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ShinjiHamamoto ,ToshirohDoy KenzoYokoyama InfluenceofSurfactantsonPolishingPerformancesofCMPSlurry cMP 用スラリーにおける界面活性剤の加工特性に及ぼす挙動

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Academic year: 2021

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(1)

cMP 用スラ リーにおける界面活性剤 の加 工特性 に及 ぼす挙動 I nf lue nc eo fS u r f a c t a n t so nPol i s hi ngPe r f o r ma nc e so fCMPSl u r r y

浜元 伸二 1*、土肥 俊郎2、横 山 健三 l

S h i n j i Ha ma mo t o

l

,T o s h i r o hDo y

2

, Ke n z oYo k o y a ma

l lユ シロ化学工業株式会社

Yus hi r oChe m i c a lI nd us t r yCo.

,

Lt d.

2埼玉大学 教育学部 機械技術研究室

Me c ha ni c a lEngi ne e r i ngLa b. ,Fa c ul t y ofEduc a t i o n,Sa it a m aUni ve r s i t y

Abs t r ac t

Thei nf lue nc eo ft hr e edi f fe r e nti o nt ypes u rf a c t a nt sonf u

m

e ds i l i c as l ur r ywa ss t udi e d.Thei nc r e a s eofr e mova l r a t ewa sobs e r ve dwhe n

th

es ma l la m ou ntofl o nge ra l kylc ha i na ni o ni cs ur f a c t a ntwa sa dde dt ot hes l ur r y. Thea ddi t i o n ofc a t i o m ics ur f a c t a ntc a us e d

th

es i g ni f ic a ntde c r e a s eofr e mo va lr a t e.Thea ddi t i onofnom io ni cs ur f a c t a nts ho we dt he mode r a t ede c r e a s eofr e mo va lr a t e.The s edi f fe r e nc e sofpol i s hi ngpe r f o r m a nc e sa rec o ns i de r e dt obec a us e dbyt he i

nt e r a c t i o nbe t we e ns ur f a c t a nt sa nda br a s i ves / Si O2丘l m f or m e dove rs i l i c onwa f e r .

Ke yWor ds : C

M

P,Sl

urr

y ,Sur f a c t a nt

,A

ni o n,Ca t i o n, No ni o n

1.緒言

LSI

デバイスの高速化 ・高集積化が進む中で、

配線の多層化が重要 となっている。この多層配線 を実現す るためのキーテ クノロジー と して平坦 化(

Pl a na ri z a t io n)加 工技術 が あ り、 中で も C

M P

( Che m i C a l Me c ha n i c a lPo l i s hi ng)

技術が数多 く導入 されている 1)。今後超

LSI

デバイスの高速化 ・高 集積化がますます進行す る中で

C

MP加工におけ る加 工 レー トや表面粗 さに対す る要求 もます ま す厳 しいもの となってきている。

CM

P加工用スラリーは一般的に水、砥粒お よび 添加剤か ら構成 されている。添加剤の一つである 界面活性剤は、その添加 によ り加工性能 を大きく 変化 させ ることが知 られている。このよ うな変化 を引き起 こす要因 としては、界面活性剤 の添加 に よ りスラ リーの湿潤性 ・浸透性 ・分散性 ・研磨粉

*

〒25 3 ‑ 01 9 3

神奈川県高座郡寒川町 田端

1 5 8 0

電話 :

0 4 6 7 ‑ 75 ‑ 01 7 5 FAX :0 4 6 7 ‑ 75 ‑ 01 5 7 E‑ Ma il:S ‑ ha m a m o t o& s hi r o. c o. j p

23

の排 出性 な どの変化お よび被研磨材料や砥粒‑

の吸着が考えられ る。 従って、界面活性剤 を添 加 したスラリーのCMP加工性能を明確 にす るこ とによ り、加工 レー トや表面粗 さを自由にコン トロールできるスラ リーの開発 が可能 となる と 考える。

本研究では、代表的なアニオ ン界面活性剤 、 カチオ ン系の官能基 を有す る添加剤お よび ノニ オ ン界面活性剤 をヒュ‑ム ドシ リカ分散スラ リ ーに添加 した場合の加工特性 に及ぼす影響 につ いて検討 を行った。

2.実験方法 と加工条件

(1)界面活性剤

表 1に検討 に用いた界面活性剤お よび添加剤 を示す。アニオ ン界面活性剤 としては、アル キ ル鎖長の異なる

3

種類の脂肪酸せ っけんを選 定 した。カチオン系添加剤 としてはカチオ ン系の 高いア ミノ基 を有す るポ リエチ レンイ ミンを選 定 した。 ノニオ ン界面活性剤 としては、ポ リオ キシエチ レンアル キルエーテル型 ノニオ ン界面

(2)

活性剤 を選定 した。

表 1 実験で とりあげた界面活性剤

分類 化合物

アニオン

界面活性剤 カプ リル酸ナ トリウムラウリン酸ナ トリウム オ レイ ン酸ナ トリウム カチオ ン系 ポ リエチ レンイ ミン 添加剤 (分子量

=1 800)

ノニオン

界面活性剤 ‑テル (ポ リオ キシエチ レンアル キル エエチ レンオキサイ ド付加

( 2)

実験方法 ・装置 と評価方法

表 2に加工条件 を、図 1に加工装置の外観写 真 を、図

2

に加工装置の概略図を示す。スラリ ーは、表

1

に示 した界面活性剤 と純水お よび ヒ ュ ‑ ム ドシ リカ 分 散 ス ラ リー 濃 厚 液

( Si

O 2

2

5 w

t.%)を混合す ることによ り、所定の砥粒濃度

( Si

O 2

1 2. 5wt . %)

と界面活性剤濃度 になるよ う調 製 した。

加 工 レー トは、加工前後の酸化膜 の厚 さを干 渉式膜厚計

( SENTECH

社製

FTP5 00 )

を用いて 測定 し、膜厚 の変化 を加工時間で割 ることで算 出 した。

2

加工条件

項 目 条件

被研磨材料 酸化膜

( p‑ TEOS

膜) パ ッ ド

Ⅰ C1 000/SUBA400

スラリー ヒユーム ドシ リカ分散スラ リー

( Si

O 2

1 2. 5 wt . %,pH 1 0. 8)

加工装置 小型修正 リング式研磨装置

(ラップマスター

1 5 )

加工圧力

500g/c m

2

定盤 回転数

30r pm

2 4

1

加工装置外観

2

加工装置概略図

3.実験結果

(1)アニオン界面活性剤の影響

3

にアニオン界面活性剤 の添加 量を変 えて 調製 したスラリーの加工 レー トを示す。スラ リー にアル キル鎖長 の異 なる脂肪酸せっけんを添加 すると、アルキル鎖長の短いカプ リル酸ナ トリウ ムでは加工 レー トはほとん ど変化 しないが、アル キル鎖長が長い ラウリン酸ナ トリウム とオ レイ

150 I? 1⊥ 1ユ 1■

H

? 1⊂∈l 43210000

芸 lO9O0 OC8●C1AC1‑Na28‑Na‑Na 0

A

0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 1

図3加工レー トに及ぼすアニオン界面活性剤の影響

(3)

ン酸ナ トリウムでは、低添加量で加工 レー トが高 くな り、添加量が増 えると再度低下す る傾 向が認 め られた。今回検討 した脂肪酸せっけんにおいて は、カプ リル酸ナ トリウム、ラウリン酸ナ トリウ ム、オ レイ ン酸ナ トリウムの順 に表面張力が下が る、分散力や可溶化力が向上す るな ど界面化学的 能力 は強 くなる2)。従って、低添加量時に加工 レ ー トが高 くなったのはアニオ ン界面活性剤 の添 加 によ りス ラ リーの界面化学的作用が高 くなっ たためと考えられ る。その後、添加量の増加 に伴 い加 工 レー トが低下 したのは砥粒お よび被研磨 材‑の界面活性剤の吸着によると考える。

( 2)カチオン系添加剤の影響

図 4にカチオン系添加剤 の添加量 を変 えて調 製 したスラリーの加工 レー トを示す。カチオン系 添加剤 を少量添加 しただけで、加工 レー トは著 し

く低下 した。これはカチオ ン性の強いア ミノ基が 砥粒 または被研磨材表面に存在す るシラノール 基 と強い吸着力で結合 し、スラリーの化学的作用 や機械的作用が妨害 されるためと考える。

0

? 120{ 100

.H 40.5 80l 60̲ 異 20

\ \

0l芦 ●

図4加工レー トに及ぼすカチオン系添加剤の影響

( 3)ノニオ ン界面活性剤の影響

5

にノニオ ン界面活性剤 の添加量を変 えて 調製 したスラリーの加工 レー トを示す。加工 レー トはエチ レンオキサイ ド付加モル数の増加お よ び添加量の増加 に伴い低下 した。この理 由 として はノニオ ン界面活性剤 が砥粒お よび被研磨材 に 吸着す るためと考える。特に添加量が少ない試料 での加工 レー トの低下が大 きいことよ り、低添加 量での検討 をよ り広いエチ レンオキサイ ド付加 モル数 において行なった。

25

6

に横軸 にエチ レンオキサイ ド付加 モル数 (グラフ中では

EO

と略す)を取ったものを、図

7

に横軸 に界面活性剤添加 量を取った ものを示 す。検討結果 よ り、以下のことが分かった。

エチ レンオキサイ ド付加モル数 が5モル か ら

9

モル までの加工 レー トは添加 量 に かかわ らず直線 的に低下 し

、7‑ 9

モル以 上の付加モル数 ではほぼ横 ばい となる。つ ま り、親水性が低い方が加 工 レー トの低下 は少ない。 この理 由としては、砥粒である シ リカや被研磨材 であるシ リコン酸化膜 の親水性が高いために、親水性の高いエチ レンオキサイ ド付加モル数 の多い ノニオ ン界面活性剤 の方 が よ り強 く吸着す るた めと考える。

エチ レンオキサイ ド付加モル数 が

7

モル 以上 の ノニオ ン界面活性剤 を添加 した場 合、添加量が

0. 1 %までは加工 レー トは急激

に低下 し、その後はほとん ど変化 しない。

これ は界面活性剤 の添加 量が増 えるに伴 い、砥粒や被研磨材 に吸着す る界面活性剤 が増加 し

、0. 1 %付近で飽和に達す るため と

考え られる。また、界面活性剤の添加 に伴 い、スラリー液の界面活性能力が高まって い くが、0.1%付近で臨界 ミセル濃度に達す るた めにその後変化 しな くなる可能性 も 考え られ る。

0

l一

〇一 EO=3E0‑5 ‑‑公一EO=7

.⊆ 160

喜 140

l 120

̲HI= 1 00

fミ 80

図5加工レー トに及ぼすノニオン界面活性剤の影響

(4)

l

190 180

∈ 170

5 160

.

H

l 151400

131200 f

t

+ 0.l + 0.5

.D 1

5

一一一「●

0

5 10 15 20 2

図6加工レー トに及ぼすノニオン界面活性剤の影響

‑EO付加モル数 ‑

図7加工レー トに及ぼすノニオン界面活性剤の影響 一活性剤添加量 ‑

4.考察

ヒュ‑ム ドシ リカを分散 した

C

MP用スラ リ ーにイオ ン性の異 なる界面活性剤 を添加 した場 合の加工特性‑の影響 について検討 を行 った結 果、界面活性剤添加時の加工 レー ト‑の影響に ついては、そのイオ ン性 によ り大 きく異 なるこ とが分かった。 この理 由 としては、活性剤 と砥 粒/被研磨材表 面 との相互作用 に よる と考 える (図 8)。今回の検討 に使用 したスラ リーはアル カ リ性であるため、砥粒や被研磨材である

S i

O 2

表面のシラノール基はマイナスの電荷 を帯びて いる。一方、アニオ ン活性剤 は水 中で解離 し、

マイナスの電荷 を帯び るため

、S i

O 2表面のマイ ナスの電荷 とは反発す る。 これに対 して、カチ オン系添加剤 は水 中でプラスの電荷 を帯び るた

、S i

O 2表面のマイナスの電荷 と引き合い、強 固に結合 して しま う。 ノニオ ン活性剤 は水 中で 帯電 しない ことよ り

、S i

O 2表面 との相互作用は 少ない。

これ らのことか ら、砥粒や被研磨材表面に最 も吸着 しづ らいアニオ ン活性剤 の影響が最 も少

26

なく、次いでノニオ ン活性剤の影響が少 ない も の と考える。砥粒や被研磨材表面 と強固に結合 して しま うカチオ ン系添加剤 は、結合 した膜 が が保護膜 のよ うな作用 をす るため、加 工を阻害

して しま うもの と推察す る。

図8界面活性剤の種類と砥粒/被研磨材表面との相互作用 5.結言

研磨 レー トや表面粗 さを調整可能 なス ラ リー の開発 を 目的 として、各種界面活性剤 をシ リカ 分散 スラ リーに添加 した場合の加工特性 につい て検討 を行 った。その結果、研磨 レー トは界面 活性剤のアルキル鎖長やエチ レンオキサイ ド付 加モル数、添加 量に大 きく依存す ることが判 明

した。

今後は界面活性剤添加時のスラリー液性状や 砥粒‑の吸着挙動 と加工性能 との関係 を明確化 す る方向で、検討 を行なってい く予定である。

また、シ リカ系以外の砥粒分散スラ リー につい ても同様の検討 を行な う。

[ 讃描き ]

本研究を遂行す るにあた り、ご協力戴 きま し た浮穴仁氏 をは じめ とす る埼玉大学 土肥研究 室の方々、な らびにユシロ化学工業㈱の武藤俊 美氏は じめ関係者の方々に深 く感謝いた します。

<参考文献>

1 )

土肥俊郎 :詳説半導体

CMP

技術

,2 0 01

,工業 調査会

2)稲葉恵一 ら :脂肪酸化学

,1 9 8

1,幸書房

3 )

浜元,i肥 ら

: 2 0 01

年精密工学会東北支部学術講

演会講演論文集

、p3 9( 2 0 0

1)

4 )

浮穴,浜元,土肥 ら :

2 0 0

1年精密工学会東北支部 学術講演会講演論文集

、p41( 2 0 01 )

以上

図 3 加工レー トに及ぼすアニオン界面活性剤の影響

参照

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