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蛍光寿命を利用した応力測定の高精度化に関する研究

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Academic year: 2021

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蛍光寿命を利用した応力測定の高精度化に関する研究

Research on Improvement of the Stress Measurement by using Fluorescence Lifetime

精密工学専攻 10号 今井新平 Shinpei Imai 1.1.

1.1. 緒言緒言緒言緒言

応力測定は製造業や建設業において不可欠である.ひずみ ゲージ法のほかにも,目的に応じて光弾性法などの非接触式 の方法が用いられている.一方で樹脂成形品に発生もしくは 残留する応力を測定する新しい手法として蛍光現象を用い た測定法の研究が行われている.これまでに特定の蛍光物質 において,蛍光寿命が応力によって変化することが報告され

ている(1)(2)

光弾性法や近年注目されている応力発光材料による方法(3) は非接触で応力を測定する光応用計測であり,蛍光現象によ る応力測定と共通している.しかし応力の時間的な変化に対 しては光弾性と応力発光で振る舞いが異なる.光弾性法やひ ずみゲージ法が応力の大きさそのものを検出するのに対し て,応発光材料による方法や熱弾性法は応力の大きさよりも その時間変化率が重要である.前回の研究から蛍光現象によ る応力測定は応力の時間変化率が5.6 ~16.8 kPa/sの範囲内 の場合ではその影響を受けないだろうという結果を得た.し かし,蛍光寿命の値にばらつきがあったため,精度の向上が 必要であると考えられる.また引張試験による計測は,一回 毎に試験片を取り付け直す等の調整が必要であり,誤差が発 生する要因がある.そこで本研究では,繰返し荷重による試 験を行い,一度の実験で従来の試験で得る数回分のデータを 得ることの出来る応力測定法を検討することを目的とする.

2.

2.

2.

2. 蛍光現象蛍光現象蛍光現象蛍光現象

蛍光現象とは,外部から得たエネルギにより電子が励起さ れ,そのエネルギを光として放出する現象である.本研究で は半導体レーザを用いて蛍光物質の電子を励起させ,蛍光を 発生させる.励起光のエネルギを吸収した蛍光分子の電子は,

まず基底状態から高次の励起状態に遷移する.次に分子内振 動によってエネルギを失い,最低次の励起状態となる.最後に 最低次の励起状態から基底状態に戻る際にエネルギを蛍 光 として放出する.

蛍光物質が時刻 t = 0 にパルス光を受けたとき,蛍光強度 F(t)は

= exp −

1 と表される(4)F0は励起停止時の発光強度,時定数 τ は蛍 光寿命である.

式(1) は蛍光物質がパルス光を受けた場合の応答,すなわ ちインパルス応答を表している..励起光が理想的なパルス光 でない場 合 に は,蛍光強度は入力波形とインパルス応答との 畳み込み積分で表される.時刻t での励起光の強度をG(t ) とおくと,励起光G(t )が照射されたときの蛍光強度

=

2 となる.

Fig1 The outline of the experimental equipments

3.

3.3.

3. 実験装置実験装置実験装置 実験装置

3.1 全体の構成

本研究で用いた実験装置の全体の構成をFig.1に示す.半 導体レーザから出力された励起光は試験片に照射され,蛍光 物質の電子を励起させる.試験片には引張試験機を用いて荷 重を与える.試験片から放出された光は光学フィルタにより 波長を選別され,蛍光のみがファイバースコープを通してス トリークカメラに入る.ファイバースコープとは光ファイバ の先端に集光レンズを取り付けた装置で,効率よく光を伝送 することができる.ストリークカメラに入った蛍光はストリ ーク像として写し出される.このストリーク像を動画として 記録し,画像処理を行うことで蛍光寿命を算出する.

3.2 試験片

市販されているアクリル板(製品名:アクリサンデー板,製 造:三菱レイヨン株式会社,販売:アクリサンデー株式会社)の 色番993を機械加工し,寸法12.5 mm × 2mm × 150 mm 試験片を作成した.作成後の試験片をFig.2に示す.添加さ れている蛍光物質については製造元に確認を行ったが詳細 は不明である.

実験に使用した試験片の応力ひずみ線図をFig.3に示す.

試験片に与える荷重は,試験片の変形が比例限度内に収まる 4MPaまでの範囲とした.

3.3 光学フィルタ

試験片に励起光を照射したとき,ファイバースコープには 励起光の反射光と蛍光が同時に入る.ファイバースコープに 入る光の波長特性を分光器を用いて測定したものをFig.4 示す.図の縦軸はストリークカメラが受光した光子の数であ る.試験片からの蛍光を測定する際には,短波長カットフィル タ(朝日分光株式会社)を使用して波長 470 nm 以下の光を 遮断する.それによってFig.4から明らかなように励起光 の成分をほぼ除去することができ,蛍光のみを測定すること ができる.

(2)

Fig.2 Specimen

Fig.3 The stress-strain diagram of the specimen

Fig.4 Wevelength characteristics of the excitation laser and the fluorescence

3.4 ストリークカメラ

蛍光強度の測定にはストリークカメラ(浜松ホトニクス株 式会社 C4334)を使用する.ストリークカメラの動作原理を Fig.5に示す.スリットを通って光電面上に入射した光子は,

入射した光子数に比例した数の光電子に変換される.これら の光電子は加速電極によりマイクロチャンネルプレーMCP) 方向へと加速され,一対の偏向電極の間を通過する.その瞬 間に高速掃引電圧を偏光板に印加し,光電子の軌道を上から 下へ掃引する.掃引された光電 MCP に取り込まれて電子倍 増され,蛍光面で光学像に変換されることで映像データとし

Fig.5 The operating principle of a streak scope

Fig6 Streak camera image

Fig.7 Simple figure of the repeated load device

て出力される.これをストリーク像とよぶ.ストリーク像を Fig.6に示す.ストリーク像に映し出された白い点が受光し た光子に対応する.このようにして光子が光電面に到達した 時刻をストリーク像上の光子像の位置により表すことがで きる.

3.5 繰返し荷重装置

スライダ(IAI ロボシリンダスライダタイプRCP3-SA5C

を使用.リード3mm 最大応力189N ストローク100mm)

にばねをとりつけた実験装置を製作し,試験片に繰り返し荷 重を加え測定を行った.この簡略図をFig.7に示す.使用し たばねのばね定数は2.01N/mm.引張試験により求めた荷重 伸び線図をFig.8に示す.

本実験ではスライダが右端に達したところでマイクロス イッチが入り,シャッターが閉じることで周期を設定してい る.シャッターは5vで開き-5vで閉じるものを使用.常時は 5vの電圧がかかり,スイッチが入っている瞬間のみ-5vがか かりシャッターが閉じるよう設定した.スライダを作動させ た時に試験片に掛かる荷重をロードセルで測定し,その結果 Fig.9に示す.

(3)

Fig.8 Load-elongation diagram

Fig9 Load-time diagram

4.

4.

4.

4.実験値の解析方法実験値の解析方法実験値の解析方法 実験値の解析方法

4.1 蛍光減衰曲線の算出

ストリーク像を1秒間に30フレームの速度で録画してい 1 回の実験で得られるストリーク像は数千枚程度である.

それらに写っている全ての光子像を計数し,ストリークカメ ラが各時刻に受光した光子数を算出する.これを時刻順に並 べたものは式(2)の を離散化した数列に相当する.

4.2蛍光寿命の算出

実験で測定される蛍光強度は式(2)ので表される レーザの励起光を以下のガウス分布に従うとする.

=

2 ! 3 上式を式(2)に代入し積分を実行すると

= + $1

%−

+

4' () −

+2! 4 ここでは外測光の成分とする.

観測される光強度は時間に対しての変動が大きいこと から,さらに時間について積分をすると

* = + $() −

− %−

+

4'

× () −

+2! 5

となる.ここで次の観測した結果ごとの集合

- = ./*0− *12032 6

5

0=1

を最小にするように係数 ′を非線形シンプレッ クス法を用いることで求めることができる.

5.

5.5.

5. 実験実験実験 実験

5.1 実験条件

繰返し荷重装置を用いて試験片に一定の引張速度の負荷 を与えながら試験片からの蛍光を測定する.スライダは16.2 秒で1往復し最大76Nの荷重が試験片にかかる.今回は約3 時間半(往復回数787回),約6時間(1365回)と約9時間

(2004回)での計測を行った.

5.2 蛍光寿命の計算

選択したストリーク像を作成した解析用プログラムを用 いて解析し,蛍光強度の時間減衰を求める.具体的な解析手 法としては,映像として記録されているストリーク像を1 レームずつ,各座標の輝度を読み取ることで光子の位置を調 べ,時間毎に輝度値を積算する.それを所定のフレーム数繰 返すことで,輝度値の時間変化,即ち蛍光の時間減衰曲線が 得られる.また,スライダが1往復を終えてシャッターが閉 じ,光子が感知できなくなった瞬間にトリガがかかり,1 期を設定する.これにより6時間の実験から得られた値と4.

1節の計算式によって得られた式を比較したグラフをFig.

10 に示す.また今回蛍光寿命を計算するのは(5)式からなの で,これらを積算したグラフをFig.11に示す.

今回の実験ではスライダの1往復を11分割しており,上 記のグラフでは1分割目の結果を用いている.それぞれ分割 した領域での時間の平均と蛍光強度を Fig.12,Fig.13,

Fig.14に示す.図は上から3時間,6時間,9時間のもの

である.

5.3 応力と引張速度が蛍光寿命に及ぼす影響

シャッターが開いている間にかかる応力をそれぞれの区 間ごとに平均をとり,蛍光寿命と対応させる.3時間,6 間,9時間の結果を合わせた蛍光寿命の平均と応力のグラフ Fig.15に示す.

以上のグラフから応力の増加に伴って蛍光寿命が増加す ることがわかる.

6.

6.6.

6.結言結言結言 結言

蛍光物質を含んだアクリル樹脂の試験片に一軸繰返し応 力を与え,蛍光寿命を測定した.その結果として,従来の研 究同様に応力の増減にともなって蛍光寿命も増減すること が確認出来た.

このことから,繰返し荷重試験を用いた蛍光寿命を利用し た応力測定が十分可能であると考えられる.

参考文献

(1) Tohru Shiga, Taiji Ikawa, Akane Okada, Fluorescence from Soluble Polythiophenes in Uniaxially Stretched Polymers,John Wiley & Sons, Inc. J Appl Polym Sci 67, 1998, pp. 259–266.

0 5 10 15 20

0 2 4 6 8

Load NLoad NLoad NLoad N

Elongation mm Elongation mmElongation mm Elongation mm

0 20 40 60 80 100

0 20 40 60

LoadLoadLoadLoadNNNN

Time s Time s Time s Time s

(4)

Fig.10 The time dependence of a fluorescence intensity

Fig11 The time dependence of integrated value of fluorescence intensity

Fig.12 The Calculation result of fluorescence lifetime (3h)

(2) 今井昂, 辻知章, 加藤晋, 青木謙治, 大崎秀昭, キナクリ ンを添加したエポキシ樹脂材料のひずみ変化と蛍光寿命の 関係, 日本機械学会 M&M 2008 材料力学カンファレンス (CD-ROM), 2008, PS12.

(3) Chao-Nan Xu, Yusuke Imai, Seeing Stress by Elastico-Luminescence Coating, International Symposium on Synergistic Effects of Materials and Processing, 2006, pp. 29–32.

(4) 木下和彦, 御橋廣眞, 蛍光測定生物科学への応用, 学会 出版センター, 1983, pp. 2–5.

Fig.13 The Calculation result of fluorescence lifetime (6h)

Fig.14 The Calculation result of fluorescence lifetime (9h)

Fig 15 Average of the relationship between the fluorescence lifetime and the stress

0 10000 20000 30000 40000

0 20 40 60

Photon countsPhoton countsPhoton countsPhoton counts

Time ns Time ns Time ns Time ns

実験値 計算値

0 500000 1000000 1500000

0 20 40 60

PhotonPhotonPhotonPhotoncountscountscountscounts

Time ns Time nsTime ns Time ns

実験値 計算値

6.85 6.86 6.87 6.88 6.89 6.9 6.91 6.92 6.93 6.94

0 5 10 15

FluorescenceFluorescenceFluorescenceFluorescencelifetimelifetimelifetimelifetimens

Time TimeTime Time s

6.52 6.53 6.54 6.55 6.56 6.57 6.58

0 5 10 15

FluorescenceFluorescenceFluorescenceFluorescencelifetimelifetimelifetimelifetimens

TimeTime TimeTime s

6.46 6.47 6.48 6.49 6.5 6.51 6.52

0 5 10 15

Fluorescence lifetimeFluorescence lifetimeFluorescence lifetimeFluorescence lifetimens

Time Time Time Time s

6.62 6.63 6.64 6.65 6.66 6.67 6.68

0 1 2 3

Fluorescence lifetimens

Stress MPa

Fig. 4  Wevelength characteristics of the excitation laser and the  fluorescence  3.4  ストリークカメラ    蛍光強度の測定にはストリークカメラ(浜松ホトニクス株 式会社  C4334)を使用する.ストリークカメラの動作原理を Fig.5 に示す.スリットを通って光電面上に入射した光子は, 入射した光子数に比例した数の光電子に変換される.これら の光電子は加速電極によりマイクロチャンネルプレーMCP) 方向へと加速され,
Fig  15  Average  of  the  relationship  between  the  fluorescence lifetime and the stress

参照

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