• 検索結果がありません。

5 SDD11 Time DOMAIN FREQ DOMAIN

ドキュメント内 Microsoft PowerPoint - 01-tdr-diff-finalf (ページ 100-105)

0.34ns(6cm)==>(1/0.34ns=3GHz)

リターンロスの悪化

2GHz 3GHZ

50MHz

リアル表示

FREQ DOMAIN TIME DOMAIN

 SDD11の値を周波数領域と時間領域で示した結果です。 

この測定データは、Start=50MHz,Stop=6GHz,Step=50MHzで測定し、

校正面は、測定ケーブル先端となっています。(ポートエクステーションは 使ってません。)

 

 周波数領域で、2GHzから、3GHzのあたり、リターンロスが悪化して  いる原因は、Time Domainで見ますと、0.34ns(6cm程度)のところで、

 不連続点が発生していることにあります。

 時間領域での解析は、長さ方向の解析ができることを意味し、これにより  不具合箇所の解析ができます。

(c) 2001, Agilent Technologies Japan, Ltd. 49

2001年5月21日 VNAによる平衡線路の評価 Page 49

5 TIME DOMAINによる差動特性インピーダンス

0.5ns(9cm)

冶具

冶具の終わり

被測定物の近端

5ns(90cm) 被測定物の 遠端側

100

Imedance表示

5nS

TIME DOMAIN

FREQ DOMAIN

 SDD11のTime DOMAINを利用して差動特性インピーダンスを求めた 結果です。80-95Ω程度の値となっています。

 STEP応答で、Impedanceでの表示にしますと、直読する ことができます。

  この結果は、TDRのオシロで評価されている方には、よくみなれて  結果かと思われます。

 周波数領域での特性インピーダンスが45MHzおきに共振点をもって いたのは、時間領域で0.34nS(約6cm)のところでインピーダンスが

(200Ω)高くなっているからです。この冶具の影響であることがわかります。

 

(c) 2001, Agilent Technologies Japan, Ltd. 50

2001年5月21日 VNAによる平衡線路の評価 Page 50

TIME DOMAIN

Gating

FREQ DOMAIN

Gating 前

Gating 後

3GHz

Gating機能

この範囲でGatingをかける

 Gating 機能について

 時間領域で、大きな不連続点の影響が周波数領域に影響すると 先ほどのべましたが、Gating機能を使いますと、この時間領域の影響を 数学的に計算することで、除くことができます。

 この例では、時間流域で、0.34nsの範囲にあった不連続点の影響を 除くことで、周波数領域の2GHzから3GHzまでのリターンロスがよくなって いることがわかります。

 冶具とケーブルを合わせた周波数特性は、実は冶具の影響により悪く なっているということです。

(c) 2001, Agilent Technologies Japan, Ltd. 51

2001年5月21日 VNAによる平衡線路の評価 Page 51

5 TIME DOMAIN による同相特性インピーダンス

TIME DOMAIN

FREQ DOMAIN

冶具の影響

SCC11のTDRを利用して同相特性インピーダンスを求めた結果です。

 20-30Ω程度の値となります。

(c) 2001, Agilent Technologies Japan, Ltd. 52

2001年5月21日 VNAによる平衡線路の評価 Page 52

Agenda

z1 Differential Devices

z 2 Difference betweeen “TDR” and “VNA with Balun”

z 3 What is the MIX-MODE Parameters z 4 Hardware System

z 5 Measurement Examples z Î6 Conclusion

5. まとめ   

(c) 2001, Agilent Technologies Japan, Ltd. 53

2001年5月21日 VNAによる平衡線路の評価 Page 53

ドキュメント内 Microsoft PowerPoint - 01-tdr-diff-finalf (ページ 100-105)

関連したドキュメント