9.731 角度2θ（°）

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18

cps/eV

C O

Mg Si Fe

Fe Mn

5 10 15 20 25 30

keV 0.0

0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5

cps/eV

Si Mg

Fe Mn

Mn O

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

52.07 SiO

_２

44.91

_２

_３

1.14 Al

_２

_３

0.71

FeO 33.32 Fe

_２

_３

46.02

MnO 2.11 MnO 1.31

MgO 5.58 MgO 3.47

CaO 1.23 CaO 0.76

_２

O 2.63 Na

_２

O 1.63

_２

O 1.54 K

_２

O 0.96

_２

_５

0.06 P

_２

_５

0.03

その他

成分 0.31 その他

成分 0.19

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製) 倍率2500倍、加速電圧100ｋｖ

測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製) 加速電圧100ｋｖ

アモサイト標準試料 JAWE221 10 透過型電子顕微鏡形態

11 透過型電子顕微鏡電子線回折

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18

cps/eV

C O

Mg Si Fe

Fe Mn

5 10 15 20 25 30

keV 0.0

0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5

cps/eV

Si Mg

Fe Mn

Mn O

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

52.07 SiO

_２

44.91

_２

_３

1.14 Al

_２

_３

0.71

FeO 33.32 Fe

_２

_３

46.02

MnO 2.11 MnO 1.31

MgO 5.58 MgO 3.47

CaO 1.23 CaO 0.76

_２

O 2.63 Na

_２

O 1.63

_２

O 1.54 K

_２

O 0.96

_２

_５

0.06 P

_２

_５

0.03

その他

成分 0.31 その他

成分 0.19

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

138

測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）

倍率2000倍、加速電圧5ｋｖ

クロシドライト標準試料 JAWE321 1 走査型電子顕微鏡形態

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22

cps/eV

O Fe Si Fe

Na Mg

5 10 15 20 25 30

keV 0

1 2 3 4 5

cps/eV

Si Mg

Fe Fe

O Na

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

54.09 SiO

_２

50.81

Al O 0.24 Al O 0.14

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

139

測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）

EDX分析　加速電圧15ｋｖ、30ｋｖ

2 走査型電子顕微鏡元素組成クロシドライト標準試料 JAWE321

加速電圧15ｋｖ

加速電圧30ｋｖ

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22

cps/eV

O Fe Si Fe

Na Mg

5 10 15 20 25 30

keV 0

1 2 3 4 5

cps/eV

Mg Si

Fe O Fe Na

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

54.09 SiO

_２

50.81

_２

_３

0.24 Al

_２

_３

0.14

FeO 33.46 Fe

_２

_３

42.14

MnO 0.08 MnO 0.05

MgO 3.32 MgO 1.88

CaO 1.42 CaO 0.80

_２

O 5.45 Na

_２

O 3.09

_２

O 1.69 K

_２

O 0.96

_２

_５

0.01以下 P

_２

_５

0.01以下その他

成分 0.24 その他

成分 0.14

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

140

クロシドライト標準試料 JAWE321

3 走査型電子顕微鏡元素マッピング

4 走査型電子顕微鏡元素マッピング　（元素別）

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22

cps/eV

O Fe Si Fe

Na Mg

5 10 15 20 25 30

keV 0

1 2 3 4 5

cps/eV

Mg Si

Fe O Fe Na

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

54.09 SiO

_２

50.81

Al O 0.24 Al O 0.14

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

141 形態・色多色性複屈折伸長性

消光角（最大）

屈折率γ 屈折率α

5 偏光顕微鏡による光学特性クロシドライト標準試料 JAWE321

角柱針状・青色 α青色、γ灰色

低い負 0度 1.683～1.703 1.682～1.699

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22

cps/eV

O Fe Si Fe

Na Mg

5 10 15 20 25 30

keV 0

1 2 3 4 5

cps/eV

Si Mg

Fe Fe

O Na

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

54.09 SiO

_２

50.81

_２

_３

0.24 Al

_２

_３

0.14

FeO 33.46 Fe

_２

_３

42.14

MnO 0.08 MnO 0.05

MgO 3.32 MgO 1.88

CaO 1.42 CaO 0.80

_２

O 5.45 Na

_２

O 3.09

_２

O 1.69 K

_２

O 0.96

_２

_５

0.01以下 P

_２

_５

0.01以下その他

成分 0.24 その他

成分 0.14

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

142

FT-IR分析：spectrum100(PerkinElmer社製) 検出器：MIR　TGS/ATR（ダイヤモンド/ZnSe）

積算回数：４回　分解能4ｃｍ-1

クロシドライト標準試料 JAWE321 6 FT-IRによる赤外吸収スペクトル

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22

cps/eV

O Fe Si Fe

Na Mg

5 10 15 20 25 30

keV 0

1 2 3 4 5

cps/eV

Mg Si

Fe O Fe Na

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

54.09 SiO

_２

50.81

Al O 0.24 Al O 0.14

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

143

測定条件等： X’PertPRO（PANalytical社製）

CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：

step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）

測定条件等：ICP発光分光分析　Vista MPX(ｾｲｺｰｲﾝｽﾂﾙﾒﾝﾂ社製)

(鉄は二価と三価を合算した定量値になる為、全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載)

クロシドライト標準試料 JAWE321 7 粉末X線回折分析

8 化学組成

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22

cps/eV

O Fe Si Fe

Na Mg

5 10 15 20 25 30

keV 0

1 2 3 4 5

cps/eV

Si Mg

Fe Fe

O Na

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

54.09 SiO

_２

50.81

_２

_３

0.24 Al

_２

_３

0.14

FeO 33.46 Fe

_２

_３

42.14

MnO 0.08 MnO 0.05

MgO 3.32 MgO 1.88

CaO 1.42 CaO 0.80

_２

O 5.45 Na

_２

O 3.09

_２

O 1.69 K

_２

O 0.96

_２

_５

0.01以下 P

_２

_５

0.01以下その他

成分 0.24 その他

成分 0.14

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

144

50.5

30.4

30.0

29.4

測定条件等：X’PertPRO（PANalytical社製）

CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：

step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）

結晶子サイズ（nm）

020

19.617

10.509

28.566

クロシドライト標準試料 JAWE321 9 結晶子サイズ

指数hkl 角度2θ（°）

9.250

040

110

310

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22

cps/eV

O Fe Si Fe

Na Mg

5 10 15 20 25 30

keV 0

1 2 3 4 5

cps/eV

Mg Si

Fe O Fe Na

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

54.09 SiO

_２

50.81

_２

_３

0.24 Al

_２

_３

0.14

FeO 33.46 Fe

_２

_３

42.14

MnO 0.08 MnO 0.05

MgO 3.32 MgO 1.88

CaO 1.42 CaO 0.80

_２

O 5.45 Na

_２

O 3.09

_２

O 1.69 K

_２

O 0.96

_２

_５

0.01以下 P

_２

_５

0.01以下その他

成分 0.24 その他

成分 0.14

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製) 倍率2500倍、加速電圧100ｋｖ

測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製) 加速電圧100ｋｖ

10 透過型電子顕微鏡形態

11 透過型電子顕微鏡電子線回折クロシドライト標準試料 JAWE321

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22

cps/eV

O Fe Si Fe

Na Mg

5 10 15 20 25 30

keV 0

1 2 3 4 5

cps/eV

Si Mg

Fe Fe

O Na

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

54.09 SiO

_２

50.81

_２

_３

0.24 Al

_２

_３

0.14

FeO 33.46 Fe

_２

_３

42.14

MnO 0.08 MnO 0.05

MgO 3.32 MgO 1.88

CaO 1.42 CaO 0.80

_２

O 5.45 Na

_２

O 3.09

_２

O 1.69 K

_２

O 0.96

_２

_５

0.01以下 P

_２

_５

0.01以下その他

成分 0.24 その他

成分 0.14

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

146

測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）

倍率2000倍、加速電圧5ｋｖ

アンソフィライト標準試料 JAWE411 1 走査型電子顕微鏡形態

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18

cps/eV

O Fe Mg Si Fe

5 10 15 20 25 30

keV 0.0

0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5

cps/eV

Si Fe

Fe O Mg

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

62.55 SiO

_２

57.56

Al O 0.38 Al O 0.35

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

147

測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）

EDX分析　加速電圧15ｋｖ、30ｋｖ

2 走査型電子顕微鏡元素組成アンソフィライト標準試料 JAWE411

加速電圧15ｋｖ

加速電圧30ｋｖ

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18

cps/eV

O Fe Mg Si Fe

5 10 15 20 25 30

keV 0.0

0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5

cps/eV

Si Fe

O Mg Fe

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

62.55 SiO

_２

57.56

_２

_３

0.38 Al

_２

_３

0.35

FeO 7.09 Fe

_２

_３

14.51

MnO 0.24 MnO 0.22

MgO 24.36 MgO 22.42

CaO 0.51 CaO 0.47

_２

O 1.49 Na

_２

O 1.37

_２

O 1.59 K

_２

O 1.46

_２

_５

0.01以下 P

_２

_５

0.01以下その他

成分 1.78 その他

成分 1.64

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

148

アンソフィライト標準試料 JAWE411

3 走査型電子顕微鏡元素マッピング

4 走査型電子顕微鏡元素マッピング　（元素別）

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18

cps/eV

O Fe Mg Si Fe

5 10 15 20 25 30

keV 0.0

0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5

cps/eV

Si Fe

O Mg Fe

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

62.55 SiO

_２

57.56

Al O 0.38 Al O 0.35

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

149 形態・色多色性複屈折伸長性

消光角（最大）

屈折率γ 屈折率α

5 偏光顕微鏡による光学特性アンソフィライト標準試料 JAWE411

角柱針状・白色なし中度

正 0度 1.626～1.639 1.601～1.626

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18

cps/eV

O Fe Mg Si Fe

5 10 15 20 25 30

keV 0.0

0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5

cps/eV

Si Fe

Fe O Mg

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

62.55 SiO

_２

57.56

_２

_３

0.38 Al

_２

_３

0.35

FeO 7.09 Fe

_２

_３

14.51

MnO 0.24 MnO 0.22

MgO 24.36 MgO 22.42

CaO 0.51 CaO 0.47

_２

O 1.49 Na

_２

O 1.37

_２

O 1.59 K

_２

O 1.46

_２

_５

0.01以下 P

_２

_５

0.01以下その他

成分 1.78 その他

成分 1.64

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

150

FT-IR分析：spectrum100(PerkinElmer社製) 検出器：MIR　TGS/ATR（ダイヤモンド/ZnSe）

積算回数：４回　分解能4ｃｍ-1

アンソフィライト標準試料 JAWE411 6 FT-IRによる赤外吸収スペクトル

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18

cps/eV

O Fe Mg Si Fe

5 10 15 20 25 30

keV 0.0

0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5

cps/eV

Si Fe

O Mg Fe

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

62.55 SiO

_２

57.56

Al O 0.38 Al O 0.35

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

151

測定条件等： X’PertPRO（PANalytical社製）

CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：

step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）

測定条件等：ICP発光分光分析　Vista MPX(ｾｲｺｰｲﾝｽﾂﾙﾒﾝﾂ社製)

(鉄は二価と三価を合算した定量値になる為、全て二価または三価と仮定した場合の数値を記載)

アンソフィライト標準試料 JAWE411 7 粉末X線回折分析

8 化学組成

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18

cps/eV

O Fe Mg Si Fe

5 10 15 20 25 30

keV 0.0

0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5

cps/eV

Si Fe

Fe O Mg

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

62.55 SiO

_２

57.56

_２

_３

0.38 Al

_２

_３

0.35

FeO 7.09 Fe

_２

_３

14.51

MnO 0.24 MnO 0.22

MgO 24.36 MgO 22.42

CaO 0.51 CaO 0.47

_２

O 1.49 Na

_２

O 1.37

_２

O 1.59 K

_２

O 1.46

_２

_５

0.01以下 P

_２

_５

0.01以下その他

成分 1.78 その他

成分 1.64

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

152

57.1

55.2

59.9

71.9

測定条件等：X’PertPRO（PANalytical社製）

CuKα線　45ｋｖ40ｍA：発散スリット1/2°：

step scan; step width 0.002°(2θ)：scan speed 0.0066°(2θ/ｓ）

結晶子サイズ（nm）

020

19.682

29.282

59.782

アンソフィライト標準試料 JAWE411 9 結晶子サイズ

指数hkl 角度2θ（°）

9.814

040

610 12 00

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18

cps/eV

O Fe Mg Si Fe

5 10 15 20 25 30

keV 0.0

0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5

cps/eV

Si Fe

O Mg Fe

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

62.55 SiO

_２

57.56

_２

_３

0.38 Al

_２

_３

0.35

FeO 7.09 Fe

_２

_３

14.51

MnO 0.24 MnO 0.22

MgO 24.36 MgO 22.42

CaO 0.51 CaO 0.47

_２

O 1.49 Na

_２

O 1.37

_２

O 1.59 K

_２

O 1.46

_２

_５

0.01以下 P

_２

_５

0.01以下その他

成分 1.78 その他

成分 1.64

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製) 倍率2500倍、加速電圧100ｋｖ

測定条件等：透過型電子顕微鏡　JEM2010(日本電子社製) 加速電圧100ｋｖ

10 透過型電子顕微鏡形態

11 透過型電子顕微鏡電子線回折アンソフィライト標準試料 JAWE411

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18

cps/eV

O Fe Mg Si Fe

5 10 15 20 25 30

keV 0.0

0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5

cps/eV

Si Fe

Fe O Mg

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

62.55 SiO

_２

57.56

_２

_３

0.38 Al

_２

_３

0.35

FeO 7.09 Fe

_２

_３

14.51

MnO 0.24 MnO 0.22

MgO 24.36 MgO 22.42

CaO 0.51 CaO 0.47

_２

O 1.49 Na

_２

O 1.37

_２

O 1.59 K

_２

O 1.46

_２

_５

0.01以下 P

_２

_５

0.01以下その他

成分 1.78 その他

成分 1.64

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

154

測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）

倍率2000倍、加速電圧5ｋｖ

走査型電子顕微鏡形態トレモライト標準試料 JAWE511 1

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18

cps/eV

Mg Si Ca

Fe Fe

5 10 15 20 25 30

keV 0.0

0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0

cps/eV

Si Fe

O Mg Fe C a C a

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

51.91 SiO

_２

49.09

Al O 0.30 Al O 0.28

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

155

測定条件等：S-3400N（㈱日立ハイテクノロジーズ）/BRUKER-AXS　Xflash　4010）

EDX分析　加速電圧15ｋｖ、30ｋｖ

トレモライト標準試料 JAWE511 2 走査型電子顕微鏡元素組成

加速電圧15ｋｖ

加速電圧30ｋｖ

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18

cps/eV

Mg Si Ca

Fe O Fe

5 10 15 20 25 30

keV 0.0

0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0

cps/eV

Si Fe

Fe O Mg

C a C a

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

51.91 SiO

_２

49.09

_２

_３

0.30 Al

_２

_３

0.28

FeO 4.69 Fe

_２

_３

9.87

MnO 0.32 MnO 0.30

MgO 25.41 MgO 24.03

CaO 16.90 CaO 15.98

_２

O 0.12 Na

_２

O 0.12

_２

O 0.07 K

_２

O 0.07

_２

_５

0.01以下 P

_２

_５

0.01以下その他

成分 0.27 その他

成分 0.25

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

156

3 走査型電子顕微鏡元素マッピング

4 走査型電子顕微鏡元素マッピング　（元素別）トレモライト標準試料 JAWE511

2 4 6 8 10 12 14

keV 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18

cps/eV

Mg Si Ca

Fe O Fe

5 10 15 20 25 30

keV 0.0

0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0

cps/eV

Si Fe

Fe O Mg

C a C a

ｗｔ％ｗｔ％

SiO

_２

51.91 SiO

_２

49.09

Al O 0.30 Al O 0.28

鉄が全て二価の場合鉄が全て三価の場合

157 形態・色多色性複屈折伸長性

消光角（最大）

屈折率γ 屈折率α

5 偏光顕微鏡による光学特性トレモライト標準試料 JAWE511

1.603～1.626

ドキュメント内 02.参考資料標準試料データ (ページ 31-52)

２

２

２

３

２

３

２

３

２

２

２

２

２

５

２

５

アモサイト標準試料 JAWE221 10 透過型電子顕微鏡 形態

11 透過型電子顕微鏡 電子線回折

２

２

２

３

２

３

２

３

２

２

２

２

２

５

２

５

138

クロシドライト標準試料 JAWE321 1 走査型電子顕微鏡 形態

２

２

139

2 走査型電子顕微鏡 元素組成 クロシドライト標準試料 JAWE321

２

２

２

３

２

３

２

３

２

２

２

２

２

５

２

５

140

クロシドライト標準試料 JAWE321

3 走査型電子顕微鏡 元素マッピング

4 走査型電子顕微鏡 元素マッピング （ 元素別 ）

２

２

141

形態・色 多色性 複屈折 伸長性

消光角（最大）

屈折率γ 屈折率α

5 偏光顕微鏡による光学特性 クロシドライト標準試料 JAWE321

角柱針状・青色 α青色、γ灰色

低い 負 0度 1.683～1.703 1.682～1.699

２

２

２

３

２

３

２

３

２

２

_２

_２

_２

_３

_２

_３

_２

_３

_２

_２

_２

_２

_２

_５

_２

_５

アモサイト標準試料 JAWE221 10 透過型電子顕微鏡形態

11 透過型電子顕微鏡電子線回折

_２

_２

_２

_３

_２

_３

_２

_３

_２

_２

_２

_２

_２

_５

_２

_５

クロシドライト標準試料 JAWE321 1 走査型電子顕微鏡形態

_２

_２

2 走査型電子顕微鏡元素組成クロシドライト標準試料 JAWE321

_２

_２

_２

_３

_２

_３

_２

_３

_２

_２

_２

_２

_２

_５

_２

_５

3 走査型電子顕微鏡元素マッピング

4 走査型電子顕微鏡元素マッピング　（元素別）

_２

_２

形態・色多色性複屈折伸長性

5 偏光顕微鏡による光学特性クロシドライト標準試料 JAWE321

低い負 0度 1.683～1.703 1.682～1.699

_２

_２

_２

_３

_２

_３

_２

_３

_２

_２

_２

_２

_２

_５

_２

_５

_２

_２

_２