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近接場磁気光学顕微鏡の現状と課題

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Academic year: 2021

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図 6 (a) CD-SNOM システムと(b)Pt/Co の磁区像 (Kottler 25 ) (a)(b) ア ル ゴ ン レーザ- AO 変調器 光ファイバープローブ バイモルフ半導体レーザー 試料  ピエゾアクチ ュエーター フ ィ ル ター 光電子増倍管  ロックインアンプSPI38AFM コント ローラ 4分割フォトダイオード  図 7  使用した SNOM システム
図 16 に位相差を∆=0 あるいは∆=π/2 として測定した磁気光学像を示す。図の(a)と(b)は位相差∆=0 で測定した補償後の磁気光学像で、(a)[p 成分]は楕円率像、(b) [2p 成分]は旋光像を示す。一方、図の (c)と(d)は位相差∆=π/2 で測定した磁気光学像で、(c)[p 成分]が旋光角像、(d) [2p 成分]は楕円率像を表 している。それぞれコントラストの異なる像が得られ、明瞭にマーク形状が確認できた。  図 17 は、同じ Pt/Co ディスクに記録された長さ 0.2μm の矢羽

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