外部入力のドントケア分散とテスト圧縮

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式(5.3.1.3)に テ ス ト 集 合 中 の 外 部 入 力 の ド ン ト ケ ア 分 散 を 算 出 す る 関 数 を 示 す ．

 

 





i

XT N

j

i j X

PI

p xt X XT

N A XT

s

1

2 )

( 1

2

1 ( ( ) ( , ) )

)

(

予 備 実 験 内 容 につ い て 説 明 す る．予 備 実 験 で は ，テ ス ト 生 成 で 生 成 し た 初 期 テ ス ト 集合 T に 対 し て ，ラン ダ ム で テ ス ト パ タ ー ンの 論 理 値 を ド ン ト ケ ア に 置 き 換 えた テ ス ト 集 合 RXTを 1000 種 類 作 成 し た ． 各 RXT の ド ン ト ケ ア 数 は 等 しく ，外 部 入 力 の ド ント ケ ア の 分 散 は そ れぞ れ 異 な る テ ス ト 集 合 で あ る ． また ， 予 備 実 験 の ため RXT は T と 等 し い故 障 検 出 率 は 保 証 し て い な い ． その 後 ， 各 RXT に 対 し て ， ド ン ト ケ ア に基 づ く テ ス ト 圧 縮 [16]を 適 用 し ， 外 部 入 力 の ド ン ト ケ ア の 分 散 と テ ス ト 圧 縮 の 関 係 を 解 析 し た ． 外 部 入 力 のド ン ト ケ ア 分 散 は 式(5.3.1.3)を 用 い て 算 出 し た ．

図 5.3.1.1 に ，ITC’99 ベ ン チ マ ー ク 回 路 の b14 の 予備 実 験 結 果 を 示 す．

初 期 テ ス ト 集合 T は Synopsys 社 の TetraMAX ATPG を 用 い て 生 成 し た ． ま た ，TetraMAX ATPG に よ る テ ス ト 生 成 時 に 動 的 圧縮 を 適 用 し て い る ． RXT 生 成 時 に お け る ド ン ト ケ ア の割 合 は ， テ ス ト 集 合中 の 70%，80%， 90%の 3 種 類 を 用 い て ，計 3000 種 類 の テ ス ト 集 合 を 生成 し た ．図 5.3.1.1 に お い て ， 縦 軸は 各 RXT の テ ス ト 圧 縮 後 の テ ス ト パタ ー ン 数 ， 横 軸 は 各 RXT の 外 部 入 力 の ド ン ト ケ ア 分 散を 表 し て い る ． また X-bit 70%は RXT に 含 ま れ る ド ント ケ ア の 割 合が 70%，X-bit 80%は RXT に 含 ま れ る ド ン ト ケ ア の 割 合が 80%，X-bit 90%は RXT に 含 ま れ る ド ン トケ ア の 割 合が 90%

で あ る こ と を 示し て い る ． 図 5.3.1.1 の X-bit 90%の プ ロ ッ ト に 着 目 す る と ，外部 入 力 の ド ン ト ケ ア 分 散が 30000 以 下 の 場合 ，分 散 値 が 低 い ほ ど 圧 縮 後 の テ ス ト パタ ー ン 数 が 大 き く 削減 さ れ て る ．し か し な が ら ，外 部入 力 の ド ン ト ケ ア 分散 が 30000 以 上 の 場 合 は ，圧 縮 後 の テ ス ト パ タ ー ン 数 に変 化 が 無 い ．X-bit 80%の プ ロ ット に 関 し て も ， 分 散 値が 20000 を 境 に 同 様 の 傾 向 が 見 ら れ る ． し か し な が ら ，X-bit 70%の プ ロ ッ ト に 関 し て は ， 分 散 値 の 変 化 に 対 し て 圧 縮 後 の テ ス ト パ タ ー ン 数 の 差 は ほ と ん ど 見 ら れ な

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か っ た ． ま た ，X-bit 90%，X-bit 80%，X-bit 70%の 3 つ の プ ロ ッ ト に つ い て 比 較 す る と，外 部 入 力 の ド ン トケ ア 分 散 が 同 じ 値 でも ，ド ン ト ケ ア 数 が 多 い X-bit 90%の プ ロ ッ ト が 最 も圧 縮 後 の テ ス ト パ ター ン 数 が 少 な い こ と が わ か る．予 備 実 験 結 果 よ り，ド ン ト ケ ア に 基 づ く テス ト 圧 縮 は ，外部 入 力 の ド ン ト ケア の 分 散 と テ ス ト 集合 中 の ド ン ト ケ ア 数に よ っ て，圧 縮 後 の テ ス ト パ タ ーン 数 に 差 が 生 じ る こと が 確 認 で き た ．

0 100 200 300 400 500 600 700 800 900

0 20000 40000 60000 80000 100000 120000 140000

テスト圧縮後のテストパターン数

外部入力のドントケア分散

X-bit 70%

X-bit 80%

X-bit 90%

図 5.3.1.1： 外 部 入 力 の ド ン ト ケ ア 分 散 と テ ス ト 圧 縮 の 関 係(ITC’99 b14)

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