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QTC LSI Analog Timing Module QTC LSI

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Academic year: 2021

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(1)

QTC chipとカスタムCMOS受託に関して

2006年1月27日 岩通計測株式会社

(2)

QTC LSI (電荷量を時間情報に変換)

Confidential

スーパーカミオカンデのAnalog Timing Moduleで使用する電 荷測定用QTC LSIを開発中

(3)

QTC LSIの動作

Confidential Discriminator Self Gate Charge and Discharge Q→T TDC Q T PMT Signal QTC LSI QTC LSI •電荷情報を時間に変換してTDC でAD 変換を行う。 •QTCは内部にクロックを持たず、Self gateで内部でタイミ ング信号を生成する。 •タイミングはランプ波形とコンパレータで設定する。

(4)

QTC LSIの構成 (1chあたり)

Large Signal <2500pC Delay 1 DAC QTC out L QTC out L Variable Gain Stage CH1 Large I2 Comparator DAC Charge to time converter / Timing Control

DAC

CFD

Discriminator Timing Control

LVDS Out Medium Signal <357pC Delay 1 QTC out M QTC out M Variable Gain Stage CH1 Medium I2 Comparator DAC DAC CFD

Discriminator Timing Control

LVDS Out Small Signal <51pC Delay 1 QTC out S QTC out S Variable Gain Stage CH1 Small I2 Comparator DAC DAC CFD

Discriminator Timing Control

LVDS Out OTR Large

OTR Medium

OTR Small

Hit Signal HIT Pulse Gen 5nS

DAC DAC CAL CAL/S ig n al   Select PM T SUM   En ab le PM T SUM   Ena b le PM T SUM   Ena b le OT R   Large   En able OT R   Me dium   Enab le DSC/CFD Select DSC/CFD Select DSC/CFD Select CAL/ Si gn al   Se le ct CAL/ Si gn al   Sel ect CH1 Return 3 3 DSC/CFD Confidential

(5)

QTC LSIの仕様

入力チャンネル数 3ch(9ステージ)

処理速度1 サイクル 500 nsec (可変)

ダイナミックレンジ ~1250 p.e. (~2500 pC) (可変) (1 ch につき3 レンジ)

電荷分解能 0.1 pC/Count (Small レンジ) (AMT-TDC 60 MHz 動作時)

時間測定精度 0.1 nsec (RMS) 以下

ディスクリミネータ内蔵 (CFD を選択可能)

消費電力 約200 mW/ch

電源電圧 3.3 V

プロセス 0.35

μ

m CMOS

パッケージ 100 pin CQFP Confidential

(6)

QTC LSI チップ写真

QTC チップのマスクレイアウト図 全部で9 本の同様なパターンが並んで いるのが分かる。 QTC チップの写真。 2.9 mm×3.4 mm 面積9.9mm2 信号は左から入力され、右側から出力さ れる。 Confidential

(7)

QTC出力波形の例

青色の波形が入力信号である。緑色の波形はQTC の出力信号を差 動プローブにより取得したものである。 黄色の波形はテスト端子から出力される内部の積分信号である。 入力信号の振幅を何通りか変えて、重ね書き表示した。 Confidential

PMT

信号

積分信号

パルス幅出力

(8)

電荷測定精度と入力電荷

3 つのレンジにおける電荷測定精度と入力電荷との関係。 Small レンジではほぼ0.1 pC の測定精度が得られた。

(9)

入力電荷と出力時間幅

入力電荷に対するQTC の3 つのレンジのそれぞれの出力信号幅の変化。 最大入力電荷は2500 pC である。

(10)

入力電荷と時間測定精度

入力電荷と時間測定精度の関係。青色の線はTDC で読み出したときの時間 分解能、赤色の線はオシロスコープで測定した時間測定精度である。

(11)

QTC LSIについて まとめ

プロトタイプのQTC LSIは基本的に目標とする仕様を満

たして動作している。

電荷測定のダイナミックレンジに関しては3 つのレンジ

を用いることにより、2500 pC までの電荷を飽和すること

なく、測定できることが確認された。

電荷測定精度については、Small レンジで約0.1 pC の

測定精度があることが確認された。

動作に若干不安定なところがあるため再設計を行い、

現在Complete Design chipを評価中である。

このQTCチップを8個搭載した24ch構成New ATMボード

の開発中である。

(12)
(13)

ASIC開発を取り巻く現状

国内メーカは短期間に利益の出るASICにしか興味を示さない。

工数抜きで開発費3000万円、量産1億円/年のビジネスが必要。

日本の半導体メーカは確実に動作するものしか受注しない。 要素開発を伴うテーマは受注しない。 • 開発能力がない。(アナログ設計エンジニアの絶対的不足) • 手離れをよくしたい、検査・品質保証工数を使いたくない。

海外のファウンダリー • 海外メーカもファブレス化が進みファブが一極集中の傾向に。 • 海外メーカも微細加工(0.13μm∼60nm)、大口径ウェハ (30cm)化が進み大量生産には適しているが、受注の敷居は 高い。 Confidential

(14)

MPWについて

【MPW】

Multi Project Waferの略。いわゆるシャトルバスサービスと呼ば れるもので、決められたウエハー枚数上に複数デザインを相乗り させることにより、必要最小ロットを大幅に抑えながら提供するこ とが出来るため、試作や小ロットに有利。

フルウェハでフルカスタムLSIを開発する

と数千万円の費用がかかるが乗合バス

方式では百∼数百万円で試作が可能で

ある。しかし設計、マスクレイアウトは非

常に難しい。

岩通計測がお手伝いします

Confidential

(15)

Custom analog ASIC開発実績

Confidential

USPT6,462,618

Amplifying circuit with distortionless outputs Driver Amplifier Driver Amplifier •DC~2GHz •Gain=26dB •Vout=10Vp-p USPT6,515,518 Analog switch circuit

Wideband analog switch

Wideband analog switch

•4ch input •DC~3GHz

•Isolation=-70dB@1GHz

Variable Gain Amp

Variable Gain Amp

Track/Hold Circuit

Track/Hold Circuit

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使用可能なCMOSプロセス

プロセス(参考)

•TSMC CMOS 0.35, 0.25, 0.18/(0.13)um

•IBM SiGe 0.5, 0.35, 0.25, 0.18um

CMOS 0.25, 0.18, 0.13um

•AMIS CMOS 1.5, 0.7, 0.5, 0.35um

•Agilent CMOS 0.5um

•Austriamicrosystems CMOS 0.35, 0.25 ,HV CMOS 0.8um

SiGe-BiCMOS 0.35um

•OMMIC/PML GaAs 0.2um

•Vitesse InP

MPW受付窓口 •米国:MOSIS

•欧州:Europractice

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MPW 試作の流れ

アカウント作成

仕様検討

回路設計

レイアウト設計

データ転送

マスク製作

チップ製作

パッケージ実装

窓口MOSIS/Europractice

IWATSU

Silicon Fabrication maker

Package assembly maker

(18)

Circuit Simulation/Mask Layout

Rina rwdc 7k 14f Cp Rin rwdc 3k 6f Cp Rf rwdc 2e5 200f Cp Q3 pnpvert10 M=1 s Crnw 50fF M=1 s Cpnw 1pF M=1 s Cpad 1pF M=1 s Cin 3. 9pF M=1 Cf s 0. 14pF M=1 I128 10k Rz 600 Rout 10k Rpnw 2000 Rb 5e5 lna lna cfd cfd gn IN 2ND C D VB[3:0] CALin IN out VssP IN_PA OPA VssP G1 0 C D vddp 2ND VssP

SMASH 5.3.2p1 - Transient Sweep D:\bfe\258\sim\chan2\pre.nsx - Mon Jan 24 12:21:17 2005

V(PAK) V(XCH.OPA) 90n 100n 110n 120n 130n 140n 150n 160n 170n 180n 600mV 610mV 620mV 630mV 640mV 650mV 660mV 1.2V 1.4V 1.6V 1.8V 2V 2.2V 2.4V Confidential 回路 シミュレーション マスクレイアウト

(19)

パッケージ実装、完成

各種パッケージ選択が可能

CQFP

CERDIP

Fine pitch BGA

チップ

各種パッケージに実装 LSI完成

(20)

Layout Service

AST (Curson CA)

MPW Foundry

MOSIS (San Jose) Europractice (Belgium)

Fraunhofer (Germany) X-fab (Germany, UK, Texas)

Global Head Quarter (Kugayama)

IAI Vendor relation

(US Office) ITI

Packaging

Corwil (San Jose)

Package Distributer

Spectrum (San Jose) Global Chip Material (Rancho Cordova, CA )

Proto Typing Rework FIB etc

MEFAS (Irvine)

Production Foundry

AMIS (San Jose) AMS (Belgium) TSMC(Taiwan) X-fab (Germany, UK, Texas)

Design House

(21)

カスタムCMOS ASIC受託事業について

MPW方式によるCMOS ASIC受託事業を準備しています。

当社のネットワークを利用して、LSIを開発されるお客様に対し、 ウェハ製造、アセンブリ/テスト、不良解析などICの開発をトータ ルにサポートしています。

CMOS ASIC以外にも長年培ってきたアナログ/デジタル技術を有 しています。 例えば、 • デジタイザ 1GSPS:8bit∼100MSPS:14bit • USB接続オシロスコープ • 信号発生器 6ch可変遅延パルス発生器 • その他、各種特注に対応いたします。 Confidential

参照

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