唱・
EA
Hα
レーザー蛍光計測と同じ断面で測定した
Hα放 射光発光分布(実線)と DEGAS計算結果から求め た
Hα放射光発光分布(破線)
横軸は挿入図に示す小半径
rで、ある。測定の配置も挿 入図に示している。 DEGAS計算結果は、図 3‑ 7に 示されたレーザー蛍光測定の結果にベストフィットし たものを用いた 。
58
O
r r m m l
ハ
Uハ u
tEI
。
図 3 ‑9
30
L o c a l .
20
1 0
{ ご ∞ N E ¥ 色 ト 円 ︒ ニ
k c
z g
ヨ コ
HO
Z幻
g ω m w z
ハ
un v
唱E
‑ ‑
iプラズマが縦長断面になる箇所において測定さ れた Hs 放射光発光分布(白丸)、と DEGAS 計算 結果から求めた Hs 発光分布(実線)との比較 ここで、 DEGAS 計算結果は、プラズマと壁が接 触している箇所にソースがある場合 ( L o c a l . ) と 壁
に一様にソースが分布している場合 (U n i f.)の 2 つを考慮しており、それぞれの内訳を図中の 破線と 一 点鎖線で示している 。
1 0 0 0 900
R [mm]
0 800
図 3 ‑ 10
おいて、プラズ、マが大半径方向内似IJの真空容器壁と接触しており、その箇所に おいてリサイクリングが頻繁に行われているためである。この発光分布をシコ
ミレーションで再現するために、
DEGAS
計算は、まずノ:K.k
、応‑J‑の発生分布をプ ラズマと真空谷器壁が接触している領域に局在させて行った。そのがi呆を凶q J
破線で示している。しかし、この発生分布のみでは測定値を再現できないため に、水素原子の発生分布を真空容器壁に一様に分布させて計算し(図中』・点鎖 線)、両者の分布の比を変えて足し合わせることで、最も測定他と一致する分 布(図中実線)を再現した。この場合前者と後者の比を3とした場合に、測定 値に最も良く一致する分布を得た。
DEGAS
計算結果をL I F
の測定結果へフイツ テイングする際の暖昧さである1‑‑‑‑‑‑5eVの範囲内で、壁からの水素二原、ー了‑のエネル ギーを変化させたとしても、この比は+20%変化する程度である。プラズマ断面が縦長となる箇所でのリサイクリングの局庄は、水素原子密度 のヘリカル
l
ピッチ内での非一様性を引き起こす。縦長断面におけるHs
放射光 測定をもとに、DEGAS
で求めた最外殻織気面内での荷電粒子ソースは、横長断 面におけるLIFおよび、Hα放射光測定をもとに求めたそれと比べ、約2.5倍大きい。横長断面と縦長断面との間の荷電粒子ソースの分布は、 CCDカメラにより測定 したヘリカルピッチ内のHα放射光強度変化から評価した。評価した分布を凶3
‑11に示す。
さらに、図3‑12にトロイダルアレイの測定結果を示す。各トロイダルセクショ ンにおいて、同一配位でプラズマを見込む限りでは、ガスパフの行われている セクション
3
以外のセクションでは、ほぼ同じ発光強度となっている。以上のようなプラズマ全体をカバーした水素原子挙動の解析から、プラズ、マ 全体での水素原子密度分布を得た。
3 ‑5 粒子輸送解析
3 ‑5 ‑1 グローバルな粒子閉じ込め解析
前節までの解析により、プラズマ全体で、の水素原子密度分布が明らかとなっ
6 0
乏
4 3 2
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l
∞ ︻
1 5 0 N 2 } 8 5 ω υ
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2 2 . 5 1 1 . 2 5
ハ
Uハ
UT o r o i d a l a n g l e
1d e g )
ヘリカル lピッチにおけるトロイダル方向
単位長当たりの荷電粒子ソースの変化
図 3 ‑ 1 1
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~
∞ 19
S 10
...Q
~
ドキュメント内
竹永, 秀信
(ページ 70-74)