3
ノイズ可視化システム
ＥＭＩのあらゆる問題解決には、
ノイズ源を特定し、
ノイズ量を把握することが重要です。
磁界・電流測定システム
磁界プローブ法は、非接触型でありターゲットへの影響が少なく、実機配線上で使用することができます。 さらに超小型/
高周波磁界プローブの採用により、高空間分解能を実現、ピンポイントな測定ができます。磁界プローブ
磁界・電流測定システムは、磁界プローブを使用し、高周波磁界・電流を手軽に計測できます。計測ソフトウェアは、磁界・電流校正ライブラリおよび測定結果 解析、規格判定機能を標準装備し、変換・解析操作はマウス操作のみでスムーズに行えます。SW-EF
磁界・電流測定システム
磁界・電流測定システム
動作環境
EMC
設計
ノイズ可視化システム
ノイズ可視化システム
設計・評価ソリューション ● 試作∼量産サービス ●EMC
計測/
認証取得支援 ● 磁界プローブ/
ノイズ可視化システム ●LSI
評価（IEC
標準MP
法） および評価ボード設計 ●VCCI
キットモジュール妨害波測定 および評価ボード設計 設計システムソリューション ● ＥＭＣ対策技術の共同研究・開発 ● 対策技術のＣＡＤツール化 ● お客様設計部門へのＥＭＣ対策技術の 普及・展開支援 ●EMI
設計支援システム （DEMITASNX
®） 設計支援ソリューション ●EMI
対策 ● 回路/
プリント基板設計支援 ●EMC
設計コンサルティング ●PI / SI
＊2/ EMI
解析サービスNEC
エンジニアリング
設計・評価
ソリューション
設計支援
ソリューション
設計システム
ソリューション
OS Microsoft
®Windows
®2000 Professional
、Microsoft
®Windows
®XP Professional
CPU
インテル®Pentium
®4
プロセッサー（1.5GHz
以上）メモリ
64MB
以上 ハードディスク4MB
以上GPIB
PCMCIA/USB / PCI
＊3 スペクトラムアナライザアジレント・テクノロジー社製
ESA
シリーズ＊4 その他PC
カードスロット（TypeII
）、USB
スロット（USB1.1
以上）、CD-ROM
ドライブ（インストール時必要）、上記OS
に対応したプリンタ及びマウスOS Microsoft
®Windows
®2000 Professional
、Microsoft
®Windows
®XP Professional
メモリ
512MB
以上 ハードディスク 約30 MB +
データ保存用に約20GB
ディスプレイ 解像度：
1024
×768
ドット以上 表示色：256
色以上 スペクトラムアナライザアジレント・テクノロジー社製
ESA
シリーズ＊4高精度スキャナ
PCI
スロットの空きが2
スロット（モータコントロールボードおよびGPIB
ボード用）制御用
PC
仕様：
PCI
ローカルバス（Rev.2.1
以上）、32bit,33MHz
、5V/3.3V
信号環境 スロットサイズ：ショートサイズ［174.63mm
（D
）×106.68mm
（H
）］以上CD-ROM
ドライブ（インストール時必要）、上記OS
に対応したプリンタ及びマウスCPU
インテル®Pentium
®4
プロセッサー（1.5GHz
以上）小型スキャナ
PC
カードスロットの空きが2
スロット（Type
Ⅱ）（モータコントロールカード用）制御用
PC
USB
スロット（USB1.1
以上）（GPIB-USB
用）＊3CD-ROM
ドライブ（インストール時必要）、上記OS
に対応したプリンタ及びマウスCPU
インテル®Pentium
®4
プロセッサー（1.5GHz
以上） ＊2. PI：Power Integrity SI：Signal Integrity ＊3. 日本ナショナルインスツルメンツ株式会社製推奨。 その他の機種は要相談。 ＊4. アジレント・テクノロジー株式会社製推奨。 その他の機種は要相談。スキャナシステム（
4EM500
／
4EM200
）動作環境
e-DesignSolution
e-DesignSolution
は回路・プリント基板設計に関するDEMITASNX
® をはじめとした設計ソリューションサービス の総称です。 『設計システムソリューション』『設計支援ソリューション』 『試作・評価ソリューション』の3
つのソリューションサービス から構成されており、製品設計におけるさまざまな お客様のご要望に、多角的かつ最適なアプローチ方法で ソリューションをご提供致します。磁界電流測定システムは、
IEC
規格
＊（
1IEC61967-6
）や
VCCI
キットモジュール妨害波測定技術基準に適合した、磁界プ
ローブ法による非接触電流測定システムです。キットモジュール妨害波測定は本システムで対応ができ、今まで測定方法に
課題が多かった半導体や、高密度実装プリント基板、部品、モジュールなどの正確なノイズ測定ができます。
測定対象物 スペクトラムアナライザ2
重シールドケーブル 磁界・電流測定 システム 磁界プローブ用 固定治具 磁界プローブ 定盤 プリアンプ ●販売製品 ● 磁界・電流測定システム（SW-EF
） ● スペクトラムアナライザ対応ドライバ（DV-SW
） ● 磁界プローブ（CP-1S/CP-2S/MP-10L
） ●2
重シールドケーブル（2m
） ● 磁界プローブ固定治具及び定盤 ● スペクトラムアナライザ ● プリアンプ ●GPIB
インタフェース （PCMCIA/USB/PCI
） ●諸特性 ･測定周波数： 10MHz∼3GHz ･空間分解能（測定対象に依存）：約 0.14mm ･検出部サイズ： 1.2mm×0.7mm ･測定対象：高密度実装プリント基板SiP, SoC LSI内部など 対象 L/S=0.1mm/0.1mm ●諸特性 ･測定周波数： 10MHz∼3GHz ･空間分解能（測定対象に依存）：約 0.25mm ･検出部サイズ： 2mm×1mm ･測定対象： LSIパッケージ各ピン モジュールレベル 一般のPCB回路など 対象 L/S=0.1mm/0.3mm ※IEC規格（IEC61967-6）適合 ●諸特性 ･測定周波数： 150kHz∼1GHz ･空間分解能（測定対象に依存）：約 1.0mm ･検出部サイズ（カバー含む）： 12mm×3mm ･測定対象： LSI電源配線 VCCIキットモジュール妨害波測定対応 電源配線など 対象 L/S=1.0mm/2.0mm ※IEC規格（IEC61967-6）適合
CP-1S
CP-2S
MP-10L
測定システムの構築に関しては、お気軽にご相談ください。http://www.nec-eng.co.jp/
＊1. IEC：国際電気標準会議(International Electrotechnical Commission）
磁界・電流測定システム
GPIB
インタフェース お問い合わせは、下記へ 2010年3月現在 〒140-0002 東京都品川区東品川4-10-27（住友不動産品川ビル7F） TEL：03（6713）1200 FAX：03（6713）1965 URL： http://www.nec-eng.co.jp JCatF13304103 〒140-0002 東京都品川区東品川4-10-27（住友不動産品川ビル）NEC
エンジニアリング 営業本部●Microsoft、Windows、およびWindowsのロゴは、米国Microsoft Corporationの米国およびその他の 国における商標または登録商標です。 ●インテル、Intel Core、CeleronおよびPentiumはアメリカ合衆国およびその他の国におけるインテルコー ポレーションまたはその子会社の商標または登録商標です。 ●DEMITASNXは、株式会社NEC情報システムズの登録商標です。 ●ナショナルインスツルメンツは、ナショナルインスツルメンツ社の商標です。アジレント・テクノロジーは、アジ レント・テクノロジー社の商標です。 ●また製品名は予告なしに変更されることがありますので、あらかじめご了承ください。 ●本カタログに記載された仕様・外観などは予告なしに変更することがあります。日本国外に輸出する場合 には、日本国政府等の許可が必要です。
ノイズ可視化システム
2 4 5スキャナシステム
●VCCI
キットモジュール妨害波測定対応システム ●LSI
電源高周波モデル用データ収集/
検証 ●プリント配線基板の配線ルール検証 ●高周波電流値及び磁界値を精密に測定 ●ノイズ源を精密に位置特定/
検証 測定は計測用ソフトウェアを使用し、マニュアル測定モードにおいて測定範囲・位置の設定を行い、オート測定モードにより磁界強度分布を測定します。 スペクトラムアナライザの詳細設定を行い、各測定ポイント毎にスペクトルデータを取り込みます。測定データでは、目的の周波数ポイントや周波数範囲 におけるマップ表示、合成・差分などの詳細解析ができます。その他ノイズ源の位置特定などが可能です。 スキャナシステムは、測定対象上を磁界プローブにて自動走査させ、磁界強度分布（ノイズ）の可視化を行います。本システムは、PC
にてスキャナとスペクトラ ムアナライザを制御します。ノイズの対策ポイントや対策効果などを簡単に確認することができ、オフィス環境でノイズを把握することができます。 高精度スキャナシステムは、装置、プリント基板、ＬＳＩ、部品、モジュール等の さまざまな対象物の磁界強度分布（ノイズ）を計測・表示ができます。各種 オプションやカスタマイズ対応もできます。4
EM
500
高精度スキャナシステム
測定・解析例
オプション
ノイズ可視化システムは、
ノイズ対策測定の効率化を実現しました。
国際規格準拠の磁界プローブで
EMI
対策設計効率を向上。
電磁妨害（
EMI
）抑制設計・信号品質（
SI/PI
）評価を支援します。
部
品
試
作
評
価
量
産
磁界プローブ測定磁界強度分布測定
ノイズ対策時間・コスト削減
EMI
設計ルール構築
利用
分野例
装置
基板
半導体
●シミュレーションとの ●検証ツール ●基板単体対策 ●フィルタ部品の効果検証 …etc
●対策測定の効率化 ●ノイズ進入ルートの検証 ●高速I/F
、ケーブル対策 …etc
モジュール
●単体ノイズ品質把握 ●モジュール内部のノイズ源探索、 ●対策効果検証 …etc
●電源ノイズ計測と ●モデル検証 ●半導体内部のノイズ源探索、 ●対策効果検証 …etc
EMI
のあらゆる問題解決にはノイズ源を特定し、ノイズ量を把握することが重要です。
●システム構成図 PCI-GPIB 同軸ケーブル モータコントロール / PCI スペクトラムアナライザ PC 高精度スキャナ 制御BOX 測定対象 装置、プリント基板、LSI
、モジュール、部品等 測定方式4
軸ステージにより磁界プローブを走査 測定範囲X,Y,Z
=
500
×500
×210
（mm
） θ=
±90
（deg
） 動作ステップX,Y,Z
=
0.01
（mm
） θ= 1
（deg
） 対応可能プローブCP-1S
、CP-2S
、MP-10L
、その他各種対応可能 外形寸法860mm
（W
）×862mm
（D
）×840mm
（H
（突起部を含まず）） 質量 約110kg
電源AC100V 400VA 50/60Hz
制御用インタフェース モータコントロールボード（PCI
）、PCI-GPIB
計測器 スペクトラムアナライザ 小型スキャナシステムは、高精度スキャナシステムをA3
サイズまで小型化 し、省スペース化を実現したスキャナシステムです。 計測機能はそのままにさまざまな場面で磁界強度分布（ノイズ）を計測・表示 できます。4
EM
200
小型スキャナシステム
●周波数表示 ●磁界強度分布（マップ）表示 ●周波数ポイント、周波数範囲、高調波成分、 ●ピークサーチ（検出、指定、削除） ●Ｘ方向、Ｙ方向データの合成表示 ●２つの測定データの差分表示 各種解析機能を複合することで、ノイズ源を正確 かつ詳細に解析し特定することができます。測定データ解析機能
あらかじめ測定対象の高さを測定し、測定対象の高さに非接触 でプローブを追従させながら、ノイズ分布を測定します。 測定した結果は、三次元グラフで表示できます。プローブ高さ追従機能
●DEMITASNX
®リンク ●レーザ位置調整・特定機能 ●各種プローブアタッチメントその他オプション機能
測定対象 プリント基板、LSI
、モジュール、部品等 測定方式4
軸ステージにより磁界プローブを走査 測定範囲X,Y,Z
=
200
×200
×100
（mm
） θ= 0
、90
（deg
）（2
位置） 動作ステップX,Y,Z
=
0.1
（mm
） 対応可能プローブCP-2S
、MP-10L
外形寸法297mm
（W
）×420mm
（D
）×500mm
（H
（突起部を含まず）） 質量 約15kg
電源AC100V 190VA 50/60Hz
制御用インタフェース モータコントロールカード（PC
カード×2
）、GPIB-USB
計測器 スペクトラムアナライザ GPIB-USB モータコントロール / PCカード（2） スペクトラムアナライザ 小型スキャナ 制御BOX PC ●システム構成図 同軸ケーブル メイン表示画面 マニュアル測定画面 オート測定画面 計測用ソフトウェア画面 X方向データ Y方向データ XY合成データ 詳細解析画面 計測用ソフトウェア画面 三次元グラフ表示画面 メイン表示画面 計測用ソフトウェア画面 合成 プリント基板配線データ表示画面 磁界分布測定データ表示画面 DEMITASNX® リンク合成画面 DEMITASNX®リンク やレーザ位置調整・特定 機能により簡単にノイズ 源の特定ができます。 計測用ソフトウェア画面 ●各種カスタマイズ対応 ●A3
サイズ 各種カスタマイズについてはご相談下さい。3
ノイズ可視化システム
ＥＭＩのあらゆる問題解決には、
ノイズ源を特定し、
ノイズ量を把握することが重要です。
磁界・電流測定システム
磁界プローブ法は、非接触型でありターゲットへの影響が少なく、実機配線上で使用することができます。 さらに超小型/
高周波磁界プローブの採用により、高空間分解能を実現、ピンポイントな測定ができます。磁界プローブ
磁界・電流測定システムは、磁界プローブを使用し、高周波磁界・電流を手軽に計測できます。計測ソフトウェアは、磁界・電流校正ライブラリおよび測定結果 解析、規格判定機能を標準装備し、変換・解析操作はマウス操作のみでスムーズに行えます。SW-EF
磁界・電流測定システム
磁界・電流測定システム
動作環境
EMC
設計
ノイズ可視化システム
ノイズ可視化システム
設計・評価ソリューション ● 試作∼量産サービス ●EMC
計測/
認証取得支援 ● 磁界プローブ/
ノイズ可視化システム ●LSI
評価（IEC
標準MP
法） および評価ボード設計 ●VCCI
キットモジュール妨害波測定 および評価ボード設計 設計システムソリューション ● ＥＭＣ対策技術の共同研究・開発 ● 対策技術のＣＡＤツール化 ● お客様設計部門へのＥＭＣ対策技術の 普及・展開支援 ●EMI
設計支援システム （DEMITASNX
®） 設計支援ソリューション ●EMI
対策 ● 回路/
プリント基板設計支援 ●EMC
設計コンサルティング ●PI / SI
＊2/ EMI
解析サービスNEC
エンジニアリング
設計・評価
ソリューション
設計支援
ソリューション
設計システム
ソリューション
OS Microsoft
®Windows
®2000 Professional
、Microsoft
®Windows
®XP Professional
CPU
インテル®Pentium
®4
プロセッサー（1.5GHz
以上）メモリ
64MB
以上 ハードディスク4MB
以上GPIB
PCMCIA/USB / PCI
＊3 スペクトラムアナライザアジレント・テクノロジー社製
ESA
シリーズ＊4 その他PC
カードスロット（TypeII
）、USB
スロット（USB1.1
以上）、CD-ROM
ドライブ（インストール時必要）、上記OS
に対応したプリンタ及びマウスOS Microsoft
®Windows
®2000 Professional
、Microsoft
®Windows
®XP Professional
メモリ
512MB
以上 ハードディスク 約30 MB +
データ保存用に約20GB
ディスプレイ 解像度：
1024
×768
ドット以上 表示色：256
色以上 スペクトラムアナライザアジレント・テクノロジー社製
ESA
シリーズ＊4高精度スキャナ
PCI
スロットの空きが2
スロット（モータコントロールボードおよびGPIB
ボード用）制御用
PC
仕様：
PCI
ローカルバス（Rev.2.1
以上）、32bit,33MHz
、5V/3.3V
信号環境 スロットサイズ：ショートサイズ［174.63mm
（D
）×106.68mm
（H
）］以上CD-ROM
ドライブ（インストール時必要）、上記OS
に対応したプリンタ及びマウスCPU
インテル®Pentium
®4
プロセッサー（1.5GHz
以上）小型スキャナ
PC
カードスロットの空きが2
スロット（Type
Ⅱ）（モータコントロールカード用）制御用
PC
USB
スロット（USB1.1
以上）（GPIB-USB
用）＊3CD-ROM
ドライブ（インストール時必要）、上記OS
に対応したプリンタ及びマウスCPU
インテル®Pentium
®4
プロセッサー（1.5GHz
以上） ＊2. PI：Power Integrity SI：Signal Integrity ＊3. 日本ナショナルインスツルメンツ株式会社製推奨。 その他の機種は要相談。 ＊4. アジレント・テクノロジー株式会社製推奨。 その他の機種は要相談。スキャナシステム（
4EM500
／
4EM200
）動作環境
e-DesignSolution
e-DesignSolution
は回路・プリント基板設計に関するDEMITASNX
® をはじめとした設計ソリューションサービス の総称です。 『設計システムソリューション』『設計支援ソリューション』 『試作・評価ソリューション』の3
つのソリューションサービス から構成されており、製品設計におけるさまざまな お客様のご要望に、多角的かつ最適なアプローチ方法で ソリューションをご提供致します。磁界電流測定システムは、
IEC
規格
＊（
1IEC61967-6
）や
VCCI
キットモジュール妨害波測定技術基準に適合した、磁界プ
ローブ法による非接触電流測定システムです。キットモジュール妨害波測定は本システムで対応ができ、今まで測定方法に
課題が多かった半導体や、高密度実装プリント基板、部品、モジュールなどの正確なノイズ測定ができます。
測定対象物 スペクトラムアナライザ2
重シールドケーブル 磁界・電流測定 システム 磁界プローブ用 固定治具 磁界プローブ 定盤 プリアンプ ●販売製品 ● 磁界・電流測定システム（SW-EF
） ● スペクトラムアナライザ対応ドライバ（DV-SW
） ● 磁界プローブ（CP-1S/CP-2S/MP-10L
） ●2
重シールドケーブル（2m
） ● 磁界プローブ固定治具及び定盤 ● スペクトラムアナライザ ● プリアンプ ●GPIB
インタフェース （PCMCIA/USB/PCI
） ●諸特性 ･測定周波数： 10MHz∼3GHz ･空間分解能（測定対象に依存）：約 0.14mm ･検出部サイズ： 1.2mm×0.7mm ･測定対象：高密度実装プリント基板SiP, SoC LSI内部など 対象 L/S=0.1mm/0.1mm ●諸特性 ･測定周波数： 10MHz∼3GHz ･空間分解能（測定対象に依存）：約 0.25mm ･検出部サイズ： 2mm×1mm ･測定対象： LSIパッケージ各ピン モジュールレベル 一般のPCB回路など 対象 L/S=0.1mm/0.3mm ※IEC規格（IEC61967-6）適合 ●諸特性 ･測定周波数： 150kHz∼1GHz ･空間分解能（測定対象に依存）：約 1.0mm ･検出部サイズ（カバー含む）： 12mm×3mm ･測定対象： LSI電源配線 VCCIキットモジュール妨害波測定対応 電源配線など 対象 L/S=1.0mm/2.0mm ※IEC規格（IEC61967-6）適合
CP-1S
CP-2S
MP-10L
測定システムの構築に関しては、お気軽にご相談ください。http://www.nec-eng.co.jp/
＊1. IEC：国際電気標準会議(International Electrotechnical Commission）
磁界・電流測定システム
GPIB
インタフェース お問い合わせは、下記へ 2010年3月現在 〒140-0002 東京都品川区東品川4-10-27（住友不動産品川ビル7F） TEL：03（6713）1200 FAX：03（6713）1965 URL： http://www.nec-eng.co.jp JCatF13304103 〒140-0002 東京都品川区東品川4-10-27（住友不動産品川ビル）NEC
エンジニアリング 営業本部●Microsoft、Windows、およびWindowsのロゴは、米国Microsoft Corporationの米国およびその他の 国における商標または登録商標です。 ●インテル、Intel Core、CeleronおよびPentiumはアメリカ合衆国およびその他の国におけるインテルコー ポレーションまたはその子会社の商標または登録商標です。 ●DEMITASNXは、株式会社NEC情報システムズの登録商標です。 ●ナショナルインスツルメンツは、ナショナルインスツルメンツ社の商標です。アジレント・テクノロジーは、アジ レント・テクノロジー社の商標です。 ●また製品名は予告なしに変更されることがありますので、あらかじめご了承ください。 ●本カタログに記載された仕様・外観などは予告なしに変更することがあります。日本国外に輸出する場合 には、日本国政府等の許可が必要です。
ノイズ可視化システム
2 4 5スキャナシステム
●VCCI
キットモジュール妨害波測定対応システム ●LSI
電源高周波モデル用データ収集/
検証 ●プリント配線基板の配線ルール検証 ●高周波電流値及び磁界値を精密に測定 ●ノイズ源を精密に位置特定/
検証 測定は計測用ソフトウェアを使用し、マニュアル測定モードにおいて測定範囲・位置の設定を行い、オート測定モードにより磁界強度分布を測定します。 スペクトラムアナライザの詳細設定を行い、各測定ポイント毎にスペクトルデータを取り込みます。測定データでは、目的の周波数ポイントや周波数範囲 におけるマップ表示、合成・差分などの詳細解析ができます。その他ノイズ源の位置特定などが可能です。 スキャナシステムは、測定対象上を磁界プローブにて自動走査させ、磁界強度分布（ノイズ）の可視化を行います。本システムは、PC
にてスキャナとスペクトラ ムアナライザを制御します。ノイズの対策ポイントや対策効果などを簡単に確認することができ、オフィス環境でノイズを把握することができます。 高精度スキャナシステムは、装置、プリント基板、ＬＳＩ、部品、モジュール等の さまざまな対象物の磁界強度分布（ノイズ）を計測・表示ができます。各種 オプションやカスタマイズ対応もできます。4
EM
500
高精度スキャナシステム
測定・解析例
オプション
ノイズ可視化システムは、
ノイズ対策測定の効率化を実現しました。
国際規格準拠の磁界プローブで
EMI
対策設計効率を向上。
電磁妨害（
EMI
）抑制設計・信号品質（
SI/PI
）評価を支援します。
部
品
試
作
評
価
量
産
磁界プローブ測定磁界強度分布測定
ノイズ対策時間・コスト削減
EMI
設計ルール構築
利用
分野例
装置
基板
半導体
●シミュレーションとの ●検証ツール ●基板単体対策 ●フィルタ部品の効果検証 …etc
●対策測定の効率化 ●ノイズ進入ルートの検証 ●高速I/F
、ケーブル対策 …etc
モジュール
●単体ノイズ品質把握 ●モジュール内部のノイズ源探索、 ●対策効果検証 …etc
●電源ノイズ計測と ●モデル検証 ●半導体内部のノイズ源探索、 ●対策効果検証 …etc
EMI
のあらゆる問題解決にはノイズ源を特定し、ノイズ量を把握することが重要です。
●システム構成図 PCI-GPIB 同軸ケーブル モータコントロール / PCI スペクトラムアナライザ PC 高精度スキャナ 制御BOX 測定対象 装置、プリント基板、LSI
、モジュール、部品等 測定方式4
軸ステージにより磁界プローブを走査 測定範囲X,Y,Z
=
500
×500
×210
（mm
） θ=
±90
（deg
） 動作ステップX,Y,Z
=
0.01
（mm
） θ= 1
（deg
） 対応可能プローブCP-1S
、CP-2S
、MP-10L
、その他各種対応可能 外形寸法860mm
（W
）×862mm
（D
）×840mm
（H
（突起部を含まず）） 質量 約110kg
電源AC100V 400VA 50/60Hz
制御用インタフェース モータコントロールボード（PCI
）、PCI-GPIB
計測器 スペクトラムアナライザ 小型スキャナシステムは、高精度スキャナシステムをA3
サイズまで小型化 し、省スペース化を実現したスキャナシステムです。 計測機能はそのままにさまざまな場面で磁界強度分布（ノイズ）を計測・表示 できます。4
EM
200
小型スキャナシステム
●周波数表示 ●磁界強度分布（マップ）表示 ●周波数ポイント、周波数範囲、高調波成分、 ●ピークサーチ（検出、指定、削除） ●Ｘ方向、Ｙ方向データの合成表示 ●２つの測定データの差分表示 各種解析機能を複合することで、ノイズ源を正確 かつ詳細に解析し特定することができます。測定データ解析機能
あらかじめ測定対象の高さを測定し、測定対象の高さに非接触 でプローブを追従させながら、ノイズ分布を測定します。 測定した結果は、三次元グラフで表示できます。プローブ高さ追従機能
●DEMITASNX
®リンク ●レーザ位置調整・特定機能 ●各種プローブアタッチメントその他オプション機能
測定対象 プリント基板、LSI
、モジュール、部品等 測定方式4
軸ステージにより磁界プローブを走査 測定範囲X,Y,Z
=
200
×200
×100
（mm
） θ= 0
、90
（deg
）（2
位置） 動作ステップX,Y,Z
=
0.1
（mm
） 対応可能プローブCP-2S
、MP-10L
外形寸法297mm
（W
）×420mm
（D
）×500mm
（H
（突起部を含まず）） 質量 約15kg
電源AC100V 190VA 50/60Hz
制御用インタフェース モータコントロールカード（PC
カード×2
）、GPIB-USB
計測器 スペクトラムアナライザ GPIB-USB モータコントロール / PCカード（2） スペクトラムアナライザ 小型スキャナ 制御BOX PC ●システム構成図 同軸ケーブル メイン表示画面 マニュアル測定画面 オート測定画面 計測用ソフトウェア画面 X方向データ Y方向データ XY合成データ 詳細解析画面 計測用ソフトウェア画面 三次元グラフ表示画面 メイン表示画面 計測用ソフトウェア画面 合成 プリント基板配線データ表示画面 磁界分布測定データ表示画面 DEMITASNX® リンク合成画面 DEMITASNX®リンク やレーザ位置調整・特定 機能により簡単にノイズ 源の特定ができます。 計測用ソフトウェア画面 ●各種カスタマイズ対応 ●A3
サイズ 各種カスタマイズについてはご相談下さい。ノイズ可視化システム
2 4 5スキャナシステム
●VCCI
キットモジュール妨害波測定対応システム ●LSI
電源高周波モデル用データ収集/
検証 ●プリント配線基板の配線ルール検証 ●高周波電流値及び磁界値を精密に測定 ●ノイズ源を精密に位置特定/
検証 測定は計測用ソフトウェアを使用し、マニュアル測定モードにおいて測定範囲・位置の設定を行い、オート測定モードにより磁界強度分布を測定します。 スペクトラムアナライザの詳細設定を行い、各測定ポイント毎にスペクトルデータを取り込みます。測定データでは、目的の周波数ポイントや周波数範囲 におけるマップ表示、合成・差分などの詳細解析ができます。その他ノイズ源の位置特定などが可能です。 スキャナシステムは、測定対象上を磁界プローブにて自動走査させ、磁界強度分布（ノイズ）の可視化を行います。本システムは、PC
にてスキャナとスペクトラ ムアナライザを制御します。ノイズの対策ポイントや対策効果などを簡単に確認することができ、オフィス環境でノイズを把握することができます。 高精度スキャナシステムは、装置、プリント基板、ＬＳＩ、部品、モジュール等の さまざまな対象物の磁界強度分布（ノイズ）を計測・表示ができます。各種 オプションやカスタマイズ対応もできます。4
EM
500
高精度スキャナシステム
測定・解析例
オプション
ノイズ可視化システムは、
ノイズ対策測定の効率化を実現しました。
国際規格準拠の磁界プローブで
EMI
対策設計効率を向上。
電磁妨害（
EMI
）抑制設計・信号品質（
SI/PI
）評価を支援します。
部
品
試
作
評
価
量
産
磁界プローブ測定磁界強度分布測定
ノイズ対策時間・コスト削減
EMI
設計ルール構築
利用
分野例
装置
基板
半導体
●シミュレーションとの ●検証ツール ●基板単体対策 ●フィルタ部品の効果検証 …etc
●対策測定の効率化 ●ノイズ進入ルートの検証 ●高速I/F
、ケーブル対策 …etc
モジュール
●単体ノイズ品質把握 ●モジュール内部のノイズ源探索、 ●対策効果検証 …etc
●電源ノイズ計測と ●モデル検証 ●半導体内部のノイズ源探索、 ●対策効果検証 …etc
EMI
のあらゆる問題解決にはノイズ源を特定し、ノイズ量を把握することが重要です。
●システム構成図 PCI-GPIB 同軸ケーブル モータコントロール / PCI スペクトラムアナライザ PC 高精度スキャナ 制御BOX 測定対象 装置、プリント基板、LSI
、モジュール、部品等 測定方式4
軸ステージにより磁界プローブを走査 測定範囲X,Y,Z
=
500
×500
×210
（mm
） θ=
±90
（deg
） 動作ステップX,Y,Z
=
0.01
（mm
） θ= 1
（deg
） 対応可能プローブCP-1S
、CP-2S
、MP-10L
、その他各種対応可能 外形寸法860mm
（W
）×862mm
（D
）×840mm
（H
（突起部を含まず）） 質量 約110kg
電源AC100V 400VA 50/60Hz
制御用インタフェース モータコントロールボード（PCI
）、PCI-GPIB
計測器 スペクトラムアナライザ 小型スキャナシステムは、高精度スキャナシステムをA3
サイズまで小型化 し、省スペース化を実現したスキャナシステムです。 計測機能はそのままにさまざまな場面で磁界強度分布（ノイズ）を計測・表示 できます。4
EM
200
小型スキャナシステム
●周波数表示 ●磁界強度分布（マップ）表示 ●周波数ポイント、周波数範囲、高調波成分、 ●ピークサーチ（検出、指定、削除） ●Ｘ方向、Ｙ方向データの合成表示 ●２つの測定データの差分表示 各種解析機能を複合することで、ノイズ源を正確 かつ詳細に解析し特定することができます。測定データ解析機能
あらかじめ測定対象の高さを測定し、測定対象の高さに非接触 でプローブを追従させながら、ノイズ分布を測定します。 測定した結果は、三次元グラフで表示できます。プローブ高さ追従機能
●DEMITASNX
®リンク ●レーザ位置調整・特定機能 ●各種プローブアタッチメントその他オプション機能
測定対象 プリント基板、LSI
、モジュール、部品等 測定方式4
軸ステージにより磁界プローブを走査 測定範囲X,Y,Z
=
200
×200
×100
（mm
） θ= 0
、90
（deg
）（2
位置） 動作ステップX,Y,Z
=
0.1
（mm
） 対応可能プローブCP-2S
、MP-10L
外形寸法297mm
（W
）×420mm
（D
）×500mm
（H
（突起部を含まず）） 質量 約15kg
電源AC100V 190VA 50/60Hz
制御用インタフェース モータコントロールカード（PC
カード×2
）、GPIB-USB
計測器 スペクトラムアナライザ GPIB-USB モータコントロール / PCカード（2） スペクトラムアナライザ 小型スキャナ 制御BOX PC ●システム構成図 同軸ケーブル メイン表示画面 マニュアル測定画面 オート測定画面 計測用ソフトウェア画面 X方向データ Y方向データ XY合成データ 詳細解析画面 計測用ソフトウェア画面 三次元グラフ表示画面 メイン表示画面 計測用ソフトウェア画面 合成 プリント基板配線データ表示画面 磁界分布測定データ表示画面 DEMITASNX® リンク合成画面 DEMITASNX®リンク やレーザ位置調整・特定 機能により簡単にノイズ 源の特定ができます。 計測用ソフトウェア画面 ●各種カスタマイズ対応 ●A3
サイズ 各種カスタマイズについてはご相談下さい。3
ノイズ可視化システム
ＥＭＩのあらゆる問題解決には、
ノイズ源を特定し、
ノイズ量を把握することが重要です。
磁界・電流測定システム
磁界プローブ法は、非接触型でありターゲットへの影響が少なく、実機配線上で使用することができます。 さらに超小型/
高周波磁界プローブの採用により、高空間分解能を実現、ピンポイントな測定ができます。磁界プローブ
磁界・電流測定システムは、磁界プローブを使用し、高周波磁界・電流を手軽に計測できます。計測ソフトウェアは、磁界・電流校正ライブラリおよび測定結果 解析、規格判定機能を標準装備し、変換・解析操作はマウス操作のみでスムーズに行えます。SW-EF
磁界・電流測定システム
磁界・電流測定システム
動作環境
EMC
設計
ノイズ可視化システム
ノイズ可視化システム
設計・評価ソリューション ● 試作∼量産サービス ●EMC
計測/
認証取得支援 ● 磁界プローブ/
ノイズ可視化システム ●LSI
評価（IEC
標準MP
法） および評価ボード設計 ●VCCI
キットモジュール妨害波測定 および評価ボード設計 設計システムソリューション ● ＥＭＣ対策技術の共同研究・開発 ● 対策技術のＣＡＤツール化 ● お客様設計部門へのＥＭＣ対策技術の 普及・展開支援 ●EMI
設計支援システム （DEMITASNX
®） 設計支援ソリューション ●EMI
対策 ● 回路/
プリント基板設計支援 ●EMC
設計コンサルティング ●PI / SI
＊2/ EMI
解析サービスNEC
エンジニアリング
設計・評価
ソリューション
設計支援
ソリューション
設計システム
ソリューション
OS Microsoft
®Windows
®2000 Professional
、Microsoft
®Windows
®XP Professional
CPU
インテル®Pentium
®4
プロセッサー（1.5GHz
以上）メモリ
64MB
以上 ハードディスク4MB
以上GPIB
PCMCIA/USB / PCI
＊3 スペクトラムアナライザアジレント・テクノロジー社製
ESA
シリーズ＊4 その他PC
カードスロット（TypeII
）、USB
スロット（USB1.1
以上）、CD-ROM
ドライブ（インストール時必要）、上記OS
に対応したプリンタ及びマウスOS Microsoft
®Windows
®2000 Professional
、Microsoft
®Windows
®XP Professional
メモリ
512MB
以上 ハードディスク 約30 MB +
データ保存用に約20GB
ディスプレイ 解像度：
1024
×768
ドット以上 表示色：256
色以上 スペクトラムアナライザアジレント・テクノロジー社製
ESA
シリーズ＊4高精度スキャナ
PCI
スロットの空きが2
スロット（モータコントロールボードおよびGPIB
ボード用）制御用
PC
仕様：
PCI
ローカルバス（Rev.2.1
以上）、32bit,33MHz
、5V/3.3V
信号環境 スロットサイズ：ショートサイズ［174.63mm
（D
）×106.68mm
（H
）］以上CD-ROM
ドライブ（インストール時必要）、上記OS
に対応したプリンタ及びマウスCPU
インテル®Pentium
®4
プロセッサー（1.5GHz
以上）小型スキャナ
PC
カードスロットの空きが2
スロット（Type
Ⅱ）（モータコントロールカード用）制御用
PC
USB
スロット（USB1.1
以上）（GPIB-USB
用）＊3CD-ROM
ドライブ（インストール時必要）、上記OS
に対応したプリンタ及びマウスCPU
インテル®Pentium
®4
プロセッサー（1.5GHz
以上） ＊2. PI：Power Integrity SI：Signal Integrity ＊3. 日本ナショナルインスツルメンツ株式会社製推奨。 その他の機種は要相談。 ＊4. アジレント・テクノロジー株式会社製推奨。 その他の機種は要相談。スキャナシステム（
4EM500
／
4EM200
）動作環境
e-DesignSolution
e-DesignSolution
は回路・プリント基板設計に関するDEMITASNX
® をはじめとした設計ソリューションサービス の総称です。 『設計システムソリューション』『設計支援ソリューション』 『試作・評価ソリューション』の3
つのソリューションサービス から構成されており、製品設計におけるさまざまな お客様のご要望に、多角的かつ最適なアプローチ方法で ソリューションをご提供致します。磁界電流測定システムは、
IEC
規格
＊（
1IEC61967-6
）や
VCCI
キットモジュール妨害波測定技術基準に適合した、磁界プ
ローブ法による非接触電流測定システムです。キットモジュール妨害波測定は本システムで対応ができ、今まで測定方法に
課題が多かった半導体や、高密度実装プリント基板、部品、モジュールなどの正確なノイズ測定ができます。
測定対象物 スペクトラムアナライザ2
重シールドケーブル 磁界・電流測定 システム 磁界プローブ用 固定治具 磁界プローブ 定盤 プリアンプ ●販売製品 ● 磁界・電流測定システム（SW-EF
） ● スペクトラムアナライザ対応ドライバ（DV-SW
） ● 磁界プローブ（CP-1S/CP-2S/MP-10L
） ●2
重シールドケーブル（2m
） ● 磁界プローブ固定治具及び定盤 ● スペクトラムアナライザ ● プリアンプ ●GPIB
インタフェース （PCMCIA/USB/PCI
） ●諸特性 ･測定周波数： 10MHz∼3GHz ･空間分解能（測定対象に依存）：約 0.14mm ･検出部サイズ： 1.2mm×0.7mm ･測定対象：高密度実装プリント基板SiP, SoC LSI内部など 対象 L/S=0.1mm/0.1mm ●諸特性 ･測定周波数： 10MHz∼3GHz ･空間分解能（測定対象に依存）：約 0.25mm ･検出部サイズ： 2mm×1mm ･測定対象： LSIパッケージ各ピン モジュールレベル 一般のPCB回路など 対象 L/S=0.1mm/0.3mm ※IEC規格（IEC61967-6）適合 ●諸特性 ･測定周波数： 150kHz∼1GHz ･空間分解能（測定対象に依存）：約 1.0mm ･検出部サイズ（カバー含む）： 12mm×3mm ･測定対象： LSI電源配線 VCCIキットモジュール妨害波測定対応 電源配線など 対象 L/S=1.0mm/2.0mm ※IEC規格（IEC61967-6）適合
CP-1S
CP-2S
MP-10L
測定システムの構築に関しては、お気軽にご相談ください。http://www.nec-eng.co.jp/
＊1. IEC：国際電気標準会議(International Electrotechnical Commission）
磁界・電流測定システム
GPIB
インタフェース お問い合わせは、下記へ 2010年3月現在 〒140-0002 東京都品川区東品川4-10-27（住友不動産品川ビル7F） TEL：03（6713）1200 FAX：03（6713）1965 URL： http://www.nec-eng.co.jp JCatF13304103 〒140-0002 東京都品川区東品川4-10-27（住友不動産品川ビル）NEC
エンジニアリング 営業本部●Microsoft、Windows、およびWindowsのロゴは、米国Microsoft Corporationの米国およびその他の 国における商標または登録商標です。 ●インテル、Intel Core、CeleronおよびPentiumはアメリカ合衆国およびその他の国におけるインテルコー ポレーションまたはその子会社の商標または登録商標です。 ●DEMITASNXは、株式会社NEC情報システムズの登録商標です。 ●ナショナルインスツルメンツは、ナショナルインスツルメンツ社の商標です。アジレント・テクノロジーは、アジ レント・テクノロジー社の商標です。 ●また製品名は予告なしに変更されることがありますので、あらかじめご了承ください。 ●本カタログに記載された仕様・外観などは予告なしに変更することがあります。日本国外に輸出する場合 には、日本国政府等の許可が必要です。
