レクロイのWaveScan詳細検索/解析ツールは次のような方法で使用できます。
• 捕捉と検索 – 単一の捕捉の実行、検索モードの設定、フィルタの適用（検索条件 の設定など）
• スキャン -- 検索モードの設定、フィルタの適用、複数の捕捉を実行して異 常なイベントを検出（ハードウェア・トリガに対してソフトウェア条件を定 義するなど）
• 解析 -- スキャン・オーバーレイ（ScanOverlay）とスキャン・ヒストグラム
（ScanHisto）を使用して、フィルタリング済みのイベントを詳細に解析 20種類以上の検索モード（周波数、立ち上がり時間、ラント、デューティ･サイクル など）を選択し、検索条件（勾配、レベル、スレッショールド、ヒステリシスなど）
を適用した後、ポスト捕捉環境で検索を開始できます。WaveScan の検索モードはハ ードウェア・トリガの単なる複製ではないため、より高度な機能がサポートされます。
たとえば、他のオシロスコープには「周波数」トリガはありませんが、WaveScanで は周波数を簡単にスキャン対象とすることができます。異常なイベントを発生日や時 刻で区分してデータセットを蓄積できるため、より高速のデバッグが可能になります。
各イベントにはタイム・スタンプと索引が付けられてテーブルに保存されます。その テーブルからイベントを個別に選択して表示できます。
異常なイベントが検出されたときに、特定のアクション（捕捉の停止、警告音の出力、
パルスの出力、画面の印刷、波形の保存、LabNotebook 項目の作成など）を自動的に 実行するような設定も可能です。
WaveScanの詳細については、オンライン･ヘルプを参照してください。
WaveScan
信号表示
WaveScan では次の 4 通りの方法で信号を表示できます。
• [ソース] ビューでは、条件に一致するすべてのエッジがハイライト表示され
ます。
• [ズーム] ビューでは、縦方向および横方向に波形図を拡大する、詳細な処理 を適用する、波形を保存する、説明ラベルを波形図に追加するなどの操作を 実行できます。
• スキャン・ヒストグラムでは、検索条件に一致するエッジに関する統計情報 が表示されます。
• スキャン・オーバーレイでは、捕捉された個々のエッジが別々のグリッド内 に相互に重ねられて表示されます。この表示モードではパーシスタンスを有 効にできます。
注意：表示されるグリッドの個数は、上記のどのビューを使用するのかに応じて1〜3個になります。
WaveScan ではこの機能が自動的に制御され、WaveScan 以外の通常の操作時と同様に、複数のグ
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WaveScan
検索モード
検索モードは捕捉の実行中に異常イベントを検出するために使用します。
• エッジ – 発生するエッジを検出する（勾配とレベルを選択可能）
• 非単調 – スレッショールドの再交差を検出する（勾配、ヒステリシス、レベルを選択 可能）
• ラント – スレッショールドを交差しないパルスを検出する（極性とスレッショールドを 選択可能）
• 測定 – フィルタリング（検索またはスキャン）条件に基づいて測定を定義する
パラメータ測定
WaveScanでは、パラメータ測定を使用してフィルタリング（検索またはスキャン）条件
を定義します。測定条件とフィルタ条件に一致する事象が WaveScan によって検出され ると、対象の領域がハイライト表示されます（検索とスキャンの両方）。さらにスキャ ンの場合は、オプションによりアクションを実行することもできます。利用可能なパ ラメータの個数は、オシロスコープにインストールされたオプションに応じて異なり ます。測定はフィルタ（検索条件）で定義されるイベントのみに対して実行されます。
稀な事象（±1σ、3σ、5σなど）を検出する測定を簡単にセットアップできるよう に、フィルタ･ウィザードが用意されています。
サンプリング・モード
WaveScanが有効になると、オシロスコープは常にリアルタイム・サンプリング・モ
ードに戻ります。
パラメータ解析
トレンド測定
測定パラメータのトレンド線は、特定時点以降に捕捉した個々の信号の測定ポイント 値をプロットした線グラフです。
1. メニュー・バーの [Measure 測定] にタッチした後、プルダウン・メニュー から [Measure Setup 測定のセットアップ] を選択します。
2. パラメータ・タブの 1 つ(P1〜P8) にタッチします。
3. [Source1 ソース1] フィールド内部にタッチし、ポップアップ・メニューか
ら入力波形を選択します。
4. [Measure 測定] フィールド内部にタッチし、ポップアップ・メニューからパ
ラメータを選択します。
5. ダイアログ・ボックスの下部にある [Trend トレンド] ボタンにタッチしま す。
トラック・ビュー
測定パラメータのトラック・ビューは、測定対象の信号と時間の関係を示す独自で特 別なグラフです。トラック・ビューは各サイクルにおける波形パラメータ（パルス幅 など）の変化を時間の経過に従ってプロットするグラフであり、シングルショット捕 捉の情報を表します。トラック・ビューを分析すると、問題のある信号特性（パルス 幅、周期、振幅など）を見つけることができます。
トラック・ビューをセットアップするには、ダイアログ・ボックスの下部にある [Track トラック] ボタンにタッチする以外、上記と同じ手順で行います。
JitterTrack ビュー
JitterTrackビューはトラック・ビューと似ていますが、サイクル間タイミング変動
（クロック・ジッタなど）の解析と、ソースに対する変動の追跡に使用される特殊な タイミング・パラメータ測定に適用されます。JitterTrack ビューは、オプションの
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ヒストグラム
ヒストグラムの作成と表示
注意：ヒストグラムを構成する捕捉の回数は、トレース・ディスクリプタ・ラベルの一番下の行 に表示されます。
単一パラメータ・ヒストグラムをセットアップするには [Measure 測定]ダイアログ・ボックスでの手順
1. メニュー・バーの [Measure 測定] にタッチした後、プルダウン・メニュー から [Measure Setup 測定のセットアップ] を選択します。
2. [My Measure カスタム測定] ボタンにタッチします。
3. パラメータ・タブの1つ（P1〜Px）にタッチします。
4. [Source1 ソース1] フィールド内部にタッチし、ポップアップ・メニューか
ら入力波形を選択します。
5. [Measure 測定] フィールド内部にタッチし、ポップアップ・メニューからパ
ラメータを選択します。
6. ダイアログ・ボックスの下部にある [Histogram ヒストグラム] ボタンにタ ッチします。
7. 作成されるヒストグラムが保存される 演算トレースにタッチした後、ポップ アップ・メニューを閉じます。
8. 上記で作成した演算トレースのトレー ス・ラベル にタッチします。
9. 右側のダイアログ・ボックス内で、
[Histogram ヒストグラム] タブにタッ チします。
10. [Buffer バッファ] セクションにある
[#Values 値の個数] フィールド内部に
タッチして値を入力します。
11. [Scaling スケーリング] セクションにあ
る [#Bins ビンの個数] フィールド内部 にタッチし、20〜2000の数値を入力し ます。
12. [Find Center and Width 中心と幅の調 整] ボタンにタッチして、ヒストグラ ムの中心点を決めます。または、
[Center 中心] フィールドと [Width 幅] フィールドの内部を順番にタッチ し、ポップアップ数値キーパッドを使 用して値を入力します。
[Math 演算] ダイアログ・ボックスでの手順
1. メニュー・バーの [Math 演算] にタッチした後、プルダウン・メニューか
ら [Math Setup 演算のセットアップ] を選択します。
2. 関数タブの1つ(F1〜Fx) にタッチします。利用可能な演算トレースの個数は、
オシロスコープにインストールされたソフトウェア・オプションに応じて異 なります。
3. [Graph グラフ] ボタンにタッチします。
4. [Source1 ソース1] フィールド内部にタッチし、ポップアップ・メニューか
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5. [Measure 測定] フィールド内部にタッチし、ポップアップ・メニューからパ
ラメータを選択します。
6. [Graph with グラフ モード] フィ
ールド内部にタッチし、ポップア ップ・メニューから [Histogram ヒストグラム] を選択します。
7. 右側のダイアログ・ボックス内 で、[Histogram ヒストグラム] タ ブにタッチします。
8. [Buffer バッファ] セクションにあ
る [#Values 値の個数] フィールド 内部にタッチして値を入力しま す。
9. [Scaling スケーリング] セクショ
ンにある [#Bins ビンの個数] フィ ールド内部にタッチして、20〜
2000の数値を入力します。
10. [Find Center and Width 中心と幅
の調整] ボタンにタッチして、ヒ ストグラムの中心点を決めます。
または、[Center 中心] フィール ドと [Width 幅] フィールドの内 部を順番にタッチし、ポップアッ プ数値キーパッドを使用して値を 入力します。
11. [Vertical Scale 垂直軸スケール] フ ィールド内部にタッチし、ポップ アップ・メニューから [Linear 1 次式] または [Linear Constant Max 上限付き1次式] を選択しま す。
1次式ヒストグラムは、値が蓄積 されるに従って伸び続けます。
上限付き1次式ヒストグラムは、
グリッド内部に納まるように継続 的に再スケーリングされます。
サムネイル形式のヒストグラムを表示するには
グリッドの下に表示されるヒストアイコン（サムネイル形 式のヒストグラム）は、パラメータ測定ヒストグラムの縮 小版です。ヒストアイコンを見ると、各パラメータの統 計的分布が一目で分かります。
1. メニュー・バーの [Measure 測定] にタッチした後、[Measure Mode 測定モ ード] ボタン[Std Vertical] Std Horizontal] My Measure）の1つを選択します。
2. [Histicons ヒストアイコン] チェックボックスにタッチすると、選択したパ
ラメータの下にヒストアイコンが表示されます。
注意：測定モードとして "My Measure"（カスタム測定）を選択した場合は、ヒストアイコンに タッチすると、ヒストアイコンが拡大されて通常のサイズのヒストグラムが即座に表示されま す。拡大されたヒストアイコンは、対応するトレースの上に重ね表示されます。"Std
Vertical" モードと "Std Horizontal" モードには、このような機能がありません。
パーシスタンス（重ね書き）ヒストグラム
波形から垂直スライスまたは水平スライスを切り取ることで、パーシスタンス表示の ヒストグラム（Histogram）を作成することもできます。その場合は、スライスの幅 と、波形上でのスライスの位置（垂直位置または水平位置）を指定する必要がありま す。
パーシスタンス（重ね書き）ヒストグラムの数学演算は通常のヒストグラムの数学演 算とは異なるため、通常のヒストグラム用に設定された中心点（Center）と幅
（Width）の影響を受けません。
パーシスタンス（重ね書き）ヒストグラムをセットアップするには
1. メニュー・バーの [Math 演算] にタッチした後、プルダウン・メニューか
ら [Math Setup 演算のセットアップ] を選択します。
2. 関数タブの1つ（F1〜Fx）にタッチします。利用可能な演算トレースの個数 は、オシロスコープにインストールされたソフトウェア・オプションに応じ て異なります。
3. [Source1 ソース1] フィールド内部にタッチし、ポップアップ・メニューか
ら入力波形を選択します。
4. [Operator1 演算子1] データ入力フィ
ールド内部にタッチし、[Select Math Operator 数学演算子の選択] メニュ ーからPhistogramを選択します。