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2.2 検出器

2.2.3 検出器 Geant4 ン

Geant4 (Geant4.10.00.p01) 検出器 ン

実行 Geant4 CERN 開発 ン ン

あ [2.37] 検出器 測定条件 応 基

ン 作成 以降 出力 評価

APD樹脂 影響 ン 形状 APD形状 影響 い

基 ン

使用 主 物理 表2.1 示 100 keV以 X線

起 因 相 互 作 用 模 擬 電 磁 相 互 作 用 (Livermore model) 使用 G4AtomicDeexicitation G4PhotoElectricEffect

G4LowEnergylonisation 情報 元 特性X線 電子 生成

あ え ン ン 輸送 用い

粒子生成閾値 10μm 設定

47 表2.1: ン 使用 主 物理

象 粒子 物理 応 物理相互作用

X線 G4PhotoElectricEffect 電吸

G4ComptonScattering ン ン散乱

G4RayeighScattering ―散乱

電子 G4elonisation 電

G4eMultipleScattering 多 散乱

G4eBramesstrahlung 制動放射

X線 電子 G4AtomicDeexicitation 特性X線放出

電子放出

ン 子

G4Scintillation ン ン

G4OpAbsorption 学的吸

G4OpBoundaryProcess G4OpRayleigh

屈 全 射

2.11 (a) 基 ン ン体系 示

空気中 APD 面(φ3 mm) 接着 EJ-256 ン (φ3搬

t2 mm) 配

置 ン ン (厚 0.2 mm) 覆わ い 使用

物質 特性 表 2.2 示 え 表 2.3 う 学的表面 設定

Ground back painted 粗 い 面 あ 外 側 射 塗 い 境 界 面

Polished 完全 滑 境界面 模擬 EJ-256 ン 特性 密度

値 設定 発 5200 photons/MeV 発 425

nm ン ン 子 放出 仮定

表2.2: ン 使用 物質 特性 物質 学的組成 密度(g/cm3) 屈 率

空気 ン 樹脂 EJ-256

ン(APD)

N0.76O0.23Ar0.01C0.00

C2F4

C1H1O1

C9H10 (Pb:5wt%) Si

1.20×10-3 2.2 1.0 1.11 2.33

1.0 1.0 1.52 1.58 1.92

48 表2.3: ン 定義 表面状態

学的表面 物質 種類 表面状態 ン/EJ-256

樹脂/ EJ-256 樹脂/APD EJ-256/APD *

Dielectric-Dielectric Dielectric-Dielectric

Dielectric-Metal Dielectric-Metal

Ground back painted Polished Polished Polished

* APD 用い 場合

(a) (b)

(c ) (d)

2.11:基 ン APD 面 垂直 断面 (a)

面 (b) 樹脂 あ ン APD 面 垂直 断面 (c) 面 (d) 寸法 応関係 表 い い

49 出力

2.12 視 (DAWN) 画像 基 ン

あ う 画像 出力 検出器 幾何学的 配置 想定通

あ 確 以降 ン 側面 中央 X線 67.4

keV φ0.1 mm 垂直 入射 初期条件 検出器出力 調査 行う

X線 青 ン ン 緑 表 ン X線励

起 発生 ン ン 模擬 成

2.12:基 ン ン体系

ン 中 損失 評価 感検出器 集

方法 行 ン体系 物質 感検出器 設定

感検出器 中 物理 損失 集

ン 感検出器 定義 各 粒

子 相互作用 起 付 格納

書 出 行 2.13 入射X線 子数106 photons 場合

損失 あ 全吸 ン 含 鉛 LX線

確 14 keV 付近 ン ン

示 ン ン連 部 現

様 APD 感検出器 定義 APD 面 到遉 ン

ン 子数 計算 入射 X 線 子数 2搬105 photons 場合 子数

2.14 示 全吸 置 348

photons 計算 値 発 X線 子数 決 ン ン

子数(5200 photons/MeV ×67.4 keV = 351 photons) 近 発生 ン ン 子 完全 集 状況 再現

テフ 線ビーム

 Φ プラスチック シンチ ータ

受光面 空気中

50

2.13:67.4 keV X線入射 EJ-256中 損失

ン結果

2.14:APD 面 到遉 ン ン 子数

ン結果

APD 面 到遉 ン ン 子数 検出効率�

式 定義

� =

子数 子数

入射X線 子数

(2.33)

51

式 子 決 積 領域 領域 い 子数領域

設定 検出効率ε _ � ε _ _ ℎ 々 求 ε _ �

2.14 形状 200 photons以 計数領域 算出 全領域 検出

効率 10.4% ε _ � =5.3% ε _ _ ℎ=5.1% ε _ �

2.1.1 計算 電効果 寄 固 検出効率 予想

検出効率 表

APD樹脂 影響

般的 浜 社製 APD 面 保護 面

樹脂製 存 樹脂 無 影響 2.11 (c) 2.11

(d) 示 樹脂 あ ン 作成 調査

基 ン APD 面 直 樹脂 (9.1

搬7.6 mm2

t0.4 mm[2.6]) 配置 場合 子数 置 基

ン 60% 減少 樹脂 子数 損失 及 影響 極 大 い 明 樹脂 いAPD 用い 検出器 効

率的 集 確

APD形状 ン 形状 影響

APD 高速特性 維持 検出効率 高 APD 面 寸

法 大 い ン 載 検出器 考え 場合 ン

裏面 ン ン 子 多 散逸 予想

方 四角形 面 方 都合 い状況 考え

以 状況 再現 基 ン 元 APD形状

ン 形状 変更 複数 作成 APD φ3

mm 5搬5 mm2 2 種類 用い ン ン 子数 (

2.14 応) 置 関数 求 1

ン ン 象 放 出 全 子 数 場 合 351 photons

67.4 keV搬5200 photons/MeV = 351 photons ン ン 子数

置 351 photons 割合 集 効率� 式 う

定義

� % =

子数 子数

放出 子数

(2.34)

表2.4 φ3 mm APD 4種類 異 形状 ン

52 々 載 場合 集 効率� あ 5搬5 mm2t2 mm ン 場

合 得 集 効率33% φ3搬t2 mm 場合( 2.15 (a) ) 60% 比 減少

APD ン 大 い配置 ン

裏面 多 ン ン 子 逃散 状況 再現 考え ( 2.15 (b) ) 方 φ2搬t2 mm ン 場合( 2.15 (c) ) 75%

φ3搬t2 mm 場合 比 増大 ン 断面 APD

い配置 相 的 ン APD 面 立体角

広 漏 抑え 考え 配置 X線

通過 ン 距 最良 配置 い X線

通過距 集 効率� 過 足 い配置 APD 面 断面 ン

載 場合 表2.5 面 5×5 mm2 APD

3種類 異 形状 ン 々 載 場合 集 効率�

示 表2.4 場合 様 結果 得

検出器 模擬 ン ン 作成

損失 ン ン 子数 計算 検出効率

計算値 妥当 値 得 般的 APD 備え 影響 着目 樹脂 無 集 効率 定 的 予測 え APD 面

ン 寸法 集 効率 関 係 調 X 線通過距 集 効率

� 両立 配置 APD 面 断面 ン 組 合わ

提案 2.2.1 明 検出器 条件 満 う製

表2.4: 3 mm APD 4種類 異 形状 ン 々 載 場合 集 効率�

ン 形状(mm) 5×5×t2 φ3×t2 φ3×t6 φ2×t2

集 効率��� (%) 33 60 68 75

表2.5:5×5 mm2 APD 3種類 異 形状 ン 々

載 場合 集 効率�

ン 形状(mm) 5×5×t5 5×5×t2 φ3×t2

集 効率��� (%) 79 78 85

53

2.15: ン APD 3 mm 構成

ン ン検出器 発生 漏 模式 ン 形状

(a) φ3搬t2 mm

(b) 5搬5 mm2t2 mm (c) φ2搬t2 mm

場合 示

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