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携帯通信機器用の高周波半導体

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Academic year: 2021

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特集

パーソナル情報通信機器に貢献する半導体技術

携帯通信機器用の高周波半導体

High-FrequencyDevices&lCforPortabteTelecommunicationTerminals

岡部健明*

渡辺一雄**

ハンティセルラー

/

㌃感

、忘で巧

バイポーラトランジスタ

HEMT RFパワーモジュール

節榔

㍑♂

毎ラ

㌔ダダ

棚 ′ダ藍 VC 沃≡㍑℃磯

PJLIC 乃如〟ん才()んrJみど Å■βZ7…l帖/〟プ7〟∂ど 紬 注:略語説明 VC(Va伯b】eCapac・ta=CeD■{〕de) PLL(PhaseLockedJoop) セルラー端末用高周波半導体 高効率RFパワーモジュール,超低雑音HEMT,高遮断周波数バイポーラトランジスタ,低消費電力PLいCなど特長ある製品をそろえている。

携借通信機器の小型・軽異化のため,低動作電卜亡

化に対する期待が高まっている。ニうしたニーズに

こたえるため,携帯通信機器の代表的なセルラー電

話などに適した低電J上・高周波デバイスを開発した。

最も消曹屯力の人きい電力増幅器は,構成デバイ

スであるMOS

FET(MetalOxide

Semiconductor

FieldEffectTransistor)の直列抵抗の低減,ドレー

ン容量の低減によって変換効率の改善を図り,アナ

ログおよび欧州ディジタル対応電力増幅署旨を製.別ヒ

した。欧州ディジタル向けでは,4.8V動作時,出力

*l川二製作所や導体事業一揃 ぃて;モ博一1二**l川二製作畑二戸き詩体事業部 3.2W,効率50%を持つRFパワーモジュールを開発 した。

高榔虹

低雑音デバイスとしては,HEMT(High

Electron Mobility

Transistor)およびバイポーラ

トランジスタを製.1.占化しているが,さらに微細化プ

ロセスにより,低電止動作を可能とした。

周波数シンセサイザICでは,微細化BiCMOS

(BipolarComplementaryMOS)プロセスの適用と

l口I路設計の最適化により,低電圧・低消費電力化を

達成した。

45

(2)

522 日立評論 〉OL.76 No.7‥994-7)

n

はじめに セルラー1に.言.†機の′卜彗り・軽_呈追二化,および舐′1朋ヒ化に対

する ̄柴)ドは強く,これらを一丈現するために半キ引本部--,ノーグ)

′トキワ・■‡■州瀧化に対する期待も人きい。なかでも,セ、ソ トの小ナ亡当・醗与拉イヒに茄も効果のある屯池セル数の低減を

叶能とする半導体の低電†t三化が姑も強く安望されている。

イ;丁ゝJ▲処叩テ、バイスでは,SN比の許される屯Jl瀬帖ま で低屯什化が・1川巨であり,徴柵化プロセスによる【亡さン件能 デバイスの採別によって′夫税できる。・一九 電ノJ増幅川 デバイスでは,低`F-EJl三になるに従って必懲一心ま己が増加し, 配線批杭やデバイスのl什別紙抗による損失増加などによ り、総合の効率が低 ̄卜してしまう。したがって,デバイ

スの什能収二#をはじめ,トータル設計が錐(かぎ)となる。

ここでは,新型MOSFETをJ ̄lトーた低屯什RFパワーモ ジュール,および微細化プロセスを採朋した低稚苗トラ ンジスタ,1)LLICについて述べる。

セルラー電話機高周波部構成とデバイスヘ

の要求性能

椎利休油イJの【卜じ、であるセルラー†E.講のil了川討渡部の半 導体デバイスは,-ミ'捕仙女人ノJ一三妄り・の低雉ヰ哨帖としてバ イホーラトランジスタおよびHE几・1T,樹液数変換するミ キサヒしてバイポーラトランジスタ,送fさ汁;1-;一の屯力哨 帖としてRFパワーモジュール,ならびにfJ一引馴立教を発 ′1三するシンセサイザICから成る。また,\′rCO(1J()ltage C(_)Iltr()11edOsci11ator)、TCXO(Te111perattlreConlPe什 sated Cr)′StalOscillat()r)などの発振部には叶焚?さ端ダ イオードが恍われている(45ページのl叫 ̄参照)。現状・のセ 2.0 1,5 (三 唱岬恕草 1W 出力電力

\\\ヾ

2W 0 2 4 6 8 電源電圧(∨) 注:効享(50?ら仮定) 図1 増幅器への供給電)元の電源電圧依存性 出力電力3.4W,電源電圧4.8〉時には,l.4Aの電涜を必要とする 46 ルラー屯訪システムでは8()()MlIz∼1GHzのJ胡波数が, さらに,新システムでは2GHzまでの周波枚が恍flほれ る。また、イこ言-1J一処嘩系の屯榔以1三としては故紙2.5Vまで の軌作が紫求され,かつょ待受け峠1 ̄引火呪のために低消 螢屯ノJ化が安望されている。 屯ノJ増幅器でもディジタルシステム対応として線形件

の改発,1ミ時間通話のために電力変換効率の改#,さら

に低軌作電帖化の要求が強い。

高周波電力増幅用デバイスの低電圧化

l卿・卜1ディジタルシステムで必要な3.4Wの甜1那岐電力 を4.8\r電兆くから供給するためには,電源電流が1.4A必 安となり(図1参月別,デバイスには2,8A以_卜の甜別皮 .旨流を低損失で流す能力が必貿となる。MOS FETの場 合,チャネル幅を増加することによって大福流化ば実りユ できるが,F耶利こ人出ノJインピーダンスも低 ̄卜し,整合 いり路損失が大きくなって総合効率を低下させてしまう。 したがって,チャネル長の触縮による大電流化が鹿賀と

なる。さらに,低電圧軌作ではデバイスの[巨!二別紙拭によ

る1以+二降卜が効率低下を引き起こすため,低オン拭杭化 をはじめ,効率に影響のあるドレーン巾積の締i小を担Jる

必要がある。図2にホしたパワーMOSの断向模型で,チ

ャネル長は微細化技術によってサブミクロン化を実ちユ し,ドレーン巾積の縮小は,ゲート形成時にl ̄■榔‡にドレ ーンの位㍍与をi丸めるLJ+整†ナプロセスの導入によってリミ 現した1)。 今い=弼ヲ已したMOS FETを採梢した3段糊幅法話の`心蛇 .以l二ば芯地4セル川を[j標に,標準4.8Vとした。アナロ グ川は.l-11力電力が1.2Wと小才†りJであり,かつMOS FETの利子一亡羊が訪1小、ので,効率重視のl=げ存設計を打って, 標準5日%の総介利子1≠を持つ1)FOO45Aシリーズを製l\l-1化 した(図3、表1香川り。1卿小lディジタル((;SM:(;rotlP ソース ゲート ドレーン ソース P型シリコン ナノg 図Z パワーMOS FETの断面模型 ゲート寸法⊥gの短縮と自己整合技術の適用によるドレーン領域 の縮小により,高性能化を達成している。

(3)

携帯通信機器用の高周波半導体 523 2.5 2,0 主1.5 fく 枢密 -Rl.0 壬【 0.5 効率 出力電力 J=824MHz Pjn=1mW l勺d=4.8V rc=25℃ 2.0 70 60 50

舟 40葉栗 30 20 2.5 3.0 制御電圧(∨) 図3 アナログ用RFパワーモジュールの特性 制御電圧に従って出九効率とも増加し,最大効率60%が得られ ている。 表l アナログ用RFパワーモジュール(PFOO45A)の特性 4.8V動作で標準58%の効率が得られている。 項 目 単位 最小 標準 最大 測定条件 総 合 効 率 % 53 58 ′=824,849MHz,Pi[=1 mW,㌔=l.2W,仙d=4.8〉, 粘=RL=50∫),㌔=25DC 二次高調波ひずみ dBc -40 -30 三次高調波ひずみ dBc -40 -30 出 力 電 力 W l.4 l.6 Pin=lmW,叱ク。=4V SpecialMobile)用は出力3.4Wと大きな出力を必要と するため,利得中心の回路設計を行って,標準で50%, 最小40%の総合利得を実現した(図4,表2参月別。GSM ではデューティ12.5%で使うため,総合効率50%は通常 の電池で1充電当たりの長通話時間の実現に寄与でき る。これらのモジュールは小型・表面実装型パッケージ に搭載され,セットの小型・軽量化に役立つ。

信号処理デバイスの低電圧化

4.1プロセス技術とデバイス性能 高周波信号処理デバイスとして広く使われているバイ ポーラトランジスタの低電圧動作では,コレクタ∼ベー ス問答量の増加による利得の減少,周波数特性の劣化な どを生じる。これらの対策は,エミッタ寸法の縮小,ベ ース幅の低減による高遮断周波数化である。また,低雑 音・高利得デバイスとして用いられるHEMTでは, FET(電界効果トランジスタ)と同様にゲート長の短縮

が性能改善に効果的である。

日立製作所での高周波デバイスの遮断周波数の年代推

移を図5に示す。高機能LSIを実現するBiCMOSデバイ スでは0.6I⊥幅のエミッタで15GHzの遮断周波数を持っ ている。 3 2 1 (\三 只脚只召 効率 出力電力 J=890MHz Pin=2mW Vdd=4.8V rc=25℃ 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 制御電圧(∨) 60 50 40 さミ 柵 30 宗 20 図4 欧州ディジタル用RFパワーモジュールの特性 制御電圧に従って出九効率とも増加し,最大効率53%が得られ ている。 表2 欧州ディジタル用RFパワーモジュール(PFO145)の特性 4.8V動作で標準50%の効率が得られている。 項 目 単位 最小 標準 最大 測定条件 総 合 効 率 % 40 50 Pin=2mW,托=3.2W, 帖d=4.8V,斤g=RL= 50n,㌔=250C 二次高調波ひずみ dBc -50 -35 三次高調波ひずみ dBc -60 -45 出 力 電 力 W 3.4 4.0 帖d=4.8V.∨。♪。=3.5V,l=250C W 2.4 2.8 帖d=4.川叱p。=3.5〉,〔=800c 4.2 低雑音デバイス バイポーラトランジスタは,低雑音・高利得で入力イ

ンピーダンスも比較的低いため使いやすく,最も一般的

なデバイスである。前述の微細化プロセスを通用し,遮 断周波数13.5GHzを実現した。バイポーラトランジス タ(2SC5080)およびサブミクロンゲートを持つHEMT

(2SK2113)の電力利得,雑音指数の低電圧動作時の周波

数依存性を図6に示す。ほぼ2GHzまで高利得・一低雑音 100 0 (N工0)感嘆野墓噸 0.1 単体Bip ○

ノ用

H誕

● ● ● BiCMOS 1970 1980 西暦年 1990 2000 注:略語説明 臥p(BipolarTransistor) 図5 遮断周波数の推移 高周波デバイスの遮断周波数は,プロセス技術の進歩に負って いる。 47

(4)

524 日立評論 VOL.76 No.7(1994-7) 20 5 0 (皿ヱ虻「森六紳 測定条件 2SK2113:Jd=5mA,Vd=2V 2SC5080:Jc=4mA,Vc=3V く告コ電力利得 2SK2113 雑音指数=∃> 2SC5080 2SC5080 2SK2113 0.5 1 周波数(GHz) 2 5 (山王 点皿≠仰幾 3 2 図6 電力利得,雑音指数の周波数依存性 HEMT(2SK2113)では,動作周波数2GHzでも超低雑音特性を 持つ。 FIN CLOCK DATA 「亡 N T S +…肌。 0 128/129 64/65 プリスケーラ 路 固 晶振 水発 スワロー カウンタ プログラム カウンタ データレジスタ リファレンス カウンタ 位相 比較器 チャージ ポンプ アナログ スイッチ FC LD POUT DOUT ROUT FOUT W D 旧 〃 P N 8 ‥レ ▼レ G 図了 HD155001ATブロック 高速プリスケーラの内蔵,チャージボン7b専用電源端子など,使 いやすい構成となっている。 化が実現された。特に,高利得・低雑音増幅が必要な場 合は,HEMl、が適していることがわかる。 4.3 PJLIC 基準周波数を発生させる周波数シンセサイザ部の

PLLICの低電拝動作では,寄生容量の充放電電流の増加

によって動作周波数が低下する。したがって,高速のプ リスケーラ部を構成しているバイポーラトランジスタの高 性能化が必要である。これらは,加工寸法の縮小を中心 とした微細化プロセス,デバイスによって達成さゴlる。 今回開発したBiCMOSプロセスを用いて製品化した 0 0 0 0 1 2 3 一 一 一 (巨皿ヱ ミて上只くノ「、峠 一40 動作保証範国 0.5 0.6 0.7 0.8 0.91.0 1.2 1.4 動作周波数(GHz) 図8 動作周波数 動作保証範囲は最大l.1GHzであるが,実験的にはl.4GHzまでの 動作を確認している。 表3 HD155001AT特性表 低電圧・低消費電流を実現している。 項 目 仕 様 動 電 源 電 圧 2.7∼5.25V FIN動作周 波 数 l.1GHz Max. OSCIN動作周波数 20MHz Max. FIN 入 力 電 圧 -6dBm Min. OSCIN入力電圧 0.5Vp_。Min・ 消 費 電 流 6.OmAtyp. パ ー ジ TSOP-20

PLLICの構成を図7に,動作周波数範囲を図8に示す。

このICは直接分間 ̄吋能な周波数として,2.7Vで1.1GHz を保証した高速プリスケーラ,高電流供給能力を持つ CMOSのチャージポンプ回路を内蔵し,低消費電力と高 速ロックアップを実現した(表3参月別。アナログをはじ めディジタルセルラーに最適なICとなってし-る。

B

おわりに 微細化プロセス技術を適用した高性能デバイスを採用 し,高周波電ノJ増幅器の低電圧動作を実現した。また, 信号処理デバイスとしては,超低雑音HEMTデバイス, バイポーラトランジスタおよびシンセサイザ用PLLIC を製品化した。これらの製品は携帯通信機器に有効であ る。今後も,いっそうの低電圧・低消雪電力製品を開発 していく子宝である。 参考文献 1)吉川,外:SiパワーMOS FETの高開披・高効率化,電十 情報通信学会論文誌,C-Ⅰ,Vol.J76-C-Ⅰ,No.11,422-429(1993-11) 48

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