を求める。 c) スプリアス妨害比試験 6.2.4 c) 2)の試験により雑音抑圧20ｄＢのＳＧの出力Ｅ０を求める。次にＳＧの出 力を増加（例えば_{100ｄＢμＶとする。）して，ＳＧの周波数を広い範囲にわたって変化し，供試機の雑音} 出力が抑圧される周波数を求めその周波数の点で同じ雑音抑圧となるＳＧの出力Ｅ_Ｓを測定し，Ｅ_０との差か らスプリアス妨害比を求める。ただし，ＳＧのスプリアスに注意すること。 d) 局部発振器相互干渉試験 図１0 に示す試験回路において，ＳＧの出力を断ち発振器相互の干渉により抑圧 された供試機の雑音出力を求める。次に供試機の周波数を雑音抑圧がなくなる程度に僅かずらせてＳＧの出 力を加え同一の雑音抑圧となるＳＧの出力を求める。 6.2.9 忠実度試験 a) 周波数特性試験 測定周波数は特に規定のない場合は50，100，200，300，500，700，1000，2000，3000， 5000，7000 及び 10000Ｈｚのうち，規定周波数範囲内に含まれるもの及び規定周波数範囲の両端の周波数 とする。 1) 総合周波数特性試験 図１７に示す試験回路においてＳＧを試験周波数で標準変調とし規定の入力信号レ

ベル（特に規定のない場合は30ｄＢμＶ）で供試機に加え，供試機出力を標準出力に調節する。次に周波 数偏移を一定に保ちながら変調周波数を規定の周波数範囲内で変化し，供試機出力の偏差を求める。 S G 結合回路 供 試 機 ひずみ率 雑 音 レベル計 低 周 波 発 振 器 整合回路 図１７ 総合周波数特性試験の各機器の接続例 2) 低周波特性試験 図１８に示す試験回路において供試機の音量調節器を最大の状態とし低周波増幅部の入 力回路に入力信号（特に規定のない場合は，1000Ｈｚ）を加え，供試機の出力が標準出力となる入力レベ ルに調節する。次に入力レベルを一定とし，周波数を規定の周波数範囲内で変化して出力の偏差を求める。 低 周 波 発 振 器 減衰器 供 試 機 ひずみ率 雑 音 レベル計 レベル計 整合回路 (低周波増幅部) 図１８ 低周波特性試験の各機器の接続例 b) ひずみ率試験 1) 総合ひずみ率試験 図１７に示す試験回路において標準変調とし，規定の入力信号レベル（特に規定のな い場合は30ｄＢμＶ）において供試機出力を規定出力に調節し，総合ひずみ率を求める。 2) 低周波増幅部ひずみ率試験 図１８に示す試験回路において供試機の音量調節器を最大とし，供試機を規 定周波数（特に規定のないときは_{1000Ｈｚ）で規定出力となる入力信号レベルに調節し，ひずみ率を求め} る。 6.2.10 出力特性試験 図１０に示す試験回路において，標準変調とし，入力信号レベルを規定の範囲で変化し， このときの供試機出力レベルを測定する。 6.2.11 周波数弁別器特性試験 図１９に示す試験回路においてＳＧより振幅制限器が十分飽和する無変調の入 力信号又は中間周波入力信号を与える。次にＳＧの出力を一定に保ち周波数を中心周波数の上下に変化し，それ ぞれの周波数における周波数弁別器の直流電圧を測定する。 6.2.12 スケルチ特性試験 図１０の試験回路において，供試機のスケルチ回路を動作させる。ＳＧから周波数 において標準変調又は無変調の入力信号を加え，ＳＧの出力を変化させてスケルチ回路が非動作となる最小のレ ベルを求める。この試験は，スケルチ調節器が最大及び臨界点において行うものとする。

S G 供 試 機 直流電圧計 周波数計

（

3

)

注(３_{) 直流電圧計は周波数弁別器に影響を及ぼさぬようインピーダンスの高いものであること。} 図１９ 周波数弁別器特性試験の各機器の接続例 6.2.13 周波数試験 図２０又は図２１の試験回路において，試験周波数に対応する局部発振周波数又は中間周 波数について，6.1.4 の試験方法により行う。ただし，送信機と共用の局部発振回路を使用している機器は，送 信機の周波数の試験を行えばよい。 供 試 機 周 波 数 計 （局部発振周波数） 図２０ 周波数試験（局部発振周波数）の各機器の接続例 S G 供 試 機 周 波 数 計 周波数計 （中間周波信号） 図２１ 周波数試験（中間周波数）の各機器の接続例 6.2.14 運用条件に対する試験 運用条件に対する試験は，原則として次によって 6.2.4 を行う。 a) 電源電圧変動試験 電源電圧変動試験は，最高電圧及び最低電圧において試験を行う。ただし，電源電圧を 変化させてから_{1 分間経過後 5 分以内に測定する。} b) 温度試験 温度試験は，NDS C 0110 の 3.6 によって行う。 c) 湿度試験 湿度試験は，NDS C 0110 の 3.7 によって行う。 d) 振動試験 振動試験は，NDS C 0110 の 3.1 によって行う。 e) 衝撃試験 衝撃試験は，NDS C 0110 の 3.2 によって行う。 6.3 送受総合試験 6.3.1 標準測定状態 6.1.1 及び 6.2.1 により，供試機は一対向を準備する。 6.3.2 総合信号対雑音比試験 図２２に示す試験回路により行う。供試機（送信機）に規定の変調入力を加え， 供試機（送信機）の送信周波数と同一の受信周波数をもった供試機（受信機）によって受信する。次に規定の受

信機入力レベル（特に規定のない場合は30ｄＢμＶ）になるよう擬似伝送路により調節を行い，供試機（受信機） の受信出力は規定出力に調節する。この状態でＳＷをＲに接続したときの供試機（受信機）の雑音出力レベルを 測定し，総合信号雑音比を求める。 低周波 発振器 変調度計 擬似伝送路 減衰器 整合回路 結合器 FM 直線検波器 供試機 （送信機） レベル 計 供試機 （受信機） 整合回路 ひずみ計 雑 音 レベル計 低周波出力 受信機入力 R：供試機（送信機）の規定 の入力インピーダンス SW R 図２２ 総合信号対雑音比試験の各機器の接続例 6.3.3 総合周波数特性試験 図２２に示す試験回路により，6.1.9 b)及び 6.2.9 a)の試験方法により行う。 6.3.4 通話試験 図２３に示す試験回路により，通話試験を行い異常の有無を調べる。 マイクロフォン 供 試 機 （送信機） スピーカ又は イヤホーン 擬似伝送路 供 試 機 （受信機） 図２３ 通話試験の各機器の接続例 7. 試験方法［周波数変調（ディジタル）送受信機］ 7.1 送信機試験 7.1.1 標準測定状態 _{標準測定状態とは次の状態をいう。} なお，7.1 における試験は特に規定する場合のほかは標準測定状態で行う。 a) 電源電圧 規定値±_{2％とする。} b) 擬似負荷 規定の擬似負荷（特に規定のない場合は標準擬似負荷）とする。 c) 出 力 送信出力とする。 d) 調節部分 最良状態に調節する。 e) 変調入力 規定の入力信号とする。 7.1.2 一般電気的試験 a) 回路試験 6.1.2 a)の試験方法により行う。 b) 絶縁抵抗試験 6.1.2 b)の試験方法により行う。 c) 絶縁耐力試験 6.1.2 c)の試験方法により行う。

d) 消費電力試験 6.2.1 d)の試験方法により行う。 e) 連続動作試験 6.1.2 e)の試験方法により行う。 7.1.3 周波数範囲試験 6.1.3 の試験方法により行う。 7.1.4 周波数試験 a) 周波数確度試験 6.1.4 a)の試験方法により行う。 b) 周波数安定度 6.1.4 b)の試験方法により行う。 c) 電源電圧変動試験 6.1.4 c)の試験方法により行う。 d) 温度試験 6.1.4 d)の試験方法により行う。 e) 湿度試験 6.1.4 e)の試験方法により行う。 7.1.5 出力諸特性試験 a) 出力試験 6.1.5 a)の試験方法により行う。 b) 出力安定度試験 6.1.5 b)の試験方法により行う。 7.1.6 寄生振動試験 6.1.6 の試験方法により行う。 7.1.7 占有周波数帯幅試験 図２４に示す試験回路において規定の変調入力を供試機に加え，次のいずれかによ り測定する。 a) 電力比を求める方法 発射の全電力と規定された周波数帯域幅外に含まれる電力比を求める。 b) 周波数の幅を測定する方法 発射の全電力の0.5％を含む周波数帯幅の上限及び下限の周波数を測定しその 二つの周波数の差を求める。 符号発生器 供試機 結合器 擬似負荷 占有周波数 帯幅測定器 図２４ 占有周波数帯幅試験の各機器の接続例 7.1.8 不要波出力試験 図２５に示す試験回路により，6.1.8 の試験方法により行う。 符 号 発生器 供試機 結合器 擬似負荷 電界強度測定器 又はスペクトラ ムアナライザ 図２５ 不要波出力試験の各機器の接続例 7.1.9 クロック同期特性試験 図２６に示す試験回路において供試機に規定の変調入力を加え，次の各項目の試 験を行う。

S G

符 号 供試機 発生器 オシロスコープ 周波数計 クロック同期回路出力 図２６ クロック同期特性試験の各機器の接続例 a) 引込み範囲試験 ＳＧの周波数を供試機のクロック周波数（ｆ０）の上又は下の周波数からｆ０に近づけオシ ロスコープの波形が静止したときの周波数（ｆ_１ ，ｆ_２）を測定して次式により算出する。 引込み範囲 ＋側＝ｆ_１−ｆ_０ −側＝ｆ_０−ｆ_２ b) 保持範囲試験 ＳＧの周波数を供試機のクロック周波数（ｆ_０）より上又は下の周波数にずらしてオシロス コープの波形が動き出したときの周波数（ｆ3 ，ｆ４）を測定して次式により算出する。 保持範囲 ＋側＝ｆ₃−ｆ_０ −側＝ｆ_０−ｆ_４ 7.1.10 運用条件に対する試験 運用条件に対する試験は，原則として次によって 7.1.4 a)及び 7.1.5 a)を行う。 a) 電源電圧変動試験 電源電圧変動試験は，最高電圧及び最低電圧において試験を行う。ただし，電源電圧を 変化させてから1 分間経過後 5 分以内に測定する。 b) 温度試験 温度試験は，NDS C 0110（電子機器の運用条件に対する試験方法）の 3.6 によって行う。 c) 湿度試験 湿度試験は，NDS C 0110 の 3.7 によって行う。 d) 振動試験 振動試験は，NDS C 0110 の 3.1 によって行う。 e) 衝撃試験 衝撃試験は，NDS C 0110 の 3.2 によって行う。 7.2 受信機試験 7.2.1 標準測定状態 標準測定状態とは次の状態をいう。 なお，7.2 における試験は特に規定する場合の他は標準測定状態で行う。 a) 電源電圧 規定値±2％とする。 b) 調節部分 最良状態に調節する。 c) 試験に用いる入力信号 試験に用いる信号は，規定の信号とする。ただし，使用するＳＧは，予め定められ たディジタル変調可能なＳＧ（以下，ＳＧ）とする。 7.2.2 一般電気試験 a) 回路試験 6.2.2 a)の試験方法により行う。 b) 絶縁抵抗試験 6.2.2 b)の試験方法により行う。 c) 絶縁耐力試験 6.2.2 c)の試験方法により行う。 d) 消費電力試験 6.2.2 d)の試験方法により行う。 e) 連続動作試験 6.2.2 e)の試験方法により行う。 7.2.3 周波数範囲試験 6.2.3 の試験方法により行う。 7.2.4 感度試験 図２７に示す試験回路において，次のいずれかの方法によりビット誤り率を測定し，感度試験

とする。 a) SG より規定の入力信号により変調された信号を加え，供試機の入力レベルを規定の値にする。次に，規定 された総ビット数に対する総誤りビット数を測定し，その比からビット誤り率を求める。 b) 規定のビット誤り率が得られる入力信号を求める。 符 号 発生器 誤り率測 定器 供試機 SG 図２７ 感度試験（ビット誤り率試験）の各機器の接続例 7.2.5 雑音指数試験 6.2.5 の試験方法により行う。 7.2.6 選択度試験 誤り率測定器による方法 a) 通過帯域幅試験 図２７に示す試験回路において，ＳＧを試験周波数に合わせて，規定のビット誤り率とな るＳＧの出力Ｅ_０を求める。次に，ＳＧの出力を特に規定のない場合は 6ｄＢ増加し，ＳＧの周波数を試験 周波数の上下に変化して規定のビット誤り率となる周波数を測定し，その周波数の差から通過帯域幅を求め る。 b) 減衰帯域幅試験 試験 a)の試験と合わせて行い，特に規定のない場合はＳＧの出力をＥ_０＋70（ｄＢ）とし ＳＧの周波数を試験周波数の上下に変化し，誤り率測定器の指示値が試験 a)と同じになるＳＧの周波数を求 める。 c) 中間周波数選択度試験 試験は中間周波数増幅部の前の周波数変換回路にＳＧを接続して a)，b)と同様に行 う。なお，中間周波数の公称値により偏差を求めるときは，通常帯域幅の両端に相当する二つの周波数の中 央値と公称値との差で表す。 7.2.7 実効選択度試験 感度抑圧試験 図２８に示す試験回路において，ＳＧ２の出力を断ち，ＳＧ１を試験周波数とし，規定の ビット誤り率が得られる入力信号レベルより6ｄＢ高く設定する。次にＳＧ２より希望波から規定周波数離れた 妨害波を加え，規定のビット誤り率となるときの妨害波入力レベルを測定する。 符 号 発生器 誤り率 測定器 供試機 SG1 結合器 SG2 図２８ 実効選択度試験（ビット誤り率試験）の各機器の接続例 7.2.8 不要信号感度比試験 a) 影像妨害比試験 7.2.7の試験により，規定の誤り率が得られるＳＧ１の出力Ｅ０を求め，ＳＧ１の入力信号 レベルを規定のビット誤り率が得られる入力信号レベルより6ｄＢ高く設定する。次にＳＧの周波数をｆｕｎ

とし規定の誤り率になる妨害波入力レベルを測定し，影像妨害比を求める。 備考 影像周波数ｆ_ｕｎは供試機の局部発振周波数（第1 局部発振周波数をｆｅ１,第2 局部発振周波数ｆｅ２, ……とする。）から中間周波数（第1 中間周波数をｆｉ１,第2 中間周波数をｆｉ２……とする。）だけ異 なる周波数すなわちｆ_ｅ１±ｆ_ｉ１,ｆ_ｅ１±ｆ_ｉ２……f_e1±（ｆ_ｅ２±ｆ_ｉ２）……ｆ_ｅ２±ｆ_ｉ２のうち試験周 波数以外の周波数をいう。 b) 中間周波妨害比試験 7.2.7 の試験により，規定の誤り率が得られるＳＧ１の出力Ｅ_０を求め，ＳＧ１の入力 信号レベルを規定のビット誤り率が得られる入力信号レベルより６ｄＢ高く設定する。次に，ＳＧ２の周波 数を供試器の中間周波数に変化し，同じ規定のビット誤り率となるときのＳＧ２の出力Ｅ_inを測定し，Ｅ₀ との差から中間周波妨害比を求める。 c) スプリアス妨害比試験 7.2.7 の試験により，規定の誤り率が得られるＳＧ１の出力Ｅ０を求め，ＳＧ１の入 力信号レベルを規定のビット誤り率が得られる入力信号レベルより6ｄＢ高く設定する。次にＳＧ２の出力 を増加（例えば100ｄＢμＶとする。）して，ＳＧ２の周波数を広い範囲にわたって変化し，供試機の誤り 率が劣化する周波数を求め，その周波数の点で規定の誤り率となるＳＧ２の出力Ｅ_Ｓを測定し，Ｅ_０との差か らスプリアス妨害比を求める。ただし，ＳＧのスプリアスに注意すること。 7.2.9 周波数試験 6.2.13 の試験方法により行う。 7.2.10 クロック同期特性試験 図２９に示す試験回路において供試機に規定の変調入力で動作させ，次の各項 目の試験を行う。

S G

符 号 供試機 発生器 オシロスコープ 周波数計 クロック同期回路出力 図２９ クロック同期特性試験の各機器の接続例 a) 引込み範囲試験 ＳＧの周波数を供試機のクロック周波数（ｆ０）の上又は下の周波数からｆ０に近づけオシ ロスコープの波形が静止したときの周波数（ｆ_１ ，ｆ_２）を測定して次式により算出する。 引込み範囲 ＋側＝ｆ_１−ｆ_０ −側＝ｆ_０−ｆ_２ b) 保持範囲試験 ＳＧの周波数を供試機のクロック周波数（ｆ_０）より上又は下の周波数にずらしてオシロス コープの波形が動き出したときの周波数（ｆ3 ，ｆ４）を測定して次式により算出する。 保持範囲 ＋側＝ｆ₃−ｆ_０ −側＝ｆ０−ｆ４ 7.2.11 ビット誤り率試験 次のいずれかの方法によりビット誤り率を求める。 a) 受信機内部雑音を利用する方法 図３０に示す試験回路において減衰器により供試機入力レベルを規定の値 にする。次にＳＧを規定の変調入力で動作させ規定された総ビット数に対する総誤りビット数を測定し，そ の比からビット誤り率を求める。

符 号 発生器 誤り率測 定器 供試機 SG 図３０ ビット誤り率試験（受信機内部雑音を利用する方法）の各機器の接続例 b) 雑音発生器を利用する方法 図３１に示す回路において雑音発生器の出力を断ったときの供試機入力信号レ ベルを減衰器(1)により規定の値とする。次に標準信号発生器の出力を断ち雑音発生器を動作させたときの供 試機入力信号レベルを減衰器(2)により規定の値にする。この状態で，ＳＧを規定の変調入力で動作させ，総 ビット数に対する総誤りビット数を測定しその比からビット誤り率を求める。 符 号 発生器 誤り率 測定器 供試機 雑 音 発生器 SG 減衰器(1) 結合器 減衰器(2) 図３１ ビット誤り率試験（雑音発生器を利用する方法）の各機器の接続例 7.2.12 運用条件に対する試験 運用条件に対する試験は，原則として次によって 7.2.4 を行う。 a) 電源電圧変動試験 電源電圧変動試験は，最高電圧及び最低電圧において試験を行う。ただし，電源電圧を 変化させてから1 分間経過後 5 分以内に測定する。 b) 温度試験 温度試験は，NDS C 0110(電子機器の運用条件に対する試験方法）の 3.6 によって行う。 c) 湿度試験 湿度試験は，NDS C 0110 の 3.7 によって行う。 d) 振動試験 振動試験は，NDS C 0110 の 3.1 によって行う。 e) 衝撃試験 衝撃試験は，NDS C 0110 の 3.2 によって行う。 7.3 送受総合試験 7.3.1 標準測定状態 7.1.1 及び 7.2.1の標準測定状態による。ただし，送信機と受信機の間は擬似伝送路で結 合する。 7.3.2 ビット誤り率試験 図３２に示す試験回路により，7.2.4 の試験方法により行う。 符 号 発生器 誤り率 測定器 供 試 機 （受信機） 擬 似 伝送路 供 試 機 （送信機） 図３２ ビット誤り率試験の各機器の接続例

解1

Ｎ Ｄ Ｓ Ｃ ０ １ ０ ４ Ｂ

周波数変調送受信機試験方法

解説

1. 作成の経緯 1.1 改正の趣旨 NDS C 0104（周波数変調送受信機試験方法）のＢ版への改正は，初版（旧版）制定以降の諸情 勢の変化に対応し，規格内容の見直し等の改正を行うことを趣旨とするものである。 この規格の初版は，昭和52 年に制定され，その後二十数年にわたって装備品等の試験方法についての円滑な 運用に貢献してきた。この間には，この規格の直接の対象である無線通信機器・搬送通信機器の技術分野におい て顕著な技術進歩が見られたほか，近年では周波数資源の有効利用及びデータ伝送への適合性から，特にディジ タル変復調方式が注目され，移動通信の分野にも広く適用される状況となり，このため送受信機試験方法の標準 化及び品質信頼性の向上に資するを目的とするこの規格の重要度はますます高くなってきた。 対象機器側のこのような変化とともに，一方では測定器や，測定技術分野における技術進歩も著しく，このた め測定方法の規定内容についてもこの技術進歩を踏まえた改正が必要となってきた。 1.2 初版制定時の趣旨等 この規格の初版制定に当たって，作成方針，考慮事項などについて述べた部分が初版 の参考の冒頭部分にあるのでこれを再録する。

ＮＤＳ Ｃ ０１０４

周波数変調送受信機試験方法参考

1. 作成方針 NDS C 0103（周波数変調送信機試験方法）及び NDS C 0105（周波数変調受信機試験方法） は、昭和30.12.23 制定以来、既に約20 年を経過した。この間、半導体技術を基礎にした電子機器の発展、 計測機器の進歩等めざましい変化があり、旧規格では実状に合致し得なくなったこと及びディジタル技術 を応用した新しい通信機器の実現など将来指向を含めて規格改正を行うこととした。 なお、同時に、従来、送信機試験方法及び受信機試験方法としてそれぞれ独立していた規格を送受総合 試験方法を含めて規定するため、1 本化することとした。 以上の主旨から今回の改正では、周波数変調技術を広義にとらえ、角度変調の範ちゅうに含まれる周波 数変調、位相変調、周波数偏移変調（ＦＳＫ）、位相偏移変調（ＰＳＫ）などの機器はできるだけ包含すべ く、この規格で規定する対象機器を次の範囲に拡大した。 単一通信路用周波数変調送受信機 多重通信路用周波数変調送受信機 位相偏移変調送受信機 データ伝送用変復調機器 改正にあたり考慮した主な事項は、次のとおりである。 (1) 対象機器の範囲を拡大したことに対して、機器の規格又は仕様書作成段階において、この規格を参