り込みあたり 1 サンプルから 16 サンプルまで指定できます。各割り込みの後に、A/D 変 換モジュールは常にバッファの先頭から変換結果の書き込みを開始します。例えば、
3: デバイス クロックの次のサイクルで。
131
132 130
BCLR AD1CON1, SAMP
Q3/Q4
A/D CLK(1)
A/D DATA
ADC1BUF
AD1IF
SAMP
古いデータ
サンプリング停止
新しいデータ (注2)
9 8 7 2 1 0
注1: A/Dクロック源にRCが選択されると、A/D クロック開始前に1 TCYが追加される。これでスリープ命令が実行できる
ようになる。
2:
これは最小のRC 遅延(標準 100 ns)で、この後アナログ入力がホールド キャパシタにまた接続される。. . . . . .
TCY BSET AD1CON1, SAMP
135
17.17 設計の秘訣
質問
1: A/D
コンバータのシステム パフォーマンスはどうすれば最適化できますか?
回答: A/Dのパフォーマンスを最適化するには主に3つの主要検討項目があります。
1.
タイミング仕様をすべて満たしていることをご確認ください。モジュールのオフから オン切り替え時には、サンプルを取得する前に待機する必要のある最低限の遅延があ ります。入力チャネル変更時にも、同じく待機が必要な最小限の遅延があり、そして 最後に各ビット変換のために選択される時間であるT
AD があります。この遅延はAD1CON3
で選択しますが、17.16
項「電気的仕様」の仕様範囲内の値である必要があります。TAD
が短か過ぎる場合、その結果は変換終了前に十分に変換されない可能性
があり、TADが長過ぎる場合、サンプリングコンデンサの電圧は変換が完了される前
に放電する可能性があります。このタイミング仕様はデバイスデータシートの「電 気的仕様」の項で説明されています。2.
しばしば、アナログ信号のソース インピーダンスが高く(2.5 kΩ を超える )、そのた
めソースからの漏れ電流や、サンプルコンデンサを十分充電できないなど、精度に影 響を及ぼします。入力信号がそれほど高速に切り替わらない場合は、0.1 μF
のコンデ ンサをアナログ入力に接続してみてください。このコンデンサがサンプルするアナロ グ電圧で充電され、4.4 pF 内蔵ホールド キャパシタを充電するために十分な瞬時電流 を供給します。3. A/D
変換を開始する前にデバイスをスリープモードにしてください。RC
クロック源の選択がスリープモードでの変換に必要です。このテクニックにより
CPU
及びその 他の周辺モジュールからのデジタルノイズが最小化されるので精度が向上します。質問
2: A/D
変換に関する良い参考文献をご存知ですか?
回答
: A/D
変換を理解するのに良い参考文献はPrentice Hall
発行の『Analog-Digital ConversionHandbook』第 3
版です (ISBN 0-13-03-2848-0)。質問
3:
チャネル/
サンプルとサンプル/
割り込みの組み合わせがバッファ サイズを超えて います。バッファに何が起きますか?
回答
:
この構成は推奨できません。バッファには不定の結果が格納されます。10 ビット A/D コンバータ
17
17.18 関連する アプリケーション ノート
この項では、マニュアルのこの章に関連するアプリケーションノートをリストアップしま す。これらのアプリケーションノートは、特に
PIC24F
デバイス ファミリー用に書かれて いるわけではありませんが、その概念は適切であり、変更、あるいは制限事項を考慮に入 れて使用可能です。現在、10
ビットA/D
コンバータに関連するアプリケーションノート は次の通りです。タイトル アプリケーションノート
#
Using the Analog-to-Digital (A/D) Converter AN546
Four-Channel Digital Voltmeter with Display and Keyboard AN557 Understanding A/D Converter Performance Specifications AN693
注
: PIC24F
ファミリ デバイスに関するその他のアプリケーション ノートやコード例についてはマイクロチップウェブサイト
(www.microchip.com)
をご覧下さい。17.19 改版履歴
リビジョン
A (2006
年4
月)
本文書の初版リリース。
ドキュメント内
PIC24F_ADConberter
(ページ 37-41)