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圧電セラミックスの繰返し電場誘起き裂進展挙動

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Academic year: 2021

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圧電セラミックスの繰返し電場誘起き裂進展挙動

知能材料学研究室 岩永拓哉

1. 緒言

圧電セラミックスは圧電効果および逆圧電効果を合せ持つ 材料でセンサーやアクチュエーターに広く用いられている.

中でもPZT(チタン酸ジルコン酸鉛)が最も一般的に使われて

いる.しかし本材料は脆性材料であり強度信頼性が低いとい う問題がある.

PZT に繰返し電圧を負荷することで材料中にき裂が発生 し,これが進展する挙動が報告されているが,そのメカニズ ムや定量的評価法などは十分に確立されているとは言えない.

先行研究の結果,繰返し電界が小さい場合,切欠き底からき 裂が発生した後その進展速度を急激に低下させながら進展し,

やがてき裂は停留してしまう.また電界が大きくなるに従い 停留するまでのき裂長さが増加する.分極反転が生じるよう な大きな電界を繰返すと,進展速度がばらつき,き裂進展速 度は急激に増加することなどが分かっている.

本研究では特に初期切欠きの長さの影響,破面の状態につ いて注目し,繰返し電場によるき裂進展を調査した.

2. 材料および実験方法

本実験には板厚方向に分極された市販のPZT分極材(5×5

×1mm)を使用した.この試験片に厚み方向中心に沿って溝 状の切欠きを導入した.切欠き長さ sは約1mmと約2mm とした.試験片はシリコンオイルを満たした油槽の中に入れ,

分極方向に正弦波状の交流電圧を印加し,適当な時間毎にき 裂長さcを測定した.試験の状態を模式的に図1に示す.印 加電圧は±700V,5Hz である.実験が終了した試験片をき 裂に沿って強制破断させ破面を電子顕微鏡(SEM)で観察した.

1 実験システムの模式図

3. 実験結果および考察

試験片に繰返し電圧を負荷すると約200回程度で切欠き底 からき裂が発生し,その後進展する.図2に電圧負荷繰返し 数とき裂長さの関係を示す.図中の矢印は停留き裂に至った ことを示している. これまでの研究で得られた±600Vにお ける結果と比較すると,±700Vではき裂進展速度は大きく,

また停留したき裂長さは長かった.平均電圧をかえて,振幅

400V,100Hz の電圧を負荷した時の材料変位振幅を測定し

た結果,本研究の±700V では材料に分極反転が生じている ことが確かめられた.この分極反転がき裂進展に影響してい ると考えられる.

破面をSEMで観察すると,図3に示すような粒界割れと 粒内割れが観測された.試験片の表面近傍と内部中央付近で の粒内割れの面積比を図 4 に示す. 観察表面近傍破面では き裂が進展するに従い粒内割れの占める割合が増加する.内 部では試験片ごとに挙動が異なり明瞭な傾向は見られなかっ た.

2 繰返し数とき裂長さの関係

(a)粒界割れ (b)粒内割れ 3 破面SEM写真

4 切欠き先端からの距離と粒内割れの関係

4.結言

(1) き裂は繰返し電圧を負荷することにより発生,進展する.

(2) 初期の切欠き長さはき裂進展に影響しない.

(3) 表面近傍ではき裂進展に従い粒内割れの破面の割合が増 加する.

参照

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