STRJ WS: March 3, 2003 STRJ WS: March 3, 2003
日本の半導体R&Dコンソーシアムの将来展望
日本の半導体R&Dコンソーシアムの将来展望
SIRIJ技術委員長
(株)日立製作所 半導体グループ 技師長
下東 勝博
STRJ WS: March 3, 2003 STRJ WS: March 3, 2003
目 次
目 次
1. 緒 言
2. 半導体産業の転換点
3. 競争と協調 - コンソーシア
4. コンソーシア - 米国と日本
5. 日本の半導体コンソーシアの現状と将来展望
6. 結 言
STRJ WS: March 3, 2003 STRJ WS: March 3, 2003
1. 緒 言
1. 緒 言
1. 緒 言
1. 緒 言
STRJ WS: March 3, 2003 STRJ WS: March 3, 2003
2. 半導体産業の転換点
2. 半導体産業の転換点
2. 半導体産業の転換点
2. 半導体産業の転換点
STRJ WS: March 3, 2003
地域別半導体市場推移
0%
5%
10%
15%
20%
25%
30%
35%
40%
45%
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2000
200
1
米国 欧州 日本 アジア太平洋 出典:WSTS WSTS地域別半導体出荷実績地域別半導体出荷実績地域別半導体出荷実績地域別半導体出荷実績 0 500 1,000 1,500 2,000 2,500 3,000 3,500 4,000 4,500 5,000 20 01 /2 /1 20 01 /2 /1 20 01 /2 /1 20 01 /2 /1 20 01 /3 /1 20 01 /3 /1 20 01 /3 /1 20 01 /3 /1 20 01 /4 /1 20 01 /4 /1 20 01 /4 /1 20 01 /4 /1 20 01 /5 /1 20 01 /5 /1 20 01 /5 /1 20 01 /5 /1 20 01 /6 /1 20 01 /6 /1 20 01 /6 /1 20 01 /6 /1 20 01 /7 /1 20 01 /7 /1 20 01 /7 /1 20 01 /7 /1 20 01 /8 /1 20 01 /8 /1 20 01 /8 /1 20 01 /8 /1 20 01 /9 /1 20 01 /9 /1 20 01 /9 /1 20 01 /9 /1 20 01 /1 0/ 1 20 01 /1 0/ 1 20 01 /1 0/ 1 20 01 /1 0/ 1 20 01 /1 1/ 1 20 01 /1 1/ 1 20 01 /1 1/ 1 20 01 /1 1/ 1 20 01 /1 2/ 1 20 01 /1 2/ 1 20 01 /1 2/ 1 20 01 /1 2/ 1 20 02 /1 /1 20 02 /1 /1 20 02 /1 /1 20 02 /1 /1 20 02 /2 /1 20 02 /2 /1 20 02 /2 /1 20 02 /2 /1 B$ 米州 欧州 日本 アジア米国 ⇒
⇒
⇒
⇒ 日本
日本 ⇒
⇒
⇒
⇒ 米国
米国 ⇒
⇒
⇒ アジア
⇒
STRJ WS: March 3, 2003STRJ WS: March 3, 2003
半導体のGDP、電子機器に対する年次変化
(出典:Proc. IEEE, Vol.87, p.537, 1999 )10
10
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1
11
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1970
1970
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-11980
1980
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1990
1990
1990
2000
2000
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5全世界GDP
全世界GDP
全世界GDP
全世界GDP
全電子機器産業生産高
全電子機器産業生産高
全電子機器産業生産高
全電子機器産業生産高
全半導体生産高
全半導体生産高
全半導体生産高
全半導体生産高
投資額
投資額
投資額
投資額
マイクロプロセッサ生産高
マイクロプロセッサ生産高
マイクロプロセッサ生産高
マイクロプロセッサ生産高
DRAM
DRAM
DRAM
DRAM生産高
生産高
生産高
生産高
(年)生産高
(
生産高
(
生産高
(
生産高
(
BBBB
$)$)$)$)
17%CAGR 9% CAGR 4.5% CAGRSTRJ WS: March 3, 2003
0
20
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1940
1945
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1980
1985
Semiconductor Market Compared
to Steel Production
ST
EEL PROD
UCT
ION (M
t/Y
ear)
〔 〔〔 〔60〕〕〕〕 〔〔〔〔70〕〕〕〕 〔〔〔80〕〕〕〕〔 〔〔〔〔90〕〕〕〕 〔〔〔〔00〕〕〕〕YEAR FOR SEMICONDUCTOR
U.S.
JAPAN
CHINA
KOREA
STRJ WS: March 3, 2003 利益率推移 -10 -5 0 5 10 15 20 25 97年 98年 99年 00年 01年 % 半導体世界26社 携帯電話他 PC WS、オフコン他 売上高推移 0 20,000 40,000 60,000 80,000 100,000 120,000 140,000 160,000 180,000 200,000 97年 98年 99年 00年 01年 M$/年
世界の半導体と半導体応用3機器の売上高と利益率推移
(出所:矢野経済研究所)STRJ WS: March 3, 2003 STRJ WS: March 3, 2003
半導体産業の転換点
支出増/支出減相反施策の推進
一過性ではない
新製品・新技術の
スピーディな開発
高コスト体質の
解消
STRJ WS: March 3, 2003 STRJ WS: March 3, 2003
3. 競争と協調 - コンソーシア
3. 競争と協調 - コンソーシア
3. 競争と協調 - コンソーシア
3. 競争と協調 - コンソーシア
STRJ WS: March 3, 2003 STRJ WS: March 3, 2003
競争と協調の時代
- CO-OPETITION - A.M.Brandenburger and B.J.Nalebuff 1996
半導体業界
半導体業界
半導体業界
半導体業界
半導体業界
半導体業界
半導体業界
半導体業界
SUPPLIER
SUPPLIER
製造装置業界 材 料 業界CUSTOMER
CUSTOMER
システムハウスCOMPLEMENTOR
COMPLEMENTOR
官 ・ 学COMPETITOR
COMPETITOR
グローバル競争テクノネットワーク
テクノネットワーク
テクノネットワーク
テクノネットワーク
テクノネットワーク
テクノネットワーク
テクノネットワーク
テクノネットワーク
STRJ WS: March 3, 2003 STRJ WS: March 3, 2003
A B
A B
A B
A B
A B
A B
A B
A B
C
C
C
C
C
C
C
C
テクノネットワーク テクノネットワーク テクノネットワーク テクノネットワーク ・ 官 ・ 官 ・ 官 ・ 官 ・ 学 ・ 学 ・ 学 ・ 学 ・ 関連業界 ・ 関連業界 ・ 関連業界 ・ 関連業界過
去
過
去
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去
過
去
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去
過
去
過
去
過
去
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将
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将
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パ
ホ
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マ
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ス
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マ
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ス
パ
ホ
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マ
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ス
A B C
A B C
A B C
A B C
A B C
A B C
A B C
A B C
STRJ WS: March 3, 2003 STRJ WS: March 3, 2003
4. コンソーシア - 米国と日本
4. コンソーシア - 米国と日本
4. コンソーシア - 米国と日本
4. コンソーシア - 米国と日本
STRJ WS: March 3, 2003
米国
米国
米国
米国
1982
SRC 設立
設立
設立
設立
:
::
:
大学への共同研究委託大学への共同研究委託大学への共同研究委託大学への共同研究委託1987
SEMATECH設立
設立
設立
設立
:
::
:
国が半分出資、当初は国が半分出資、当初は国が半分出資、当初は国が半分出資、当初はDRAM開発、途中で製造装置評価に変更開発、途中で製造装置評価に変更開発、途中で製造装置評価に変更開発、途中で製造装置評価に変更(
(
(
(1992
NTRS::::
半導体技術ロードマップ開始、半導体技術ロードマップ開始、半導体技術ロードマップ開始、半導体技術ロードマップ開始、1998年より国際化:年より国際化:年より国際化:年より国際化:ITRS
に)に)に)に) <日米の半導体シェアが逆転> <日米の半導体シェアが逆転> <日米の半導体シェアが逆転> <日米の半導体シェアが逆転>2000
ISMT(International SEMATECH))))設立
設立
設立
設立
:1996
::
:
年頃より年頃より年頃より年頃よりSEMATECH
に国の支援に国の支援に国の支援に国の支援無くなる。 無くなる。 無くなる。 無くなる。
1998
年より国際化の子会社設立、欧台韓が加入、その後一本化。プロセス開発。年より国際化の子会社設立、欧台韓が加入、その後一本化。プロセス開発。年より国際化の子会社設立、欧台韓が加入、その後一本化。プロセス開発。年より国際化の子会社設立、欧台韓が加入、その後一本化。プロセス開発。1998
MARCO/FCRP設立
設立
設立
設立
::
:SRC
:
の子会社、基礎テーマで大学連合を形成。の子会社、基礎テーマで大学連合を形成。の子会社、基礎テーマで大学連合を形成。の子会社、基礎テーマで大学連合を形成。欧州
欧州
欧州
欧州
1989
JESSI 設立
設立
設立
設立
:
::
:
プロセス・アプリケーションまでの企業共同研究、プロセス・アプリケーションまでの企業共同研究、プロセス・アプリケーションまでの企業共同研究、プロセス・アプリケーションまでの企業共同研究、1998
年年年年MEDEA
に、に、に、に、2001
年年年年MEDEA+
になり続行。になり続行。になり続行。になり続行。EUREKAプロジェクト。プロジェクト。プロジェクト。プロジェクト。1984
IMEC設立
設立
設立
設立
::
:
:
地域の大学間研究センターが、欧州の半導体先端開発拠点に。地域の大学間研究センターが、欧州の半導体先端開発拠点に。地域の大学間研究センターが、欧州の半導体先端開発拠点に。地域の大学間研究センターが、欧州の半導体先端開発拠点に。 国際的にもオープン。 国際的にもオープン。 国際的にもオープン。 国際的にもオープン。台湾
台湾
台湾
台湾
1974
ERSO設立
設立
設立
設立
::
:
:
国の研究機関、国の研究機関、国の研究機関、国の研究機関、ERSO
よりよりよりよりUMC、
、
、
、TSMC
などのファンドリーを設立などのファンドリーを設立などのファンドリーを設立などのファンドリーを設立。
。
。
。
韓国
韓国
韓国
韓国
1983
COSAR設立
設立
設立
設立
:産官学による数次にわたる共同研究プロジェクト。
:産官学による数次にわたる共同研究プロジェクト。
:産官学による数次にわたる共同研究プロジェクト。
:産官学による数次にわたる共同研究プロジェクト。
海外の半導体コンソーシアム
海外の半導体コンソーシアム
海外の半導体コンソーシアム
海外の半導体コンソーシアム
STRJ WS: March 3, 2003
米国半導体産業における政府-大学-産業界の協力の仕組
国防総省(DOD) 防衛先端研究機構(DARPA) ($2B/年) 主 要 関 連 省 庁 商務省(DOC) 技 術 管 理 局(TA) OTP NTIS NIST ($1.1B/年) 海外 半導体メーカ 米国 半導体メーカ 米国半導体工業会(SIA) 国立研究所 先端プロセス研究 $300M/年 LBNL LLNL LANL ORNL SNL 半導体研究組合(SRC) ($35M/年) 先端研究組合(MARCO) International SEMATECH ($140M/年) SEMI/SEMATECH ($3.5M/年) 設計・テスト (U.C Berkeley) 配線 (Georgia工科大) 材料・デバイス 設計・ソフト 未定 未定 大学研究プロジェクト(FCRP) SRCプロジェクト参加大学 Lehigh、Cornell、Texas、UCB、Wisconsin、PRI Stanford、MIT、NY、Aryeny、CMU、Illinois 開発実行機関 共同研究 資 金 (将来 計$60M:$10M/センター) 75% 25% 50% 25% ($5M、10大学) ($5M、6大学) (50大学以上、300プロジェクト以上) 大 学 スポンサー カリフォルニア アイダホ アリゾナ、他 ATP ($200M/年) C R A D A 州政府 エ ネ ル ギ ー 省(DOE) ($7B/年)STRJ WS: March 3, 2003 STRJ WS: March 3, 2003 MACHINERY MAKERS INDUSTRIAL PARTICIPANTS VLSI PROJECT JOINT LABORATORIES MATERIALS SUPPLIERS EQUIPMENT SUPPLIERS SUBCONTRACTORS TOSHIBA GROUP TOSHIBA MACHINE TOSHIBA SEIKI TOKUDA TOKUDA DENKI ASIA ELECTRONICS KOKUSAI DENKI NEC TOSHIBA FUJITSU HITACHI MITSUBISHI LITHOGRAPHY CRYSTAL WAFER TESTING DAI NIPPON PRINTING TOPPAN SHINETSU HANDOTAI OSAKA TITANIUM TOKYO OHKA CANON NIKON USHIO DENKI RICOH KOKUSAI DENKI TAKEDA RIKEN NTT LABS
MITI VLSI PROJECT
Source:“Creating Advantage”,T.R.Howell,1992
日本のテクノストラクチャー
STRJ WS: March 3, 2003
国内半導体コンソーシアム・プロジェクトの推移
SIRIJ
1994
STARC
1995
Selete
1996
ASET
1996
SNCC構想
構想
構想
構想
2000
VSAC*
1998
JEITA
半導体幹部会
半導体幹部会
半導体幹部会
半導体幹部会
STRJ*
1998
プロジェクト
プロジェクト
プロジェクト
プロジェクト
あすか
あすか
あすか
あすか
*
2001
指針 実行フェーズ 実行フェーズ 実行フェーズ 実行フェーズ 提案フェーズ 提案フェーズ提案フェーズ 提案フェーズ半導体
半導体
半導体
半導体
MIRAI
プロジェクト
プロジェクト
プロジェクト
プロジェクト
2001
半導体技術ロードマップ 委員会 システムLSI開発 支援センター < < < <産官>産官>産官>産官> < < < <産官学>産官学>産官学>産官学> *(社)電子情報技術産業協会(JEITA)管轄 < < < <産>産>産>産> (出所:SIRIJ)STRJ WS: March 3, 2003 STRJ WS: March 3, 2003
5. 日本の半導体コンソーシアの
5. 日本の半導体コンソーシアの
5. 日本の半導体コンソーシアの
5. 日本の半導体コンソーシアの
現状と将来展望
現状と将来展望
現状と将来展望
現状と将来展望
STRJ WS: March 3, 2003
日本の半導体産業の発展に向けて
基盤研究
基盤研究
基盤研究
基盤研究
先行
先行
先行
先行技術開発
技術開発
技術開発
技術開発
SoCプロセスプロセスプロセスプロセス デバイス技術 デバイス技術 デバイス技術 デバイス技術 65nm Selete SoC設計技術設計技術設計技術設計技術 高位設計技術 DR,IP開発 STARC 基盤技術 原理実証 65-45nmMIRAI-PJ
AIST
ASET
SoC基盤技術
基盤技術
基盤技術
基盤技術
ASPLA
先端SoC研究
センター(仮称)
AIST
企業連携による
90nmプロセス
90nmDR&Library
STARC
AS☆☆☆☆PLA-PJEUVA
EUVL-PJ
高効率 生産技術 ASETHALCA-PJ
あすか
あすか
あすか
あすか-PJ
標準化技術
標準化技術
標準化技術
標準化技術開発
開発
開発
開発
出所 半導体産業研究所STRJ WS: March 3, 2003
半導体コンソーシア(民間)体系図
㈱先端SoC 基盤技術開発 ASPLA ㈱半導体理工学 研究センター STARC ㈱半導体先端 テクノロジース Selete あすか あすか あすか あすか プロジェクト HALCA プロジェクト MIRAI プロジェクト SIRIJ 半導体産業研究所 (技術研究組合) 超先端電子技術 開発機構 ASET (技術研究組合) 超先端電子技術 開発機構 ASET (独立行政法人) 産業技術 総合研究所 AIST (独立行政法人) 産業技術 総合研究所 AIST関係協力組織
関係協力組織
関係協力組織
関係協力組織
つくばSCR棟
(技術研究組合) 極端紫外線 露光システム 技術開発機構 EUVA (技術研究組合) 極端紫外線 露光システム 技術開発機構 EUVA 電子情報技術産業協会 JEITA 半導体幹部会 JEITA 半導体コンソーシア 委員会 AS☆☆☆☆PLA プロジェクト 出所 半導体産業研究所AS☆
☆
☆PLAプロジェクト
☆
プロジェクト
プロジェクト
プロジェクト
(アスプラ)
(アスプラ)
(アスプラ)
(アスプラ)
目的 目的 目的 目的 1) 1) 1) 1) 90nmノード対応ノード対応ノード対応SoC標準プラットフォームの構築ノード対応 標準プラットフォームの構築標準プラットフォームの構築標準プラットフォームの構築 ・ ・ ・ ・90nm設計基準および製造プロセスの標準化,共通設計基準および製造プロセスの標準化,共通設計基準および製造プロセスの標準化,共通設計基準および製造プロセスの標準化,共通Libなどの開発環境整備などの開発環境整備などの開発環境整備などの開発環境整備 ・ ・ ・ ・90nmノード世代の設計手法の確立ノード世代の設計手法の確立ノード世代の設計手法の確立ノード世代の設計手法の確立 2) 2) 2) 2) IP・・・・SoCの試作・検証による設計資産蓄積と流通化の試作・検証による設計資産蓄積と流通化の試作・検証による設計資産蓄積と流通化の試作・検証による設計資産蓄積と流通化 ・ ・ ・ ・IP検証シャトル便などの協同運用による設計資産蓄積と流通化推進検証シャトル便などの協同運用による設計資産蓄積と流通化推進検証シャトル便などの協同運用による設計資産蓄積と流通化推進検証シャトル便などの協同運用による設計資産蓄積と流通化推進 ・海外や大学などにも広く門戸を開き,デファクト化を推進 ・海外や大学などにも広く門戸を開き,デファクト化を推進 ・海外や大学などにも広く門戸を開き,デファクト化を推進 ・海外や大学などにも広く門戸を開き,デファクト化を推進 期間: 期間: 期間: 期間: 2002年年年 10月年 月月 ~月 ~~~ 2007年年年年 9月月月月 内容: 内容: 内容: 内容: 90nm対応対応対応対応 SoC設計プラットフォーム技術の確立設計プラットフォーム技術の確立設計プラットフォーム技術の確立設計プラットフォーム技術の確立 企画推進: 企画推進:企画推進: 企画推進: (社社社社)電子情報技術産業協会電子情報技術産業協会電子情報技術産業協会電子情報技術産業協会(JEITA) 半導体幹部会半導体幹部会半導体幹部会半導体幹部会 研究開発組織: 研究開発組織:研究開発組織: 研究開発組織: (株株株株)先端先端SoC基盤技術開発先端先端 基盤技術開発基盤技術開発基盤技術開発(ASPLA): : : : 相模原相模原相模原相模原 (株株株)半導体理工学研究センター株 半導体理工学研究センター半導体理工学研究センター半導体理工学研究センター (STARC): : : 新横浜: 新横浜新横浜新横浜 費用: 費用: 費用: 費用: ASPLA 500億円/億円/億円/億円/5年、 年、 年、 STARC 現在検討中年、 現在検討中現在検討中現在検討中 (2002.10現在) 人員: 人員: 人員: 人員: ASPLA 約約約120人、 約 人、 人、 人、 STARC 現在検討中 現在検討中 現在検討中 現在検討中 STRJ WS: March 3, 2003プロジェクト あすか (
プロジェクト あすか (
プロジェクト あすか (
プロジェクト あすか (Asuka))))
目的 目的 目的 目的 1) 先端1) 先端1) 先端1) 先端SoC開発の共通基盤の構築開発の共通基盤の構築開発の共通基盤の構築開発の共通基盤の構築 ・半導体の最先端、共通基盤技術の研究開発を世界に先駆けて行う ・半導体の最先端、共通基盤技術の研究開発を世界に先駆けて行う ・半導体の最先端、共通基盤技術の研究開発を世界に先駆けて行う ・半導体の最先端、共通基盤技術の研究開発を世界に先駆けて行う ・成果技術のディファクトスタンダード化を推進、 ・成果技術のディファクトスタンダード化を推進、 ・成果技術のディファクトスタンダード化を推進、 ・成果技術のディファクトスタンダード化を推進、SoC開発の共通インフラを提供開発の共通インフラを提供開発の共通インフラを提供開発の共通インフラを提供 2) 最先端技術の「壁」の共同克服2) 最先端技術の「壁」の共同克服2) 最先端技術の「壁」の共同克服2) 最先端技術の「壁」の共同克服 ・国研、大学との交流・連携し、半導体の基盤技術の確立と人材の育成 ・国研、大学との交流・連携し、半導体の基盤技術の確立と人材の育成 ・国研、大学との交流・連携し、半導体の基盤技術の確立と人材の育成 ・国研、大学との交流・連携し、半導体の基盤技術の確立と人材の育成 ・関連業界、海外コンソーシアムなどとの相補的協力・連携 ・関連業界、海外コンソーシアムなどとの相補的協力・連携 ・関連業界、海外コンソーシアムなどとの相補的協力・連携 ・関連業界、海外コンソーシアムなどとの相補的協力・連携 期間: 期間: 期間: 期間: 2001年年年 4月年 月月 ~月 ~~~ 2006年年年年 3月月月月 内容: 内容: 内容: 内容: 90~~~65nm SoC技術の確立~ 技術の確立技術の確立技術の確立 企画推進: 企画推進:企画推進: 企画推進: (社社社社)電子情報技術産業協会電子情報技術産業協会電子情報技術産業協会電子情報技術産業協会(JEITA) 半導体幹部会半導体幹部会半導体幹部会半導体幹部会 研究開発組織: 研究開発組織:研究開発組織: 研究開発組織: (株株株株)半導体先端テクノロジーズ半導体先端テクノロジーズ(Selete): 半導体先端テクノロジーズ半導体先端テクノロジーズ : : : つくばつくばつくばつくば (株 株株)半導体理工学研究センター株 半導体理工学研究センター (STARC): 半導体理工学研究センター半導体理工学研究センター : : 新横浜: 新横浜新横浜新横浜 費用: 費用: 費用: 費用: Selete 700億円億円億円/5年、 億円 年、 年、 年、 STARC 140億円億円億円億円/5年年年年 (2001.4現在) 人員: 人員: 人員: 人員: Selete 約約約250人、 約 人、 人、 人、 STARC 約約約100人約 人人人 あすか STRJ WS: March 3, 2003STRJ WS: March 3, 2003
技術力評価アンケート結果(STRJ)
0 20 40 60 80 100 デ バイス技術 デ バイス技術 デ バイス技術 デ バイス技術 設計技術 設計技術設計技術 設計技術 IP設計技術 IP設計技術 IP設計技術 IP設計技術 テ スト技術 テ スト技術テ スト技術 テ スト技術 リソ グラフ ィ技術 リソ グラフ ィ技術リソ グラフ ィ技術 リソ グラフ ィ技術 フロントエ ンド 技術 フロントエ ンド 技術 フロントエ ンド 技術 フロントエ ンド 技術 配線技術 配線技術配線技術 配線技術 ファ クトリ インテ グ レ- ショ ン ファ クトリ インテ グ レ- ショ ン ファ クトリ インテ グ レ- ショ ン ファ クトリ インテ グ レ- ショ ン 素材・ 部品材料技術 素材・ 部品材料技術 素材・ 部品材料技術 素材・ 部品材料技術 組立技術 組立技術 組立技術 組立技術 E SH E SH E SH E SH 計測技術 計測技術 計測技術 計測技術 欠陥削減技術 欠陥削減技術 欠陥削減技術 欠陥削減技術 モ テ ゙ リ ング ・シミュ レ- ショ ン モ テ ゙ リ ング ・シミュ レ- ショ ンモ テ ゙ リ ング ・シミュ レ- ショ ン モ テ ゙ リ ング ・シミュ レ- ショ ン 日 日 日 日 米米米米 欧欧欧欧 韓国韓国韓国韓国 台湾台湾台湾台湾設計技術、
設計技術、
設計技術、
設計技術、IP設計
設計
設計
設計
技術の分野では、
技術の分野では、
技術の分野では、
技術の分野では、
日本のポジションは
日本のポジションは
日本のポジションは
日本のポジションは
低下傾向
低下傾向
低下傾向
低下傾向
組立て、素材部
組立て、素材部
組立て、素材部
組立て、素材部
品分野分野で
品分野分野で
品分野分野で
品分野分野で
は、日本のポジ
は、日本のポジ
は、日本のポジ
は、日本のポジ
ションは高い
ションは高い
ションは高い
ションは高い
共通技術分野 共通技術分野 共通技術分野 共通技術分野 【 【【 【2001年上期アンケート実施】年上期アンケート実施】年上期アンケート実施】年上期アンケート実施】STRJ WS: March 3, 2003
設計環境マッピング
設計環境マッピング
設計環境マッピング
設計環境マッピング
ASPLA 標準プロセスライン /派生プロセス /派生ライブラリ デザインルール/標準ライブラリ/コモディティIP トラン ジスタ SI/PI モデル EDAツール 市販 企業内ツール プロセス 故障解析 テ ス ト ・ 設 計 故 障 解 析 不 良 箇 所 解 析 テ ス ト 組 込 OS 組み込み ソフト アナログ 組み込み メモリ IT環境 API 共 通 イ ン タ ー フ ェ ー ス デ ー タ ベ ー ス 企業内LAN コア IP (スターIP) (キラーIP) プ ロ セ ス 設 計 システムレベル設計 Low Power企業競争領域
企業競争領域
企業競争領域
企業競争領域
専用性の高い共通領域
専用性の高い共通領域
専用性の高い共通領域
専用性の高い共通領域
共通性の高い領域
共通性の高い領域
共通性の高い領域
共通性の高い領域
故障解析 IT環境 EDAツール IP・コア メモリ・アナログ OS・ソフト
(
((
(1
11
1)
))
)SoC
SoC
SoC
SoC設計力の徹底的な強化!
設計力の徹底的な強化!
設計力の徹底的な強化!
設計力の徹底的な強化!
SoC
SoC
SoC
SoC設計環境開発
設計環境開発
設計環境開発
設計環境開発
zシステムレベル自動設計
システムレベル自動設計
システムレベル自動設計
システムレベル自動設計
zフィジカルレベル最適化設計
フィジカルレベル最適化設計
フィジカルレベル最適化設計
フィジカルレベル最適化設計
IP(
IP(
IP(
IP(設計資産
設計資産
設計資産
設計資産))))活用
活用
活用
活用
zIP
IP
IP再利用・流通化技術
IP
再利用・流通化技術
再利用・流通化技術
再利用・流通化技術
z低消費電力化
低消費電力化
低消費電力化IP
低消費電力化
IP
IP
IP
SoC
SoC
SoC
SoC設計教育
設計教育
設計教育
設計教育
SoC
SoC
SoC設計生産性の大幅向上
SoC
設計生産性の大幅向上
設計生産性の大幅向上
設計生産性の大幅向上
SoC
SoC
SoC設計者の育成
SoC
設計者の育成
設計者の育成
設計者の育成
(
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(2
22
2)大学における
)大学における
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)大学におけるLSI
LSI
LSI
LSI研究支援と活性化
研究支援と活性化
研究支援と活性化
研究支援と活性化
STARC
STARC
STARC
STARC/
/
/
/大学共同研究
大学共同研究
大学共同研究
大学共同研究
あすかあすか設計技術開発の目的
J. Ueda/ 政策科学研究所01.12.07 STRJ WS: March 3, 2003STRJ WS: March 3, 2003 Iddq 欠陥検査 装置 不良ネット推定 故障論理 位置候補 レイアウト上 故障位置推定 サンプル処理 故障部位絞込み、 特性解析 故障原因推定 故障箇所構造解析 故障箇所 物理化学分析 故障物理 モデル 故障事例DB 原因プロセス特定 プロセス改良 論 理 解 析 論 理 解 析 論 理 解 析 論 理 解 析 故 障 物 理 位 置 推 定 故 障 物 理 位 置 推 定 故 障 物 理 位 置 推 定 故 障 物 理 位 置 推 定 故 障 物 理 解 析 故 障 物 理 解 析 故 障 物 理 解 析 故 障 物 理 解 析 現行技術 サブ90nm要開発技術 ・Cu配線欠陥(ボイド)検出 技術の高度化 ・ピコ秒オーダー発光解析 技術の高度化 OBIRCH、EMS、FIB、 液晶法、EBテスタ、 S-SQUID PICA SEM、 TEM ・三次元TEM ・応力分布解析技術 TEM/EDX、 TEM/EELS、 SIMS、 μAES AES、 XPS、 ・微細三次元不純物 プロファイル測定技術 → nSIMS ,SCM ・極微小部元素分析 化学構造分析
故障解析ワークフロー
CADシステム、 CADナビゲーション 利用故障推定 量産テストデータログ からの故障推定 顧客不良 インライン、スクリーニング、信頼性試験デバイスメーカ不良 DFD技術 解析テスター 不良再現 テストデータ解析 CD-SEM ・高性能化 ・Scatterometry ・CD-AFM ・EB-Holography ・ナノサージェリー(微細パッド、 裏面パッド、引き出し、断面出し) → 微細ダメージレス FIB装置 FIB ・post-Iddq (大電流高速測定技術) Iddqテスト 耐圧、異物 寸法、合せ、歩留 ファブデータベースあすか (株株株)株
Selete
(株株株)株STARC
参加企業
参加企業
参加企業
参加企業
・ ・・ ・半導体
半導体MIRAIプロジェクト
半導体
半導体
プロジェクト
プロジェクト
プロジェクト
・システムオンチップ先端
・システムオンチップ先端
・システムオンチップ先端
・システムオンチップ先端
設計技術(委託プロジェクト)
設計技術(委託プロジェクト)
設計技術(委託プロジェクト)
設計技術(委託プロジェクト)
・
・・
・ASET受託研究テーマ
受託研究テーマ
受託研究テーマ
受託研究テーマ
製造装置・材料メーカー
製造装置・材料メーカー
製造装置・材料メーカー
製造装置・材料メーカー
EDAベンダー
ベンダー
ベンダー
ベンダー
連携 連携 連携 連携 共同 共同共同共同 開発 開発開発 開発 協力 協力協力 協力プロジェクト
プロジェクト
プロジェクト
プロジェクト“
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“あすか(
あすか(
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あすか(Asuka))))””””
0.1μm~0.07μm SoC技術開発
NEDO
協力 協力協力 協力あすかの研究体制と課題
あすかの研究体制と課題
あすかの研究体制と課題
あすかの研究体制と課題
JEITA 半導体幹部会半導体幹部会半導体幹部会半導体幹部会海外コンソーシアム
海外コンソーシアム
海外コンソーシアム
海外コンソーシアム
大学
大学
大学
大学
サービス サービス サービス サービス メンテナンス メンテナンスメンテナンス メンテナンス STRJ WS: March 3, 2003STRJ WS: March 3, 2003 STRJ WS: March 3, 2003
6. 結 言
6. 結 言
6. 結 言
6. 結 言
STRJ WS: March 3, 2003 STRJ WS: March 3, 2003
コンソーシアの将来展望 -まとめー
1. 新時代のビジネスモデル
2. 守りから攻めへ
設計技術、故障解析、材料・部品
コンソーシアム特許
3. 「関係」 - ネットワーク組織へ
官・学 - システムハウス - 材料・装置
サービス・メンテナンス
4. 運営上の諸課題の粘り強い解決
インセンティブ 成果評価
STRJ WS: March 3, 2003