10kN形
100kN形
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3-1-4 セラミックス用3点／4点曲げ試験治具
セラミックス用の曲げ試験治具で，試験片位置決め溝を設けて，試験 片に対して均一な負荷がかけられる構造です。また，試験片はコン パクトカプセル内に内蔵される構造のため，破断後の試験片確認が 容易です。
■適応試験規格：JIS R1601
■種類・主な仕様
キット番号適応オートグラフ 最大容量 曲げ方式
ポンチ先端半径（mm）・材料 ポンチスパン（mm）
支点半径（mm）・材料 支点間距離（mm）
上部圧盤（mm）
試験片寸法（幅×長さ×厚さmm）
質量（上部kg）
使用温度範囲
346-53886-XX AG形，AGS形
5kN R2.5 軸受鋼 R2.5 軸受鋼 30（固定）
φ35 W4×L36×T 3
0〜40℃
3点曲げ 4点曲げ
− 10（固定）
セラミック
3-1-5 複合材料用3点／4点曲げ試験装置
強化プラスチックなど複合材料用として優れた機能を持つ3点／4点 曲げ試験装置です。硬質プラスチックやセラミックスの曲げ試験に応 用できます。
●ポンチ間隔および支点間隔共にダイヤルによるねじスライド機構で 簡単・高精度に調節できます。
●ポンチローラと支点ローラは，常に平行が保持されるので，試験片 に正確な試験力を与えることができます。
●ポンチローラと支点ローラは，取換え式ですので，試験規格に合わ せたローラを用意すれば色々な材料の試験が行えます。
■適応試験規格：JIS K7017 JIS K7074 JIS K6911 JIS H7406
■適応試験規格：
JIS R1601 JIS R1602
■種類・主な仕様
適応オートグラフ キット番号 最大容量ポンチ先端半径×幅（mm）
ポンチスパン（mm）
支点ローラ半径×幅（mm）
支点間距離（mm）
試験片寸法（幅×長さ×厚さmm）
使用温度範囲
AG形，AGS形 346-53889-XX
5kN
R3×50，R5×50（2種）
10〜35（4点曲げ）
R3×50，R2×50（2種）
30〜100 最小寸法 W4×L36×T 1
0〜40℃
プラ セラミック
3-1-6 コンクリート用4点曲げ試験治具（AG形用）
JIS 試験規格にもとづくコンクリート曲げ試験用の治具です。
■適応試験規格:JIS A1106（ISO 4013）
■種類・主な仕様
適応オートグラフ キット番号 最大容量ポンチ先端半径×幅×スパン（mm）
支点ローラ半径×幅（mm）
支点間距離（mm）
試験片寸法（幅×長さ×厚さmm）
使用温度範囲
346-53920-XX 100kN R15×170×（50〜180）
R15×170 50〜500
100×380以上×100又は150×530以上×150 0〜40℃
AG-100kN形用 AG-250kN形用 コンクリート
3-2-2 実物試料3点曲げ試験冶具
携帯電話筐体など実物試料の3点曲げ試験用治具です。
■主な仕様
3-2-1 プリント基板3点/4点曲げ試験冶具
プリント基板単体や部品実装プリント基板の曲げ試験用治具 です。
■主な仕様
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3-2 実物試験
電気・電子
電気・電子
部品番号 容量
ポンチ先端半径×幅（mm）
支点間距離（mm）
346-53945-XX 100N R2×W60
20〜60 種類
部品番号 容量
ポンチ先端径×幅（mm）
ポンチスパン（mm）
支点間（mm）
346-53944-XX 100N R2×W60
3点曲げ試験用 4点曲げ試験用
− 20〜60
20〜60
3-2-4 シリコンチップ曲げ治具
シリコンチップの3点曲げ試験用治具です。
SEMI （ Semiconductor Equipment and Materials International）
スタンダードに準拠しています。
■種類・主な仕様
電気・電子
種類 キット番号 最大容量
ポンチ 先端半径×幅（mm）
支点 先端半径×幅（mm）
支点間距離（mm）
346-53947-XX 500N R0.3×22 R0.3×22
1〜20 5
スパン可変形
スパン可変形 スパン固定形
3-2-3 表面実装部品の本体強度試験冶具
EIAJ （日本電子機械工業会） 試験規格にもとづく表面実装部品 の本体強度試験 （曲げ） 用治具です。
■適応試験規格：EIAJ ET-7403
■適応試験規格：
表面実装部品の機械的強度試験方法
■主な仕様
電気・電子
キット番号 最大容量
ポンチ 先端半径×幅（mm）
支点 先端半径×幅（mm）
支点間距離（mm）
346-53946-XX 50N R0.5×30 R0.5×30 35（Max.）
ポンチ
試験片
（mm）
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4-1-1 銅はく引きはがし試験装置
プリント基板上の銅箔引きはがし試験用治具です。
■付属上部つかみ具：1kN 平面形ねじ式1個
■仕様
金属 その他
キット番号 適応オートグラフ 容量
適応試験片（幅×長さ×厚さmm）
使用温度範囲 適応試験規格
346-53864-01 AG形，AGS形
1kN
プリント基板 W25×L100×T 0.8〜3.2 -70〜＋250℃
JIS C 6481
4-1-3 粘着テープ引きはがし試験装置
■適応試験規格：JIS Z0237 粘着テープ，粘着シート
■適応試験規格：
試験方法 （90° 引きはがし試験）
■適応試験規格：
JIS Z1528 両面粘着テープ粘着力試験
■付属上部つかみ具：1kN 平面形ねじ式1個
■仕様
プラ ゴム
キット番号 適応オートグラフ 容量
適応試験片（幅×厚さmm）
使用温度範囲
346-53865-XX AG形，AGS形
1kN W50×T 1.5〜2
-10〜+60℃
4-1-2 ロータリドラム形はく離試験つかみ具
IPC （Interconnecting and Packaging Electric Circuits） 規格にもとづく，フ レキシブルプリント配線材の接着力試験用ロータリドラム形つかみ具 です。
■適応試験規格：IPC-TM-650 Peel Strength,
■適応試験規格：
Flexible Printed Wiring Materials
■付属上部つかみ具：1kN 平面形ねじ式1個
■仕様
金属 その他
キット番号 適応オートグラフ 容量
適応試験片（幅×長さmm）
使用温度範囲
346-53866-01 AG形，AGS形
1kN
W12.7（1/2in）× L228.6（9in）
-10〜+60℃