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東北大学機関リポジトリTOUR

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Academic year: 2021

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Ballistic-Electron-Emission Microscopy at

Epitaxial Metal/Semiconductor

Interfaces(STM-BEEM interfaces)

著者 Kanel Hans, von, Meyer Thomas, Sirringhaus Henning, Lee Edwin, Y.

journal or

publication title

Science reports of the Research Institutes, Tohoku University. Ser. A, Physics, chemistry and metallurgy volume 44 number 2 page range 157-163 year 1997-03-31 URL http://hdl.handle.net/10097/28727

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