今後の課題

本論文では、AWGを用いて低歪み2トーンテスト信号を発生した。しかし、その目的としては 通信用ADCの線形性テストに用いることである。そのため、発生させた低歪み2トーン信号が実 際にテスト信号として用いることができるのかを評価していくことが必要である。現在ADCを 取り寄せて測定しているが、出力データがうまく取れない状態である。よって、ADCからの出力 データ取得、取得したデータの評価方法決定、そして評価をすることが課題となる。

謝辞

本研究を進めるに当たり、御指導・御鞭撻を頂きました小林春夫教授に謝意を表します。また、

本研究に対し大変有意義なご意見・ご討論を頂きました半導体理工学研究センター（STARC）の アナログテスト容易化研究グループの関係者の皆様に謝意を表します。最後に、本研究をサポー トして頂きました名古屋大学新津葵一講師、安部隆文氏、村上正紘氏、新井薫子氏をはじめ、日々 の研究を支えて下さった小林研究室及び高井研究室の皆様に謝意を表します。

参考文献

[1] Y. Motoki, H. Sugawara, H. Kobayashi, T. Komuro, and H. Sakayori, “Multi-Tone Curve Fitting Algorithms for Communication Application ADC Testing”, Electronics and Commu-nication in Japan: Part 2, Wiley Periodicals Inc., vol.86, no.8, pp.1-11 (2003).

[2] M. Gustavsson, J. J. Wikner, N. N. Tan, CMOS Data Converters for Communications, Kluwer Academic Publisher (2000).

[3] B. Razavi, RF Microelectronics, Prentice Hall (1998).

[4] K. Wakabayashi, T. Yamada, S. Uemori, O. Kobayashi, K. Kato, H. Kobayashi, K. Niitsu, H. Miyashita, S. Kishigami, K. Rikino, Y. Yano, T. Gake, “Low-Distortion Single-Tone and Two-Tone Sinewave Generation Algorithms Using an Arbitrary Waveform Generator”, IEEE International Mixed-Signals, Sensors and Systems Test Workshop, Santa Barbara, CA (May 2011).

[5] K. Wakabayashi, K. Kato, T. Yamada, O. Kobayashi, H. Kobayashi, F. Abe, K. Niitsu, “Low-Distortion Sinewave Generation Method Using Arbitrary Waveform Generator”, Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Special Issue on Analog, Mixed-Signal, RF and MEMS Testing, vol.28, Issue. 5, pp.641-651 (Oct.2012)

[6] T. Yamada, O. Kobayashi, K. Kato, K. Wakabayashi, H. Kobayashi,T. Matsuura, Y. Yano, T. Gake, K. Niitsu, N. Takai, T. J. Yamaguchi, “Low-Distortion Single-Tone and Two-Tone Sinewave Generation Using Σ∆ DAC”, IEEE International Test Conference (poster session), Anaheim, CA (Sept. 2011).

[7] K. Kato, F. Abe, K. Wakabayashi, T. Yamada, H. Kobayashi, O. Kobayashi, K. Niitsu Low-IMD Two-Tone Signal Generation for ADC Testing”, IEEE International Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop, Taipei, Taiwan (May 2012).

[8] K. Kato, K. Wakabayashi, T. Yamada, H. Kobayashi, O. Kobayashi, K. Niitsu, “Low-Distortion Two-Tone Signal Generation with AWG”, IEICE Workshop on Circuits and Sys-tems, Awaji-Shima, Japan (Aug. 2012).

[9] K. Kato, F. Abe, K. Wakabayashi, C. Gao, T. Yamada, H. Kobayashi, O. Kobayashi, K.

Niitsu Two-Tone Signal Generation for Communication Application ADC Testing , The 21st IEEE Asian Test Symposium, Niigata, Japan (Nov. 2012).

[10] K Kato, M. Murakami, F. Abe, Y. Arai, H. Kobayashi, T. Matsuura,S. Mohyar, K, Ramin, O. Kobayashi, K. Niitsu, N. Takai, Low-Cost High-Quality Signal Generation for ADC Testing , IEEE International Test Conference, (Special Poster Session), Anaheim, CA (Nov.

2012).

[11] A. Maeda, A Method to Generate a Very Low Distortion, High Frequency Sine Waveform Using an AWG”, IEEE International Test Conference, Santa Clara, CA (Oct. 2008).

[12] S. C. Cripps, Advanced Techniques in RF Power Amplifier Design, pp.153-195, Artec House (2002).

[13] R. Schreier and G. C. Temes, Understand Delta-Sigma Data Converters, IEEE Press (2005).

[14] M. Laisne, “Future Challenges for Mixed Signal SOC Testing”, IEEE International Mixed-Signals, Sensors and Systems Test Workshop, Santa Barbara, CA (May 2011).

[15] F. Abe, K. Kato, H. Kobayashi, O, Kobayashi, N. Takai, K. Niitsu, ”Analog Filter for Low-Distortion Sinewave Generation Using Arbitrary Waveform Generator” IEEJ Technical Meeting of Electronic Circuits, ECT-12-075, Kumamoto, Japan (May 2012).

[16] C. Gao, K. Wakabayashi, K. Kato, F. Abe, H. Kobayashi, O. Kobayashi, T. Matsuura, K. Niitsu, N. Takai, “Digital-to-Analog Converter Architecture for Low Distortion Signal Generation”, IEEJ Technical Meeting of Electronic Circuits, ECT-12-20, Yokosuka, Japan (March 2012).

付録：業績

＜原著論文＞

(1) K. Wakabayashi, K. Kato, T. Yamada, O. Kobayashi, H. Kobayashi, F. Abe, K. Ni-itsu, ”Low-Distortion Sinewave Generation Method Using Arbitrary Waveform Genera-tor”, Journal of Electronic Testing : Theory and Applications,Special Issue on Analog, Mixed-Signal, RF, and MEMS Testing, Springer,vol.28,Issue. 5, pp.641-651 (Oct.2012) (2) Jiani Ye, Zachary Nosker, Kazuyuki Wakabayashi, Takuya Yagi, Osamu Yamamoto,

Nobukazu Takai, Kiichi Niitsu, Keisuke Kato, Takao Ootsuki, Isao Akiyama, Haruo Kobayashi, ”Architecture of High-Efficiency Digitally-Controlled Class-E Power Ampli-fier”, Key Engineering Materials, vol.487, pp.273-284 (Dec. 2011)

＜国際会議発表論文＞

(1) Kazuyuki Wakabayashi, Takafumi Yamada, Satoshi Uemori, Osamu Kobayashi,Keisuke Kato, Haruo Kobayashi, Kiichi Niitsu, Hiroyuki Miyashita, Shinya Kishigami, Kunihito Rikino, Yuji Yano, Tatsuhiro Gake, ”Low-Distortion Single-Tone and Two-Tone Sinewave Generation Algorithms Using an Arbitrary Waveform Generator”, IEEE International Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop,Santa Barbara, CA (2011.03) (2) T. Yamada, O. Kobayashi, K. Kato, K. Wakabayashi, H. Kobayashi,T. Matsuura, Y.

Yano, T. Gake, K. Niitsu, N. Takai, T. J. Yamaguchi, ”Low-Distortion Single-Tone and Two-Tone Sinewave Generation Using ΣΔ DAC”, IEEE International Test Conference (poster session) , Anaheim, CA (2011.09)

(3) Jiani Ye, Zachary Nosker, Kazuyuki Wakabayashi, Takuya Yagi, Nobukazu Takai, Ki-ichi Niitsu, Keisuke Kato, Takao Ootsuki, Osamu Yamamoto, Isao Akiyama, Haruo Kobayashi, ”Architecture of High-Efficiency Digitally-Controlled Class-E Power Ampli-fier”, IEEJ International Analog VLSI Workshop (AVW 2011), Bali, Indonesia (2011.11) (4) Keisuke Kato, Fumitaka Abe, Kazuyuki Wakabayashi, Takafumi Yamada,

Haruo Kobayashi, Osamu Kobayashi, Kiichi Niitsu, ”Low-IMD Two-Tone Signal Gener-ation for ADC Testing”, IEEE InternGener-ational Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop,Taipei, Taiwan (2012.03)

(5) K Kato, M. Murakami, F. Abe, Y. Arai, H. Kobayashi, T. Matsuura,S. Mohyar, K, Ramin, O. Kobayashi, K. Niitsu, N. Takai, ”Low-Cost High-Quality Signal Generation for ADC Testing”, IEEE International Test Conference, (Panel 2 Poster), Anaheim, CA (2012.11)

(6) Keisuke KATO, Fumitaka ABE, Kazuyuki WAKABAYASHI, Chuan GAO, Takafumi YAMADA, Haruo KOBAYASHI, Osamu KOBAYASHI, Kiichi NIITSU, ”Two-Tone Signal Generation for Communication Application ADC Testing”, The 21st IEEE Asian Test Symposium, Niigata, Japan (2012.11)

＜国内会議発表論文＞

(1) 加藤啓介、小林春夫任意波形発生器での2トーン信号相互変調歪みのデジタル補正電子情報 通信学会 ソサイエテイ大会、大阪2010.09

(2) 山田貴文、若林和行、上森聡史、小林修、加藤啓介、小林春夫デルタシグマDAC信号発生 回路でのデジタル歪補正技術電気学会 電子回路研究会、山梨2010.10

(3) 若林和行、上森聡史、、山田貴文、小林修、加藤啓介、小林春夫、新津葵一、松浦達治ADC テスト信号生成のためのAWG非線形性補正技術第64回FTC研究会、岐阜2011.01 (4) 山田貴文、若林和行、上森聡史、加藤啓介、小林修、新津葵一、宮下博之、小林春夫.高次

∆Σ DAC信号発生回路での歪キャンセル・ノイズ低減技術電子情報通信学会 総合大会、東

京(東日本大震災の影響により中止，学会認定発表扱い)2011.03

(5) 若林 和行 、山田 貴文、加藤 啓介、上森 聡史小林 修、小林 春夫、新津 葵一、山口 隆弘任 意波形発生器での非線形性補正アルゴリズムと実測による検証電気学会 電子回路研究会、

防衛大学校(東日本大震災の影響により中止，学会認定発表扱い2011.03

(6) 叶 佳霓、Nosker Zachary、若林 和行、八木 拓哉、山本 修、高井 伸和、新津 葵一、加藤 啓介、大朏 孝郎、秋山 功、小林 春夫デジタル制御Ｅ級電力増幅器の検討電気学会 電子回 路研究会、防衛大学校(東日本大震災の影響により中止，学会認定発表扱い)2011.03 (7) 加藤 啓介、若林 和行、山田 貴文、小林 春夫、小林 修、新津 葵一任意波形発生器を用いた

低歪み２トーン信号発生技術第24回 回路とシステムワークショップ、 淡路島2011.08 (8) 安部文隆、加藤啓介、若林和行、小林修、小林春夫、新津葵一インターリーブを用いた低歪

み２トーン信号発生技術電気学会電子回路研究会、ECT-11-084、長崎2011.10

(9) 安部文隆、加藤啓介、若林和行、小林春夫、小林修、新津葵一ADCテスト用低歪み信号発 生技術電気学会栃木・群馬支所主催 研究発表会、ETG-11-18、群馬2012.02

(10) 安部文隆、加藤啓介、若林和行、小林春夫、小林修、新津葵一任意波形発生器を用いた低歪 み信号発生技術電子情報通信学会 第28回 シリコンアナログRF研究会 中央大学2012.03 (11) 高 川、若林 和行、加藤 啓介、安部 文隆、小林 春夫、小林 修、松浦 達治、新津 葵一、高井 伸和低歪み信号発生用DA変換器アーキテクチャ電気学会 電子回路研究会、ECT-12-020、 横須賀2012.03

(12) K. Kato, F. Abe, K. Wakabayashi, C. Gao, T. Yamada, H. Kobayashi, O. Kobayashi, K.

NiitsuTwo-Tone Signal Generation for Testing of Communication Application Devices第 25回 回路とシステムワークショップ、 淡路島2012.07

(13) 安部 文隆、加藤 啓介、小林 春夫、小林 修、高井 伸和、新津 葵一任意波形発生器を用いた低 歪み信号発生技術でのアナログフィルタ要求性能電気学会 電子回路研究会、ECT-12-075、 熊本2012.10

(14) 村上 正紘、新井 薫子、Mohyar Nizam Shaiful、安部 文隆、加藤 啓介、小林 春夫、松浦 達治、小林 修、新津 葵一 、高井 伸和任意波形発生器を用いたノイズシェーピング技術電 気学会 電子回路研究会、ECT-12-085、熊本2012.10