論文
5
0
0
全文
(2) 佐藤 ・黒部 ・滝澤:フ ェライトの微小破壊挙 動と加工損傷. Fig.1. Schematic view of scratching setup. 図1に 示 す 装 置 に は,AE信 て い る.AEセ. 号 を 検 知 す る セ ンサ が 取 り付 け られ. ン サ は ダ イ ヤ モ ン ド圧 子 に 直 接 貼 付 され て い る.セ. ン サ で 検 知 さ れ たAE信 (0.1 MHz〜1MHz)を. 号 は,プ. リ ア ン プ,バ ン ドパ ス フ ィ ル タ. 通 っ て メ イ ン ア ン プ で 再 び 増 幅 さ れ る.実. 験 で は,プ リア ン プ と メ イ ンア ン プ の 総 合 増 幅 率 を90dBと. した、. 増 幅 され た 信 号 は 包 絡 線 検 波 器 を 通 りカ ウ ン タ に 入 力 さ れ る.必. Fig.2. SEM micrographs. of indented ferrite. 要 に 応 じ て,包 絡 線 検 波 器 か ら出 力 さ れ た 信 号 を ス ト レー ジ オ シ ロ ス コー プ に 送 出 し,ペ ン 書 き レ コー ダ に 自 記 さ せ た.. 3,実. 験結 果およ び考察. 3.1圧. 子 押 込 み に よ る 破 壊 挙動. フ ェ ラ イ トの 破 壊 挙 動 を結 晶 組 織 学 的 な 視 点 か ら調 べ る た め に,表1に. 示 す 各 試 料 に つ い て ピ ッ カ ー ス 圧 子 押 込 み 試 験 を行 っ. た.図2に,押 SEM写. 込 み 荷 重 を2Nと. 真 を 示 す.図2か. (1)試 料A〜Eの. して 押 込 み 試 験 を行 っ た 場 合 の. ら次 の こと が 指 摘 で き る.. 多 結 晶 フ ェ ラ イ トの 圧 痕 を み る と,単 結 晶 フ ェ. ラ イ トFの そ れ と著 し く異 な る こ と が わ か る.多 結 晶 フ ェ ラ イ ト で は,圧 痕 の 周 りに 多 数 の ク ラ ッ クが 生 成 す る が,単 結 晶 フ ェ ラ イ トの 場 合 に は 圧 痕 の 角 部 か ら ク ラ ッ クが 生成 して い る に 過 ぎ な い.(2)ク ラ ッ ク の 発 生 様 態 を 子 細 に 観 察 す る と,多 結 晶 フ ェ ラ イ トの 場 合 に は,粒. 界 を 横 切 って 進 展 し て い る ク ラ ッ ク の ほ か に,. 粒 界 に 沿 って 進 展 して い る ク ラ ッ ク も見 られ る.ク ラ ッ ク の 発 生 様 態 は 試 料 に よ って 異 な る.Aの. 試 料 の 場 合 に は,粒 界 を 横 切 る. Fig.3. Influence of indentation load. ク ラ ッ ク の ほ か に多 くの ク ラ ッ ク が 粒 界 に 沿 っ て 進 展 し て い る. Bの 試 料 で は,Aに. 次 い で 粒 界 に沿 って 進 展 し て い る ク ラ ッ クが. 多 い. ク ラ ッ ク の 進 展 状 況 を定 量 的 に 把 握 す る た め,ク ラ ッ ク の 発 生 数 と ク ラ ッ ク の 総 長 さ を測 定 した.こ は,1本1本. こで,ク ラ ッ ク の総 長 さ と. の ク ラ ッ クに つ い て そ の 長 さ を測 定 し,そ れ ら をす. べ て 足 し 合わ せ た 値 で あ る.な お,圧 痕 の 内 側 で は ク ラ ッ クの 測 定 が 困 難 で あ った の で,圧 痕 の外 側 だ け を ク ラ ッ ク の測 定 対 象 と し た.測 定 結 果 を 図3に の 関 係 を,図3(b)は 図3か. こ こで,圧 痕 の 周 囲 に ど の 程 度 の 数(密 度)の ク ラ ッ クが 発 生 し て い る のか 知 る た め に,λ な る評 価 関 数 を 導 入 す る.λ はL/R. 示 す.図3(a)は. 押込 み荷重 とク ラック数. 押 込 み 荷 重 と ク ラ ッ ク 総 長 さ の 関 係 を 表 す.. ら,押 込 み 荷 重 が 大 き く な る に つ れ て,ク. ラ ック 数 お よ び. ク ラ ッ ク総 長 さ の 値 と も リニ ヤ に 増 大 す る こ と が わ か る.そ れ ら の 絶 対 値 は,Aの. 試 料 が 最 も大 き く,E,Fの. 順 に 小 さ くな る.. で 定 義 して い る.こ こ で,Lは. ク ラ ッ ク 総 長 さ,Rは. 圧 痕 中心 か. ら 最 も 外 の位 置 の ク ラ ッ ク まで の 距 離 を表 す.λ は,ク ラ ッ ク 生 成 の 難 易 度 を 表 す 指 標 で あ る と考 え られ る.図4に,各. フェライ. ト材 の λ の値 を 示 す.測 定 は3回 行 い,そ の 平 均 値 を 白 丸 印 で プ ロ ッ ト して い る.白 丸 印 を通 る 縦 方 向 の 直 線 は測 定 値 の ば らつ き の範 囲 を 示 す. 図4か. ら,Aの. ぎ,D,E,Fの 子 が わ か る.表1に. 試 料 の λの 値 が 最 も大 き く,B,Cは. そ れに次. 試 料 の 順 に 次 第 に そ の 値 が 小 さ く な って い く様 示 す よ う に,多 結 晶 フ ェ ライ トの 機 械 的 性 質. は 各 試 料 の 間 で あ ま り違 わ な い が,ク ラ ッ ク の 生成 状 態 は 試 料 に. 精 密 工 学 会 話Vol.65.No.2,1999241.
(3) 佐 藤 ・黒部 ・滝澤:フ ェライ トの微小破 壊挙動と加工損傷. Fig.4. Value of R/L on ferrite materials Fig.6. Relation between crack number and AE count number. Fig.7. Fig.8. Influence of scratching load on number of AE signals. 図6に,ク の 数 は,引 SEM観 Fig.5. Correspondence. mode. of crack. pattern. and AE signals. よ っ て か な り異 な る こ と が わ か る,λ の 値 が 大 き い 材 料 ほ ど,ク. SEM micrograph of scratching pattern. ラ ッ ク 数 とAEカ. ウ ン ト数 の 関 係 を 示 す.ク. っ か き 実 験 終 了 後 試 料 表 面 をHCl液. ラ ック. でエ ッチ ン グ し. 察 して 求 め た.ク ラ ッ ク 数 の 測 定 は,そ れ ぞ れ 異 な る3か. 所 の 場 所(1か. 所 当た りの 測 定 範 囲 は0岡12mm)で. て,合 計 長 さ0.36mmの. し. ラ ッ ク の 生 成 状 態 に 粒 界 が 強 く影 響 す る こ と を 意 味 し て い る ―そ. した.図6か. の よ う な 材 料 は粒.界破 壊 しや す い 材 料 と 考 え られ る.. 線 関 係 が 成 り立 つ こ とが わ か る.た だ し,多 結 晶 材 と単 結 晶 材 で. 3.2円. っ か き 試 験 は,引. ラ ッ ク 数 とAEカ. ウ ン ト数 と の 間 に は ほ ぼ 直. は 直 線 の 傾 き に違 い が み られ る.. 錐 圧 子 引 っ か き試 験. 図1に 示す 引 っ か き 試 験 装 置 を使 用 し て,引 っ か き 実 験 を 行 っ た.引. ら,ク. 行 っ た,そ. 範 囲内に あるク ラックの数 をすべて 計測. っ か き速 度 を0.36mm/s一. 定 と し,ダ イ. ヤ モ ン ド圧 子 に 所 定 の 荷 重 を 印 加 して 行 っ た.引 っ か き 後,引 っ. 図7に,引 像)の. っ か き に よ って 生 じた 引 っ か き痕 の 様 子(SEM観. 一 例(A試. 料)を. 示 す.図7か. 察. ら,ク ラ ック は 引 っ か き 方. 向 に 対 して ほ ぼ 垂 直 の 方 向 に 生 成 して い る こ と が わ か る.ま た,. 察 した.特 に,引 っ か き痕 に沿 っ て 生 成 して い る. ク ラ ック は 粒 内 に進 展 す る か も し く は 粒 界 を横 ぎ っ て 進 展 す る タ. ク ラ ッ ク に つ い て 詳 し く観 察 し た.ま た 同 時 に,引 っ か き に伴 っ. イ ブ と,一 部 も し くは 全 部 が 粒 界 に 沿 っ て 伝 播 す る,二 つ の タ イ. て 発 生 す るAE信. プ が あ る こ とが わ か る.本 論 文 で は,前 者 を 粒 内 ク ラ ッ ク,後 者. か き痕 をSEM観. 号 を 検 知 した.そ し て,ク ラ ッ ク の 生 成 とAE信. 号 が ど の よ うな 対 応 関 係 を 有 す る の か検 討 し た.実 験 の際,し き い 電 圧 を90mVに 図5に,引. 図8に,引. 設 定 し た.. っ か き荷 重 を0.1Nと. き の 測 定 結 果 を 示 す.図5か. して 引 っ か き 実 験 を行 っ た と. ら,引 っ か き 開 始 時 に パ ル ス 状 のAE. 信 号 が 発 生 し,そ の 後 断 続 的 に パ ル ス 状 のAE信. 号 波 形 が 生 じて. い る 様 子 が わ か る.ク ラ ッ ク の 生 成 と ほ ぼ 対 応 す る形 で パ ル ス 状 のAE信. 242. を 粒 界 ク ラ ック と称 す る こ と に し た.. 号 が 発 生 して い る 様 子 が わ か る,. 精 密 工 学 会 誌Vol.65,No,2,1999. か ら,AEカ. っ か き 荷 重 とAEカ. ウ ン ト数 と の 関 係 を 示 す.図8. ウ ン ト数 と 引 っ か き荷 重 の 間 に 直 線 関 係 が 成 り 立 つ. こ と が わ か る.し か し,大 略0.05Nの 折 れ 曲 が る.0.05Nよ. 負荷 荷 重 を 境 に して 直 線 は. り も 大 き な 高負 荷 荷 重 域 で は,AEカ. ウント. 数 の 増 加 割 合 は 低 荷 重 の そ れ に 比 して 小 さ くな る. 図9に,引. っ か き荷 重 と ク ラ ッ ク数 の 関 係(A試. 料)を. 示 す..
(4) 佐藤 ・黒 部 ・滝澤:フ ェラ イトの微小破壊挙動 と加工損傷. Fig.9. Influence of scratching load on crack growth number. Fig.11. SEM micrographs of chipping mode at edge site of sliced groove (SD1500-100M). 溝 加 工 を施 した.そ して,各 試 料 で チ ッ ピ ン グ の 発 生 様 態 が ど の よ う に異 な る の か 調 べ た.ま た,押 込 み(3.1節)や. 引 っ か き(3,2. 節)に よ る 結 晶 の 微 小破 壊 挙 動 とチ ッ ピ ン グ現 象 が い か な る相 関 関 係 を も っ て い るの か 検 討 し た.溝 加 工 は,外 径 φ54mm,厚 0.6mmの. 大 き さ の 異 な る2種 Fig.10. Values. of AEc/Nc. on ferrite. materials. 類 の メ タ ル ボ ン ド ダ イ ヤ モ ン ド砥 石. (SD]500‑100M,SD400‑100M)を 速 を84.8mls,送. ク ラ ッ ク数 は 単 位 長 さ 当 た り に換 算 し て示 し て い る.図9に は,粒 内 ク ラ ッ クの 数 と 粒 界 ク ラ ッ クの 数 の 負荷 荷 重 に 対す る 関係 も併. さ. 薄 刃 ダ イ ヤ モ ン ド砥 石 を 用 い て 行 っ た.実 験 は,砥 粒 の. 用 い て 行 っ た.加 工 は,砥 石 周. り速 度 を0.6mm/s,切. 込 み 深 さ を0.5mm,加. 工. 液 と して 水 道 水 を1.7l/min注 水 して 行 っ た. 図11に,粒. 径 の 小 さ い#1500の. 砥 石 を用 い て 溝 加 工 を行 った. 記 して い る.ク ラ ッ ク の 総 数 は,粒 内 ク ラ ッ ク の 数 と 粒 界 ク ラ ッ. と き の 溝 エ ッ ジ 部(表 面 と溝 の 側 面 が 交 差 す る部 分)のSEM観. ク の 数 を足 し合 わ せ た も の で あ る.図9か. 荷重. 写 真 を 示 す.加 工 損 傷 の 評 価 は,溝 エ ッ ジ 部 に 発 生す るチ ッ ピ ン. を境 に 直線 が 折 れ 曲 が る こ とが わ か る.黒 丸 印 の 粒 界 ク ラ ッ ク の. グ の 大 き さ(チ ッ ピ ン グサ イ ズ と呼 ぶ)を 計 測 して 行 った.観 察. 場 合 に は,0.05N以. に 際 して,チ ッ ピ ン グ と粒 界 と の 関 係 を 明 確 にす る た め に 試 験 片. ら,大 略0.05Nの. 上 の 高 荷 重 域 で は直 線 は 横 軸 に 平 行 に な り,ク. ラ ッ ク の 数 が 飽 和 す る様 子 が わ か る.一 方,白 丸 印 の 粒 内 ク ラ ッ ク の 場 合 に は,増. 加 傾 向 は 小 さ くな る も の の 飽 和 す る こ と は な. をHCl液. で エ ッ チ ン グ し た.図11か. SD1500‑100M砥. 察. ら次 の こ と が 指 摘 で き る.. 石 で 加 工 さ れ た 溝 の チ ッ ピ ン グ サ イ ズ は,. い.こ の よ う に,な ぜ 特 定 の荷 重 で ク ラ ッ ク 数 の 増 加 の 仕 方 が 変. 数 μmか ら十 数 μmで あ り,結 晶粒 の 大 き さ と 同 程 度 か も し く は. わ る の か,以 下 に そ の 理 由 に つ い て 考 え て み る.. そ れ 以 下 で あ る.Aの. Aの 試 料 の 場 合,そ の 平 均 粒 径 が8.4μmで さ あ た りの 粒 界 数 は約120個/mmと. あ るの で,単 位 長. な る.図9か. 重 に相 当 す る所 の 粒 界 ク ラ ック 数 は,100個. ら,0.05Nの. 荷. 前後 であ ると読み取. 試 料 とE,Fの. 試 料 を 比 較 す る と,チ ッ ピ. ン グ の 様 態 に違 い が あ る こ とが わ か る.Aの. 試 料 の 場 合 に は,粒. 界 に 沿 って チ ッ ピ ン グ が 起 こ り,そ れ に よ って 脱 落 し た と思 わ れ る 欠 損 部 が 数 多 く 見 られ る.一 方,Eの. 試 料の 場合 には 粒界 に. れ る.こ の 値 は粒 界 の 数 に 極 め て 近 く,折 れ 曲 が り点 の 臨 界 荷 重. 沿 っ て 生 成 した と考 え られ る チ ッ ピ ン グ が ほ と ん ど見 られ な い.. 以 上 で は,引 っ か き 痕 と交 差 す る ほ ぼ す べ て の 粒 界 で 粒 界 ク ラ ッ. そ れ よ り も単 結 晶 フ ェ ラ イ トのFの. クが 生 じた こ と を 意 味 して い る.粒 界 ク ラ ッ ク数 が 一 定 に な った. な っ て い る.こ の 現 象 は,被 削 材 の粒 界 破 壊 の しや す さが チ ッ ピ. の は こ の こ と が 要 因 して い る と考 え られ る.. ン グの 生 成 に 大 き く影 響 を及 ぼす こ と を 意 味 して い る.. 引 っ か き に よ る粒 界 ク ラ ッ クの 生 じや す さ は,β な る値 で あ る 程 度 判 断 が で き る と 思 わ れ る.β は,図8に. 試 料 と似 た チ ッ ピ ン グ様 態 と. こ こで,材 料 の 破 壊 強 度 が チ ッ ピ ン グサ イ ズ に及 ぼ す 影 響 に つ. 示 す 折 れ 曲 が り点 の. い て 考 察 す る.山 川 ら5)は 硬 ぜ い材 料 につ い て 研 削 実 験 を行 い,. ウ ン ト数 と呼 ぶ)を 粒 界 数 で 割 っ た値. 研 削 端 末 部 に生 じる 欠 け(チ ッ ピ ン ン グ)の 生 成 機 構 に つ い て 考. で 定 義 され る.β の値 が 大 き い 場 合 に は,粒 界 ク ラ ッ ク の 数 が 飽. 察 を行 っ て い る.研 削 時 に は,砥 粒 切 れ 刃 近 傍 の 材 料 内部 に 応 力. 和 す る ま で に数 多 く の 粒 内 ク ラ ッ ク が 発 生 す る こ と を 意 味 す る.. が 誘 起 さ れ,砥 粒 切 れ 刃 が 研 削 端 末 部 付 近 に くる と.応 力 集 中 の. そ の よ う な 材 料 は 粒 界 ク ラ ッ ク の 生 じ に く い,し た が っ て 粒 界 破. 度 合 い が ます ま す 強 ま る.そ して,最 大 主 応 力 の 値 が 材 料 の 破 壊. 壊 しに く い 材 料 と 考 え られ る.. 強 度 を 越 え る と,そ こ か ら欠 け が 生 じ る と 推 察 して い る.. AEカ. ウ ン ト数(臨 界AEカ. Aの 試 料 以 外 の 材 料 に つ いて も 同様 の 観 察 と測 定 を行 っ た.そ の結 果,B,C,Dの. 試 料 に はAの 場 合 と 同様,明 確 な 折 れ 点 が. 観 察 され た.し か し,Eの か っ た.単 結 晶 材 料Fは,も. 試 料 につ い て は 折 れ 点 が 明 りょ う で な と も と 粒 界 が な いの で 当 然 の こ とな. が ら折 れ 点 は観 察 され な か っ た.図10に,各 す.図10か. ら,β の 値 は,A〜Dの. 試 料 の βの 値 を示. 試 料 の 順 に大 き くな る こ とが. わ か る. 3.3溝. この 考 え 方 が フ ェ ラ イ トの 溝 加 工 に も適 用 さ れ る と仮 定 す る と,ク ラ ッ ク 発 生 の臨 界 荷 重 が 材 料 の破 壊 強 度 と対 応 す る も の と 考 え られ る.こ (試 料Aの. を 読 み と り(AEカ. 薄 刃 ダ イ ヤ モ ン ド砥 石 を 用 い て,A〜Fの. して,そ. ウ ン ト数 の グ ラ フ. ら,ク ラ ッ ク発 生 の 臨 界 荷 重 の 近似 値. ウ ン ト数 が0.5mm‑1と. 重 の 値),そ れ を 各 試 料 のAE臨 た.そ. 加 工 に よ る フ ェ ラ イ トの 加 工 損 傷. こで は,引 っ か き荷 重 とAEカ. 場 合 は 図8)か. な るときの引 っかき荷. 界 引 っ か き荷 重 と称 す る こ と に し. の 値 を材 料 の 破 壊 強 度 に対 応 す る評 価 値 と した.. そ の 評 価 値 と チ ッ ピ ン グサ イ ズ との 問 に 相 関 関 係 が あ る か ど う か 各 フ ェ ラ イ ト材 料 に. 調 べ た.さ ら に,チ ッ ピ ン グサ イ ズ と粒 界 破 壊 の しや す さ と の 関 精 密 工 学 会 誌Vol.65,No,2,1999243.
(5) 佐 藤 ・黒部 ・滝澤:フ ェライトの微小破壊挙 動と加工損傷. Fig.12. Chipping size at edge of sliced groove. Fig.14. (SD1500-100M). Chipping size at edge of sliced groove (SD400-100M). 主 と して 影 響 す る と考 え られ る.実 用 的 に は 数 μm以 下 の チ ッ ピ ン グ サ イ ズ を 求 め る こ とが 多 く,そ の 場 合 に は 粒 界 破 壊 の しや す さ を 考 慮 して 材 料 選 定 す る必 要 が あ る.. 4.結. 言. HIPフ ェ ライ トに ピ ッ カー ス 圧 子 に よ る押 込 み 試 験 や 引 っ か き 試 験 を行 っ て,フ ェ ライ トの 微 視 的 破 壊 挙 動 を 調 べ た.ま た,薄 刃 ダ イ ヤ モ ン ド砥 石 を 用 い て 溝 加 工 を 行 い,そ の 際 発 生す る チ ッ ピ ン グ の 状 態 を調 べ,そ れ が微 視 的 破 壊 挙 動 と ど の よ うな 関 係 に あ る のか 検 討 し た.そ の 結 果,以 (1)HIPフ. 下 の 結 論 が 得 られ た.. ェ ラ イ トに ビ ッ カ ー ス圧 子 を押 し込 む と,圧 痕 の 周. りに 多 数 の ク ラ ッ ク が 発 生 す る が,そ 長 さD,と 圧 痕 中 心 か ら の 距 離Rの. の様 態 は,ク. ラ ッ ク総. 比 λに よ っ て 評 価 で き る,. λ の 値 が 大 き い 程 粒 界 破 壊 され や す い 材 料 で あ る と い え る. Fig.13. SEM micrographs of chipping mode at edge site of sliced groove (2)AEカ. (SD400-100M). ウ ン ト数 は,引 っか き 荷 重 が 増 す に つ れ て リニ ヤ に. 増 加 す る が,あ. る荷 重 を 境 に して 急 激 に そ の 増 加 割 合 が 変 化. し直 線 の 傾 き が 小 さ くな る.折 れ 点 の 荷 重(臨 界 荷 重)よ り も 大 き い 荷 重 域 で は,粒 界 ク ラ ッ ク の 数 が ほ ぼ一 定 の 値 とな る.. 係 に つ いて も調 べ た. 図12に. そ れ ら の 相 関 関 係 を 示 す.図12(b)か. 臨 界AEカ. ら,チ ッ ピ ン グサ. の 値 が 小 さ くな る.. わ か る.粒 界 破 壊 の 起 こ りや す い試 料 ほ ど チ ッ ピ ン グ サ イ ズ の 値 が 大 き く な る こ と が わ か る.一 方,図12(a)か. らAE臨. ウ ン ト数 と粒 界 数 と の 比 βは,破 壊 が 粒 界破 壊 か 粒. 内 破 壊 か を 判 断 す る 目安 と な る.粒 界 破 壊 しや す い 材 料 程 β. イ ズ と粒 界 破 壊 の しや す さ との 間 に 密 接 な 相 関 関 係 が あ る こ とが. 界 引っかき. (3)チ. ッ ピ ン グサ イ ズ が 結 晶 粒 の 大 き さ と 同程 度 か そ れ 以 下 の. 荷 重 とチ ッ ピ ン グ サ イ ズ と の 間 に は 明 確 な 相 関 関 係 が 見 ら れ な. 場 合 に は,粒 界 破 壊 しや す い材 料 程 チ ッ ピ ン グ サ イ ズ が 大 き. か っ た.. くな る.一 方,チ. 図13に,粒. 径 の 大 き な#400の. と き の 溝 エ ッ ジ 部 のSEM観. に は,AE臨. 砥 石 を 用 いて 溝 加 工 を 行 った. 察 写 真 を示 す,図13か. 砥 石 の 場 合,チ ッ ピ ン グ は#1500の. ッピングサイ ズが結 晶粒 の数倍 もあ る場合. 界 引 っ か き荷 重 の 大 き い 材 料 程 チ ッ ピ ン グサ イ ズ. が 小 さ く な る.. ら,#400の. 砥 石 に 比 して 著 し く 大 き く, 参. 結 晶 粒 の 大 き さ の 数 倍 に及 ぶ チ ッ ピ ン グ も見 ら れ る. 図14に,チ. ッ ピ ン グサ イ ズ とAE臨. 文. ら,AE臨. 界 引 っ か き荷. 1). 臨 界 引 っ か き 荷 重 が大 き く な る に つ れ て チ ッ ピ ン グ サ イ ズ は次 第. 2). 3). ェ ラ イ ト磁 気 ヘ ッ ド と磁 気 テ ー プ の 摩 擦,磨 耗 に 位 論 文(大. 阪 大 学)(1975).. 河 田 耕 一,中 田 邦 夫,上 田 修 治,長 田 敬 次;電 子 部 品 の 精 密 機 械 加 工, National. らチ ッ ピ ン グサ イ ズ と 粒 界 破 壊 の. しや す さ と の 間 に は は っ き り し た 相 関 関 係 が 見 られ な か っ た.こ. 三 好 和 寿:Mn‑Znフ 関 す る 研 究,学. 重 と チ ッ ピ ン グ サ イ ズ と の 間 に は 相 関 関 係 が あ る の が わ か る.AE. Tech. Rep. 24,. 6(1978)965.. 井 川 盧 哉,島 田 尚 一 ニア コ ー ス テ ィ ッ ク エ ミ ッ シ ョ ン を 利 用 し た硬 ぜ. れ は,粒 界 に 沿 っ た 脱 落 が 生 じ て もそ の 脱 落 規 模 が チ ッ ピ ン グサ. い 性 材 料 の 徽 小 破 壊 強 度 測 定 法,電. イ ズ 自体 よ り も小 さ く,そ の た め に粒 界 の 影 響 が 隠 れ て 表 に 現 れ. 械, 48, 2(1982)177.. な か った た め と思 わ れ る.. 4). が チ ッ ピ ン グサ イ ズ に 強 く影 響 し,一 方 チ ッ ピ ン グサ イ ズ が 結 晶 粒 の 数 倍 も あ る 場 合 に は,材 料 の 破 壊 強 度 が チ ッ ピ ン グサ イ ズ に. 精 密 工 学 会 誌Vol.65,No,2,1999. 杉 田 忠 彰,西. 誠,沢. 田. 豊,上. 子 部 品 の 精 密 機 械 加 工,糟. 密機. 田 完 次:セ ラ ミ ッ ク ス の 単 位 切 削. に お け る 脆‑塑 性 境 界 の 破 壊 力 学 的 解 析,1990年. 以 上 の 実 験 結 果 か ら,チ ッ ピ ン グサ イ ズ が結 晶 粒 の 大 き さ と同. 度精 密 工学会 秋季. 大 会 学 術 講 演 会 講 演 論 文 集,(1990)997.. 程 度 か も し く はそ れ 以 下 の 場 合 に は,材 料 の 粒 界 破 壊 の し や す さ. 244. 献. 界 引 っか き 荷 重 お よ び 粒 界. 破 壊 の しや す さ の 関 係 を示 す.図14(a)か. に 小 さ くな る.一 方,図14(b)か. 考. 5). 山 川 純 次,井. 川 直 酸,河. 関 す る 研 究(第5報),精. 村 末 久,奥. 山 繁 樹:研 削 蛸 末 部 の 形 状 変 化 に. 密 工 学 会 誌,55,11(1989)2005..
(6)
関連したドキュメント
In fact, it turns out that most of the geometric invariants of toposes considered in the literature, notably including the property of a topos to be localic (resp. atomic,
In this way we provide new short proofs of some theorems from the literature regarding linearity, Betti numbers, and (sequentially) Cohen-Macaulay properties of edge ideals
In function of the current operating mode, edge on WU leads to an interrupt request (Start−up, Normal, Standby and Flash modes) or reset (Sleep mode).. More details on the
NCV7471, NCV7471A System Basis Chip with a High-Speed CAN, Two LINs and a Boost-Buck DC/DC Converter
In function of the current operating mode, edge on WU leads to an interrupt request (Start−up, Normal, Standby and Flash modes) or reset (Sleep mode).. More details on the
Daoxuan 道 璿 was the eighth-century monk (who should not be confused with the Daoxuan 道宣 (596–667), founder of the vinaya school of Nanshan) who is mentioned earlier in
Amount of Remuneration, etc. The Company does not pay to Directors who concurrently serve as Executive Officer the remuneration paid to Directors. Therefore, “Number of Persons”
N 9 July 2017, the United Nations Educational, Scientific and Cultural Organization (UNE- SCO) inscribed “Sacred Island of Okinoshima and Associated Sites in the Munakata
As a central symbol of modernization and a monumen- tal cultural event, the 1915 exhibition provides a more comprehensive platform for better understanding an understudied era
