X線偏光検出の話
X線偏光検出の話
林田
林田
清
清
大阪大学大学院理学研究科
大阪大学大学院理学研究科
内容
内容
z z偏光検出に関わる物理
偏光検出に関わる物理
z zモンテカルロシュミレーションについて
モンテカルロシュミレーションについて
z zNeXT
NeXT
衛星での硬X線偏光観測の検討
衛星での硬X線偏光観測の検討
コンプトン散乱の異方性
コンプトン散乱の異方性
-0.4 -0.2 0 0.2 0.4 -1 -0.5 0 0.5 1 -1 -0.5 0 0.5 1 -0.4 -0.2 0 0.2 -0.5 0 0.5 1 z zコンプトン散乱の光子の
コンプトン散乱の光子の
散乱方向の異方性
散乱方向の異方性
∝
∝
1
1
-
-
sin
sin
22θ
θ
cos
cos
22φ
φ
zx y
X方向に偏光した光子が-Z方向から入射してきた 光子が散乱さらた場合の光子の散乱方向異方性
Compton
Compton
散乱、
散乱、
Rayleigh
Rayleigh
散乱
散乱
Compton =Incoherent 2.8MeV 0.41MeV Pb Cu Al Rayleigh =Coherent 堀川M論より
ターゲット
ターゲット
Be
Be
と
と
C
C
33H
H
66の比較1
の比較1
Φ=90°の時の散乱X線スペクトル Φ=0°の時の散乱X線スペクトル Fe-Kα 6.43keV 20keV Be ADC Channel 20keV Be ADC Channel Counts 20keV C3H6 ADC Channel Counts ADC Channel 20keV C3H6光電子放出方向の異方性
光電子放出方向の異方性
-1 -0.5 0 0.5 1 -0.4 -0.2 0 0.2 0.4-0.4 -0.2 0 0.2 0.4 -1 -0.5 0 0.5 -0 -0 0 z zK
K
殻で光電吸収し
殻で光電吸収し
た光電子の放出
た光電子の放出
方向
方向
∝
∝
sinsin22θθcoscos22φφz x y X方向に偏光した光子が-Z方向から入射してきて 原点の電子で光電吸収されたさい、放出される光 電子の異方性
ブラッグ反射の反射率偏光
ブラッグ反射の反射率偏光
2結晶分光器の場合(堀川M論より)E
σE
π θ 単色 X線 θ:ブラッグ角 連続 X線σ偏光方向の反射率
: 1
π偏光方向の反射率
:cos
22θ
2回反射し ているので 45度反射にするとπ偏光の反射率は0になる。σ偏光だけがとりだせる。モンテカルロシミュレーション
モンテカルロシミュレーション
z
擬似乱数の発生
擬似乱数の発生
z zモンテカルロシュミレーションのために必要
モンテカルロシュミレーションのために必要
z z一様乱数
一様乱数
(0<=x<1
(0<=x<1
の間、一様な確率
の間、一様な確率
)
)
が基本
が基本
z z計算機で与えられるのはあくまでも擬似乱数
計算機で与えられるのはあくまでも擬似乱数
zz
C
C
での関数
での関数
rand
rand
と
と
srand
srand
zz #include <#include <stdlib.hstdlib.h>>
z
z srand(seedsrand(seed))で初期化。で初期化。 seedseedが同じ値だと同じ擬似乱数が同じ値だと同じ擬似乱数
列になる。 列になる。 z z x=rand()/(RAND_MAX+1.0)x=rand()/(RAND_MAX+1.0)が一様擬似乱数を与える。が一様擬似乱数を与える。 呼ぶたびに乱数列の次の値が出てくる。 呼ぶたびに乱数列の次の値が出てくる。 z z
より
より
“
“
性能のよい
性能のよい
”
”
乱数発生関数を使用すべき
乱数発生関数を使用すべき
zz 例えば、例えば、Numerical Recipes in C (Numerical Recipes in C (W.PressW.Press他著、技術他著、技術
評論者)や計算物理(早野龍五、高橋忠幸著、共立出版)
評論者)や計算物理(早野龍五、高橋忠幸著、共立出版)
を参考
一様乱数の応用例
一様乱数の応用例
(円の面積の計算)
(円の面積の計算)
#include <stdio.h> #include <stdlib.h> void main() { int seed, n, i, m; double x,y,pi;printf("input seed number¥n"); scanf("%d",&seed);
printf("input number of points ¥n"); scanf("%d",&n); srand(seed); m=0; for(i=0;i<n;i++) { x=rand()/(RAND_MAX+1.0); y=rand()/(RAND_MAX+1.0); if((x*x+y*y)<1.0) m++; printf("%d x=%lf y=%lf¥n",i,x,y); } pi = ((double) m)/((double) n )*4.0; printf("pi=%lf %lf %lf¥n",pi); } z z
一様擬似乱数を与える
一様擬似乱数を与える
z z円の面積
円の面積
(
(
円周率の計
円周率の計
算)
算)
z z (擬似)一様乱数の組(擬似)一様乱数の組 (x,y) (x,y)ををNN個生成個生成 z z 半径1の円の中半径1の円の中 ( (XX22+y+y22<1<1)に含まれる)に含まれる 点の個数m 点の個数m z z (m/N) x4(m/N) x4がが ππの近似値の近似値 になるはず になるはず放射線の物質中での反応の
放射線の物質中での反応の
モンテカルロシミュレーション
モンテカルロシミュレーション
z z 放射線粒子が物質中の原子と反応する位置を決定する。放射線粒子が物質中の原子と反応する位置を決定する。 z z 考えている反応の平均自由行程を考えている反応の平均自由行程をL (L=1/nL (L=1/nσ)σ)とするととすると p(x)dx p(x)dx=exp(=exp(--x/L)/Ldxx/L)/Ldxという確率分布に従う乱数という確率分布に従う乱数xxを発生を発生 させる。 させる。 z z 反応によって粒子が生じる場合、その放出方向、エネルギー反応によって粒子が生じる場合、その放出方向、エネルギー 等を決定する。 等を決定する。 z z 微分断面積の式微分断面積の式ddΩ(θ,φΩ(θ,φ))に従って放出方向を決定するにに従って放出方向を決定するに は、 は、 ddΩ(θ,φΩ(θ,φ))という確率分布に従う乱数という確率分布に従う乱数(θ,φ)(θ,φ)を発生させる。を発生させる。 z z 特に検出器中での振る舞いをシミュレートする場合は、検出特に検出器中での振る舞いをシミュレートする場合は、検出 器の信号発生も模擬し直接実験データと比較できる出力を 器の信号発生も模擬し直接実験データと比較できる出力を 作成する。 作成する。与えられた分布関数に従う乱数1
与えられた分布関数に従う乱数1
:
:
逆変換法
逆変換法
min 1 1 ( ) ( ) ( ) ( ') ' ( ) ( ) x f x x F x F x f x dx F F x F r r f x x − − = =∫
x 分布関数 に従う乱数 を発生させたい 累積分布関数 は区間(0,1)に一様にランダムに分布する。 もし の逆関数 をみつけることができれば により 擬似一様乱数 から分布関数 に従う乱数 を求めることができる[
]
0 0 ( ) exp( ) ( ) ( ') ' exp( ') 1 exp( ) 1 1 ln(1 ( )) ln( ) x f x x F x f x dx x x x F x r λ λ λ λ λ λ = − = = − − = − − = − − = −∫
x 例:逆変換法の考え方
逆変換法の考え方
-1 min max ( ) (0 1) ( ) ( ) ( ) ( ) ( ) ( ( 0) ( 1)) ( ) ( ) ( ) ( ) ( ) ( ) r p r dr dr r r x r x x p x p x dx p r dr dr p x x r x x r dx r F x x F r dF x p x f x x x x dx x f = < < = = = < < = = = = = < < r x x r x x が0<r<1で定義される一様乱数のとき 確率分布は この がある関数 で に変換されるとき の確率分布 は から 算出できる。 逆変換法では 従って と とる。すると の確率分布は ( )x になる。 -1( ) F r が容易に計算できる ことが必要 ( ) f x x min x xmax min ( ) s ( ') ' x F x =∫ f x dx 0 1 r 一様乱数 (入力) -1( ) x F r= と変換され x (出力 た乱数 )を得る与えられた分布関数に従う乱数2
与えられた分布関数に従う乱数2
:
:
棄却法
棄却法
0 0 0 0 0 0 0 0 0 ( ) ( ) ( ) ( ) ( ) ( ) (0,1) ( ) ( ) ( ) ( ) g x Cg x f x g x x x f x Cg x r f x rCg x x f x rCg x x < ≥ 0 発生が容易な分布関数(例えば一様分布) の定数倍 に よって を完全に包み込む。 1. の確率分布に従う乱数 を発生させる 2.点 で と を計算する。 の乱数 を発生させ、 (a) ならば、 を棄ててステップ1からやり直す (b) ならば、 が求める乱数 ( ) f xx
minx
x
max y ( ) Cg x0
0x
0 ( ) f x 0 ( ) Cg x 0 x を棄却 0 x を採択高エネルギー粒子相互作用のシミュ
高エネルギー粒子相互作用のシミュ
レーションのためのソフトウェア
レーションのためのソフトウェア
z
z EGS4 (Electron Gamma Shower)EGS4 (Electron Gamma Shower)
z z 開発もと:開発もと:SLAC,KEKSLAC,KEK z z 光子、電子、陽電子の電磁相互作用のみ光子、電子、陽電子の電磁相互作用のみ Cutoff>1keVCutoff>1keV z z 専用の言語専用の言語MORTRANMORTRANで記述で記述 z
z PENELOPE2001 PENELOPE2001 ((PENetrationPENetration and Energy and Energy LOssLOss of Positrons and Electrons)of Positrons and Electrons)
z z 開発元:バルセロナ大学開発元:バルセロナ大学 z z 光子、電子、陽電子の電磁相互作用のみ光子、電子、陽電子の電磁相互作用のみ 0.1keV0.1keVまで対応まで対応 z z FortranFortranで記述で記述 z
z GEANT4 (GEometryGEANT4 (GEometry ANdANd Tracking)Tracking)
z z 開発元:開発元:CERNCERNを中心を中心 z z 光子、電子、陽電子、陽子、中性子、パイオン、ミュウオンなどの素粒子が物質中光子、電子、陽電子、陽子、中性子、パイオン、ミュウオンなどの素粒子が物質中 で起こす過程を網羅 で起こす過程を網羅 z z C++C++で記述で記述 z
z Low energy EM packageLow energy EM packageででcutoff>0.25keVcutoff>0.25keV
z z 最近、最近、PENELOPEPENELOPEも組み込まれたも組み込まれた z z いずれも光子の偏光情報、偏光に依存した微分断面積が組み込まれていないずれも光子の偏光情報、偏光に依存した微分断面積が組み込まれていな いあるいは不十分 いあるいは不十分→→自分でソースコードを変更しなければならない自分でソースコードを変更しなければならない
付属ルーチン、ツール
付属ルーチン、ツール
z
z 物質データ作成プログラム物質データ作成プログラム
z
z EGS4の場合EGS4の場合…PEGS…PEGSというプラグというプラグ ラムをあらかじめ実行して数値テー ラムをあらかじめ実行して数値テー ブルを用意する ブルを用意する z z 幾何学記述ルーチン幾何学記述ルーチン z
z EGS4、EGS4、PENELOPEではPENELOPEでは…スラブ…スラブ 状、円柱状など基本的な形状のサ 状、円柱状など基本的な形状のサ ンプルは付属している ンプルは付属している z z シミュレーションの可視化シミュレーションの可視化 z
z EGSEGS4の場合4の場合……EGS_WindowsとEGS_Windowsと いうソフトが用意されている。(粒子 いうソフトが用意されている。(粒子 の位置、エネルギーのリストをプロッ の位置、エネルギーのリストをプロッ トしているだけ;出力をあわせれば トしているだけ;出力をあわせれば PENELOPE PENELOPEでも使える)でも使える) z z GEANT4では数々のツールが用意GEANT4では数々のツールが用意 されている模様 されている模様 http://www.irs.inms.nrc.ca/inms/irs/EGS_Windows/manual/manual.htmlより
シミュレーション
シミュレーション
EGS4/GEANT4
EGS4/GEANT4
z z GEANT4GEANT4 z z EGS4EGS4 http://wwwasd.web.cern.ch/wwwasd/geant4/geant4.htmlより http://www2.slac.stanford.edu/vvc/egs/real/physprob.htmlより http://www2.slac.stanford.edu/vvc/egs/basic simtool.htmlにいくと限られた条件、物質に対 して“お試し”EGS4シミュレーションができる SPACE用途専用会議2003 http://www.estec.esa.nl/wmwww/WM A/EMA_Events/g4spaceusers2003/が 参考になりそう1.0.
X線偏光観測で何がわかるか
~過去の観測結果~
Chandra衛星(2000)E
E
OSO-8衛星(1976-1978) カニ星雲からの偏光検出 (1970-1978)が唯一の有意 な観測結果 • かに星雲からのX線放射は、 磁場によるシンクロトロン放 射であることがわかった。 • P=19.2% @2.6keV P=19.5% @5.2keV (Weisskopf et al. 1978)ブラッグ偏光計
ブラッグ偏光計
z
散乱偏光計の一例
散乱偏光計の一例
SXRP(Stellar
SXRP(Stellar
X
X
-
-
Ray Polarimeter)
Ray Polarimeter)
for SODART telescope in Spectrum X
for SODART telescope in Spectrum X--Gamma (SXG) missionGamma (SXG) mission
z
z
T=100ksec
T=100ksec
NeXT
NeXT
望遠鏡用硬X線偏光計の検討
望遠鏡用硬X線偏光計の検討
2003/7/23
2003/7/23
宇宙研での発表資料
宇宙研での発表資料
林田
林田
清(阪大理)、三原建弘(理研)、
清(阪大理)、三原建弘(理研)、
郡司修一、門叶冬樹(山形大理)
郡司修一、門叶冬樹(山形大理)
Ver1.0 Ver1.0 一部修正の上公開一部修正の上公開 2003/9/172003/9/17NeXT衛星による偏光観測
NeXT衛星による偏光観測
z z偏光観測を
偏光観測を
NeXT
NeXT
衛星の目標にするか?
衛星の目標にするか?
z zNeXT
NeXT
望遠鏡の焦点面か独立系か?
望遠鏡の焦点面か独立系か?
zz
10keV
10keV
以下か
以下か
10keV
10keV
以上か?
以上か?
zz 検出光子数は検出光子数は10keV10keV以下が以下が10keV10keV以上より2桁程度多い。以上より2桁程度多い。
z z 10keV10keV以下の偏光観測は以下の偏光観測は7070’’に行われており、将来の衛星に行われており、将来の衛星 計画もある。 計画もある。10keV10keV以上は未開拓。以上は未開拓。 z z 加速領域で生じる硬X線成分(=加速領域で生じる硬X線成分(=NeXTNeXT望遠鏡のターゲッ望遠鏡のターゲッ ト)の多くは偏光していると期待される ト)の多くは偏光していると期待される z z
テーマ:
テーマ:
NeXT
NeXT
望遠鏡の焦点面で硬X線偏光観測す
望遠鏡の焦点面で硬X線偏光観測す
るのはどのような検出器が適当か?
るのはどのような検出器が適当か?
X線偏光観測
X線偏光観測
z zシンクロトロン放射
シンクロトロン放射
z z SNR(パルサー星雲型、SNR(パルサー星雲型、SN1006SN1006型、シェル型)型、シェル型) z z ブレーザー、マイクロクェーサーブレーザー、マイクロクェーサー z z散乱
散乱
z z 降着円盤による散乱、トーラスによる散乱、反射星雲降着円盤による散乱、トーラスによる散乱、反射星雲 z z セイファート銀河の連続成分の輻射機構セイファート銀河の連続成分の輻射機構 z z磁場と散乱
磁場と散乱
z z 連星系パルサー連星系パルサー z z 単独パルサー単独パルサー z z制動放射
制動放射
輻射機構、天体の幾何学、磁場の構造の解明
古くて新しい問題
NeXT
NeXT
望遠鏡のデザイン
望遠鏡のデザイン
z zF.L.=12m
F.L.=12m
z z1
1
’
’
[email protected].
[email protected].
z z1Crab=240c/s/4HXT
1Crab=240c/s/4HXT
1 2 for 1HXT ( ) ~ 400( / 20 ) A E Ex keV − cm C(20;80) C(20;80) F(20;80) F(20;80) K K F(2;10) F(2;10) Γ Γ photons/s/4HXT photons/s/4HXT erg/s/cm2 erg/s/cm2 photons/s/cm2/keV photons/s/cm2/keV erg/s/cm2 erg/s/cm2 2.9E 2.9E--1212 8.6E 8.6E--1212 2.6E 2.6E--1111 0.0080 0.0080 0.0039 0.0039 0.0018 0.0018 1E 1E--1111 1E 1E--1111 1E 1E--1111 0.06 0.06 2.5 2.5 0.15 0.15 2.0 2.0 0.37 0.37 1.5 1.5偏光計の感度
偏光計の感度
max min
max min
M-factor: modulation for 100% polarized beam
Minimum Detectable Polarization degree (MDP) 2( ) 2( ) ( ) : N N M N N n n MDP S B A s b T SM A sT M n σ σ σ η η − ≡ + = + = + 何シグマの信頼限界とするか(=3) s: source count rate (c/s)
b: backgroun 2 : effetive area (cm ) : observation time (s) A T d count rate (c/s)
η
∝
b
MDP
1/2が無視できるとき
1
M
M
M
η
η
1/21/2を大きくすることが重要
を大きくすることが重要
系統誤差を考えると
系統誤差を考えると
M
M
が大きいことも重要
が大きいことも重要
光電子追跡型
光電子追跡型
z zイメージングガス検出器
イメージングガス検出器
z z イタリアグループイタリアグループ z z シミュレーションによる最適シミュレーションによる最適 化; 化;ArArガスガス4atm,3cm4atm,3cmでで M Mηη1/21/2~0.07~0.07@20keV (M@20keV (Mはは 0.3 0.3)) z z 山形グループ山形グループ z z 京都グループ京都グループ z zCCD
CCD
z z 1212µµmmピクセルピクセルCCDCCDでで M=0.16,h=5x10 M=0.16,h=5x10--4@27keV4@27keV z z 空乏層厚空乏層厚1010倍倍100100µµmmののCCDCCDをを 使えれば 使えればMMηη1/21/2~0.01~0.01Pacciani etal 2002 SPIE
M
η
1/
MPGC
MPGC
z
z
M~44% at 5.4keV
M~44% at 5.4keV
z
z
Feff~3.8% at 5.4keV
Feff~3.8% at 5.4keV
z
z
S~4mmx4mm
S~4mmx4mm
zz Feff~90% at 5.4keVFeff~90% at 5.4keV
z
z S~10mmx10mmS~10mmx10mm
光電子追跡型の問題点:
光電子追跡型の問題点:
電子が散乱により曲がること
電子が散乱により曲がること
しかも電子の飛跡の終点で大きなデポジット
しかも電子の飛跡の終点で大きなデポジット
Neガス中 Xeガス中 5mm34keV
34keV
X
X
線入射の
線入射の
PENELOPE
PENELOPE
シュミレーション
シュミレーション
Z
散乱型
散乱型
z z実験室では容易に
実験室では容易に
M>0.9
M>0.9
が実現できる。ビー
が実現できる。ビー
ムラインの偏光度較正に利用している。
ムラインの偏光度較正に利用している。
E
検出器A 検出器B 散乱体回転
0 200 400 600 0 90 180 270 360 検出器A Ex=10keV カウ ント 数 回転角度 阪大グループ 2002/11 KEK-PF BL14C放射光実験
ビームラインの偏光度測定
SPring-8 偏光度測定 PF 偏光度測定 散乱スペクトル 19.3 keV Compton 20.0 keV Thomson 93% @ 20 keV X-ray 横偏光 77% @ 20 keV X-ray 縦偏光NeXT
NeXT
焦点面
焦点面
(
(
硬
硬
X
X
線)偏光計
線)偏光計
電子
電子
…
…
散乱
散乱
光子
光子
...
...
直進
直進
イメージング可能
イメージング可能
効率と
効率と
M
M
のトレードオフ
のトレードオフ
イメージング困難
イメージング困難
10keV
10keV
以下困難
以下困難
<0.01 0.01
<0.01 0.01
<0.1
<0.1
0.01 0.5 0.06
0.01 0.5 0.06
効率
効率
0.4 0.1
0.4 0.1
-
-
0.3
0.3
0.1
0.1
0.95 0.6 0.4
0.95 0.6 0.4
M
M
sinsin22θθcoscos22φφ 1
1--sinsin22θθcoscos22φφ
異方性
異方性
光電子追跡型
光電子追跡型
散乱型
散乱型
M・sqrt(効率) が重要 z z多層膜ミラーで軟
多層膜ミラーで軟
X
X
線
線
0.25keV
0.25keV
の偏光を計る計
の偏光を計る計
画あり(
ノンイメージング型 ノンイメージング型
散乱偏光計のデザイン
散乱偏光計のデザイン
z z 散乱体は散乱体はBeBe 4mm4mm直径x直径x 長さ 長さ60mm60mm z z CdTeCdTe検出器検出器2mmx2mm2mmx2mm x x0.5mm0.5mm厚の場合、全部厚の場合、全部 で で12x24=28812x24=288個個/1HXT/1HXT z z 2mmx20mmx0.5mm2mmx20mmx0.5mmのの 検出器を利用できれば 検出器を利用できれば 12x3=36 12x3=36個個/1HXT/1HXT zz Active ShieldActive Shieldは必要は必要
材質 (a)トムソン長[cm] (b) [keV] Li 10.8 15.1 Be 3.06 17.9 ポリエチレン 4.86 グラファイト 2.22 25.5 LiH 6.06 14.2 1 104 2 104 3 104 4 104 5 104 6 104 0 60 120 180 240 300 20keV Angle(phi) 30度ごとのカウントから偏光 方向と偏光度を測定する
M,
M,
η
η
,M
,M
η
η
1/2
1/2
(シミュレーション)
(シミュレーション)
0.2 0.3 0.4 0.5 10 100 Ex (keV) 0.4 0.5 0.6 0.7 10 100 0.1 1 10 100 0.2 0.3 0.4 0.5 10 100 Ex (keV) 0.1 1 10 100 0.4 0.5 0.6 0.7 10 100 •散乱体の周りに鉛ワッシャをいれて 散乱角を制限する。白抜きが、ワッ シャ入りの場合の値 •Mは増加、ηは減少するがMη1/2はほ とんど変わらない •Mが高い方が望ましいければワッ シャを入れる 左図のシミュレーションは全てのX 線がBeターゲットの真ん中に入射 した場合であるが、ターゲットの断 面に一様に入射した場合のMη1/2 と0.01以下の違いしかない硬X線偏光観測の対象
硬X線偏光観測の対象
z z点源
点源
z zブラックホール連星系
ブラックホール連星系
z z連星系パルサー
連星系パルサー
z z活動銀河核
活動銀河核
z zブレーザー
ブレーザー
z zひろがった天体
ひろがった天体
z zSNR
SNR
z z パルサー星雲パルサー星雲 z z シェル型シェル型 z z銀河団
銀河団
ひろがった硬X線源に関するコメント
ひろがった硬X線源に関するコメント
z z 硬X線領域でひろがった硬X線領域でひろがった(1(1’’以上)&明るい天体の候補は必ず以上)&明るい天体の候補は必ず しも多くない。 しも多くない。 z z 非熱的電子の生まれる場所が局在しているということかも非熱的電子の生まれる場所が局在しているということかも z z 銀河団に関して銀河団に関して z z 起源がわからないという意味で重要であるが、起源がわからないという意味で重要であるが、NeXTでの偏光観測はNeXTでの偏光観測は 数例に限定されるだろう。 数例に限定されるだろう。 z z SNRSNRに関してに関して z z パルサー星雲の偏光マップが得られるのはかに星雲の他は高々数例パルサー星雲の偏光マップが得られるのはかに星雲の他は高々数例 z z SN1006型、シェル型はSN1006型、シェル型は1’1’角あたりの表面輝度でみるとかに星雲の角あたりの表面輝度でみるとかに星雲の 1/1000 1/1000以下。領域を積分することが必要。以下。領域を積分することが必要。 z z 多くの多くのSN1006型、シェル型SN1006型、シェル型SNRについてSNRについてChandra, XMMによりChandra, XMMによりべき関べき関 数成分の空間分布が高精度で求まりつつある。 数成分の空間分布が高精度で求まりつつある。 NeXTで得られる硬XNeXTで得られる硬X 線スペクトルだけでインパクトがあるだろうか? 線スペクトルだけでインパクトがあるだろうか? →ぜひ偏光測定を→ぜひ偏光測定を偏光検出感度と天体の明るさ
偏光検出感度と天体の明るさ
Flux (mCrab) HEAO-1 A4 (13-80keV) 0.1 1 10 100 0.1 1 10 100 1000 MDP M=0.61 H=0.4 20-80keV 4HXT BGD=1.0e-4 c/s/keV/cm2 10ks 100ks 1Ms偏光検出感度と天体の明るさ
偏光検出感度と天体の明るさ
0.1 1 10 100 0.1 1 10 100 1000 MDP Flux (mCrab) M=0.61 H=0.4 20-80keV 4HXT BGD=1.0e-4 c/s/keV/cm2 10ks 100ks 1Ms HEAO-1 A4 (13-80keV) BH,NS連星系の明るいも のは10ks,暗いものでも 100ksの観測で2%の偏光 度を検出できる AGNの明るいものは 100ksの観測で数% の偏光が検出できる A2256(1’ 角) Kes75 SN1006(10’ 積分) 銀河団、SNRは暗い 重要なテーマなので 1Ms観測すれば数% 以上の偏光が観測 できる単一散乱体偏光計の長所・短所
単一散乱体偏光計の長所・短所
z z点源に対して偏光検出感度を最適化できる
点源に対して偏光検出感度を最適化できる
z z偏光計本体はコンパクト。
偏光計本体はコンパクト。
(但し
(但し
Active
Active
Shield
Shield
の必要はある)
の必要はある)
z z4台の望遠鏡の焦点面で同時に観測するた
4台の望遠鏡の焦点面で同時に観測するた
めには
めには
z zアライメントを極めて正確にとる
アライメントを極めて正確にとる
z z焦点面で2次元微動装置をつける
焦点面で2次元微動装置をつける
z zひろがったソースに対してはマルチポインティ
ひろがったソースに対してはマルチポインティ
ングが必要
ングが必要
NeXT望遠鏡用
NeXT望遠鏡用
硬X線偏光計の検討
硬X線偏光計の検討
第1部は林田さん z z偏光観測のサイエンス、観測対象
偏光観測のサイエンス、観測対象
z zNeXT
NeXT
散乱型偏光計のデザイン
散乱型偏光計のデザイン
z z有効面積、角分解能、M、
有効面積、角分解能、M、
η
η
、M
、M
η
η
1/21/2 z z広がったソースの偏光観測
広がったソースの偏光観測
feasibility
feasibility
z zSNR、銀河団
SNR、銀河団
z zイメージングか、ノンイメージングか?
イメージングか、ノンイメージングか?
散乱型イメージング偏光計の概観図
散乱型イメージング偏光計の概観図
散乱体はプラスチックシンチレータ
2mm角、40mm長の棒状シンチを54本束ねて円形に吸収体は
CdTe
2mm幅、40mm長、0.5mm厚の短冊型を32素子 8x8マルチパッド PMT 18mm 全体は 全体はBGOでBGOで アクティブ アクティブ シールド シールド X-rayNeXT
NeXT
での配置
での配置
切り替えて使用 スライドやローター 多層膜ミラー}
}
軟X線部 硬X線部 F=12m (1’=3.5mm) 4台とも同じ構成LD 85% 55Fe 1.7 1.7 30 30 10.8 10.8 80 80 6.3 6.3 60 60 2.9 2.9 40 40 Δ ΔEE9090 E E00 [keV] コンプトンロス
基礎実験
基礎実験
z z細長プラシンチの光量
細長プラシンチの光量
測定実験
測定実験
z zコンプトンロスを何
コンプトンロスを何
keV
keV
まで捕えられるか?
まで捕えられるか?
55Fe PMT検出感度
検出感度
(
(
η
η
)
)
Plastic CdTe イメージング偏光計 シンプルイメージャー 散乱型偏光計 点源、広がったソースほぼ共通 η=0.4程度 コンプトンロス非検出 コンプトンロス検出 光電吸収 プラスチックで、機能別
モジュレーションファクタ(M)
モジュレーションファクタ(M)
広がったソースの極端として「プラシンに一様にX線が入射した場 合」を計算 イメージ機能により M=0.55程度 になる イメージングあり イメージング不使用 イメージング不使用 イメージングあり M=0.28性能
性能
η η MM MMηη0.5 0.5 EE・
・
Be
Be
散乱体
散乱体
0.55 0.55 0.550.55 0.40 200.40 20--80keV80keV・イメージング偏光計
・イメージング偏光計
z z 点源点源 0.4 0.550.4 0.55 0.35 200.35 20--80keV80keV z z 広がったソース広がったソースイメージング無し
イメージング無し
0.4 0.28 0.18 200.4 0.28 0.18 20--8080イメージングあり
イメージングあり
0.2 0.55 0.250.2 0.55 0.25 4040--8080イメージング偏光計の得失
イメージング偏光計の得失
z zイメージが取れる。
イメージが取れる。
→ 場所毎
→
場所毎
に偏光測定可能
に
偏光測定可能
。
。
→
→
自分だけでX線入射位置が分かる。
自分だけでX線入射位置が分かる。
z z4台のミラーの光軸のずれを修正しなくて良い。
4台のミラーの光軸のずれを修正しなくて良い。
→
→ 微動装置
微動装置
不要
不要
z z アンチでバックグラウンドが低下アンチでバックグラウンドが低下 z z低エネルギー帯
低エネルギー帯
(18
(18
-
-
25keV)
25keV)
で検出効率が低下
で検出効率が低下
z zイメージング偏光計として働くのは
イメージング偏光計として働くのは
40keV
40keV
以上
以上
利点
欠点
点源やイメージ機能が働く場合、
Mは同じ M=0.55。
Mη
0.5は同程度(
Mη
0.5=0.39⇒0.35)
偏光感度は高いままイメージ性能も持たせた検出器
散乱体を Be円柱から プラシン束+PMT に変更3
3
σ
σ
偏光検出感度
偏光検出感度
(
(
点
点
源
源
)
)
z z ηη=0.4, M=0.55=0.4, M=0.55 M Mηη0.50.5=0.35=0.35 20 20--80keV80keV z z ミラーミラー 400 400--100 cm100 cm22××4台4台 z z 1Crab 1Crab = 240 c/s/4 = 240 c/s/4台台 /(20 /(20--80keV)80keV) z z BGD BGD 3.0 3.0××1010--44 c/s/keV/cm c/s/keV/cm22 10mCrab 100ks 2.7% in 20-80keV3
3
σ
σ
検出感度
検出感度
(
(
全面に広がったソース、
全面に広がったソース、
イメージング無し
イメージング無し
)
)
z z ηη=0.4, =0.4, M=0.28M=0.28 M Mηη0.50.5=0.18=0.18 20 20--80keV80keV z z ミラーミラー 400 400--100 cm100 cm22××4台4台 z z 1Crab 1Crab = 240 c/s/4 = 240 c/s/4台台 /(20 /(20--80keV)80keV) z z BGD BGD 3.0 3.0××1010--44 c/s/keV/cm c/s/keV/cm22 10mCrab 100ks 5.3% in 20-80keV3
3
σ
σ
検出感度
検出感度
(
(
全面に広がったソース、
全面に広がったソース、
イメージングあり
イメージングあり
)
)
z z ηη=0.2=0.2, M=0.55, M=0.55 M Mηη0.50.5=0.25=0.25 50 50--80 80 keVkeV z z ミラーミラー 400 400--100 cm100 cm22××4台4台 z z 1Crab 1Crab = 23 c/s/4 = 23 c/s/4台台 /( /(5050--80keV)80keV) z z BGD BGD 3.0 3.0××1010--44 c/s/keV/cm c/s/keV/cm22 10mCrab 100ks 15.9% in 50-80keV現状からの改善点
現状からの改善点
zz
プリズム光電面。
プリズム光電面。
Green extended
Green extended
。ミラー。
。ミラー。
量子効率が
量子効率が
1.8
1.8
倍の
倍の
PMT
PMT
が浜ホトで開発中。
が浜ホトで開発中。
zz
シンチレータの反射材。
シンチレータの反射材。
1.2
3
3
σ
σ
検出感度
検出感度
(
(
全面に広がったソース、
全面に広がったソース、
イメージモード、プリズム光電面
イメージモード、プリズム光電面
PMT)
PMT)
z z ηη=0.2=0.2, M=0.55, M=0.55 M Mηη0.50.5=0.25=0.25 20 20--80 80 keVkeV z z ミラーミラー 400 400--100 cm100 cm22××4台4台 z z 1Crab 1Crab = 240 c/s/4 = 240 c/s/4台台 /( /(2020--80keV)80keV) z z BGD BGD 3.0 3.0××1010--44 c/s/keV/cm c/s/keV/cm22 10mCrab 100ks 3.8% in 20-80keV試作実験
試作実験
各パーツの現状
各パーツの現状
z zPMT
PMT
の感度
の感度
z zセグメント
セグメント
プラシンチ
プラシンチ
z z短冊形
短冊形
CdTe
CdTe
素子
素子
PMTの感度
PMTの感度
z
z
16pad PMT
16pad PMT
で
で
Single photo electron
Single photo electron
(単一光電子)を検出
(単一光電子)を検出
z z 5555Fe
Fe
は光電子
は光電子
5
5
個程度
個程度
Single Photo Electron 55FeLast dynode Anode 6 1個
5個
1個
1個 2個
セグメントプラシンチ
セグメントプラシンチ
z zプラシンチ
プラシンチ
z z64pad
64pad
PMT
PMT
z z理研小型プリアンプ
理研小型プリアンプ
z zVME
VME
デジタイザ
デジタイザ
短冊形
短冊形
CdTe
CdTe
素子
素子
z
25mm
25mm
CdTe
CdTe
のスペクトル
のスペクトル
57
Co(122keV)、VA/TAで取得
Sakamoto SPIE 2003 Ch0, 1, 2, 3, 8, 15, 21, 31はVA/TAが不調。
今年度の実験予定
今年度の実験予定
z zプラシン束+
プラシン束+
64pad
64pad
PMT
PMT
を
を
z z8
8
素子
素子
×
×
4
4
枚
枚
の
の
CdTe
CdTe
で取り囲む。
で取り囲む。
z z 64padPMT64padPMTは、理研小型プリアンプ+アナログは、理研小型プリアンプ+アナログMPXMPX++ VME VMEデジタイザで読み出し、デジタイザで読み出し、 z z CdTeはCdTeは22素子をつないで素子をつないで11つのCS515で読み出す。つのCS515で読み出す。 合計合計16ch16chををMAXIMAXIゲインアンプ+ゲインアンプ+VME ADCVME ADCで。で。
z
今年度の実験
今年度の実験
CdTe信号でトリガ PMTのDy信号で 大きいものをトリガ その瞬間の全信号を記録偏光観測:
偏光観測:
国内、諸外国の現状
国内、諸外国の現状
z
z
Hard X
Hard X
Polarimeter
Polarimeter
山形大、
山形大、
ISAS
ISAS
、阪大
、阪大
気球実験
気球実験
z zGAPOM
GAPOM
理研
理研
基礎開発
基礎開発
(
(
八角シンチレータ
八角シンチレータ
)
)
zz
Spectrum X
Spectrum X
-
-
Gamma
Gamma
欧、露
欧、露
焦点面焦点面 グラファイト、Li散乱型グラファイト、Li散乱型
z
z
POGO
POGO
ガンマ線偏光観測ガンマ線偏光観測Stanford
Stanford
、山形
、山形
気球実験
気球実験
z
z
AXP
AXP
NASA
NASA
、伊
、伊
SMEXSMEX 、「あすか」ミラー、「あすか」ミラー ++ ガスマイクロピクセルガスマイクロピクセル
z
z
PLEXAS
PLEXAS
MIT
MIT
、CfA、NASA
、CfA、NASA
多層膜湾曲ミラー、45度反射 多層膜湾曲ミラー、45度反射 あり あり ミラー ミラー ~1 ~1‘‘ 3 3--1010 なし なし 0.24 0.24- -0.27 0.27 無し 無し 25 25-200-200 無し 無し ミラー ミラー 集光 集光 5 5--1515 無し 無し 20 20-100-100 無し 無し 6x6 pl 6x6 pl 30 30-200-200 イメージ イメージ ング ング エネル エネル ギー範 ギー範 囲 囲 [ [keV]keV] polarimeter
polarimeterfor low energy Xfor low energy X--ray Astrophysical sourcesray Astrophysical sources
Astrophysical X
Hard X
Hard X
-
-
ray
ray
polarimeter
polarimeter
for Gamma
for Gamma
-
-
Ray Burst
Ray Burst
気密箱
気密箱内部
Hard X
Hard X
-
-
ray
ray
Polarimeter
Polarimeter
Using
Using
MApmt
MApmt
(HXPUMA)
(HXPUMA)
フラットパネルMAPMTを使用した汎用的な偏光度検出器 1)ガンマ線バースト用 ユニットを多数並べて 広視野、大面積化を狙う。 2)パルサー等の点源用 コリメーターで視野を狭め、 大面積の検出器を製作。 3)焦点面検出器用 より小型のMAPMTを使い 適度なイメージング能力を 持たせる。 様々な用途に対応可能 気球搭載用 プロトタイプテスト検出器
Gamma
Gamma
-
-
ray burst polarization monitor
ray burst polarization monitor
(GAPOM)
(GAPOM)
理研
理研
全体図
1 ユニット(1+6 セル) モデル
X線入射方向から見た写真 (鉛のマスクを装着してある)
Hard X
Hard X
-
-
ray
ray
八角シンチレータ偏光計
八角シンチレータ偏光計
(
(
理研
理研
)
)
Bottom view NaI 0 NaI 1 NaI 2 NaI 3 NaI 5 NaI 6 NaI 7 NaI 4 Top view 12mm 20mm Side view 34mm 3mm 3mm30keV
80keV
カ ウ ン ト 0 2 4 6 0 2 4 6 0 2 4 6NaI番号 NaI番号 0 2 4 6 NaI番号 NaI番号
40keV
30000 20000 10000
Spectrum X
Spectrum X
-
-
Gamma
Gamma
200XSXRP
Graphite crystal Li Scatterer
PoGo
PoGo
:
:
Polarimeter
Polarimeter
of Gamma
of Gamma
-
-
ray Observer
ray Observer
スタンフォード大学(米)、東工大、山形大(日)、スウェーデン、ポーランド
2005~2006:気球実験
Astrophysical X
Astrophysical X
-
-
ray
ray
Polarimeter
Polarimeter
(AXP)
(AXP)
Kallman(NASA)、Bellazzini(INFN、イタリア核物理研究所) Optics: ASCA Style Detector: Gas Micro-Pixel Energy Range: 3-10 keV SMEXに提案中。7年後とすると2010年実現
まとめ
まとめ
z zハードX線の偏光衛星は計画されていない。
ハードX線の偏光衛星は計画されていない。
z zハードX線ミラーと散乱型偏光計の組み合わ
ハードX線ミラーと散乱型偏光計の組み合わ
せは、世界最高感度の偏光計になりうる。
せは、世界最高感度の偏光計になりうる。
z zぜひ
ぜひ
NeXT
NeXT
で偏光を。
で偏光を。
あなたは
あなたは
スペクトルとイメージだけで
スペクトルとイメージだけで
満足できますか?
満足できますか?
NeXT
NeXT
望遠鏡焦点面での
望遠鏡焦点面での
硬
硬
X
X
線偏光観測
線偏光観測
三原建広(理研)、林田清(阪大)、
三原建広(理研)、林田清(阪大)、
郡司修一、門叶冬樹(山形大理)
郡司修一、門叶冬樹(山形大理)
NeXT
NeXT
焦点面での硬
焦点面での硬
X
X
線偏光観測
線偏光観測
SGDによる偏光観測は別発表参照 z z 非熱的放射の多くに偏光が期待される非熱的放射の多くに偏光が期待される z z 硬硬XX線偏光観測は未開拓の分野線偏光観測は未開拓の分野 zz 20keV20keV--80keV80keVの硬の硬XX線領域で偏光検出感度最高の偏光計線領域で偏光検出感度最高の偏光計
は散乱型 は散乱型(M(Mηη1/21/2でガス光電子追跡型のでガス光電子追跡型の55倍以上)倍以上) z z 二つの形式の散乱型偏光計をデザイン・検討した。二つの形式の散乱型偏光計をデザイン・検討した。 撮像型散乱偏光計 Be散乱体囲み型 プラスチックシンチを散乱体&コ ンプトン反眺電子検出器とする。 直径4mm,長さ60mmのBeの 棒のまわりをCdTe検出器で 囲い、散乱方向を測定する 18mm 詳しい資料はhttp://www.astro.isas.ac.jp/xjapan/group/nextwg/news/article/2003/0918/を参照のこと
偏光検出感度:
偏光検出感度:
Be
Be
囲み型
囲み型
/
/
望遠鏡
望遠鏡
4
4
台
台
(撮像型もほぼ点源に対しては同じ性能; (撮像型もほぼ点源に対しては同じ性能;20keV20keV以下での感度は下がる)以下での感度は下がる) 0.1 1 10 100 0.1 1 10 100 1000 Flux (mCrab) M=0.61 η=0.46 20-80keV 4HXT BGD=1.0e-4 c/s/keV/cm2 HEAO-1 A4(13-80keV よりフラックス推定 BH,NS連星系の明るいも のは10ks,暗いものでも 100ksの観測で2%の偏光 度を検出できる AGNの明るいものは 100ksの観測で数% の偏光が検出できる 10ks 100ks 1Ms 銀河団、SNR は暗い! SNRは1Ms観測 すれば偏光検 出できる A2256( 中心 1’ 角) Kes75 SN1006(10’ 積分 ;多点観測) MDP-20 -15 -10 -5 0 5 10 15 20 -20 -15 -10 -5 0 5 10 15 20 X (mm)