Fig. 4-35 Particles images in AE solution
(b) Particles non-adhering to the wall surface
Fig. 4-36 The stuck particles images in BC solution
第五章 第五章 第五章 第五章
結言 結言 結言
結言
5.
結言結言結言結言本研究では，抵抗低減流体である界面活性剤に対し，電荷の異なる界面活性剤水溶液 を用い，壁面極近傍の微小粒子の挙動や壁面のゼータ電位に及ぼす界面活性剤の影響，
およびマイクロチャネルの圧力損失に及ぼす界面活性剤の影響を実験的に明らかにす ることを目的として圧力損失測定，ゼータ電位測定，壁面近傍の粒子移動量測定を行っ た．供試界面活性剤水溶液には臨界ミセル濃度及び1.0×104ppmの非イオン系のポリオ キシエチレンラウリルエーテル(AE) ，陽イオン系の塩化ベンザルコニウム(BC)，陰イ オン系のラウリルベンゼンスルホン酸ナトリウム(LAS) を用いた．得られた結果を以下 に示す．
(1)圧力損失測定において本実験で使用したマイクロチャネルでは臨界ミセル濃度で蒸 留水と一致し，1.0×104ppm では抵抗が増加することが分かった．増加率はAEでは約 15%，BCでは約4.9%，LASでは約4.5%であった．抵抗低減が報告された条件とは異な るため，条件によることを確認した．
(2)蒸留水及び各界面活性剤のゼータ電位は溶液ごとに異なり，特性通りの結果が得ら れた．電位の強さは濃度に依存することがわかった．
(3)静止流体中の微小粒子の拡散係数は壁面から 1µm 以上はなれたバルクでは CMC， 1.0×104ppmの界面活性剤の添加により減少し，濃度上昇により粒子の動きの抑制が大 きくなることが分かった．
(4)壁面から 400nm 内の微小粒子は壁面と水平方向に関しては蒸留水と比較して動きが
抑制された．鉛直方向に関してはCMCではAEは蒸留水と近い値をとりBC，LASは 増加することが分かった．
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