課題と展望

メトリクスの修 正 に関する短 期 的な課 題 としては，CK メトリクス以 外 のメトリクスを提 案 した 方法により修正し，さまざまな再利用ライブラリに対して適用することがある．現在，筆者が所 属する研究グループにおいてCKメトリクス以外のメトリクスを修正し，適用実験を行っている ところである．本 研 究 における実 験 は，教 育 環 境 における実 験 であったため，一 度 開 発 した ソフトウェアを保 守 したり，何 度 も開 発 を繰 り返 したりする事 例は観 察 されていない．より実 際 的 な繰 り返 し型 ソフトウェア開 発 プロセスにメトリクスを適 用 する実 験 を行 うことで，新 たな知 見と問題が得られるはずである．本論文で議論したコードクローン検出技術についての短期 的 課 題 としては，XP（extreme programming）に代 表 される，リエンジニアリングによる継 続 的な設 計 の変 更を前 提 とした開 発 プロセスが提 案されている．本論 文で議 論 したコードク ローンやクローンに関 するメトリクスがそのような設 計の変 更のための判 断 基 準となるか，ある

いは，コードクローンと設計変更の関係などについて，定量的な評価が必要である．

中 期 的 な課 題 としては，現 在 も発 展 し続 けるソフトウェア開 発 技 術 に対 して，従 来 のメトリ クスあるいはコードクローン検 出 手 法 やその適 用 方 法 は適 切 か，あるいは適 切 ではないなら どのようにすればよいか，という問題がある．ソフトウェア開発技術については，UML，デザイ ンパターン，汎 用 型 による（静 的 な型 チェックを損 なわない）汎 用 コンテナや汎 用 アルゴリズ ム，プログラミング言 語 間 の相 互 運 用 性 の向 上による複 数 言 語 プログラミングなど，多 くの技 術 が登 場 してきている．これらの技 術 が複 雑 度 メトリクスやコードクローンの利 用 に影 響 を及 ぼすと考えられる．

UML により，要求仕様書（あるいはシステムレベルの分析）が構造化された文書として記 述 されるようになり，その振 る舞 いの（動 的 な）複 雑 度 を計 測 するメトリクスが登 場 した．筆 者 が所属 する研究チームにおいても，動的なメトリクスと静的なメトリクスを比 較する研 究 が始ま っている．コードクローンを発 生 させやすい設 計 の特 徴 を調 べたり，設 計 書 からコードクロー ンを予 測 する方 法 を探 るなど，多 くの研 究 課 題 がある．従 来 のオブジェクト指 向 複 雑 度 メトリ クスは，クラス（あるいはシステム全体）を計測対象とすることが多かったが，デザインパターン などの，複数のクラスを（それぞれのクラスに一定の役割を持たせ）組み合わせる考え方が一 般 化 すれば，複 数 のクラスの組 み合 わせを計 測 対 象 とする，あるいはクラスがパターンの中 で果 たしている役 割 を考 慮 する複 雑 度 メトリクスも考 えられる．汎 用 型 を用 いて定 義 されたク ラスは，実 際 に型 パラメータが与 えられるまで，どのようなクラスと関 係 があるかを決 定 できな い．従来の複雑度メトリクスは，クラスの定義だけからクラス間の関係が決定できると仮定して いるため，汎 用 型 を用 いたソースコードにそのまま適 用 することはできない．汎 用 型 によって 共 通 化 コードとして書 き直 せるようなコードクローンも存 在 するため，汎 用型 はコードクローン の書き直しにおいて無視できない問題である．複数言語による開発においては，言語によっ て扱 うオブジェクトの粒 度 が異 なる，あるいは，オブジェクト指 向 言 語 と関 数 型 言 語 の併 用 も 考えられるため，オブジェクト指 向 複 雑度 メトリクスの大 前 提 であるオブジェクトやメソッドの概 念が揺 らいでしまい，適 用が困 難 になるかもしれない．コードクローン検 出 においては，構文 が大 幅 に異 なるプログラミング言 語 で記 述 されたソースファイルから，意 味 的 に似 ているコー ド断片を探し出すことが必要とされるかもしれない．

長 期 的 な課 題 としては，複 雑 度 メトリクスの構 造 に関 する研 究 がある．現 在 乱 立 している 複 雑 度 メトリクスを，一 定 の構 造 化 により比 較 する研 究 が行 われつつある．また，より根 本 的 な問 題 として，現 在 の複 雑 度 メトリクスは，人 間 が起 こすエラーを予 測 するのに使 われるが，

人 間 の認 識 に関 するモデルを内 包 していない．多 くの複 雑 度 メトリクスは，「ソフトウェアを何 らかのグラフで表 現 したときに，頂 点 や辺 が多 いほど複 雑 である」という定 義 を用 いている

（本 論 文 においても，メトリクスの性 質 を議 論 する際 に，このような形 式 の定 義 を用 いた．3.4 参 照 ）．複 雑 度 メトリクスは，いずれ，人 間 の記 憶 力 の限 界 や，人 間 はどのようにエラーを起 こすかといった，人間の認識に関する研究と統合される必要があるだろう．

謝辞

本研 究を行 うにあたり，常日 頃 より適切 なご指 導を賜 りました井上 克 郎 教授 に深く感謝い たします．講義などを通じて，さまざまなご指導とご教示を賜った，都倉信樹教授に深く感謝 いたします．講 義 や国 際 会 議 などを通 じて，さまざまなご指 導 とご教 示 を賜 った，菊 野 亨 教 授に深く感謝いたします．

講 義 などを通 じて，さまざまなご指 導 とご教 示 を賜 った，今 川 正 治 教 授 ，柏 原 敏 伸 教 授 ， 北 橋 忠 宏 教 授 ，谷 口 健 一 教 授 ，萩 原 兼 一 教 授 ，橋 本 昭 洋 教 授 ，東 野 輝 夫 教 授 ，藤 原 融 教授，増澤利光教授，宮原秀夫教授，村田正幸教授，首藤勝元教授(現大阪工業大学教 授)，故西川清史教授，故藤井護教授に心から感謝いたします．

本 研 究 の遂 行 にあたり，さまざまなご配 慮 とご協 力 をいただいた，日 本 ユニシス株 式 会 社 の毛 利 幸 雄 氏 ，齋 藤 滋 氏 ，高 橋 優 亮 氏 ，小 谷 野 圭 司 氏 ，尾 畑 祐 一 氏 ，川 南 理 恵 氏 に深 く 感謝いたします．

研 究 会 や会 議 における質 疑 応 答 を通 じて有 益 なご意 見 を賜 った鳥 居 宏 次 副 学 長 （奈 良 先端科学技術大学院大学）に心から感謝いたします．

特に 6 の内容に関して，ミーティングなどを通じて有益なご意見をいただきました佐藤慎 一氏（株式会社NTTデータ），加藤裕史（株式会社NTTデータ），門田暁人助手（奈良先 端 科 学 技 術 大 学 院 大 学 ），中 江 大 海 氏 （奈 良 先 端 科 学 技 術 大 学 院 大 学 ）に深 く感 謝 いた します．

本 論 文 をまとめるにあたり，楠 本 真 二 助 教 授 には，常 に適 切 なご指 導 を賜 り，また細 部 に わたる議論に応じていただきました．ここに深く感謝いたします．松下誠助手には，ミーティン グにおける議論などを通じてご助言を賜りました．心から感謝いたします．高林修司氏（現松 下通信工業 株式会社），柏本隆志氏 （現株式会社日立製作 所），上村拓也氏（現ソニー株 式会社パーソナル IT ネットワークカンパニー），竹原元康氏，藤井邦浩氏（現奈良先端科 学 技 術 大 学 院 大 学 ），ならびに大 阪 大 学 大 学 院 基 礎 工 学 研 究 科 情 報 数 理 系 専 攻 ソフトウ ェア科 学 分 野 井 上 研 究 室 の方 々には，ミーティングなどを通 じてさまざまなご助 言 をいただ きました．深く感謝いたします．

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