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フェムト秒レーザとナノ秒レーザによる有機薄膜レーザ加工

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Academic year: 2021

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愛総研・研究報告 第 17号 2015年

フェムト秒レーザとナノ秒レーザによる有機薄膜レーザ加工

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Femtosecond Laser and Nanosecond Laser

津 田 紀 生 ¥ 牧 野 佑 紀

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, 小 野 秀 介

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Abstract Organic thin film is processed by femtosecond and nanos巴condlaser.Surfac巴properties訂E evaluated by observation with laser microscope, and proc巴:ssingdepth and area is measured. Radiation intensity 企omlaser plasma near surface of organic thin film is observed using a spectrometer. Electron temperature is measured from the ratio ofthe spectral intensity. Femtos巴condlaser processing quality is better and the required laser energy is lower in comp出sonwith nanosecond las巴rone. 1.はじめに 有機薄膜太陽電池は、将来の再生可能エネルギー源とし て考えられる。有機薄膜太楊電池のモジュール化にはパタ ーニング加工!)が必須でありレーザを用いることで集積度 の高いデバイスを製作することが出来ることが 2008年に 三菱商事株式会社、独立行政法人産業技術総合研究所及び トッキ株式会社によるによって発表されている。 一般に無機太陽電池は活性層の成膜にマスキングを行 った後でプラズマ CVD(ChemicalVapor Deposition)法やス パッタリング技術を用いて行われるが有機化合物を用い る場合はこのような手法は好ましくないc 有機化合物は遷移温度が非常に低いことから高温高圧 の環境下では材料の構造が維持されず吸収波長特性など, 一定の品質を維持した成膜ができないと考えられる。 有機薄膜太陽電池の実用化には、集積度を高めるために レーザバターニング加工を行うことが研究されている。大 量生産では品質管理のために加工をモニタリングする必 要もある。レーザ加工時に発生するブロラズマを構成する物 質は除去された材料で構成されているためプラズマを用 いた診断技術はより直接的に加工品質を理解することが 出来ると期待される。診断にプラズマ分光計測技術を導入

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愛 知 工 業 大 学 工 学 部 電 気 学 科 ( 豊 田 市 )

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愛知工業大学大学院工学研究科(豊田市)

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前田工業株式会社(東海市) すると加工状況やプラズ、マを乱さない、複雑な計算を必要 としない診断が可能であるロ今回はレーザ誘起プラズ、マ分 光計測法により測定された試料表面位置でのプラズマの 温度や加工した深さや面積との関係を調べた。 2. 実験方法 加工時の実験配置図を図 1に示す。フェムト秒レーザ は、 THALESLASER社裂の Ti:sapphireレーザ、 ALPHAIO を使用した。フェムト秒レーザの発援波長は 800nm、レー ザパルス幅はく300fsである。一方、ナノ秒レーザは、 LOTIS 社製の YAG(Yittrium Alminum Gamet)レーザ、 LOTISTII LS・2135を用いた。 YAGレーザの発振波長は 1064nm、レ ーザパルス幅は 12nsである。レーザ光の光強度分布は、 どちらもガウス分布である。 レーザ光は、焦点距離 15伽nmの軸外し放物面鏡でター ゲットに空気中で集光照射した。加工によって除去された 材料が加工領域に再堆積しないように加工ステージは地 面に対して垂直に設置した。加工された領域の観察は、キ ーエンス社製のレーザ顕微鏡VK-X200を使用した。レー ザ顕微鏡の分解能は、 Z軸方向で 1nm、水平方向で 300nm である。 実験に使用した有機薄膜は、 poly[[9-(1・octylnonyl)-9H -carb位。le-2.7 -diy 1]-2.5-thiophenediyl-2.1.3・benzo出iadiazole-4 41

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42 愛 知 工 業 大 学 総 合 技 術 研 究 所 研 究 報 告,第17号,2015年 7-diy1-2.5-thiophenediyl](PCDTBT),[6,6]-phenyl-C71-butyric acidmethylester(PC71BM)とPCDTBT:PC71BMで あ る 。 PCDTBTは 、P型 有 機 半 導 体 で あ り 、PC71BMは 、n型 有 機 半 導 体 で あ る 。PCDTBT:PC71BMは 、 そ れ ぞ れ を1:4 の 割 合 で 混 ぜ 、 バ ル ク ヘ テ ロ 接 合 し た 有 機 半 導 体 で あ る 。 3.加 工 結 果 3.1.勿 ユ:aのeaピ フ ェ ム/'7%'レ ー デ ー ノ 7.1J/crn2 4.3」/信m2 PCDTBT PCDTBT;PCa,BM 〔1:4) PC71日M 図1.実 験 装 置 配置 図及 び レー ザ顕 微鏡 で観 測 の様 子 3.79J/じm: PCDTBTとPC71BMの 分 子 構 造 を 図2に 示 す 。 ガ ラ ス 上 に ス ピ ン コ ー ト法 で 作 成 し た そ れ ぞ れ の 試 料 の 厚 さ は 、1オmよ り 厚 く し た 。 3.75J∫`m芝 り h 、

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PCB,BM 図2.PCDTBTとPC71BMの 分 子 構 造 レ ー ザ 加 工 時 に 発 生 す る レー ザ ア ブ レー シ ョ ン プ ラ ズ マ の 温 度 、 プ ラ ズ マ の 体 積 を 有 機 半 導 体 材 料 の 違 い 、 ま た は レ ー ザ パ ル ス 幅 に 関 す る 違 い に つ い て ま と め た 。 試 料 表 面 に 生 成 し た 、 プ ラ ズ マ の 電 子 温 度 を 分 光 測 定 す る 時 は 、OceanOptics製 の フ ァ イ バ 分 光 ・器HR4000を 用 い て 行 っ た 。 こ の 装 置 は 、 波 長 分 解 能 は0.53nmで 測 定 波 長 範 囲 は350nm∼800nmで あ る 。 測 定 は1秒 間 で の 測 定 値 を 平 均 し て 行 っ た 。 レ ー ザ 発 振 と の 同 期 に は HR4-BREAKOUTを 使 用 し た 。 レ ー ザ パ ワ ー は 、 光 軸 上 にNDフ ィ ル タ ー を 置 き 、 調 整 し た 。 図3.フ ェム ト秒 レー ザ で 有機 薄 膜 を レー ザ加 工 した 時 の 表 面 像 と断 面 像 フ ェ ム ト秒 レ ー ザ で 有 機 薄 膜 を 加 工 し た 時 、 加 工 面 を レ ー ザ 顕 微 鏡 で 調 べ た 結 果 を 試 料 事 に 比 較 し た も の を 図 3に 示 す 。図 よ り 、レ ー ザ フ ル エ ン ス は 、7.1J/cm2,4.3J/cm2, 3.79J/cm2and3.75J/cm2で 実 験 を 行 っ た 。 加 工 面 の 周 囲 を 観 測 す る こ と に よ り 、 同 じ レ ー ザ フ ル エ ン ス で も 、 PCDTBTとPC71BMの 損 傷 の 様 子 が 異 な る こ とが 分 か る 。 こ れ は 、PC71BMは 、主 に フ ラ ー レ ン構 造 を し て い る 事 に よ る も の と 考 え ら れ る 。 フ ラ ー レ ン 構 造 は 、400℃ ま で よ り高 い 安 定 性 を 持 ち 、 加 え てC-C結 合 エ ネ ル ギ ー は 、 他 の 結 合 エ ネ ル ギ ー よ り 高 い 。 こ の 為 、 加 工 時 の 損 傷 は 抑 え ら れ た と 考 え ら れ る 。 次 に 、PCDTBT:PC71BMと PCDTBTの 加 工 時 の 損 傷 を 比 べ て み る 。PCDTBT:PC71BM は 、PCDTBT内 にPC71BMを4倍 多 く含 有 させ た 。 そ れ ゆ え 、PCDTBT:PC71BMの 加 工 時 の 損 傷 は 、PCDTBTの み の 薄 膜 よ り、 抑 え ら れ た と 考 え ら れ る 。

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フェムト秒 レー ザ とナ ノ秒 レー ザ による有 機 薄 膜 レー ザ 加 工 43 3.2.Z攻Z:Z:面 廣(L、 き ピフ ェ,∠、/・,秒ム/一フラリ フ ェ ム ト秒 レー ザ に よ る レ ー ザ フ ル エ ン ス に 対 す る 加 工 の 深 さ と 面 積 を 図4に 示 す 。 こ の グ ラ フ は 、 有 機 薄 膜 加 工 時 の 熱 の 影 響 を 抑 え る た め 、 図3の 実 験 時 よ り低 い レ ー ザ フ ル エ ン ス で 加 工 し た 場 合 の グ ラ フ で あ る 。 レ ー ザ 光 の 焦 点 の 面 積 は 、0.475mm2で あ る 。 図 よ り レ ー ザ フ ル エ ン ス の 増 加 に 伴 い 、 加 工 面 積 が 増 加 す る 事 が 分 か っ た 。 一 方 、PCDTBTの 加 工 深 さ は 、 レ ー ザ フ ル エ ン ス の 増 加 に 伴 い 増 加 す る が 、PCDTBT:PC71BMとPC71BMの 加 工 の 深 さ は 、 レー ザ フ ル エ ン ス の 増 加 に ほ と ん ど依 存 し な か っ た 。 145.QJFcm? 109.GJ;'cm7 ア{〕日Jr亡 聞, PCDTgFPCDT8T.PC71BklPCBML1 :4;}` LaserFluence(J/cm2) ・PCDTBT PC71BM PCDTBT+pC71BM ・PCDTBT PC71BM PCDTBT+PC71BM 図4.フ ェ ム ト秒 レー ザ に よ る レ ー ザ フ ル エ ン ス に 対 す る加 工 の 深 さ と 面 積 3.3勿zqの 謹rナ ノ秒 レー デーノ ナ ノ 秒 レー ザ で 有 機 薄 膜 を 加 工 後 、 加 工 面 を レ ー ザ 顕 微 鏡 で 調 べ た 結 果 を 比 較 し た も の を 図5に 示 す 。図 よ り、 レ ー ザ フ ル エ ン ス は 、145.OJ/cm2、109.6J/cm2、70.8J/cm2、 60.8J/cm2で 実 験 を 行 っ た 。 加 工 面 の 周 囲 を 観 測 す る こ と に よ り、 ど の 材 質 も 熱 に よ る 影 響 が 観 測 され る 。 こ れ は 、 加 工 時 に 生 じ た プ ラ ズ マ の 熱 に よ る影 響 と 考 え ら れ る。 3.4ン 勿1面 積 ま1罪さrナ ノ 〃 レ ー プジ ナ ノ 秒 レ ー ザ で 加 工 し た 加 工 面 積 と深 さ を 図6に 示 す 。 図 よ り、 レー ザ 照 射 に よ っ て 熱 の 影 響 を 受 け て い る 領 域 も 含 め る とナ ノ 秒 レ ー ザ で 加 工 し た 方 が 、 加 工 面 積 が 大 き い こ とが 分 か っ た 。 フ ェ ム ト秒 レー ザ とナ ノ 秒 レ ー ザ で レ ー ザ フ ル エ ン ス を 同 じ に す る 事 が 出 来 な い の で 、 ナ ノ 秒 レー ザ で 、 熱 の 影 響 を 受 け な い よ う に 、 し き い 値 近 く の レ ー ザ フ ル エ ン ス で も 実 験 を 行 っ た 。 しか し、 低 フ ル エ ン ス で の 加 工 は 、 レ ー ザ 光 の 光 強 度 分 布 が 不 均 一 な 為 、 正 常 な 加 工 が 行 わ れ な か っ た 。 fiO.8J、'己m1 PCDTBT

PCDTBT:PC71BM(1:4)

PCnBM 図5.ナ ノ秒 レー ザ で 有機 薄 膜 を レー ザ加 工 した 時 の 表 面 像 と断 面 像 図6.ナ ノ 秒 レ ー ザ に よ る レ ー ザ フ ル エ ン ス に 対 す る加 工 の 面 積 と深 さ

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愛知工業大学総合技術研究所研究報告,第 17号, 2015年 44

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0 LIJ 0.0 0 アプレーションプラズマの電子温度 4.1 分光測定結果 試料表面付近におけるアプレーションプラズマの発光 スペクトラム分光計測した結果をフェムト秒レーザとナ ノ秒レーザそれぞれに関して図7に示す。図より、多く のカーボン2)のラインが現れている事が分かる。 4. 160 図9.ナノ秒レーザアプレーションにおける電子温度の フルエンスに関する変化 40 80 120 LaserFluence[J/cm2] 図8、図 9についてレーサeフノレエンスに対 する電子温 度の変化を見ると、大きな違いが見られる。図より、 フ ェムト秒レーザプラズマについてはレーザフノレエンスの 増加に伴い電子温度が減少している。これは、レーザフ ノレエンスが増加すると、加工面積が増加する為、電子温 度が下がったと考えられる。一方、ナノ秒レーザプラズ マではレーザフノレエンスの増加に伴い電子温度が増加し た。これは、ナノ秒レーザーでは、 アプレーションプラズ マが生成された後も、レーザによりプラズマが加熱され る為であると考えられる九 次に、有機薄膜の材料によ り、単一材料と混合材料に関して電子温度に違いがある 事が分かる。この理由は混合材料ではレーザ照射によっ て活性化された原子が再結合することによってレーザエ ネルギーが消費されているため電子温度が単一材料のも のと比べて低くなっているのではなし、かと考えられる。 図7.試料表面位置でのレーザアプレーションプラズマ の発光スベクトル プラズマの直径の大きさのフルエンス依存性 有 機薄膜表面にレーザ光を集光照射した時に、生成 し た プラズマの直径のレーザフルエンス依存性を図 10に 示 す。 プラズマの直径 は、プラズ‘マからの発光をス トリ ークカメラで観測 する事により求めた。 図より、 ナノ秒 レーザは、フノレエンスが増加するとプラズマの直径が大 きくなっている事が分かる。 5. レーザプラズマは、局所熱平衡状態 3)であると仮定で き、ボルツマン分布していると考えられるので、図7に 示すカーボンのスベク トル線心の強度比から、ボルツマ ンプロット図を作成し、その近似直線の傾きから、アブ レーションプラズマの電子温度を求めた。その結果を図 8、図 9に示す。 Nanosecond laserflllence[J/cm2] o 20 40 60 80 100 120 140 6.0r~一-, ー一-1':u協剥""臥Jb抗マ ー一-Fcmlo誕奪四吋w <τ A U A U A U n U A U . 、 J a a τ ・3J 内 , , -' I 一 戸 田 戸 Z 一 -H U -u z -E 百 四 戸 = 回 目 { 内 ﹃

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レーザフルエンスに関するプラズマの直径の変化 図 10. 16 図8.フェムト秒レーザアプレーションにおける電子温 度のフルエンスに関する変化 4 8 12 LaserFllIence[J/cm2]

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フェムト秒レーザとナノ秒レーザによる有機薄膜レーザ加工 これは、レーザのパノレス幅が長いので、焦点において プラズマが生成した後もレーザ光によりプラズマにエネ ルギーが供給され、プラズマが成長した事を示す。一方、 フェムト秒レーザで生成したプラズマの直径は、ほとん ど変わらなかった。これは、フェムト秒レーザのパルス が短く、レーザのエネノレギーがプラズマの生成にのみ使 われ、成長に使われなかった事を示す。 6. まとめ フェムト秒レーザとナノ秒レーザによる有機薄膜レー ザ加工時の違いについて加工面の様子を調べ、電子温度 とレーザプラズマの直径と加工の深さを測定した。その 結果、フェムト秒レーザを用いる事で、熱に弱い有機薄 膜を、熱の影響を極力少なくし、加工出来る事が分かつ た。 今後は、干渉加工法を行い、有機薄膜でも光の波長程 度の微細加工が可能かどうか調べていきたい。 謝 辞 本研究は文部科学省私立大学戦略的研究墓板形成プロ ジェクト #S1001033及び私立大学研究設備補助金の援助 を受けて行われた。 本研究に際してレーザ顕微鏡の使用を許可して頂いた 愛知工業大学工学部機械工学科の佐藤一雄教授、武田亘 平講師にこの場を借りてお礼申し上げます。 参考文献 1) E.Kymakis et al, Adv.Funct.Mater.23(2013)2742. 2) M. Tran, Q. Sun, B. W. Snrithヲ 釦dJ.D白羽Tinefordner,J. Anal. At.Spectrom., 16 (2001)628

3) N. Tsuda and J. YamadaヲJpn.J. Appl. Phys吋 38(1999)

3712. 4) NationalInstitute of Standards and Technology database at http://www.nist.gov/pml/data/asd.cfm 5) N. Panchenko et a,.lJ. Phys. D: App. Plhys.ヲ44ρ011) 385201. (受理平成 27年5月 16日) 45

参照

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