まとめ

この論文では ΔΣAD 変換器の量産時の短時間高精度積分非直線性の試験手法・アル ゴリズムを提案しシミュレーション検証した. 今後は実際の試験時間の見積もり, 高次 歪の考慮, 高次変調器への適用を検討していく.また, 実機での検証も行っていく.

参考文献

[1] G. Robert, F. Taenzler, M. Burns, An Introduction to Mixed-Signal IC Test & Measurement,

2nd Edition, Oxford University Press (2012).

[2] S. Pavan, R. Schreier, G. C. Temes, Understanding Delta-Sigma Data Converters, 2nd Edition,

IEEE Press (2017).

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謝辞

本研究を進めるにあたり, 群馬大学理工学府小林春夫教授より数々のご指導, ご鞭撻 賜りましたことをここに厚く御礼申し上げます. 3 年間でいただいた懇切丁寧なご助言 は本研究を適切な方向に導いてくださり, こうした成果を得ることができました. また 研究発表や技術研修, 講演会など様々な機会を何度もくださり, 多くの面で成長するこ とができました. 心より感謝いたします. 桑名杏奈助教には研究や生活を進める上での 様々なアドバイスやサポートをいただきました. この間でしたがお世話になり, 心より 感謝いたします. また客員教授であられる青木均先生, 落合政司先生, 恩田謙一先生, 小堀康功先生, 畠山一実先生には授業や講演会等で様々な電子回路の基礎をご教授い ただきました. 心より御礼申し上げます.

さらに本研究はローム社(ROHR Semiconductor Co., Ltd.)にサポートいただき, 特に佐 藤 賢央, 石田 嵩, 岡本 智之, 市川 保氏（ローム社）には多くの有意義なご意見をい ただきました. 深く感謝いたします. ローム社の皆様には打ち合わせにおいて有意義な 議論を頂きました. 深く感謝いたします. また数々の学会や打ち合わせ, イベントでは 多くの方々からご助言をいただきました. ここに感謝いたします. そして, 私は研究室 を入ったばかりとき, 色々なことを教えていただきながら2年間を一緒に研究すること のできた串田弥音氏に心より感謝いたします.

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研究業績

国際学会発表

[1] Jiang-Lin Wei, Nene Kushita, Takahiro Arai, Lei Sha, Anna Kuwana, Haruo Kobayashi, Takayuki Nakatani, Kazumi Hatayama, Keno Sato, Takashi Ishida, Toshiyuki Okamoto,

Tamotsu Ichikawa. “High-Resolution Low-Sampling-Rate ΔΣ ADC Linearity Short-Time

Testing Algorithm”. IEEE International Conference on ASIC, Chongqing, China

[2] Jiang-Lin Wei, Nene Kushita, Takahiro Arai, Lei Sha, Anna Kuwana, Haruo Kobayashi, Takayuki Nakatani, Kazumi Hatayama, Keno Sato, Takashi Ishida, Toshiyuki Okamoto,

Tamotsu Ichikawa. “Algorithm for ΔΣADC Linearity Test in Short Time”. Taiwan and Japan Conference on Circuits and Systems (TJCAS 2019), Nikko, Japan (Aug. 2019).

[3] Keno Sato, Takashi Ishida, Toshiyuki Okamoto,Tamotsu Ichikawa, Jiang-Lin Wei, Nene Kushita, Hirotaka Arai, Anna Kuwana, Takayuki Nakatani, Kazumi Hatayama, Haruo

Kobayashi, "An FFT-based INL Prediction Methodology for Low Sampling Rate and High

Resolution Analog-to-Digital Converter", IP Session 9C: Innovative Test Practices in

Japan, IEEE VLSI Test Symposium, Monterey, CA (April, 2019).

[4] Jiang-Lin Wei, Nene Kushita, Takahiro Arai, Lei Sha, Anna Kuwana, Haruo Kobayashi, Takayuki Nakatani, Kazumi Hatayama, Keno Sato, Takashi Ishida, Toshiyuki Okamoto,

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Tamotsu Ichikawa "High-Resolution Low-Sampling-Rate ΔΣ ADC Linearity Testing

Algorithm". 3rd International Conference on Technology and Social Science, Kiryu, Japan

(8-10 May, 2019)

[5] Jiang-Lin Wei, Nene Kushita and Haruo Kobayashi. "Limit Cycle Manage Using Random Signal in Delta Sigma DA Modulator", 5th International Symposium of Gunma University

Medical Innovation and 9th International Conference on Advanced Micro-Device

Engineering, Kiryu, (Dec. 6, 2018)

[6] Jiang-Lin Wei, Nene Kushita, Haruo Kobayashi, “Limit Cycle Suppression Technique Using Random Signal In Delta-Sigma DA Modulator”, IEEE 14th International Conference

on Solid-State and Integrated Circuit Technology, Qingdao, China (Nov. 2018)

[7] (Invited) Haruo Kobayashi, Jiang-Lin Wei, Masahiro Murakami, Jun-ya Kojima, Nene Kushita, Yuanyang Du, Jianlong Wang “Performance Improvement of Delta-Sigma

ADC/DAC/TDC Using Digital Technique”, IEEE 14th International Conference on

Solid-State and Integrated Circuit Technology, Qingdao, China (Nov. 2018)

[8] Keno Sato, Takashi Ishida, Toshiyuki Okamoto, Tamotsu Ichikawa, Jiang-Lin Wei, Nene

Kushita, Hirotaka Arai, Lei Sha, Anna Kuwana, Takayuki Nakatani, Kazumi Hatayama,

Haruo Kobayashi, "An Effective INL Test Methodology for Low Sampling Rate and High